「Input test」を含む例文一覧(1297)

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  • INPUT TEST DEVICE
    入力試験装置 - 特許庁
  • Customizing Test Input
    テスト入力のカスタマイズ - NetBeans
  • OPERATION INPUT TEST SYSTEM
    操作入力試験システム - 特許庁
  • Customize test input.
    テスト入力をカスタマイズします 。 - NetBeans
  • The scan input terminals input the test data.
    スキャン入力端子は、テストデータを入力する。 - 特許庁
  • The output from the test buffer is input to a test latch.
    テスト・バッファの出力はテスト・ラッチに入力される。 - 特許庁
  • A test result of a test carried out based on the test plan is input by a test result input means 103.
    さらに、試験計画に基づいて実施された試験の試験結果を試験結果入力手段１０３にて入力する。 - 特許庁
  • CALIBRATION DATA INPUT SYSTEM FOR TEST DEVICE
    試験機器の較正データ入力システム - 特許庁
  • MOBILE PHONE VOICE INPUT TEST DEVICE
    携帯電話機音声入力試験装置 - 特許庁
  • TEST METHOD OF COORDINATE INPUT/OUTPUT DEVICE
    座標入出力装置の試験方法 - 特許庁
  • INPUT DETECTION DEVICE AND TEST CAR
    入力検出装置、及び、試験車両 - 特許庁
  • The test voltage is higher than the input voltage.
    テスト電圧は、入力電圧より高い。 - 特許庁
  • The test result input section 22 receives the input of the test result of the test pattern carried out in the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.
    試験結果入力部２２は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１で行ったテストパターンの試験結果が入力される。 - 特許庁
  • TEST AND GRADING SUPPORT SYSTEM CAPABLE OF PEN INPUT
    ペン入力対応試験採点支援システム - 特許庁
  • CONTROL DEVICE OF TEST TUBE INPUT PATTERN INTO RACK
    ラックへの試験管投入パターンの制御装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR PRINTER INPUT/OUTPUT CHARACTERISTICS
    プリンタ入出力特性試験具及びプリンタ入出力特性試験方法 - 特許庁
  • PROGRAM TEST INFORMATION INPUT SUPPORTING METHOD AND SYSTEM
    プログラムテスト情報入力支援方法及びシステム - 特許庁
  • The same test input value as that inputted from one input test pin is inputted to circuits K_1-K_N.
    回路Ｋ_1〜Ｋ_Nには、１個の入力テストピンから入力された同一のテスト入力値が入力される。 - 特許庁
  • The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.
    電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁
  • The test simulator 41 tests the operation of the test object software 44 according to a test scenario 45 input from test control means 43.
    テストシミュレータ41は、テスト制御手段43から入力されたテストシナリオ45に従って、テスト対象ソフトウェア44の動作をテストする。 - 特許庁
  • An input switch signal 8 is set in a test mode by a test enable signal input from a test setting terminal 5, and a signal input from a tester 2 is input into an address control 9.
    テスト設定端子５から入力されるテストイネーブル信号によって入力切替スイッチ８はテストモードに設定し、テスター２から入力される信号はアドレスコントロール９に入力する。 - 特許庁
  • INPUT-VOLTAGE TEST CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    入力電圧テスト回路および集積回路装置 - 特許庁
  • A question text input part 2 accepts input of a question test from a user.
    質問文入力部２はユーザからの質問文の入力を受け付ける。 - 特許庁
  • An input device is operated to change the test conditions input in the test condition columns 31a, 31b, 31e, 31f, and a test start button 52a is pushed to start the test.
    そして、入出力装置を操作して試験条件欄３１ａ，３１ｂ，３１ｅ，３１ｆに入力されている試験条件を変更し、試験開始ボタン５２ａを押圧して試験を開始する。 - 特許庁
  • A time difference between test sound signal output and test sound input is calculated.
    テスト音声信号出力からテスト音声入力までの時間差を算出する。 - 特許庁
  • Test body data 2 which is characteristic to the X-ray photographing device are input from a test body data input means 1.
    試験体データ入力手段１からＸ線撮影装置に固有な試験体データ２を入力する。 - 特許庁
  • To reduce the labor of input or selection in test.
    テストにおける入力や選択の手間を削減する。 - 特許庁
  • This file contains the input data for the test case.
