「Light Microscope」を含む例文一覧(886)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 次へ＞- The substrate for reaction chip is composed of an organic polymer, which reduces the relative fluorescence intensity of visible light transmitted through a slide glass for fluorescence microscope to 10 or smaller, when fluorescence spectra are measured.
蛍光スペクトルを測定したとき、蛍光顕微鏡用スライドガラスに対する可視光における相対蛍光強度が１０以下であることを特徴とする有機系高分子からなる反応チップ用基板。 - 特許庁 - To provide a compact and inexpensive multiphoton-excitation laser scanning microscope for observing multiphoton fluorescence having a plurality of wavelengths by irradiating a specimen with ultrashort pulsed laser light having a plurality of wavelengths.
複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A scanning type laser microscope 2 has irradiation means which irradiates the top of a sample 38 with a beam emitted from a light source 4 through an objective lens 34 and generates fluorescence from the sample 38.
走査型のレーザー顕微鏡２は、光源４から出射したビームを対物レンズ３４を介して標本３８上に照射して、この標本３８から蛍光を発生させる照射手段を有する。 - 特許庁 - To provide a microscope for laser welding, capable of protecting eyes from an intense light, such as flashes and plasma generated during laser welding, and confirming a welding part with naked eyes by magnifying it in real time.
レーザー溶接時に発生する閃光，プラズマなどの強力な光から目を保護すると共にリアルタイムで溶接部位を拡大して肉眼で確認できるレーザー溶接用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus capable of enhancing image quality of an in-vivo observation image of a bio-sample, and capable of freely selecting a scanning speed, a scanning pattern and an operating condition of a light source etc.
生物標本のｉｎ-ｖｉｖｏ観察画像の画質を向上させ、走査速度や走査パターン、光源等の使用条件を自由に選択することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an SNOM(scanning-type near-field optical microscope) that can be operated in air for obtaining a high-resolution SNOM image where the influence of scattered light from an area other than the tip of a probe has been eliminated as much as possible.
探針先端以外からの散乱光の影響が極力排除された、従って高分解能なＳＮＯＭ像を得ることのできる、空気中で動作可能なＳＮＯＭを提供する。 - 特許庁 - To provide an extremely thin illumination light producing device for microscope and an observation method with which stereoscopic information of cells and the like can be acquired by using the device.
顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記顕微鏡用極薄照明光発生装置を用いて、細胞等の立体情報を獲得することができる観察方法を提供する。 - 特許庁 - A microscope 10 includes an illuminating unit 13 that includes an excitation light source 21 emitting an excitation light, a phosphor 22 receiving the excitation light and emitting illumination light in a specific wavelength range, and a contact lens 23 collecting the illumination light emitted by the phosphor 22, and an observation unit 14 for picking up an observation image of a specimen 27 illuminated with the illumination light collected by the contact lens 23.
顕微鏡１０は、励起光を射出する励起光源２１と、励起光原２１が射出した励起光を受けて特定波長域の照明光を放出する蛍光体２２と、蛍光体２２が放出した照明光を集めるコレクタレンズ２３とを有し、コレクタレンズ２３が集めた照明光によって試料２７を照明する照明光学系１３と、照明光学系１３によって照明された試料２７の観察像を撮像する観察光学系１４と、を備える。 - 特許庁 - In the device for generating a laser light beam such as an illumination light beam preferably for a confocal scanning microscope, including at least one laser light source (2), the laser light source (2) constitutes a module (1) having a mechanical and/or electrical and/or optical interface which is regulated to the outside individually or by grouping.
少なくとも１つのレーザ光源（２）を含んで構成される、好ましくは共焦点式の走査顕微鏡のための照明光ビーム等のレーザ光ビームを生成するための装置において、前記レーザ光源（２）は、個別に又はグループ化されて、外部に対して規定される機械的及び／又は電気的及び／又は光学的インターフェースを有するモジュール（１）を構成することを特徴とする。 - 特許庁 - This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.
この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁 - To provide a scanning molecule counting method which detects signals from light emitting particles by measuring light for each of a plurality of wavelength bands different from each other using a confocal microscope or a multiphoton microscope, including a new method for correcting the reduction in the number of signals concurrently generated in the plurality of wavelength bands resulting from the deviation in position and dimensions of a photodetection region due to chromatic aberration of a lens.
共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡を用いて複数の互いに異なる波長帯域毎に光を測定して発光粒子の信号を検出する走査分子計数法に於いて、レンズの色収差による光検出領域の位置と寸法のずれに起因する複数の波長帯域に同時に発生する信号の数の低減を補正する新規な手法を提案すること。 - 特許庁 - This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).
本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope device capable of changing independently depth-directional excitation light intensity distributions, on a sample face, of a laser beam for stimulating a sample, and a light for acquiring an image; and to provide an observation method using the same.
標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁 - An ellipsometry microscope includes: an oblique illumination system that includes a light source, a polarizer and a phase compensator and emits an illumination light L4 obliquely to a sample surface SP; an imaging system; an analyzer 23; and an imaging element 24 for detecting an image by the imaging system on the detection surface 25.
