「ICP」を含む例文一覧(235)

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  • ICP ANALYTICAL DEVICE
    ＩＣＰ分析装置 - 特許庁
  • ICP ANALYSIS METHOD
    ＩＣＰ分析方法 - 特許庁
  • ICP LIGHT SOURCE APPARATUS
    ＩＣＰ光源装置 - 特許庁
  • The ICP / sub ICP detection unit 112 performs processing of detecting an ICP and a sub ICP.
    ＩＣＰ／サブＩＣＰ検出部１１２は、ＩＣＰとサブＩＣＰとを検出する処理を行う。 - 特許庁
  • CONE FOR ICP-MS
    ＩＣＰ−ＭＳ用コーン - 特許庁
  • ICP SPECTRAL ANALYZING DEVICE
    ＩＣＰ分光分析装置 - 特許庁
  • ICP MASS SPECTROGRAPH
    ＩＣＰ質量分析装置 - 特許庁
  • ICP EMISSION ANALYZING DEVICE
    ＩＣＰ発光分析装置 - 特許庁
  • ICP-MS ANALYTICAL EQUIPMENT
    ＩＣＰ−ＭＳ分析装置 - 特許庁
  • ICP EMISSION ANALYZER AND ICP EMISSION ANALYSIS METHOD
    ＩＣＰ発光分析装置及びＩＣＰ発光分析方法 - 特許庁
  • The test init function obtains a photomap using ICP - EP.
    テストの初期化関数は、ICP ->EP を用いてフォトマップを取得する。 - XFree86
  • ICP EMISSION SPECTROMETRIC APPARATUS
    ＩＣＰ発光分光分析装置 - 特許庁
  • LASER ICP COMPONENT ANALYTICAL DEVICE
    レーザーＩＣＰ成分分析装置 - 特許庁
  • ICP EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD
    ＩＣＰ発光分光分析方法 - 特許庁
  • ⑦ Next, said solution is analyzed by ICP-MS and other apparatuses to quantitate the total indium.
    ⑦当該溶液をICP-MS等で総インジウムとして定量するものとする。 - 厚生労働省
  • HIGH-FREQUENCY POWER SUPPLY APPARATUS FOR ICP
    ＩＣＰ用高周波電源装置 - 特許庁
  • HIGH-FREQUENCY POWER SUPPLY DEVICE FOR ICP
    ＩＣＰ用高周波電源装置 - 特許庁
  • PLASMA TORCH FOR GC-ICP-MS
    ＧＣ−ＩＣＰ−ＭＳ用プラズマトーチ - 特許庁
  • ICP messages are transmitted as UDP packets.
    ICP（インターネット・キャッシュ・プロトコル）メッセージはUDP（ユーザ・データグラム・プロトコル）パケットとして転送される。 - コンピューター用語辞典
  • ICP OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPIC METHOD AND ICP OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYZER
    ＩＣＰ発光分光分析方法及びＩＣＰ発光分光分析装置 - 特許庁
  • SPRAY CHAMBER APPARATUS OF ICP ANALYZING EQUIPMENT
    ＩＣＰ分析装置のスプレーチャンバ装置 - 特許庁
  • HOLDING DEVICE FOR LASER ICP ANALYSIS SAMPLE
    レーザＩＣＰ分析試料の保持装置 - 特許庁
  • It could take weeks to make an identification without an icpms.
    ICP -MSじゃないと 何週間も掛かる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • It could take weeks to make an identification without an icpms.
    icp -msじゃないと 何週間も掛かる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • PLASMA TORCH FOR ICP EMISSION SPECTROCHEMICAL ANALYSIS
    ＩＣＰ発光分光分析用プラズマトーチ - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit 1 is provided with a charge pump circuit 10 and an inversion-current circuit 20, that is inputted with an output current (through-current) icp(t) of the charge pump circuit 10 so as to generate a sum(=Iconst-icp(t)) of a constant current Iconst, and an inversion current of the output current icp(t).
    半導体集積回路１は、チャージポンプ回路１０と、チャージポンプ回路１０の出力電流（貫通電流）icp(t)を入力し、当該出力電流icp(t)の反転電流と定電流Iconstとの和（=Iconst-icp(t)）を生成する反転電流回路２０と、を備えている。 - 特許庁
  • LARGE AREA ICP SOURCE FOR PLASMA APPLICATION
    プラズマアプリケーション用の大面積ＩＣＰソース - 特許庁
  • APPARATUS FOR PRODUCING SILICON NANOCRYSTAL USING ICP
    ＩＣＰを用いたシリコンナノ粒子製造装置 - 特許庁
  • LASER ICP ANALYZING METHOD OF HIGH TEMPERATURE SAMPLE
    高温試料のレーザーＩＣＰ分析方法 - 特許庁
  • SAMPLE INTRODUCTION DEVICE FOR ICP EMISSION ANALYSIS
    ＩＣＰ発光分析用の試料導入装置 - 特許庁
  • Each of the acoustic holes 31 on the substrate 21 is formed by a dry etching method, specifically, a Deep RIE (ICP).