    このファイルには、テストケースの入力データが含まれます。 - NetBeans
  • To customize test input:
    テスト入力をカスタマイズするには、次の手順に従います。 - NetBeans
  • METHOD OF CREATING INITIAL INPUT VECTOR OF TEST GENERATION CIRCUIT
    テスト発生回路の初期入力ベクトルの作成方法 - 特許庁
  • The control part inputs the test data to the scan input terminals when the burn-in test is started through the test substrate.
    制御部は、バーンインテストを開始するときに試験基板を介してテストデータをスキャン入力端子に供給する。 - 特許庁
  • The metallic test access bath is selectively combined with the input output port to form a test bath.
    メタリックテストアクセスバスは入出力ポートに選択的に結合して、テストパスを確立する。 - 特許庁
  • One of the input signals An is a test input signal An (n=10) of a predetermined test input voltage and outputted from the controller 1.
    入力信号Ａｎの一つは、所定試験入力電圧の試験入力信号Ａｎ（ｎ＝１０）であり、制御器１から出力される。 - 特許庁
  • The same data input into the normal path is also input to the test buffer.
    通常のバッファに入力される同一のデータはテスト・バッファにも入力される。 - 特許庁
  • A test circuit 20 is provided on a circuit for transmitting a test signal inputted from a test signal input section 12 to a test signal output section 14.
    テスト回路２０は、テスト信号入力部１２から入力されたテスト信号を、テスト信号出力部１４へと伝達する回路に設ける。 - 特許庁
  • The user feeds into the input scanner a special test pattern sheet.
    入力スキャナには特別のテストパターンシートが付与される。 - 特許庁
  • DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR INPUT DATA GENERATION FOR TEST
    テスト用入力データ生成装置及び方法及びプログラム - 特許庁
  • TEST-FACILITATING CIRCUIT EQUIPPED WITH INPUT TIMING ADJUSTING CIRCUIT
    入力タイミング調整回路を備えたテスト容易化回路 - 特許庁
  • SCAN TEST PATTERN INPUT METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    スキャンテストパタン入力方法および半導体集積回路 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR LSI CARRYING COMPLEX INPUT/OUTPUT CELL
    複合入出力セルを搭載したＬＳＩのテスト方法 - 特許庁
  • A test mode signal STM1 inputted form a test mode terminal 14 is supplied for the control input of the MUX 3 via a test mode input part 4.
    テストモード端子１４より入力されるテストモード信号ＳＴＭ１はテストモード入力部４を介してＭＵＸ３の制御入力に付与される。 - 特許庁
  • In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.
    テストケース生成装置１００において、シナリオテストケース抽出部１０４は、シナリオ入力部１０２から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁
  • Out of test cases included in a set of input test cases, test cases having the determined value are determined as candidates (712).
    入力テスト・ケースの集合に含まれるテストケースのうち、上記で決定した値を持っているものを候補とする（７１２）。 - 特許庁
  • Test input data are inputted from an input terminal 11 and stored in a FIFO memory 2.
    入力端子１１からテスト入力データを入力し、ＦＩＦＯメモリ２に格納する。 - 特許庁
  • The other system test comparator 13B compares the input two test data, and when the two test data are not matched as the result of comparison, the other system test comparator 13B notifies a self-system CPU3A of an error.
    他系のテストコンパレータ１３Ｂは、入力される２つのテストデータを比較し、比較の結果、一致しない場合、自系のＣＰＵ３Ａにエラーを通知する。 - 特許庁
  • A test program 1 is input into an extraction means 21, and the test condition parameter is extracted therein.
    テストプログラム１は、抽出手段２１へ入力され、テスト条件パラメータを抽出される。 - 特許庁
  • A test mode generating part 2 at least generates a test mode according to input selection from the outside.
    テストモード生成部２は外部からの入力選択に応じて少なくともテストモードを生成する。 - 特許庁
  • Then test operation is performed for a test circuit 21 in accordance with an input of a surplus address.
    そして、その余剰なアドレスの入力に応じて、テスト回路２１にテスト動作を実行させる。 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE
    高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • A test value input prompting means 11 displays the acquired argument and the type thereof to prompt an operator to input a test value.
    テスト値入力催促手段11は取得された引数およびその型を表示しテスト値の入力を操作者に促す。 - 特許庁
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