「Elemental Analysis」を含む例文一覧(46)
- ELEMENTAL ANALYSIS DEVICE
元素分析装置 - 特許庁 - ELEMENTAL ANALYSIS DEVICE
元素分析解析装置 - 特許庁 - CONTAINER FOR PRETREATMENT OF ELEMENTAL ANALYSIS, METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS, INDUCTIVELY-COUPLED PLASMA TORCH AND ELEMENTAL ANALYSIS SYSTEM
元素分析前処理用容器、元素分析方法、誘導結合プラズマトーチ、及び元素分析装置 - 特許庁 - ELEMENTAL ANALYSIS DEVICE BY ION BEAM
イオンビームによる元素分析装置 - 特許庁 - OXIDATION CATALYST FOR ELEMENTAL ANALYSIS INSTRUMENT
元素分析装置用酸化触媒 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ELEMENTAL ANALYSIS OF FLAW
欠陥の元素分析方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS USING AUGER ELECTRON SPECTRAL EQUIPMENT
オージェ電子分光装置による元素分析方法 - 特許庁 - ELEMENTAL ANALYSIS METHOD AND ANALYTICAL DEVICE OF ORGANIC COMPOUND
有機化合物の元素分析方法及び分析装置 - 特許庁 - To improve the analysis accuracy in an elemental analysis by a laser-induced breakdown spectroscopic method.
レーザ誘起ブレイクダウン分光法による元素分析の分析精度を高める。 - 特許庁 - To provide an element analyzer which is superior in elemental analysis precision, and to provide an elemental analysis method which uses it.
元素の分析精度に優れた元素分析装置および元素分析装置を用いた元素分析方法を提供する。 - 特許庁 - ELEMENTAL ANALYSIS METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
元素分析方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION APPARATUS, SAMPLE PREPARATION METHOD AND ELEMENTAL ANALYSIS METHOD
試料調整器具、試料調整方法、元素分析方法 - 特許庁 - To allow micro elementary analysis and average elemental analysis for a sample, by one X-ray analyzer.
１台のＸ線分析装置で試料の微小元素分析と平均的元素分析を可能とする。 - 特許庁 - To provide an efficient and economical elemental analysis method not requiring formation of a vacuum environment for executing elemental analysis by corpuscular beam induced X-ray emission spectroscopy in the atmosphere.
粒子線励起Ｘ線法による元素分析を大気中で行い、真空環境の形成を必要としない効率的で、経済的な元素分析装置を提供する。 - 特許庁 - An obstacle of the elemental analysis caused by existence of material such as argon in the air is removed.
空気中のアルゴン等の物質の存在に伴う元素分析の障害を除去する。 - 特許庁 - To provide a pretreatment device for elemental analysis preventing air from mixing, markedly reducing variation, and improving analytical capability in elemental analysis by an elemental analyzer, even if a trace amount of sample is used.
空気の混入を無くし試料が超微量であっても元素分析装置における元素成分の分析においてバラツキが飛躍的に小さくなり、分析能力を向上させることができる元素分析用前処理装置を提供する。 - 特許庁 - To realize elemental analysis and structure analysis by one X-ray equipment by utilizing X rays having nondestructive/noncontact features.
非破壊・非接触の特徴を有するＸ線を利用して元素分析と構造解析を一台のＸ線装置で実現する。 - 特許庁 - To provide an electron beam analyzer for carrying out accurate elemental analysis, without displacing the position to be analyzed.
分析位置ずれのない正確な元素分析を行うことができる電子線分析装置を提供する。 - 特許庁 - PLASMA TORCH FOR ELEMENTAL ANALYSIS, ANALYTICAL APPARATUS AND METHOD USING THE PLASMA TORCH, AND PROTECTOR FOR THE PLASMA TORCH
元素分析用プラズマトーチ、このプラズマトーチを用いた分析装置、分析方法、及びプラズマトーチ用保護具 - 特許庁 - Some studies on the sensitivity limits of elemental analysis by EELS have concentrated on detection of the smallest detectable mass.
