「Column Address Strobe」を含む例文一覧(7)
- This device has such constitution that a series of operation can be finished by two clocks of row address strobe operation and column address strobe operation of DRAM operation.
ＤＲＡＭ動作のロウアドレスストローブ動作とカラムアドレスストローブ動作の２つのクロックで一連の動作を終了できる構成とする。 - 特許庁 - A test mode discriminating circuit 31 inputs an external command consisting of a chip-select signal/CS, a row address strobe signal/RAS, a column address strobe signal/CAS, a write-enable signal/WE, and the like, while inputs memory address signals A0-An.
テストモード判定回路３１は、チップセレクト信号／ＣＳ、ロウアドレスストローブ信号／ＲＡＳ、コラムアドレスストローブ信号／ＣＡＳ及びライトイネーブル信号／ＷＥ等からなる外部コマンドを入力するとともに、メモリアドレス信号A0〜Anを入力する。 - 特許庁 - Residual pins are used for a control signal for operating an address and the memory part, for example, a row address strobe signal, a column address strobe signal, and a pin to which a data write-in instruction word is inputted, and the pins are coupled to the input/output pin to which an address and the control signal are inputted.
残りのピンはアドレス及びメモリ部を動作させるための制御信号、例えばローアドレスストローブ信号、コラムアドレスストローブ信号、及びデータ書込命令語を入力するピンで使用でき、アドレス及び制御信号が入力される入出力ピンに連結される。 - 特許庁 - This system is equipped specially with a 1st chip signal input pin for receiving a 1st chip select signal for a row address strobe and a 2nd chip select signal input pin for receiving a 2nd chip select signal for a column address strobe.
ロウアドレスストローブのための第１チップ選択信号を受信する第１チップ選択信号入力ピン及びカラムアドレスストローブのための第２チップ選択信号を受信する第２チップ選択信号入力ピンを別途に備える。 - 特許庁 - To increase speed of memory operation by such access specification that a column address strobe signal is varied with a rate of one time per plural cycles of a clock signal.
クロック信号の複数サイクルに１回の割合でカラムアドレスストローブ信号を変化させるというアクセス仕様によってメモリ動作の高速化を図る。 - 特許庁 - Operation speed of memory operation can be increased by such access specification that a column address strobe signal is varied with a rate of one time per plural cycles of a clock signal.
クロック信号の複数サイクルに１回の割合でカラムアドレスストローブ信号を変化させるというアクセス仕様によってメモリ動作の高速化を図ることが可能になる。 - 特許庁 - A test mode recognition circuit section 13 detects a continuity test mode based on a column address strobe signal/CAS, a chip-select signal/CS, and a clock enable-signal CKE, and outputs a test mode detecting signal ϕ1.
テストモード認識回路部１３はコラムアドレスストローブ信号/CAS，チップセレクト信号/CS及びクロックイネーブル信号CKEに基づいて導通試験のモードを検出しテストモード検出信号φ1を出力する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
