「Defects」を含む例文一覧(10273)

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  • To suppress occurrence of defects in a resist pattern in immersion exposure through a liquid film on a substrate.
    基板上の液膜を介して露光する液浸露光において、レジストパターンに欠陥が発生することを抑制する。 - 特許庁
  • To provide an optical compensation sheet which is excellent in an optical compensation function, has few defects and has a small wavelength dispersion value.
    光学補償機能に優れ、欠陥が少なく、波長分散値が小さい光学補償シートを提供する。 - 特許庁
  • In accordance with the present invention, a hard disk drive system (50) is configured with logic that time correlates growth defects.
    本発明によれば、ハードディスク・ドライブ・システム(50)は成長欠陥を時間と関連付けるロジックで構成されている。 - 特許庁
  • To provide an additive which can simply be mixed and added to enamels for manicures and can wipe off the defects of conventional techniques.
    簡単にマニキュア用エナメルに混加でき、かつ従来技術の欠点を払拭する添加剤を提供する。 - 特許庁
  • To enable defects in a photoreceptor to be specified, before a web is cut and formed into an endless imaging belt.
    ウエブがカットされてエンドレスのイメージングベルトに形成される前に、光受容体における欠陥を特定する。 - 特許庁
  • To provide a microscope with a function of correcting defects by which observation can be excellently executed.
    本発明の目的は、良好に観察を行える欠陥修正機能付き顕微鏡を提供することである。 - 特許庁
  • To enable variations in characteristics and local defects inside an integrated thin film solar cell to be detected.
    集積型薄膜太陽電池の内部の特性ばらつきや局部的な欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for producing Al-less stainless steel high in cleanliness and few in surface defects caused by Al2O3 inclusions.
    清浄度が高く、Al_2O_3 系介在物による表面欠陥の少ないAlレスステンレス鋼の製造方法を提案する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a shadow mask by which irregularity defects in shadow mask products can be prevented.
    シャドウマスク製品におけるムラ不良の発生を防止することができるシャドウマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • Therefore, a spot where light is emitted is detected, whereby crystal defects which cause leakage can be detected.
    このため、この発光箇所を検出すればリーク発生要因となる結晶欠陥を検出することができる。 - 特許庁
  • To accurately quantify defects with high efficiency that are generated in a semiconductor device, depending on the design features.
    デザインの特徴に依存して半導体装置に発生する欠陥を正確かつ高い効率で定量化する。 - 特許庁
  • To make preventable the occurrences of defects by suppressing warpage of a package and to suppress the increase of the thickness of the package.
    パッケージの反りを抑制して不良発生を防止することができ、且つパッケージの厚さ増大を抑制する。 - 特許庁
  • To provide a photoelectric conversion device which suppresses the generation of defects in a semiconductor region where a depletion layer is formed.
    空乏層が形成される半導体領域の欠陥発生が抑制された光電変換素子を提供する。 - 特許庁
  • To detect a pixel defect (including pixel defects occurring subsequently) with high accuracy, without having to depend on the ambient temperature.
    周囲温度に依存せずに精度良く画素欠陥(後発画素欠陥を含む)を検出できるようにする。 - 特許庁
  • To realize a metal deposition film having a low contact resistance by inactivating structural defects in a silicon layer.
    シリコン層における構造的な欠陥を不活性化し、低接触抵抗である金属被着膜を実現すること。 - 特許庁
  • In a wafer-inspecting and a sampling system, wafer defects are detected and are stored in a data store as defect data.
    ウェハ検査及びサンプリングシステムにおいて、ウェハ欠陥が検出され、欠陥データとしてデータストアに保存される。 - 特許庁
  • To provide a toner which suppresses image defects such as fog and void generation in image formation in an image forming apparatus.
    画像形成装置の画像形成時におけるカブリ、中抜けなどの画像不良を抑制するトナーの提供。 - 特許庁
  • To provide a wire bonding method that achieves a narrow pad pitch by preventing aluminum splash and defects of aluminum peeling.
    アルミスプラッシュ及びアルミ剥がれ不良を抑制し、狭パッドピッチ化を実現するワイヤボンデ工法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for illuminating a sample during a sample inspection, for example, for finding defects, and to provide an apparatus for the method.
    例えば欠陥を探しての試料の検査のあいだ、試料を照射する方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To reduce defects accompanying chamber etching without losing accompanying advantages and without accepting a new defect.
    チャンバーエッチに付随する欠点を、付随する利点をなくさないで、且つ、新しい欠点を受け容れないで、緩和する。 - 特許庁
  • To prevent shape defects of a pattern by improving the adhesiveness of a resist pattern with a film to be treated.
    レジストパターンの被処理膜との密着性を向上して、パターンの形状不良を防止できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a new heat exchange ventilator having a simple structure where various defects of conventional technology are improved.
    従来技術の種々の欠陥を改善した新規で構造簡単な熱交換型換気装置を提供する。 - 特許庁
  • To easily set an inspection area for accurately inspecting defects of a pattern formed on a wafer.
    ウェハに形成されたパターンの欠陥を高精度で検出できる検査領域の設定を簡単に実行する。 - 特許庁
  • To provide a pattern forming method for forming a pattern having a small number of development defects, and to provide a resist composition.
