「Instrument error」を含む例文一覧(162)
＜前へ 1 2 3 4- To estimate an accurate time constant in which an error due to a vibration such as a waveform current ripple or the like is removed from a response waveform of a torque axis voltage reference when an exciting current reference is changed stepwise in a constant speed state without necessity of a measuring instrument for tuning and to set the time constant as a secondary time constant to a motor controller.
チューニングのための測定器を必要とせず、速度一定状熊で励磁電流基準をステップ変化させたときのトルク軸電圧基準の応答波形から、波形の電流リプルなどの振動による誤差を除去した正確な時定数を推定し、これを二次時定数として装置に設定する。 - 特許庁 - To directly measure a variation without being covered with an AD conversion quantization error, in an instrument for measuring the variation of a surface potential difference caused by a difference in frequencies of an alternating current impressed between two points in the ground in order to specify a substance containing in the ground and to specify precisely a position and a depth thereof.
地中に含有する物質の特定及びその位置と深度を高精度に特定するために、大地の２点間に印加される交流電流の周波数の違いに起因する表面電位差の変化量を計測する装置において、ＡＤ変換量子化誤差に埋もれること無く、直接変化量を計測すること。 - 特許庁 - When the bit error rate of an MPEG-TS signal from a demodulation circuit is measured by a BER measuring instrument, a false MPEG-TS signal from the demodulation circuit is inputted from the input section to a connection circuit for measuring BER, and the false MPEG-TS signal from the input section is delivered to a buffer.
復調回路からのＭＰＥＧ−ＴＳ信号のビットエラーレートをＢＥＲ測定器で測定する際、ＢＥＲ測定用接続回路では、復調回路からの疑似ＭＰＥＧ−ＴＳ信号が入力部より入力され、この入力部からの疑似ＭＰＥＧ−ＴＳ信号がバッファ部に与えられる。 - 特許庁 - In this hole path measuring method and instrument, the probe 1 is put on the plane plate 20 to measure the first pitch angle θ_1, the probe 1 is rotated thereafter by 180° to measure the second pitch angle θ_2, and the pitch angle θ of the probe 1 is corrected using the obtained pitch angle error δθ in the computing part 7.
本発明による孔路計測方法及び装置は、平面板(20)上にプローブ(1)をおいて第１ピッチ角(θ_1)を計測した後に、プローブ(1)を１８０度反転させて第２ピッチ角(θ_2)を計測し、演算部(7)で得たピッチ角誤差(δθ)を用いてプローブ(1)のピッチ角(θ)の補正を行う方法と構成である。 - 特許庁 - To provide a measuring probe capable of continuously an extremely fine region of a nanometer order while minimizing a contact state or a measuring position error without separating probes from a sample each time when measurement in a depth direction is performed with respect to the sample, a measuring instrument of surface characteristics and a measuring method of surface characteristics.
試料に対して深さ方向の計測を行う際に、探針をその都度試料から離間させる必要がなく、接触状態や計測位置誤差を最小限に抑えてナノメートルオーダーの極微細領域を連続して計測することができる計測プローブ及び表面特性計測装置並びに表面特性計測方法を提供すること。 - 特許庁 - This bioinformation measuring instrument executes the measurement using a blood flow velocity sensor formed by combining a plurality of ultrasonic sensors composed of ultrasonic transmitting elements and ultrasonic receiving elements, determines error data from angle information computed from signals of the respective ultrasonic sensors, and finds the blood flow velocity based on frequency distribution data minimizing the influence of the noise.
本願発明は、超音波発信素子と超音波受信素子から成る超音波センサを複数個組み合わせた血流速度センサを用いて計測を行い、それぞれの超音波センサの信号から演算した角度情報からエラーデータを判別し、ノイズの影響を最小限とした周波数分布データに基づき血流速度を求めるものである。 - 特許庁 - (3) The conformity to paragraph 1, item 2 shall be determined by the method specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry and by using a measuring instrument that has passed an inspection of verification standards set forth in Article 102, paragraph 1 (or, with regard to the instrumental error of specified measuring instruments specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry, by using a reference material specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry).
３ 第一項第二号に適合するかどうかは、経済産業省令で定める方法により、第百二条第一項の基準器検査に合格した計量器（経済産業省令で定める特定計量器の器差については、経済産業省令で定める標準物質）を用いて定めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Article 49 (1) Any person who has performed a alteration (limited to the kind of alterations specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 2, paragraph 5; the same shall apply in the next paragraph.) or a repair of a specified measuring instrument affixed with a verification mark, etc. matching number set forth in Article 74, paragraph 2 or 3, or fitting inspection mark set forth in Article 75, paragraph 2 shall remove such a verification mark, etc., matching number or fitting inspection mark; provided, however, that this shall not apply to the case where a notifying manufacturing business operator or notifying repair business operator has performed a repair of said specified measuring instrument, or where a person who has obtained a designation set forth in Article 127, paragraph 1 has performed a repair specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry of a specified measuring instrument used at his/her place of business pertaining to the designation, if the performance of such a repaired specified measuring instrument conforms to the technical standards specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry and the instrumental error of such a repaired specified measuring instrument does not exceed the tolerance for use specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry.