EELSによる元素分析の感度限界に関する幾つかの研究は、最小の検出可能な質量の検出に集中した - 科学技術論文動詞集 - The amount of Cu due to elemental analysis is 5 wt.%≤Cu≤25 wt.% and, when the amount of SiO_2 is calculated based on the elemental analysis values of Cu, Si and O by setting total Cu to CuO, it is 5 wt.%≤SiO_2≤15 wt.%.
元素分析によるＣｕ量が５ｗｔ％≦Ｃｕ≦２５ｗｔ％であり，またＣｕ，ＳｉおよびＯの元素分析値に基づき全ＣｕをＣｕＯとしてＳｉＯ_2 量を算出したとき，そのＳｉＯ_2 量が５ｗｔ％≦ＳｉＯ_2 ≦１５ｗｔ％である。 - 特許庁 - To study the smallest detectable mass by EELS elemental analysis, the electron beam must be focused into as small a diameter as possible.
EELSによる最小の検出可能な質量を研究するために、電子ビームは可能な限り小さな径に集束させられなければならない。 - 科学技術論文動詞集 - To provide a method and a system for three-dimensional fine area elemental analysis which perform the elemental analysis in a condition controlled by layer, without applying high-voltage pulses required to cause electrical field evaporation on the sample, nor being affected by the difference in the electrical field evaporation of the component element.
３次元微細領域元素分析方法及び３次元微細領域元素分析装置に関し、試料に電界蒸発を起こすのに必要な高電圧パルスを印加することなく、一層ずつ制御された状態で、且つ、構成元素の蒸発電界の違いに影響されずに分析を行う。 - 特許庁 - using or skilled in using analysis (i.e., separating a whole--intellectual or substantial--into its elemental parts or basic principles)
分析使用しているか、あるいは使用することに熟練した（すなわち、全体−−知的、あるいは基本的に−−を要素部品または基本的な原則に分ける） - 日本語WordNet - In quantitative elemental analysis, the inelastic intensity measured with a divergence angle β is integrated over an energy range of width δ beyond an absorption edge.
定量元素分析においては、開き角βで測定された非弾性(散乱)強度が、吸収端を超える幅δのエネルギー範囲にわたって積分される。 - 科学技術論文動詞集 - To provide an elemental analysis method and apparatus for measuring by selectively removing and treating a hydrocarbon from coexisting gas components without having influence on the measurement of other coexisting components, in an elemental analysis for measuring nitrogen or a plurality of elements including nitrogen in a sample containing a lot of hydrogen.
水素を多く含む試料中の窒素または窒素を含む複数の元素を測定対象とする元素分析において、他の共存成分の測定に影響を与えることなく、共存ガス成分中から選択的に炭化水素を除去・処理して測定する元素分析方法および元素分析装置を提供すること。 - 特許庁 - The unsteady luminescent is photographed at high speed, emission spectra in a plurality of photographed images are temporally integrated, and elemental analysis and/or temperature analysis is carried out by using a temporal integration amount of the emission spectra.
非定常発光体を高速撮影し、複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算し、該発光スペクトルの時間的積算量を用いて、元素分析および／または温度解析を行うようにする。 - 特許庁 - To provide a carbon fractionation analysis device capable of fractionating and precisely analyzing organic carbon and elemental carbon in a sample, and shortening a required time for the analysis so as to perform the specified analysis with high precision for a short time.
試料中の有機炭素および元素状炭素を分別して精度よく分析することができるとともに、その分析に要する時間を短縮し、短時間で所定の分析を高精度に行うことができる炭素分別分析装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.
原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.
試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁 - The elemental analysis method can be applied to semiconductor device manufacturing processes to analyze metal contamination or quantify a conductivity determining impurity element on the inline basis and with a high degree of accuracy.
また、当該元素分析方法を、半導体装置の製造工程に適用することで、金属汚染の分析や導電型決定不純物量の定量をインラインでかつ高精度に実施できる。 - 特許庁 - To provide a compact and integrated portable device for analysis of dispersions by low-field pulsed NMR, and also provide methods for using a device to measure one or more characteristics of phases or particles comprising dispersion such as surface area, solid/liquid ratio, particle size, and elemental analysis.
