「Defects」を含む例文一覧(10273)

<前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 205 206 次へ>
  • improve by alteration or correction of errors or defects and put into a better condition
    誤りまたは欠陥の変更か修正により改善し、より良い状態にする - 日本語WordNet
  • surgical correction or repair of defects or injuries in the eardrum or the bones of the middle ear
    鼓膜または中耳の骨における外科的整復、治療、異常あるいは負傷 - 日本語WordNet
  • a variable assortment of related birth defects caused by the mother's consumption of alcohol during pregnancy
    妊娠中のアルコール摂取によって,ひきおこされた新生児の先天的異常 - EDR日英対訳辞書
  • To provide a method of manufacturing a phosphor sheet generating few structural defects.
    構造欠陥の発生が少ない蛍光体シートの製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an organic EL element capable of suppressing defects caused by short circuit.
    ショート欠陥の発生を抑制することができる有機EL素子を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for obtaining a multiple component nonwoven fabric with reduced stretch-type defects.
    伸張型の欠陥の少ない多成分不織布帛を得る方法が要望される。 - 特許庁
  • To provide a means to simplify the inspection of electrode defects or the like.
    電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な手段を提供する。 - 特許庁
  • To provide a molding method and a molding apparatus suppressing defects in molding.
    成形時の不具合を抑制できる成形方法及び成形装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for controlling image defects.
    画像欠陥を制御するための方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a silicon wafer with fewer defects caused by COP on the surface.
    表層のCOP由来欠陥が少ないシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of correcting the defects of a photomask which is capable of precisely removing the residual defects below 500 nm without the damage on a quartz substrate and segments exclusive of the defects after the correction of the remaining defects formed on a mask and is capable of easily detecting even the end point of the correction and a scanning probe microscope used for the same.
    マスクに形成された残留欠陥修正後の石英基板や欠陥以外の部分へのダメージが無く、500nm以下の残留欠陥を精度良く除去することが可能で、修正のエンドポイントも容易に検出できるフォトマスクの欠陥修正方法及びそれに用いる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To simultaneously secure strength and sealability, and to reduce occurrence probability of welding defects.
    強度とシール性とを同時に確保し、溶接不良の発生確率を低減させること。 - 特許庁
  • To provide a thin film transistor array substrate which improves productive yield by repairing defects.
    欠陥を補修し、生産収率を向上させる薄膜トランジスタアレイ基板を提供する。 - 特許庁
  • To provide an acceleration sensor which keeps defects reduced in wirings and to provide its manufacturing method.
    配線の欠陥の低減を図った加速度センサおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To efficiently and stably grow a defect-free part free from secondary defects in the radial direction of the crystal.
    結晶径方向で二次欠陥のない無欠陥部を、効率よく安定的に育成する。 - 特許庁
  • To prevent coating defects caused by the scattering of coating mist while keeping excellent coating deposition efficiency.
    良好な塗着効率を維持しつつ、塗料ミストに飛散に伴う塗装不良を防ぐ。 - 特許庁
  • The composition is especially useful for masking wrinkles and other defects of the contours of the lips.
    この組成物は、唇の輪郭の皺および他の欠陥を隠すのに特に有用である。 - 特許庁
  • To obtain a high quality glass substrate for a magnetic disk which is free from defects such as crack or flaw.
    クラックや傷などの欠陥が無い高品質な磁気ディスク用ガラス基板を得ること。 - 特許庁
  • To produce a color filter free from defects such as color irregularity, color voids and color mixing by an ink jet method.
    インクジェット法により色むら、色抜け、混色等の欠陥のないカラーフィルタを製造する。 - 特許庁
  • To provide a flat panel heat treatment furnace eliminating defects due to tar-like deposits.
    タール状の付着物による不良発生をなくしたフラットパネル熱処理炉を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and system for detecting defects in a wire or a bundle of wires.
    ワイヤ又はワイヤ束における欠陥を検出するための方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR DETECTING AND REMOVING LOCAL SHUNT DEFECTS IN PHOTOVOLTAIC FIELD
    光起電力場における局在分路欠陥を検出し除去する方法及び装置 - 特許庁
  • To provide a wet developing type image forming apparatus, capable of preventing unexpected image defects.
    思わぬ画像不良を防止できる湿式現像方式の画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To make a shadow on a screen inconspicuous, the shadow being generated due to the defects of a photosynthesis prism.
    光合成プリズムの欠陥によって発生するスクリーン上の影を目立たなくする。 - 特許庁
  • To provide automatic arc welding equipment and method, wherein weld defects are hardly caused.
