「EPMA」を含む例文一覧(45)
- EPMA UNIT
ＥＰＭＡ装置 - 特許庁 - Tungsten is not identified by X-ray diffraction, but the quantity is confirmed by the electro probe micro-analyser (EPMA).
WはX線回折には同定されず、EPMAにより量が確認できる。 - 特許庁 - The analyzing crystal in an EPMA can be moved by a pivot mechanism.
EPMA(装置)中の分光結晶は、ピボット機構によって移動させることができる。 - 科学技術論文動詞集 - EPMA was established for rapid analysis of samples at a spatial resolution of about 2 to 3 micrometers.
EPMAは、約2〜3μmの空間分解能での試料の迅速な分析のために確立された。 - 科学技術論文動詞集 - BACKGROUND CORRECTION METHOD IN EPMA ANALYSIS
ＥＰＭＡ分析におけるバックグラウンド補正方法 - 特許庁 - EPMA ANALYSIS METHOD USING MONTE CARLO SIMULATION
モンテカルロシミュレーションを用いたＥＰＭＡ分析法 - 特許庁 - EPMA IDENTIFICATION METHOD FOR Al-Fe-BASED COMPOUND
Ａｌ−Ｆｅ系化合物のＥＰＭＡ同定法 - 特許庁 - To satisfy the focusing condition in an EPMA, exact adjustment of the specimen height is necessary.
EPMA(装置)の中でのフォーカス条件を満足させるために、試料高さの正確な調整が必要である。 - 科学技術論文動詞集 - In an EPMA, the whole wavelength range can be analyzed by the use of analyzing crystals with different lattice spacings.
EPMA装置では、異なる格子間隔の分光結晶を使うことによって、すべての波長範囲の分析ができる。 - 科学技術論文動詞集 - In an EPMA, the electron-irradiated spot on the specimen acts as an entrance slit for X-rays.
EPMA装置では、電子線が照射される試料上の点がX線に対する入射スリットとして働く(役割を果たす)。 - 科学技術論文動詞集 - An analysis control means 3 for monitoring always the state of an EPMA body, notices the occurrence of an abnormality on the EPMA body side, and stops the operation of the EPMA body 1.
ＥＰＭＡ本体の状況を常に監視している分析制御手段３は、ＥＰＭＡ本体側で異常が発生すると、それを知り、ＥＰＭＡ本体１の動作を停止させる。 - 特許庁 - EPMA QUANTIATIVE METHOD FOR MINUTE SUBSTANCE DIFFERENT IN ELEMENTAL COMPOSITION RATIO
元素組成比の異なる微小物質のＥＰＭＡ定量法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF METALLIC COMPOUND THIN FILM BY EPMA METHOD
ＥＰＭＡ法による金属化合物薄膜の厚さ測定方法 - 特許庁 - An X-ray map or X-ray line trace can be produced in EPMA, by using the output from an X-ray detector to modulate the image on the scanned image display.
X線検出器からの出力を走査像ディスプレイ上の像を変調させるのに使うことによって、X線マップまたはX線のライン軌跡がEPMAにおいて作りだされる。 - 科学技術論文動詞集 - EPMA DETERMINATION METHOD OF MICRO-SUBSTANCE HAVING SAME CONSTITUTIONAL ELEMENTS AND DIFFERENT IN COMPOSITIONAL RATIO
同じ構成元素を有して組成比の異なる微小物質のＥＰＭＡ定量法 - 特許庁 - METHOD FOR DISPLAYING ELEMENT QUALITATIVE ANALYSIS SPECTRUM IN EPMA, AND X-RAY MICROANALYZER
ＥＰＭＡにおける元素定性分析スペクトルの表示方法及びＸ線マイクロアナライザ - 特許庁 - When an EPMA body is started, an analysis control means 3 recognizes the state of the EPMA body in every fixed time, and sends data showing the state to a device state Html-forming means 4.
ＥＰＭＡ本体１が起動すると、分析制御手段３は、ある一定時間毎にＥＰＭＡ本体１の状態を認識し、その状態を表すデータを装置状態Ｈｔｍｌ化手段４に送る。 - 特許庁 - To precisely detect a concentration distribution of an objective metal in an objective sample carrying a trace amount of the objective metal on an ununiform matrix composed of a plurality of metal oxides, by an EPMA.
複数の金属酸化物からなる不均一なマトリックスに対して微量の対象金属が担持されてなる対象試料中の、対象金属の濃度分布をEPMAによって精度高く検出する。 - 特許庁 - To simultaneously provide an unevenness image of a sample surface in the same visual field for an EPMA analysis image or an SEM observation image in an electron beam analyzer.