第四十九条 検定証印等、第七十四条第二項若しくは第三項の合番号又は第七十五条第二項の装置検査証印が付されている特定計量器の改造（第二条第五項の経済産業省令で定める改造に限る。次項において同じ。）又は修理をした者は、これらの検定証印等、合番号又は装置検査証印を除去しなければならない。ただし、届出製造事業者若しくは届出修理事業者が当該特定計量器について、又は第百二十七条第一項の指定を受けた者がその指定に係る事業所において使用する特定計量器について、経済産業省令で定める修理をした場合において、その修理をした特定計量器の性能が経済産業省令で定める技術上の基準に適合し、かつ、その器差が経済産業省令で定める使用公差を超えないときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To provide an electrical characteristics measuring instrument for a semiconductor chip and its method, for forming a conductive part relatively easy to manufacture on a measurement stage so as to allow four-terminal measurement, reducing a measurement error due to contact resistance between a back-surface electrode of the semiconductor chip and the measurement stage, and providing stable contact even if some positional displacement exists.
本発明の目的は、測定ステージに４端子測定を可能とする比較的製作が容易な導電部を形成し半導体チップの裏面電極と測定ステージとの接触抵抗による測定誤差を減少させ、かつ、若干の位置ズレがあっても安定した接触が得られる半導体チップの電気特性測定装置及び方法を提供することである。 - 特許庁 - (3) The conformity to the preceding paragraph 1, item 3 shall be determined by the method specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry and by using a measuring instrument which has passed an inspection of verification standards set forth in Article 102, paragraph 1 (as to instrumental error of specified measuring instruments specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 3, reference material specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in the same paragraph).
３ 第一項第三号に適合するかどうかは、経済産業省令で定める方法により、第百二条第一項の基準器検査に合格した計量器（第七十一条第三項の経済産業省令で定める特定計量器の器差については、同項の経済産業省令で定める標準物質）を用いて定めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Article 19 (1) A person who uses, for measurements in statutory measurement units in conducting transactions or certifications, a specified measuring instrument specified by Cabinet Order (excluding those specified by Cabinet Order set forth in Article 16, paragraph 1 or Article 72, paragraph 2) which is deemed to be appropriate to be inspected on a regular basis pertaining to its performance and instrumental error in consideration of its structure, conditions for use, actual use status, etc. shall place the specified measuring instrument under a periodic inspection conducted by the prefectural governor (or the head of the specified municipality, if the person's place of business is located in such a specified municipality) having jurisdiction over the location of the person's place of business (or the person's domicile, if the person has no place of business; hereinafter the same shall apply in this Section); provided, however, that this shall not apply to the following specified measuring instruments:
第十九条 特定計量器（第十六条第一項又は第七十二条第二項の政令で定めるものを除く。）のうち、その構造、使用条件、使用状況等からみて、その性能及び器差に係る検査を定期的に行うことが適当であると認められるものであって政令で定めるものを取引又は証明における法定計量単位による計量に使用する者は、その特定計量器について、その事業所（事業所がない者にあっては、住所。以下この節において同じ。）の所在地を管轄する都道府県知事（その所在地が特定市町村の区域にある場合にあっては、特定市町村の長）が行う定期検査を受けなければならない。ただし、次に掲げる特定計量器については、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - A measuring instrument of traverse for vehicles to display the present position of a vehicle by calculating according to traveling bearing and mileage of vehicles, having magnetic compass (1) detecting the traveling bearing of vehicles, a means of calculating traveling bearing (27) of vehicles according to the angle of a steering wheel detected by the angle sensor (3) and the fixed initial value, a means of calculating a position (5) which indicates the present position of a vehicle by switching the bearing detected by the magnetic compass to the traveling bearing according to the angle detected by the angle sensor when the error is more than the specified value.
車両の進行方位角と走行距離とに基づいて、車両の現在位置を演算して表示する車両用走行測定装置において、車両の進行方位角を検出する磁気コンパス(１)と、舵角センサ(３)で検出した操舵輪の舵角と予め定めた初期値とから車両の進行方位角を演算する手段(27)と、上記磁気コンパスの検出方位角に所定値以上の誤差が生じたときに、舵角センサの検出舵角に基づく進行方位角に切換えて車両の現在位置を演算する位置演算手段(５)とを有することを特徴とする車両走行測定装置。 - 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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