「Inspecting」を含む例文一覧(12219)

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  • METHOD FOR INSPECTING QUALITY OF DRIED LAVER
    乾海苔の品質検査方法 - 特許庁
  • INSPECTING DEVICE OF STEERING LOCK DEVICE
    ステアリングロック装置の検査装置 - 特許庁
  • MEASURING METHOD AND INSPECTING APPARATUS
    測定方法および検査装置 - 特許庁
  • CAMERA WITH OPERATION INSPECTING FUNCTION
    動作検査機能を有するカメラ - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR SAMPLES
    半導体試料の検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MOUNTING AND INSPECTING
    実装方法及び検査方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING DEVICE FOR PRINTING PAPER
    印刷用紙欠陥検査装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING LINE WIDTH OF PHOTOMASK
    フォトマスクの線幅検査方法 - 特許庁
  • INSPECTING TOOL AND ITS USING METHOD
    検査具及びその使用方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR INSPECTING FOREIGN SUBSTANCES WITHIN STONE
    石材内の異物検査装置 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT FOR INSPECTING OSCILLATOR
    発振器検査用集積回路 - 特許庁
  • APPARATUS FOR INSPECTING BELT OF BELT CONVEYER
    ベルトコンベアのベルトの検査装置 - 特許庁
  • PATTERN INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREFOR
    パターン検査方法および装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING ATOPIC DERMATITIS
    アトピー性皮膚炎の検査方法 - 特許庁
  • I was down there inspecting the property.
    地下で資産を調べてました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • the act of inspecting or verifying
    検査または検証する行為 - 日本語WordNet
  • a dental instrument used for inspecting the mouth, called mouth mirror
    歯鏡という医療器具 - EDR日英対訳辞書
  • METHOD FOR INSPECTING CRYSTAL OSCILLATOR
    水晶発振器の検査方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING BIMETAL
    バイメタル検査方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING INSIDE EXHAUST GAS HOOD AND SCAFFOLDING FOR INSPECTING INSIDE EXHAUST GAS HOOD
    排ガスフード内点検方法および排ガスフード内点検用足場 - 特許庁
  • BUMP FORMING DEVICE, BUMP FORMING METHOD, INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD
    バンプ形成装置、バンプ形成方法、検査装置および検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING INTERNAL STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND INSPECTING DEVICE THEREOF
    半導体デバイスの内部構造検査方法及びその検査装置 - 特許庁
  • INSPECTING METHOD FOR INK JET HEAD, INK JET RECORDING DEVICE, AND INSPECTING MEMBER
    インクジェットヘッドの検査方法、インクジェット記録装置及び検査部材 - 特許庁
  • CIRCUIT INSPECTING METHOD AND CIRCUIT BOARD CORRESPONDING TO THIS INSPECTING METHOD
    回路の検査方法とこの検査方法に対応した回路基板 - 特許庁
  • DEVICE FOR INSPECTING DISPLAY PANEL LIGHTING AND METHOD FOR INSPECTING DISPLAY PANEL LIGHTING
    表示パネル点灯検査装置、及び表示パネル点灯検査方法。 - 特許庁
  • ELECTRONIC MAIL INSPECTING DEVICE, ELECTRONIC MAIL INSPECTING METHOD, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
    電子メール監査装置、電子メール監査方法、プログラム、記憶媒体 - 特許庁
  • POSITIONING MECHANISM, INSPECTING APPARATUS AND INSPECTING METHOD OF ELECTROOPTICAL DEVICE
    位置決め機構、検査装置および電気光学装置の検査方法 - 特許庁
  • WELD ZONE INSPECTING METHOD, ITS INSPECTING DEVICE AND WELDED PIPE FOR PIPING
    溶接部検査方法並びに検査装置及び配管用溶接管 - 特許庁
  • INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD OF A/D CONVERTER
    Ａ／Ｄ変換器の検査装置及びＡ／Ｄ変換器の検査方法 - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING FLAWS OF POLYAMIDE RESIN MOLDED BODY AND INSPECTING DEVICE THEREOF
    ポリアミド樹脂成形体の欠陥検査方法及びその検査装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING ORGANIC ELECTRO-LUMINESCENCE PANEL AND ORGANIC ELECTRO-LUMINESCENCE PANEL INSPECTING APPARATUS
    有機ＥＬパネル検査方法及び有機ＥＬパネル検査装置 - 特許庁
  • WIRING STRUCTURE OF ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING EQUIPMENT AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING EQUIPMENT
    電子部品検査装置の配線構造及び電子部品検査装置 - 特許庁
  • IMAGE FORMING APPARATUS, PRINTED RESULT INSPECTING APPARATUS AND PRINTED RESULT INSPECTING METHOD
    画像形成装置、印刷結果検査装置、印刷結果検査方法 - 特許庁
  • INSPECTING EQUIPMENT FOR ASSEMBLING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS INSPECTING METHOD
    半導体デバイスの組み立て工程検査装置及び検査方法 - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING FLOATING DEFECT OF COMPONENT ELECTRODE AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE
    部品電極の浮き不良の検査方法および基板検査装置 - 特許庁
  • PROCESSING EQUIPMENT, INSPECTING DEVICE, MANUFACTURING SYSTEM AND INSPECTING SYSTEM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD
    プリント基板の加工装置、検査装置、製造システム及び検査システム - 特許庁
  • INSPECTING SYSTEM FOR BOARD SUBJECTED TO INSPECTION AND INSPECTING METHOD FOR BOARD SUBJECTED TO INSPECTION
    被検査基板の検査システム及び被検査基板の検査方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING WAFER AS WELL AS INSPECTING INFRARED IMAGING UNIT
    ウェハ検査方法、検査装置及び検査用赤外線撮像装置 - 特許庁
  • DISPLAY INSPECTING DEVICE OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND ITS DISPLAY INSPECTING METHOD
    液晶表示装置の表示検査装置とその表示検査方法 - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEVICE FOR INSPECTING THE SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の検査方法および半導体装置の検査装置 - 特許庁
  • SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTING APPARATUS, SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTING METHOD, AND PROGRAM OF THE SAME
    基板外観検査装置、基板外観検査方法及びそのプログラム - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INSPECTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING DEVICE
    半導体検査装置の製造方法および半導体検査装置 - 特許庁
  • INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND INSPECTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の検査方法および半導体装置の検査装置 - 特許庁
  • INSPECTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND INSPECTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の検査方法及び、半導体装置の検査システム - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR LASER, INSPECTING DEVICE, RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM
    半導体レーザの検査方法、検査装置、記録媒体及びプログラム - 特許庁
  • INSPECTING DEVICE FOR IMAGE FORMING APPARATUS
    画像形成装置の検査装置 - 特許庁
  • SURFACE INSPECTING APPARATUS AND METHOD
    表面検査装置および方法 - 特許庁
  • INSPECTING APPARATUS AND LENS FOR INSPECTION
    検査装置および検査用レンズ - 特許庁
  • ALIGNMENT INSPECTING DEVICE FOR SOLDER BALL
    はんだボールの整列検査装置 - 特許庁
  • DEVICE FOR INSPECTING SEALABILITY OF HOUSING
    筐体の密閉性検査装置 - 特許庁
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