    第１の基板２１の各音響ホール３１は、ドライエッチング法、特にDeep RIE（ICP）で形成される。 - 特許庁
  • It is often abbreviated as ICP.
    重文（じゅうぶん）と略称されることが多い。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • An ICP analysis section 104 performs ICP analysis of the left channel signal L and the monaural reproduction signal M', and generates a left channel ICP parameter.
    ＩＣＰ分析部１０４は、左チャネル信号Ｌとモノラル再生成信号Ｍ’とのＩＣＰ分析を行い、左チャネルＩＣＰパラメータを生成する。 - 特許庁
  • An ICP analysis section 105 performs the ICP analysis of a right channel signal R and the monaural reproduction signal M', and generates a right channel ICP parameter.
    ＩＣＰ分析部１０５は、右チャネル信号Ｒとモノラル再生成信号Ｍ’とのＩＣＰ分析を行い、右チャネルＩＣＰパラメータを生成する。 - 特許庁
  • ICP ANALYSIS SAMPLE INLET DEVICE AND METHOD THEREFOR
    ＩＣＰ分析用試料導入装置及び方法 - 特許庁
  • GAS-LIQUID SEPARATION CONTAINER AND ICP OPTICAL EMISSION SPECTROMETER
    気液分離容器、及びＩＣＰ発光分析装置 - 特許庁
  • CROSS-FLOW TYPE MICRO-NEBULIZER FOR ICP MASS SPECTROMETRY
    ＩＣＰ質量分析用クロスフロー型マイクロネブライザー - 特許庁
  • An ICP etching device is used for etching the wiring.
    ＩＣＰエッチング装置を用いて配線をエッチングする。 - 特許庁
  • ICP SPECTRAL ANALYZING DEVICE WITH SEPARATE OPTICAL DIAPHRAGM
    光学絞りを別途備えたＩＣＰ分光分析装置 - 特許庁
  • DIRECT ICP EMISSION SPECTRAL ANALYZING METHOD OF SOLID SAMPLE
    固体試料の直接ＩＣＰ発光分光分析法 - 特許庁
  • ICP ANTENNA AND PLASMA GENERATING APPARATUS USING THE SAME
    ＩＣＰアンテナ及びこれを使用するプラズマ発生装置 - 特許庁
  • ICP CIRCUIT, PLASMA TREATMENT DEVICE, AND PLASMA PROCESSING METHOD
    ＩＣＰ回路、プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 - 特許庁
  • AUTO SAMPLER AND SAMPLING METHOD FOR ICP ANALYSER
    ＩＣＰ分析装置用のオートサンプラー及びサンプリング方法 - 特許庁
  • MANUFACTURE OF SAMPLE FOR ICP EMISSION ANALYSIS OF SOLDER COMPONENT AND ICP EMISSION ANALYTICAL METHOD FOR SOLDER COMPONENT
    半田成分のＩＣＰ発光分析用試料の作製方法および半田成分のＩＣＰ発光分析方法 - 特許庁
  • ICP-MS PLASMA INTERFACE FOR HIGH-MELTING POINT MATRIX SAMPLE
    高融点マトリックスサンプル用ＩＣＰ−ＭＳプラズマインターフェース - 特許庁
  • To stably perform three-dimensional body tracking with less computational complexity and higher accuracy compared with an ICP (iterative closest point) register method.
    ICPレジスタ手法に比較して、より少ない演算量、より高い精度で安定的に３次元ボディトラッキングを行う。 - 特許庁
  • ANALYSIS START TIME DETERMINATION METHOD AND ICP LIGHT EMISSION ANALYZER
    分析開始時期判断方法及びＩＣＰ発光分析装置 - 特許庁
  • SOLUTION SPECIMEN SUPPLY DEVICE FOR ICP EMISSION SPECTROPHOTOMETER
    ＩＣＰ発光分光分析装置の溶液試料供給装置 - 特許庁
  • MEASURING PERIOD DETERMINING METHOD, ICP EMISSION SPECTROMETER ANALYZER AND PROGRAM
    測定時期判別方法、ＩＣＰ発光分析装置及びプログラム - 特許庁
  • REMOVABLE SHIELD ARRANGEMENT FOR ICP-RIE REACTOR
    ＩＣＰ−ＲＩＥ反応装置のための取外し可能なシールド装置 - 特許庁
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