「Line defect」を含む例文一覧(530)
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線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置 - 特許庁 - LINE DEFECT INSPECTION METHOD, LINE DEFECT DETECTION DEVICE, LINE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM
線欠陥検査方法、線欠陥検出装置、線欠陥検出プログラム、このプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT
金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁 - DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL
欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁 - LINE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE FOR SCREEN
画面の線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING LINE DEFECT ON PANEL
パネルの線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING PENETRATION DEFECT OF LINE AND LINE PENETRATION DEFECT DETECTING APPARATUS USING THE METHOD
配管の貫通欠陥検知方法およびその方法を用いた配管の貫通欠陥検知装置 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE FOR STEEL STRIP, AND DEFECT REMOVING METHOD THEREFOR
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE OF METALLIC STEEL STRIP AND ITS DEFECT REMOVING METHOD
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁 - To provide a line defect detection method with which even a line defect in a gate direction can be clearly detected in defect detection of a TFT array substrate, and a line defect detection apparatus.
ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出において、ゲート方向の線欠陥でも明確に検出することができる線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT
線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING STEEL PLATE DEFECT IN ROLLING LINE
圧延ラインにおける鋼板欠陥の検出方法 - 特許庁 - To prevent a line defect from occurring by keeping a defect to a point defect even when an electron emitting element is short-circuited in use.
使用中に電子放出素子が短絡しても点欠陥に留めて線欠陥になることを防止する。 - 特許庁 - To widen a bit line pitch and to avoid a vicinity defect of a bit line and a via contact.
ビット線ピッチを緩和し、ビット線とビアコンタクトの近接不良を回避する。 - 特許庁 - It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁 - Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.
そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁 - To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.
ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH WORD LINE DEFECT CHECK CIRCUIT
ワードライン欠陥チェック回路を具備した半導体メモリ装置 - 特許庁 - To improve the detection accuracy of an adjacent defect line.
隣接欠陥ラインの検出精度の向上を実現する。 - 特許庁 - SURFACE DEFECT DETECTING DEVICE FOR STEEL STRIP IN PICKLING LINE
酸洗ラインにおける鋼帯の表面欠陥検出装置 - 特許庁 - To make detectable not only a white line but also a black line in a line defect, and to enhance detection precision.
線欠陥で白線に限らず黒線も検出でき、さらに検出精度の向上を目的とする。 - 特許庁 - The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.
この模擬欠陥１３が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル１０を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁 - In the flat-panel X-ray detector, a line defect connected in a line may be generated and further, an uncertain defective line that cannot be determined to be a defect at a glance may be present at times, in a line adjacent to the line defect.
フラットパネルＸ線検出器では線状につながった線欠陥が生じる場合があり、さらにその線欠陥に隣接するラインに一目では欠陥とわかりづらい不確かな欠陥ラインが存在する場合がある。 - 特許庁 - To eliminate a line trouble caused by harmful defect, without beforehand cutting the harmful defect portion.
有害欠陥部分を事前にカットすることなく、有害欠陥によるライントラブルを解消する。 - 特許庁 - To prevent a point defect or a line defect of a thin film semiconductor device used for a display or the like.
ティスプレイなどに用いられる薄膜半導体装置の点欠陥や線欠陥を防止する。 - 特許庁 - For a V line defect generated in an image due to defect in VCCD of an imaging sensor, the position (initial defect position) of a V line defect generated in an initial state of activation of an imaging apparatus is previously stored in a defect address memory.
撮像センサのＶＣＣＤにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷について、撮像装置の起動初期状態において発生するＶライン傷の位置（初期傷位置）を傷アドレスメモリに予め記憶しておく。 - 特許庁 - An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.
ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁 - To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.
画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - In addition, with a leak defect caused at the intersection of a gate line 1 and the data line 2, the data line 2 is cut on both sides of the gate line 1.