電子線分析装置において、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時に得る。 - 特許庁 - To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.
斜出射ＥＰＭＡ分析において、複数の波長分散形Ｘ線分光器に対するＸ線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁 - To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.
無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、ＥＰＭＡによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.
包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するＥＰＭＡによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁 - To provide a catalyst specifying method capable of obtaining an EPMA analyzing result of high precision without mapping a ghost signal while permitting the presence of an interface of low intensity between a catalyst coating layer capable of serving as the starting point of cracks with respect to the irradiation with an electron beam of high intensity and an embedded resin layer when EPMA analysis is executed under the conditions while the concentration of a catalyst is extremely low.
触媒濃度の極めて低い条件下においてＥＰＭＡ分析を実施するに際し、高強度の電子線の照射に対して亀裂の起点となり得る触媒コート層と包埋樹脂層の間の低強度な界面の存在を許容しながら、ゴースト信号がマッピングされることのない、高精度のＥＰＭＡ分析結果を得ることのできる触媒特定方法を提供する。 - 特許庁 - To cope with not only an EPMA but also other X-ray analyzer such as a scanning microscope, by arranging a spectrometer using a curved analyzing crystal of high wavelength resolution distantly from a sample.
波長分解能の高い湾曲分光結晶を用いた分光器を試料から離して配置できるようにすることで、ＥＰＭＡだけでなく走査顕微鏡等の他のＸ線分析装置にも対応可能とする。 - 特許庁 - This exhaust gas purification catalyst contains porous powders carrying barium and cerium, and has a standard deviation σ of frequency distribution of intensity ratio of barium to cerium by the EPMA method measured with a scanning interval of 0.5 μm, ranging 0.1-2.5.
バリウム及びセリウムを担持した多孔質粉末を含み、ＥＰＭＡ法によるバリウムとセリウムとの強度比を０．５μｍのスキャン間隔で測定した度数分布の標準偏差σが、０．１〜２．５の範囲にある排ガス浄化触媒である。 - 特許庁 - The zinc compound is added to the adhesive 3 as an X-ray detection substance and the content of zinc in the adhesive 3 is set so that an analyzing result due to EPMA becomes a range wherein the detection amount of zinc is 23-35 wt.%.
上記接着剤３には、Ｘ線検出物質として亜鉛化合物を含有させ、接着剤３中の亜鉛含有量を、ＥＰＭＡによる分析結果が亜鉛検出量２３〜３５重量％の範囲内となるように設定する。 - 特許庁 - To improve waveform resolution in a device for performing spectroscopic analysis of an X-ray generated from a fine domain on a sample such as EPMA, and to enable selection between the waveform resolution and analysis sensitivity corresponding to an analysis purpose or the like.
ＥＰＭＡ等、試料上の微小領域から発生するＸ線を分光分析する装置における波長分解能を向上させるとともに、分析目的等に応じて波長分解能と分析感度とを選択することを可能とする。 - 特許庁 - Further, in the magnesium alloy casting having excellent corrosion resistance, the ratio per unit area of a region at which carbon is detected when its surface is subjected to EPMA (Electron Prove Micro Analyzer) plane analysis is <5%.
また、本発明の耐食性に優れるマグネシウム合金鋳造品においては、表面をＥＰＭＡ面分析したときに炭素が検出される領域の単位面積あたりの割合が、５％未満であることを特徴とするものとすることができる。 - 特許庁 - To obtain an EPMA analysis method using Monte Carlo simulation that can accurately analyze thin-film and minute-object samples that are smaller than an X-ray generation region, and can accurately carry out analysis by simulation with a small number of electrons.
Ｘ線発生領域よりも小さい薄膜試料や微小物試料についても正確な分析ができ、少ない電子数のシミュレーションで正確な分析をすることができるモンテカルロシミュレーションを用いたＥＰＭＡ分析法を提供する。 - 特許庁 - To exactly perform correlation computation processing even between pieces of X-ray image data which are acquired by different sequences and in which displacement exists regarding an X-ray image data processing method and device in an EPMA (electronic probe microanalyzer).
本発明はＥＰＭＡ(電子プローブマイクロアナライザ)におけるＸ線像データ処理方法及び装置に関し、異なるシーケンスで取得し位置ずれが存在しているＸ線像データ同士であっても、相関演算処理を正確に行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁 - The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).
これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁 - A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.
レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁 - An EPMA 10 is provided with a sample room 12 for housing a sample, an electron gun portion 16 equipped with an electron gun 14 for irradiating electron beams on the sample in the sample room 12, and a condenser lens 18 for controlling electron beams emitted from the electron gun 14.