エリプソメトリー顕微鏡は、光源と偏光子と位相補償子とを備えると共に試料面ＳＰに対して照明光Ｌ４を斜めに照射する斜め照明系と、結像系と、検光子２３と、結像系による像を検出面２５で検出する撮像素子２４とを備える。 - 特許庁 - The confocal optical microscope 100 also has a caged-state release optical system for irradiating the sample with light for releasing the caged compound, and the system is constituted of the objective lens 107, a light source 131 for caged-state release, a dichroic mirror 132 and a shutter 133.
共焦点光学顕微鏡１００は更にＣａｇｅｄ化合物を解除する光を試料に照射するＣａｇｅｄ解除光学系を有し、それは、対物レンズ１０７と共に、Ｃａｇｅｄ解除用光源１３１とダイクロイックミラー１３２とシャッター１３３とから構成される。 - 特許庁 - A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.
顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系７０と、試料を観察光学系７０の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系７０の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置８０と、を備える。 - 特許庁 - To provide an illumination apparatus for a microscope capable of irradiating a specimen with light beams of a plurality of wavelengths simultaneously with the same irradiation intensity distribution and independently setting the wavelength and the intensity of each light beam, and to provide an image processing apparatus using the same.
標本に複数の波長の光を同時にかつ同一の照射強度分布で照射することができ、夫々の光の波長や強度を独立して設定することができる顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.
本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To improve an observation tube for an optical instrument, especially, a microscope so that various functions can be realized time-continuously without unnecessarily attenuating light passing through the observation tube and without unnecessarily increasing structural height, thereby the reflection of the light to different units and (or) the reflection of the light into respective optical paths can be realized.
光学器械、特に顕微鏡の視検筒において、視検筒を通過する光が不必要に減衰することなく、また構造的な高さを不必要に増大させることなく、時間的に連続して種々の機能を実現でき、たとえば異なるユニットへの光の反射および（または）それぞれの光路内への光の反射を実現できるように改良する。 - 特許庁 - In an image processing device 70, a visible light image acquisition control part 771 controls operation of a microscope 10 and acquires a visible light image by imaging visible light observation image of a sample to which HE dyeing has been applied and dyeing (fluorescent label) has been applied with fluorescent dye binding specifically to a cell nucleus.
本発明のある実施の形態の画像処理装置７０において、可視光画像取得制御部７７１は、顕微鏡１０の動作を制御し、ＨＥ染色が施され、細胞核と特異的に結合する蛍光色素によって染色（蛍光標識）が施された標本の可視光観察像を撮像して可視光画像を取得する。 - 特許庁 - The scanning type laser microscope 1 includes scanning means 21, 21' which two-dimensionally scan a laser beam from a laser light source 2, and a light-shielding member 4 covering the scanning means 21, 21', and further, has heat radiating means 25, 25' radiating the heat generated by the scanning means 21, 21' into a space outside the light-shielding member.
レーザ光源２からのレーザ光を二次元に走査する走査手段２１、２１’と、前記走査手段２１、２１’を覆う遮光部材４とを有する走査型レーザ顕微鏡１であって、前記走査手段２１、２１’が発生する熱を前記遮光部材の外側の空間に放熱する放熱手段２５、２５’を有する走査型レーザ顕微鏡１。 - 特許庁 - Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.
もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.
レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁 - To provide a lens barrel for microscope having light and inexpensive constitution, in which the height of an imaging apparatus attaching part can be secured without using an optical element for extending an image position and there is no degradation of colors and an image of an imaging optical path.
像位置を延ばすための光学素子を用いることなく撮像装置取付部の高さを確保し、撮像光路の色と像の劣化のない、軽量かつ安価な構成の顕微鏡鏡筒を実現する。 - 特許庁 - To provide an optical path-selecting device which decreases troublesomeness in an optical path-selecting optical element and in opening and closing a shutter to prevent stray light, and also provide an illumination device having the same and a microscope having the same.
光路選択光学素子やシャッタ開閉動作の煩わしさを軽減し、迷光を防止することが可能な光路選択装置と、これを有する照明装置、及びこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a portable binocular microscope by which the recording and the simultaneous observation of an image are easily executed even through it is small- sized and is light in weight and which is carried out and used to/at outdoors and to provide an image pickup method using it.
小型軽量であっても画像の記録や同時観察などを簡便に行うことができ、野外に持ち出して使用できるような携帯用の双眼顕微鏡とそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.
簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁 - To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.
標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To improve the reproducibility of a position relation on a light source, a foreign matter and an opening part, to eliminate the need of a complicated operation for using an optical microscope and to highly precisely evaluate PRNU.
光電変換素子を用いたラインセンサーにおいて、光源、異物、開口部の位置関係の再現性が良く、光学顕微鏡を使うような煩雑な操作が不要で、精度良くＰＲＮＵを評価することができるようにする。 - 特許庁 - A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.
投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁 - STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE
近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁 - The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.
顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁 - When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.
試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁 - To provide an electron microscope with a practical monochromator which can increase the image resolution by monochromatizing the energy of an irradiation electron beam and reducing the diameter of a light spot while decreasing chromatic aberration.
