To provide a microcomputer for accessing a double-data-rate (DDR) synchronousDRAM at high speed. ダブルデータレート(DDR)方式のシンクロナスDRAMを高速アクセス可能なマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁
To provide a microcomputer capable of rapidly accessing a doubledatarate (DDR) style synchronousDRAM. ダブルデータレート(DDR)方式のシンクロナスDRAMを高速アクセス可能なマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁
Single datarate mode signals CL1, BL1 are activated, and a doubledataratesynchronousDRAM integrated circuit device is operated with a single datarate mode. シングルデータレートモード信号CL1、BL1を活性化してダブルデータレート同期式DRAM集積回路装置をシングルデータレートモードで動作させる。 - 特許庁
To provide a doubledataratesynchronousDRAM integrated circuit device which can be tested by a low speed test device. 低速テスト装置でテストできるダブルデータレート同期式DRAM集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a microcomputer, which accesses a synchronousDRAM having a doubledata rate(DDR) scheme at a high speed. ダブルデータレート(DDR)方式のシンクロナスDRAMを高速アクセス可能なマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁
To increase operation speed of a synchronousDRAM, etc., and a system including this and to reduce power consumption by improving an output phase synchronous characteristic of a synchronousDRAM and the like having a doubledatarate mode and provided with a DLL circuit, and reducing its current consumption. ダブルデータレートモードを有しDLL回路を備えるシンクロナスDRAM等の出力位相同期特性を改善し、その消費電流を低減して、シンクロナスDRAM等及びこれを含むシステムの高速化及び低消費電力化を図る。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device the chip size of which is prevented from becoming larger by making its wiring and element areas smaller and which is reduced in power consumption and suitable for a DDRSDRAM(double dataratesynchronous DRAM). 配線領域、素子領域を小さくしてチップサイズの増大を防ぎ、且つ、消費電力を小さくしたDDR SDRAMに好適な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
A spread spectrum clock generator 210 is provided with a state determining device 220 for determining a continuous access of a DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) 112A and performing spread off in a continuous access during reading data of the DDR SDRAM 112A. 拡散スペクトル・クロック発生器210は、DDR SDRAM112Aの連続アクセスを判定し、DDR SDRAM112Aのデータ読み出し時の連続アクセスでは拡散OFFにする状態判定器220を備える。 - 特許庁
This DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) performs write-in operation having write-latency at the normal operation, and at a test, receives a data strobe signal DQS and a data signal before one clock cycle of a write-command WRT and performs write-in operation having no write-latency. このDDR SDRAMは、通常動作時はライトレイテンシを持った書込動作を行ない、テスト時はライトコマンドWRTの1クロックサイクル前にデータストローブ信号DQSおよびデータ信号を受けてライトレイテンシを持たない書込動作を行なう。 - 特許庁