低磁場パルスＮＭＲにより分散の解析のための小型で統合された携帯可能なデバイス、および、表面積、固体／液体比率、粒径、および元素分析など分散を含む相または粒子の１つまたは２つ以上の性質を測定するデバイスを用いるための方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a mesh for sample holding which can hardly damage a tip of sample and be widely used without need of a specific shape of recess of a sample holder where the mesh is mounted, and to provide a method of elemental analysis.
試料の先端部分が破損し難く、且つ、（メッシュが搭載される試料ホルダの窪み（凹部）形状を専用形にすることが不要な）汎用性の高い試料保持用のメッシュ、及び元素分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an elemental analysis method by which a metal impurity element present locally on the surface of or inside a semiconductor substrate and the like can be detected and quantified in a practically feasible period of time, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device which is implemented on an inline basis.
半導体基板等の表面または内部において局所的に存在する金属不純物元素を現実的な時間内で検出、定量可能な元素分析方法を提供する。 - 特許庁 - The analysis method of the trace constituent in the polymer material includes a step of heating and ashing the polymer material in the presence of oxygen; and a step of irradiating an electron beam to the ashed sample, and performing elemental analysis by a generated characteristic X-ray.
高分子材料中の微量成分の分析法であって、前記高分子材料を酸素存在下、加熱して灰化する工程、及び前記灰化後の試料に電子線を照射し、発生する特性Ｘ線による元素分析をする工程、を有することを特徴とする高分子材料中の微量成分の分析法。 - 特許庁 - The protective film for the optical disk containing In, Ce and O by elemental analysis and having an atomic ratio of In to Ce of 1:0.08 to 0.35 is obtained by using a sputtering target for forming the protective film containing 10 to 40 mass% CeO_2 and the balance In_2O_3.
ＣｅＯ_2 を１０〜４０質量％含み、残部がＩｎ_2Ｏ_3からなる保護膜形成用スパッタリングターゲットを用いて、元素分析でＩｎと、Ｃｅと、Ｏとを含み、ＩｎとＣｅとの原子比が、１：０．０８〜０．３５である光ディスク用保護膜を得る。 - 特許庁 - To provide a sample preparation apparatus having high durability, capable of reducing greatly contamination of a constitutive material into the sample, and hardly influenced by a sample used in the past, a sample preparation method and a highly-accurate elemental analysis method.
耐久性が高く、構成材料の試料へ混入を著しく減少でき、かつ過去に使用した試料による影響を受けることが少ない試料調整器具、試料調整方法、及び高精度の元素分析方法を提供することできる。 - 特許庁 - The half-conductive composite resin includes a carbon black dispersion polyamide resin formed by dispersing carbon black in a polyamide resin having an element ratio C/N of nitrogen and carbon by elemental analysis of 7 or more and represented by general formula (I) or (II) and a polyvinylidene fluoride resin.
元素分析による窒素と炭素の元素比Ｃ／Ｎが７以上である一般式（Ｉ）又は（II）で表されるポリアミド樹脂にカーボンブラックが分散されたカーボンブラック分散ポリアミド樹脂、及びポリフッ化ビニリデン樹脂を含む半導電性複合樹脂である。 - 特許庁 - To provide an X-ray microscopic inspection apparatus which has superhigh-resolution power, enables a nondestructive inspection in a very short time and is equipped with excellent functions such as a target switching function, a high-precision electron probe controlling function, a CT function and an elemental analysis function.
超高分解能で且つ非常に短時間での非破壊検査が可能であると共に、ターゲット切替機能、高精度の電子プローブ制御機能、ＣＴ機能、元素分析機能などの優れた機能を搭載したＸ線顕微検査装置を提供する。 - 特許庁 - The silica particles (A) have such chemical properties that the sodium, potassium and ammonium ion contents determined by the elemental analysis by ICP emission spectrometry or ICP mass spectrometry and the quantitative analysis of ammonium ions by ion chromatography are as follows: the sodium content is within the range of 5-500 ppm; and the content of at least one selected from potassium and ammonium ions is within the range of 100-20,000 ppm.