照射電子ビームのエネルギーを単色化し、色収差を低減してスポット系を縮小することにより、像分解能を高めることのできる実用的なモノクロメータを備えた走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity.
最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。 - 特許庁 - A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.
試料を上方から観察する光学顕微鏡１の載置台上に配置された熱処理ユニット４内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁 - Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.
照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁 - The camera port 50 is provided on an upper part of a microscope body 32 on the opposite side to the side on which the eye lens 39 is held as viewed from the optical axial direction of the light entering the lens barrel 38.
そして、カメラポート５０は、鏡筒３８に入射する光軸の軸方向から見て、接眼レンズ３９が保持されている方向に対して反対側であって、顕微鏡本体３２の上部に設けられている。 - 特許庁 - To obtain a microscope objective lens system comprising lenses made of only fluorite and fused quartz, capable of correcting aberrations in a far-ultraviolet region and a visible light region, and also, capable of sufficiently correcting various aberrations.
遠紫外光領域と可視光領域において収差補正可能な、蛍石と石英ガラスだけで構成される顕微鏡対物レンズ系であって、諸収差を良好に補正した顕微鏡対物レンズ系を得る。 - 特許庁 - The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.
本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁 - To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.
本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - When the work W is observed under a microscope, first, one of the light sources 62A, 62B and 62C is arbitrarily selected and respective filter changeover means 70A and 70B are revolved in the direction shown by an arrow to combine filters 72.
顕微鏡によりワークＷを観察する際、まず、光源６２Ａ、６２Ｂ、６２Ｃの内１つを任意に選択し、夫々のフィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂを矢印方向に回動してフィルタ７２を組合わせる。 - 特許庁 - The observation apparatus includes an incident-light illumination optical system, a transmitting illumination optical system, an imaging unit 18, an input device 56, a storage unit 58, an imaging controller 51, a microscope controller 52, and an imaging information management unit 54.
観察装置は、落射照明光学系、透過照明光学系、撮影部１８、入力装置５６、記憶装置５８、撮影制御部５１、顕微鏡制御部５２および撮影情報管理部５４を備える。 - 特許庁 - To provide a fluorescent microscope in simple structure which can form an image of an ultraviolet area by directly detecting fluorescent light of an ultraviolet part generated by short-wavelength ultraviolet-ray excitation and is adaptive to the ultraviolet area.
短波長の紫外線励起によって生じる紫外部の蛍光を直接検出し、紫外領域の像を形成することのできる、簡単な構造を持つ紫外領域対応の蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an adhesive composition for an optical element that continuously suppresses the emission of fluorescence from a cement excited by an excitation light falling on cemented optical elements of a fluorescence microscope and is free from discoloration of the cement and peeling of the cemented surface and to provide a cemented structure.
蛍光顕微鏡の接合光学素子に対し、励起光による接合剤の蛍光を連続的に抑え、変色や剥がれのない光学素子の接着剤組成物及び接着構造体を提供する。 - 特許庁 - The reflecting X-ray microscope includes the convex mirror 1 constituting a Schwarzschild optical system, the concave mirror 2 provided with an aperture 8 and a diaphragm 9 for preventing illuminating light 5 from being blocked by the optical system, and an image detector 4.
シュバルツシルド光学系を構成する凸面鏡１と、照明光５が光学系で遮られるのを避けるための開口部８と絞り９が設けられた凹面鏡２と、画像検出器４とを具備する。 - 特許庁 - To inexpensively provide a uniform illumination for a microscope which can be easily materialized without requiring much manufacturing cost by dispensing with additional measures for radiating high heat due to use of a lamp of a large output without loss of light energy.
製造コスとが掛からず、廉価であり、光エネルギの喪失がなく、出力の大きいランプの使用による高い熱を排出するための付加的な対策が必要とならない、容易に実現できる均一な顕微鏡用照明の提供 - 特許庁 - In an observation area provided on an XYZ stage of a light microscope, first and second photographing areas 11 and 12 which are multiple in a Y axis direction are arranged so as to be overlapped with each other in an X axis direction.
光学顕微鏡のＸＹＺステージ上に設けられた観察領域内で、Ｙ軸方向に沿って複数の第１及び第２の撮影領域１１及び１２が、Ｘ軸方向で互いに重なり合うように配置される。 - 特許庁 - To provide an upright microscope in which a sample is observed regardless of the thickness of the sample by suppressing the deviation of a conjugated relationship among a light source of a vertical illumination system, an aperture, an objective lens and a rear side focus at minimum without deteriorating the vertical illumination performance.
落射照明系の光源と開口絞りと対物レンズと後ろ側焦点との共役関係のずれを最小限に抑えて落射照明性能を劣化させずに、試料の厚みに拘らず試料を観察すること。 - 特許庁 - A microscope for intraocular observation is designed to view an eyeball as an observation object, and includes an observation optical system for observing the interior of the eye illuminated with illumination light and a filter unit 15 mounted on the lower end of a lens barrel 16.
眼球を観察の対象物とするとともに、照明光が照射された眼内を観察する観察光学系を備える眼内観察用顕微鏡であって、鏡筒１６の下端部に装着されるフィルタユニット１５を備える。 - 特許庁
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