また、ゲート線１とデータ線２との交差部にリーク不良が生じたときには、ゲート線１の両側でデータ線２を切断する。 - 特許庁 - Only when the line defect 7 still appears, will the defect part be specified and an array substrate 21 be repaired.
それでも線欠陥７が現れる場合にのみ、欠陥箇所の特定とアレイ基板２１のリペアを行う。 - 特許庁 - To interpolate a spot defect and a line defect of a photographed image caused by image element defects of a digital camera.
デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。 - 特許庁 - In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.
致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display without a line defect in pixel display.
画素表示に線欠陥のない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To simply and surely correct a defect of disconnection when a scanning line and a signal line are disconnected.
走査線及び信号線の断線時に、簡潔かつ確実に断線欠陥を修正する。 - 特許庁 - In the recoil line, as the position of a defect approaches an inspection base, an line speed is automatically decelerated.
リコイルラインでは、欠陥のある位置が検査台に近づくと自動的にライン速度が減速される。 - 特許庁 - When a line defect 7 is found by lighting inspection, the drive IC chip 4, connected to a signal line at the part of line defect 7, is replaced with a new one.
点灯検査によって線欠陥７が発見された場合には、線欠陥７の箇所の信号線に接続する駆動ＩＣチップ４を、新しいものと交換する。 - 特許庁 - To exactly detect a defect candidate area and a line unevenness area or a point defect area, when the defect candidate area is overlapped with at least one part of the line unevenness area or the point defect area.
欠陥候補領域が筋ムラ領域または点欠陥領域の少なくとも一部と重複する場合において、欠陥候補領域および筋ムラ領域または点欠陥領域を的確に検出する。 - 特許庁 - To provide an inspection method for inspecting a dot-shape defect, a line shape defect, a defect in unevenness of luminance and the like in the stage of an active matrix substrate.
アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥、輝度むら欠陥などを検査することができる検査方法を提供すること。 - 特許庁 - A linear high-luminance defect (V line defect) may occur on a photographed image due to the defect in a vertical CCD of an imaging sensor.
撮像センサの垂直ＣＣＤにおける欠陥に起因して撮影画像上にライン性の高輝度の傷（Ｖライン傷）が発生することがある。 - 特許庁 - To inspect whether or not a defect such as disconnection is caused in a speaker line.
スピーカラインに断線等の異常が生じていないかを検査する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory in which a defect such as word line-bit line connection, word line-bulk connection, word line-word line connection, or the like can be relieved.
ワードライン−ビットライン連結、ワードライン−バルク連結及びワードライン−ワードライン連結等のような欠陥を救済できる不揮発性半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁 - To correct a point defect and a line defect of an imaging device by accurately detecting them in a short time.
撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。 - 特許庁 - To provide a laser cut apparatus for detecting any defect of a laser cut line with high accuracy, and eliminating the defect.
レーザーカット線の不良を高い精度で検出して排除することができるレーザーカット装置を提供すること。 - 特許庁 - By doing this, the one defect correcting method of a V line defect which is set is selectively executed in actual photographing.
そうすると、本撮影時には、設定された一のＶライン傷の補正方法が選択的に実行される。 - 特許庁 - To detect a defect with one set of light sources and a line sensor type camera, and to determine the type of the defect.
１組の光源とラインセンサ型カメラによって欠陥の検出に加え、欠陥の種別の判別も行う。 - 特許庁 - To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.
アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁 - Further, defect in the direction of Y line and X line is considered from the maximum capability decided by substitution capability of Y line and X line to zero.
さらに、Ｙライン及びＸライン置換能力で決定される最大能力からゼロにかけてＹライン及びＸライン方向の不良を考慮する。 - 特許庁 - To well examine a surface defect near a weld line retaining marginal welding.
余盛りを残す溶接線近傍の表面欠陥を良好に検査する。 - 特許庁 - To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.
縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE AND METHOD FOR METAL STRIP
金属帯のオンライン欠陥除去装置及びそのオンライン欠陥除去方法 - 特許庁
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