本発明に係るＥＰＭＡ１０は、試料を収容する試料室１２、試料室１２内の試料に対して電子線を照射するための電子銃１４を備えた電子銃部１６、電子銃１４から放射される電子線を制御するコンデンサレンズ１８を備えている。 - 特許庁 - The pickled steel plate is that of plain steel containing ≥0.03% Cu by mass in the steel, and the area ratio of the part in which Cu concentration obtained by measuring the surface of the steel plate after pickling using EPMA is ≥5% is made to ≤10%.
鋼材中にＣｕを０．０３質量％以上含有する普通鋼酸洗鋼板であって、酸洗後の鋼板表面をＥＰＭＡにより測定したＣｕ濃度が５％以上である部分の面積率が１０％以下であることを特徴とする色調性に優れたＣｕ含有普通鋼酸洗鋼板。 - 特許庁 - The oxygen introduced Al thin film 12a which is a conductive Al thin film formed on the surface of a base material 11 is formed by introducing oxygen exceeding solubility limit of Al therein, and the amount of the oxygen introduced into the aluminum of 100at% is 5 to 80at% in the value measured by EPMA.
基材１１の表面に形成される導電性アルミニウム（Ａｌ）薄膜たる酸素導入Ａｌ薄膜１２ａは、Ａｌにその固溶限界を超える酸素を導入させてなり、１００ａｔ％のアルミニウムに対する酸素導入量がＥＰＭＡによる測定値において５〜８０ａｔ％である。 - 特許庁 - In this oxide sintered compact obtained by mixing and sintering each powder of zinc oxide, tin oxide and indium oxide, when performing in-plane composition mapping by EPMA to the oxide sintered compact, the ratio of a region having an Sn concentration of 10-50 mass% occupied in the measured area is ≥70 area%.
本発明の酸化物焼結体は、酸化亜鉛と、酸化スズと、酸化インジウムの各粉末と、を混合および焼結して得られる酸化物焼結体であり、前記酸化物焼結体に対してＥＰＭＡによる面内組成マッピングを行なったとき、測定面積中に占める、Ｓｎ濃度が１０〜５０質量％の領域の比率が７０面積％以上である。 - 特許庁 - In the method for clarifying the pollution state of the soil prior to the cleaning process of the polluted soil, a concentration distribution of a harmful element, existing in the particle of the polluted soil, is analyzed by using a mapping technology by an electronic probe microanalyzer (EPMA) and the pollution conformation of the polluted soil particles is clarified from a state of the concentration distribution of the harmful element.
汚染土壌の浄化処理に先だって行う土壌の汚染状態解明方法において、電子プローブ・マイクロ・アナライザ（ＥＰＭＡ）によるマッピング技術を用いて、汚染土壌の粒子に存在する有害元素の濃度分布を分析し、有害元素の濃度分布の状態から汚染された土壌粒子の汚染形態を解明する。 - 特許庁 - The titanium contains 0.1 to 2.5 mass% Fe and has a needle-like or lath-like microstructure and, in the concentration distribution analyzed by using an electron probe X-ray micro analyzer (EPMA), the area of a region having an Fe concentration ≥1.5 times the average concentration is ≥5% and hereby the corrosion resistance of the Fe-containing titanium material can be improved.
Ｆｅを０．１〜２．５質量％含有するチタンにおいて、針状あるいはラス状のミクロ組織を有し、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）で分析した濃度分布においてＦｅ濃度が平均濃度に対して１．５倍以上に濃化した部分の面積を５％以上とすることによって、Ｆｅ含有チタン材の耐食性を高めることができる。 - 特許庁 - This method for evaluating center segregation of the continuous casting cast piece and thick steel plate includes steps of performing concentration mapping analysis to the region containing the center segregation part using EPMA, etc., determining the area in which the concentration of an index element, such as Nb is above a predetermined threshold concentration, and evaluating the center segregation using the area.
連続鋳造鋳片および厚鋼板の中心偏析を評価する方法であって、ＥＰＭＡ等を用いて中心偏析部を含む領域の濃度マッピング分析を行い、Ｎｂ等の指標元素の濃度が所定の閾値濃度以上である面積を求め、その面積をもって中心偏析を評価することを特徴とする中心偏析評価方法。 - 特許庁 - In the target of an X-ray tube where a graphite base material and a Mo base material or a Mo alloy base material are jointed with each other via a connection layer, when a composition ratio of the connection layer by an EPMA is detected, the connection layer has a diffusion phase of MoTaTi, a TaTi alloy phase, a Ta-rich phase, and a ZrTa alloy phase.