    現像欠陥の少ないパターンを形成可能とするパターン形成方法及びレジスト組成物を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for producing a Levenson type phase shift mask having excellent resolution and free of defects.
    解像性に優れた欠陥のないレベンソン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Accordingly, the generation of crystal defects in the active layer 7, and DBR layers 6 and 8 can be prevented.
    これにより、活性層7及びDBR層6,8に結晶欠陥が生じるのを抑制することができる。 - 特許庁
  • Accordingly, the wholly aromatic polyamide filament has reduced defects in the crystal itself, thereby exhibiting more improved physical properties such as strength and modulus.
    そのため、結晶自体の欠点が減少して、より向上した強度及び弾性率などの物性を示す。 - 特許庁
  • To provide a radiation image conversion panel having few image defects and superior image quality.
    本発明の目的は、画像欠陥が少なく画質に優れる放射線画像変換パネルを提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a cleaning method of resin pellet capable of reducing the generation of defects such as fish eyes.
    フィッシュアイ等の欠陥の発生を低減させることができる樹脂ペレットの洗浄方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a retardation film made by vertically aligning molecules of a rod-like liquid crystalline compound uniformly without defects.
    棒状液晶性化合物の分子を欠陥無く均一に垂直配向させた位相差膜を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus suitable for maintaining the effect of suppressing image defects due to damages in a cleaning blade.
    クリーニングブレードの破損による画質欠陥の抑制効果の維持に適した画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • The customer transmits the allowable conditions for memory device defects to the memory device selling device 12 from a customer terminal 1.
    顧客はメモリデバイス不良の許容条件を顧客端末1からメモリデバイス販売装置12に送信する。 - 特許庁
  • To provide facsimile equipment which does not cause image defects on both ends of an original, when printing a document on a receiver side.
    受信機側で文書を印刷したときに、原稿の両端が画像切れを起こさないファクシミリ装置を得る。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing an SOI (Silicon On Insulator) substrate in which crystal defects of a single crystal semiconductor layer are reduced.
    単結晶半導体層の結晶欠陥が低減されたSOI基板の作製方法を提供する。 - 特許庁
  • Thus, it becomes possible to suppress defects degrading the recording/reproducing characteristics of the optical disk 10.
    これにより、光ディスク10の記録再生特性を悪化させる欠陥部の発生を抑制することが可能となる。 - 特許庁
  • To diminish defects caused after development without increasing unevenness in the intrasurface dimensions of a substrate.
    基板面内の寸法ばらつきを大きくすることなく、現像後に発生する欠陥の大幅な低減をはかる。 - 特許庁
  • To provide a positive resist composition which significantly decreases development defects and gives an excellent square profile.
    現像欠陥の発生を著しく低減し、優れた矩形のプロファイルが得られるポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
  • To provide a polymer for resist, and a resist composition high in light transmittance, and little in defects in development.
    光線透過率が高く、現像時のディフェクトが少ないレジスト用の重合体、レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
  • To provide equipment for manufacturing a high quality hot-dip galvanized steel sheet practically free from quality defects.
    品質欠陥の極めて少ない高品質の溶融亜鉛系めっき鋼板の製造装置を提供すること。 - 特許庁
  • To maintain high quality by performing effective repair when repairing defects such as wear and cracks.
    摩耗や割れ等の欠陥に対し、補修施工する場合、補修を効果的に行って高い品質を維持させる。 - 特許庁
  • By detecting secondary electrons emitted from the sample 10, defects of the sample 10 can be tested.
    試料10から放出される二次電子を検出することにより、試料10の欠陥を検査することができる。 - 特許庁
  • To suppress occurrence of crystal defects due to recoiled oxygen by reducing the recoiled oxygen due to ion implantation.
    イオン注入によるリコイル酸素を低減し、リコイル酸素による結晶欠陥の発生を抑制することにある。 - 特許庁
  • A waveform generation circuit 70 generates a defective serial data pattern analog output signal based on the defects.
    波形発生回路70は、 これらに基づいて、欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号を発生する。 - 特許庁
  • To provide a method for inspecting a target material for sputtering, by which minute internal defects can be detected.
    微小な内部欠陥を検出することができるスパッタリング用ターゲット材料の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To maintain stable performances over a long term by suppressing image density defects, fogging, toner scattering, ghost phenomenon and the like.
    画像濃度不良、カブリ、トナー飛散、ゴースト現象等を抑制し、長期に亘って安定した性能を維持する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method and an inspection apparatus of a film which can easily finding minute defects.
    欠点が微小であっても容易に発見することのできるフィルムの検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing a semiconductor laser device, in which crystal defects are hard to occur, with high safety.
    安全性が高く、結晶欠陥を生じにくい半導体レーザ素子の製造方法を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a large-scaled silicon nitride honeycomb filter without any defects such as crack and blister.
    本発明は、クラックや膨れなどの欠陥のない大型の窒化ケイ素質ハニカムフィルタの製造法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a silicon wafer suitable for enhancing the effect for reducing void defects by heat treatment up to the deeper region.
    熱処理による空洞欠陥の低減効果をより深い領域まで拡大するのに適したシリコンウエーハを得る。 - 特許庁
  • To provide an electrochromic display device which is improved in display quality by reducing image defects derieved from a spacer.
    スペーサ由来の画像欠陥を低減して表示品質の向上したエレクトロクロミック型表示装置を提供する。 - 特許庁
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