ＩＣＰ発光分析法またはＩＣＰ質量分析法による元素分析およびイオンクロマト法によるアンモニウムイオンの定量分析から測定されるナトリウム、カリウムおよびアンモニウムイオンの含有量が、ナトリウムの含有量：５〜５００ｐｐｍ、カリウムおよびアンモニウムイオンから選択される少なくとも１種の含有量：１００〜２００００ｐｐｍの関係を満たす。 - 特許庁 - The crosslinked polymer particle comprises a vinyl alcohol unit and a polymerization unit containing nitrogen as the constituents wherein the nitrogen content in the dry weight of the particle as determined by the elemental analysis is in the range of 10.0-18.0 wt.% and the surface nitrogen concentration as determined by X-ray photoelectron spectroscopic analysis (XPS) is in the range of 3.0-9.5 at%.
ビニルアルコール単位および窒素を含有する重合単位を構成要素として含む架橋ポリマー粒子であって、元素分析により特定される乾燥重量中の窒素含有量が１０．０〜１８．０重量％の範囲にあり、Ｘ線光電子分光分析（ＸＰＳ）により特定される表面窒素濃度が３．０〜９．５ａｔ％の範囲にある架橋ポリマー粒子。 - 特許庁 - A conductive particle includes a gold layer with the average film thickness of ≤300 Å formed on a nickel layer as the outermost layer, and the elemental composition ratio between nickel and gold (Ni/Au) on the surface of the conductive particle by X-ray photoelectron spectroscopy analysis is ≤0.4.
本発明の導電粒子は、ニッケル層上に形成された平均膜厚３００Å以下の金層を最外層として有する導電粒子であって、Ｘ線光電子分光分析による導電粒子の表面におけるニッケル及び金の元素組成比（Ｎｉ／Ａｕ）が０．４以下であることを特徴とする。 - 特許庁 - The sample holding mesh 13 used for a transmission electron microscope has a separable part (a primary mesh 13-1) and this part is made to be detachable from the remaining part (a secondary mesh 13-2) after separation so that it may not break a tip of the sample during measurement and precise elemental analysis can be performed.
透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュ１３において、前記メッシュの一部（第１のメッシュ１３−１）が分離し、当該一部が、分離後に残った部分（第２のメッシュ１３−２）と脱着可能な形態とすることにより、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なう。 - 特許庁 - The chemical mechanical polishing pad according to the present invention is a chemical mechanical polishing pad comprising a polishing layer, whose surface subjected to polishing has a silicon atom concentration or fluorine atom concentration of 0.5 to 10 atom% calculated by elemental analysis using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
本発明に係る化学機械研磨パッドは、研磨層を備えた化学機械研磨パッドであって、前記研磨層の研磨に供される表面を、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）によって元素分析することにより算出されるケイ素原子濃度またはフッ素原子濃度が、０．５ａｔｏｍ％以上１０ａｔｏｍ％以下であることを特徴とする。 - 特許庁 - The elemental analysis apparatus for measuring an element in a sample melted in an inert gas atmosphere comprises: a secondary treatment passage for performing a given secondary treatment of a sample gas obtained by the melting treatment; and a decomposition treatment part containing a platinum-carbon catalyst and a heating means in the secondary treatment passage.
不活性ガス雰囲気で融解処理された試料中の元素を測定対象とする元素分析装置であって、前記処理によって得られたサンプルガスに対して所定の二次処理を行うサンプルガス二次処理流路を設け、該サンプルガス二次処理流路中に、白金炭素触媒を収容し加熱手段を有する分解処理部を配設することを特徴とする。 - 特許庁 - Subsequently, the transition beam marker position of the selected candidate element is moved to the peak position of the spectrum concerned or the peak position is moved to the marker position along an energy axis (S 23) to eliminate or minimize the energy shift of the spectrum peak concerned and energy inspecting width is reduced to again perform qualitative analysis to perform highly accurate elemental identification.
次いで、該選出候補元素の遷移線マーカー位置を該当するスペクトルのピーク位置に、あるいはピーク位置をマーカー位置にエネルギー軸に沿って移動させることによって、該当するスペクトルピークのエネルギーシフトをなくすか最小限度に抑え、エネルギーシフトをなくすか最小限度にして、且つエネルギー検索幅を狭くして再度定性分析を行い高精度の元素同定を行う。 - 特許庁
