「Inverted microscope」を含む例文一覧(66)
＜前へ 1 2- That is, the inverted microscope includes an ocular optical system which introduces the light propagating through the optical paths P13 to P17 of the image forming optical system 202 to an observer.
即ち、図示はしないが、この倒立顕微鏡には、結像光学系２０２の光路P１３乃至光路P１７を伝搬した光を観察者に導く接眼光学系が存在する。 - 特許庁 - To rationally separate a transparent illumination unit from a stage even when design for suppressing the height dimension of an inverted microscope is performed and to reduce the occurrence of accompanied troubles as much as possible.
倒立側顕微鏡の高さ寸法を抑える設計を行ったとしても、ステージから透過照明ユニットを合理的に遠ざけ、また、付随する問題の発生を極力少なくする。 - 特許庁 - Since the well is formed on the surface of the thin plate of 50 to 200μm thickness, the inspection objective body in the well can be observed from the rear side with an inverted microscope, therefore processing the inspection objects, such as seeding the inspection object can be performed easily and surely, without being obstructed by the objective lens of the microscope.
ウエルが厚さ５０〜２００μｍの薄板表面に形成されているので、ウエル内の被検体を倒立顕微鏡でウエルプレートの裏側から観察することが可能となり、顕微鏡の対物レンズに邪魔されることなく、被検体の播種等の被検体処理を容易かつ確実に行える。 - 特許庁 - To provide a microregion scanning apparatus utilizing a cylindrical piezoelectric element which does not cause hindrance to application of an SPM to various fields, particularly mounting of the SPM on a biological inverted microscope.
ＳＰＭの様々な分野への応用、特にＳＰＭを生物用倒立顕微鏡に搭載する際に障害とならない円筒型圧電素子利用の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁 - The structure of a gate type supporting member having an integral rigid body is formed of a front-side support leg 22, a rear-side support leg 24 and a horizontal member 25, and the gate-type structure is fixed on an inverted microscope body 1.
前側支持脚２２、後側支持脚２４及び水平部材２５により一体的な剛体を持つ門型支持部材の構造を成し、この門型構造を倒立顕微鏡本体１上に固定する。 - 特許庁 - By inserting a glass plate between the silicone film and the oil lens, the cell on the silicone film and molecules in the cell can be observed at high magnification for a long time with the inverted microscope.
シリコーン膜とオイルレンズの間にガラス板を挿入することで、シリコーン膜上の細胞および細胞内分子を倒立顕微鏡により高倍率かつ長時間観察することが可能である。 - 特許庁 - The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112.
倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。 - 特許庁 - A stage 8 is horizontally moved in such a way that an immersion objective lens of an inverted fluorescence microscope may generate a horizontal trajectory 25 of a predetermined shape and size to the bottom surface of the microplate 20.
倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート２０の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡２５を水平方向に描くように、ステージ８を水平方向に移動させる。 - 特許庁 - The caged compound releasing light introduction mechanism is constructed utilizing the inverted microscope, and has a microscope case 101, an eye lens 102, an irradiation light source for observation 103, a dichroic mirror 105, a CCD camera 106, a TV monitor 107, and a light source unit for releasing a caged compound 120 which emits caged compound releasing light.
ケージド解除光導入機構は、倒立型顕微鏡を利用して構成されており、顕微鏡筐体１０１、接眼レンズ１０２、観察用照明光源１０３、ダイクロイックミラー１０５、ＣＣＤカメラ１０６、テレビモニター１０７と、ケージド解除光を射出するケージド解除用光源ユニット１２０とを有している。 - 特許庁 - To provide an automatic focusing optical device which does not occupy a space between an objective lens and a second objective lens and permits a quick focusing operation for a specimen, and to provide an inverted microscope having the automatic focusing optical device.
対物レンズと第２対物レンズとの間をオートフォーカス光学装置が占有することなく、かつ標本に対する俊敏な合焦動作を可能にするオートフォーカス光学装置と、これを有する倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - In a state of observing the slide glass 23 from vertically below by the inverted microscope 5, the nozzle 16 is moved closer toward a surface side of the slide glass 23 from above the slide glass 23, a solution (the separation liquid) is dropped from the nozzle 16, and the separated cell is sucked up.
倒立顕微鏡５により、鉛直下からスライドグラス２３を観察する状態にしておき、スライドグラス２３の上方からスライドグラス２３の表面側に向けてノズル１６を接近させ、そのノズル１６から溶液（剥離液）を滴下して、剥がれた細胞を吸い上げる。 - 特許庁 - The inverted type fluorescence microscope 1 has a sample cover 3 on the front of a main body case 2, and the sample cover 3 is displaced downward along a lower cover 4 under the sample cover 3, which substantially constitutes a part of the main body case 2, whereby the sample is made to get in/out.
倒立型蛍光顕微鏡１は、本体ケース２の前面に標本カバー３を有し、この標本カバー３は、その下の本体ケース２の一部を実質的に構成する下部カバー４に沿って下方に変位することができ、これにより標本の出し入れを行うことができる。 - 特許庁 - The microscope 1 is configured to take an upright position in which the lens barrel part 30 is positioned above the sample stage 40 and an inverted position in which the lens barrel part 30 is positioned under the sample stage 40 by rotating the turntable 20 with respect to the base 10.
この顕微鏡１は、回転台２０を土台部１０に対し回転させることで、鏡筒部３０が試料台４０に対して上方に位置する正立位置と、鏡筒部３０が試料台４０に対して下方に位置する倒立位置とに配置することができるように構成されている。 - 特許庁 - In a wafer supporting device 5 or a wafer observing device 1, a wafer W facing a light transmission member 14 fitted in an opening 12 of a wafer holder 11 is positioned with respect to an objective lens 3 of an inverted microscope 2 facing an opening 6 of a base 7, and then the wafer holder 11 is fixed to the base 7 by a fixing mechanism 31.
ウェハ支持装置５延いては観察装置１では、ベース７の開口６に臨む倒立型顕微鏡２の対物レンズ３に対して、ウェハホルダ１１の開口１２に嵌められた光透過部材１４に臨むウェハＷの位置合せが行われた後、固定機構３１によってベース７に対してウェハホルダ１１が固定される。 - 特許庁 - An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.
対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁 - In the time lapse observation, while performing an autofocus, the inverted microscope system does not allow an application of the exiting light to the observation sample, when photographing the observation sample after finishing the autofocus, allows the application of the exiting light to the observation sample, and after finishing the photographing, does not allow the application of the exciting light to the observation sample again.
タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 - 特許庁
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