「Electron Microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁
  • ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE USING IT
    エネルギフィルタおよびこれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁
  • ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE USING SAME
    エネルギーフィルタ及びそれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁
  • TENSION AND COMPRESSION HOLDER MECHANISM OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の引っ張り・圧縮ホルダ機構 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD
    走査電子顕微鏡及び試料作成方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM IMAGE PICKUP UNIT AND ELECTRONIC MICROSCOPE
    電子線像撮像装置及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE OBSERVATION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡を用いた試料の観察方法 - 特許庁
  • ULTRA-THIN LIQUID CONTROL PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用の超薄液体制御板 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD
    走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁
  • The electron microscope fires electrons which creates images
    電子顕微鏡は 電子を照射することで - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Ruska succeeded in the development of an electron microscope.
    ルスカは、電子顕微鏡の開発に成功した。 - 科学技術論文動詞集
  • TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁
  • 90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡用９０°変換試料台 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD
    電子顕微鏡および３次元像構築方法 - 特許庁
  • TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE
    電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡における試料交換装置 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の制御装置及び制御方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD
    走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁
  • SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁
  • ABSORPTION CURRENT IMAGE OBSERVATION APPARATUS IN ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡吸収電流像観察装置 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
    電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁
  • STAGE, AND ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS USING THE SAME
    ステージおよびそれを用いた電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD
    走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF
    走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION
    ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD
    電子顕微鏡及び三次元像構築方法 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD
    透過型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁
  • MESH FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    電子顕微鏡用メッシュ及びその製造方法 - 特許庁
  • BIOLOGICAL ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF SAMPLE OBSERVATION
    バイオ電子顕微鏡及び試料の観察方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS USING METHOD
    走査型電子顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁
  • LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM REFLECTING APPARATUS AND ELECTRON MICROSCOPE
    荷電粒子ビーム反射装置と電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, PRESSURE CONTROL METHOD, AND PROGRAM
    電子顕微鏡、圧力制御方法及びプログラム - 特許庁
  • MANIPULATION DEVICE FOR FINE WORK OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置 - 特許庁
  • METHOD OF OBSERVING LIVING UNIT UNDER ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡による生体ユニットの観察法 - 特許庁
  • IRRADIATION HEAD, AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS
    照射ヘッド及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRODE RING AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH SAME
    電極リング及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD
    透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法 - 特許庁
  • STRUCTURE OF SPACE FOR ACCELERATING ELECTRON IN X-RAY MICROSCOPE
    Ｘ線顕微鏡の電子加速空間構造 - 特許庁
  • POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM
    陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁
  • SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE
    電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD
    電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁
  • IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁
  • To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.
    電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
  • MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁
  • ELECTROCONDUCTIVE DOUBLE-SIDED ADHESIVE SHEET FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用導電性両面粘着シート - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
    透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁
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