グラファイト基材と、Ｍｏ基材もしくはＭｏ合金基材とを接合層を介して接合したＸ線管用ターゲットにおいて、前記接合層についてＥＰＭＡにより組成比を検出したとき、前記接合層はＭｏＴａＴｉの拡散相、ＴａＴｉ合金相、Ｔａリッチ相、ＺｒＴａ合金相を具備することを特徴とする。 - 特許庁 - The total of the ratio occupied by a phase having a high Mg concentration and a phase having a high Al concentration than that of the host phase confirmed by a host phase confirmed by a COMP image of 500 magnifications by the EPMA of the cross-sectional structure in the alloy and the element mapping image of Mg and Al produced by a strip casting process is ≤5.0% in the whole.
）で表される組成を有する水素吸蔵合金であって、ストリップキャスティング法により製造された、合金の断面組織のＥＰＭＡによる５００倍のＣＯＭＰ像およびＭｇとＡｌの元素マッピング像で確認される母相よりも、Ｍｇ濃度が高い相およびＡｌ濃度が高い相の占める割合の合計が全体の５．０％以下であることを特徴とする。 - 特許庁 - The isomerization catalyst of a paraffinic hydrocarbon which is the catalyst the carrier of which is supported with a noble metal component comprises the carrier that is ultra-stable type Y zeolite (USY) and a ratio A/B of a concentration height A at an external surface part to a concentration height B at a central part exceeds 2 in the concentration distribution of a noble metal in the catalyst cross section in electron probe microanalysis (EPMA) measurement.
担体に貴金属成分が担持された触媒であって、前記担体が超安定Ｙ型ゼオライト（ＵＳＹ）であり、エレクトロン・プローブ・マイクロ・アナリシス（ＥＰＭＡ）測定における該触媒断面の貴金属の濃度分布において、外表面部の濃度高さＡと中心部の濃度高さＢの比Ａ／Ｂが２を超えることを特徴とするパラフィン系炭化水素の異性化触媒である。 - 特許庁 - To provide an analytical method in which a lithium-containing sample is exposed to a high-purity nitrogen atmosphere, and lithium nitride is made through reacting with nitrogen at normal temperature, and then it is introduced to an EDX or EPMA analyzer while being in the nitrogen atmosphere without being exposed to atmospheric air, and the presence of lithium can be checked qualitatively by analyzing the nitrogen of the lithium nitride.
リチウムが存在する試料を高純度の窒素雰囲気中にさらし、窒素と常温で反応させることによって窒化リチウムを生成させ、その後、大気に曝すことなく窒素雰囲気のままＥＤＸ或いはＥＰＭＡ分析装置に導入し、窒化リチウムの窒素の分析により、定性的にリチウムの存在を確認可能な分析方法を提供することにある。 - 特許庁 - The porous shaped article comprises an organic polymer resin and an inorganic ion adsorbent, wherein the ratio of 95% cumulative relative X-ray intensity to 5% cumulative relative X-ray intensity (cumulative relative X-ray intensity ratio) of ingredient elements composing an inorganic ion adsorbent that is supported by the porous article ranges from 1 to 10 as measured using an electron probe microanalyzer (EPMA).
有機高分子樹脂及び無機イオン吸着体を含んでなる多孔生の成形体であって、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）を用いて得られる、該多孔性の成形体に担持されている無機イオン吸着体を構成する成分元素の９５％相対累積Ｘ線強度と５％相対累積Ｘ線強度の比（相対累積Ｘ線強度比）が１〜１０となることを含む、上記多孔性成形体。 - 特許庁 - With respect to an Al alloy member for open rack vaporizer provided with the Al-Zn sprayed coating on a surface of an Al alloy base material, pores existing near an interface of the base material and the sprayed coating, of the sprayed coating are impregnated with a filler including carbon so that a carbon of 0.3 mass% or more is detected as a result of cross-section observation by EPMA.
Ａｌ合金基材の表面にＡｌ−Ｚｎ溶射皮膜が形成されているオープンラックベーパライザ用のＡｌ合金部材であって、この溶射皮膜は、少なくとも、基材と溶射皮膜との界面近傍に存在する気孔においては、ＥＰＭＡによる断面観察結果として、０．３質量％以上の炭素が検出されるように、炭素を含む充填剤によって含浸処理がなされていることを特徴とするＡｌ−Ｚｎ溶射皮膜含有Ａｌ合金部材である。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- Copyright(C)1996-2026 JEOL Ltd., All Rights Reserved.
