「Direct Access Test Unit」を含む例文一覧(1)
- A bit configuration of a test mat is reduced by enabling an access to a memory mat with the largest bit width unit in a valid bit width modifiable according to a designation from the outside by setting a data size alignment circuit in a direct peripheral circuit.
データサイズアライメント回路を直接周辺回路に設け、外部からの指定に応じて変更可能な有効ビット幅における最大のビット幅単位でメモリマットをアクセス可能とすることで、検査マットのビット構成の低減化を達成する。 - 特許庁
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