    溶接不良の起こりにくい自動アーク溶接装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
  • BPSG PLANARIZING METHOD WITH IMPROVED PLANARITY WITHOUT ANY CHATTER MARK DEFECTS
    改善された平坦性を有し、チャッターマーク欠陥を減少したBPSG平坦化方法 - 特許庁
  • To provide a phosphor sheet manufacturing method which has less generation of structural defects.
    構造欠陥の発生が少ない蛍光体シートの製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an inspection method for surface defects of a sheet-like material, in which the inspection accuracy of the surface defect is high.
    検査精度が高いシート状材料の表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To overcome the disadvantages and defects regarding the designs of a trigger-operated liquid sprayer.
    引き金操作式液体噴霧器の設計に関する短所および欠陥を克服する。 - 特許庁
  • To provide a method for patterning a substrate in a way requiring no mask free of defects.
    マスクが欠陥を含まない方法で基板にパターンを形成する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a foldable frame assembly solving conventional defects.
    前記従来の欠点を解決することができる折畳み可能なフレームアセンブリーを提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device capable of stably detecting minute defects.
    微少な欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a piezoelectric material with introduced point defects which can exhibit greater electrodistortive effect.
    点欠陥導入による圧電材料についてさらに大きな電歪効果を発現させる。 - 特許庁
  • To provide fixing device component parts which can avert or minimize copying defects.
    コピー欠陥を回避し、又は最小にし得る定着器構成部分を提供することにある。 - 特許庁
  • To satisfactorily correct pixel defects of large regions in a multi-view point image capturing apparatus.
    多視点の撮像装置において、大きな領域の画素欠陥を良好に補正する。 - 特許庁
  • To provide a protective structure for blocking the propagation of defects generated in a semiconductor device.
    半導体デバイス内で発生した欠陥の伝搬を阻止する保護構造を提供する。 - 特許庁
  • To provide an SSOI substrate which has high productivity, sufficiently few defects and high quality.
    量産性の高い、欠陥の充分少ない高品質なSSOI基板を提供する。 - 特許庁
  • To classify the types of defects of TFT arrays, in a TFT array inspection process.
    TFTアレイ検査工程において、TFTアレイの欠陥の種類を分類する。 - 特許庁
  • To produce a resin substrate in which surface defects are reduced, and surface smoothness is improved.
    表面欠陥が低減され、表面平滑度が向上された樹脂基板を製造する。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING AND REPORTING MANUFACTURING DEFECTS USING MULTI-VARIANT IMAGE ANALYSIS
    マルチバリアント・イメージ分析を用いた製造欠陥の検出及び報告システム及び方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS IN CONTINUOUSLY MOVING STRIP OF TRANSPARENT MATERIAL
    連続的に移動する透明材料のストリップの欠陥を検出するための方法と装置 - 特許庁
  • To improve a mask in manufacturing yield by decreasing specimens containing defects.
    欠陥を含む試料を減少させることにより、マスクの製造の歩留まり向上をはかる。 - 特許庁
  • To surely weld a sealing body to a battery case by reducing welding defects.
    溶接不良を低減して封止体を電池ケースに確実に溶接できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a display device with reduced display defects such as missing pixels and uneven brightness.
    画素欠けや、輝度ムラなどの表示不良を低減した表示装置を提供すること。 - 特許庁
  • To reduce or remove the risk of focusing defects, and to maintain or increase throughput.
    結像欠陥のリスクを低減するかまたは排除し、スループットを維持または増大する。 - 特許庁
  • To provide a keyboard structure for solving defects of a conventional one.
    本発明は従来のキーボードにある欠点を解決するためのキーボード構造を提供する。 - 特許庁
  • To achieve a waterproof member for a cable penetration part that eliminates defects in a rubber-made waterproof end-face member.
    ゴム製の防水端面部材の欠点のないケーブル貫通部用防水部材を得る。 - 特許庁
  • To provide a polyester film that has no scratches, a superior transparency and less optical defects.
    傷入りのない、透明性に優れ、光学欠点が少ないポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
  • The defects caused by the impurities are suppressed and the yield of the liquid crystal cell is improved.
    不純物に起因する欠陥を抑制でき、液晶セルの歩留まりを向上できる。 - 特許庁
  • High-density control lattice defects are formed in the vicinity of the substrate surface or the entire area in the substrate.
    または、前記基板内全域に高密度の結晶格子欠陥を形成した。 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 205 206 次へ>

例文データの著作権について

  • EDR日英対訳辞書
    Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved.
  • 日本語WordNet
    日本語ワードネット1.1版 (C) 情報通信研究機構, 2009-2026 License. All rights reserved.
    WordNet 3.0 Copyright 2006 by Princeton University. All rights reserved.License
  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.