「M-pattern」を含む例文一覧(404)

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  • M PATTERN
    Mパターン - 特許庁
  • The substrate M has a pattern face Ma where a pattern is formed.
    パターンが形成されたパターン面Maを有する。 - 特許庁
  • Also, the pattern accuracy of the mask pattern is reverse calculated from the design margin M.
    また、この設計マージンMからマスクパターンのパターン精度を逆算する。 - 特許庁
  • The weaving of the two-color thin strips 2 using the weaving yarn 4 is performed so to form a pattern M such as a checkered pattern, rectangular pattern or sagittal pattern.
    二色ひご2を織り糸4にて織って、市松模様、長方形、矢絣等の模様Mを形成する。 - 特許庁
  • Each pattern selecting block switches among n-types of pattern select data in accordance with a signal S2 and outputs pattern data to signals S7-1 to S7-m.
    各パタン選択ブロックは信号S2に従ってn種類のパタンセレクトデータを切り替えてパタンデータを信号S7-1〜S7-mに出力する。 - 特許庁
  • An identifying part 105 outputs the recognition result of the input pattern by checking the m-dimensional reference pattern with the m-dimensional feature of the input pattern.
    識別部105は、m次元参照パターンと入力パターンのm次元特徴とを照合して入力パターンの認識結果を出力する。 - 特許庁
  • When a light source M does not emit light, the pattern of the pattern region 3 is unclear.
    光源Mを発光させないとき絵柄領域3の絵柄は不鮮明である。 - 特許庁
  • Pattern matching by a 'shaking method' is operated to a master pattern M and an object pattern P being multivalue images having gradation in this pattern defect detecting method.
    階調を備えた多値画像であるマスターパターンMとオブジェクトパターンPに対して「揺すらせ法」によるパターンマッチングを行う。 - 特許庁
  • An n-bit parallel scramble pattern is adopted for the 1st-n-th bits in this (m+n)-bit pattern.
    この(m+n)ビットパタンのうち第1〜第nビットをnビットパラレルスクランブルパタンとする。 - 特許庁
  • To make it possible to transfer a pattern without partial discoloration relative to an item M for printing having three-dimensional unevenness.
    三次元的な凹凸のある被染着物Mに対しても、色ムラのない転写模様を付与する。 - 特許庁
  • Calculational display coordinates (m, n)-(m+1, n+1) of display points are determined by a rendering process of a display pattern, and coordinates (x, y) of a display dot to be actually displayed are determined.
    まず、表示パターンのレンダリング処理によって計算上の表示点の表示座標(m,n)〜(m+1,n+1)を求めると共に、実際に表示すべき表示ドットの座標(x,y)を求める。 - 特許庁
  • Before the resist pattern images RP(C), RP(M), RP(Y) and RP(K) are formed, sample pattern images SP(C), SP(M), SP(Y) and SP(K) that have a width SL greater than the width RL of the resist pattern images in a conveyance direction D16 are formed on an intermediate transfer belt.
    中間転写ベルト上にレジストパターン像RP(C),RP(M),RP(Y),RP(K)を形成する前に、搬送方向D16における該レジストパターン像の幅RLより広い幅SLを有するサンプルパターン像SP(C),SP(M),SP(Y),SP(K)を形成する。 - 特許庁
  • Preferably, the decorative pattern sheet has a thickness of 5 to 50 g/m^2.
    装飾模様紙の厚みは、5〜50g/m^2の範囲が好適である。 - 特許庁
  • A pattern by 2^n-1 bits of one period of the PN pattern from the least significant bit of the PN pattern generated at an m-th reference clock (hereinafter this pattern is called 'A pattern') is employed for a pattern in 2^n-1 bits from the most significant bit of the pattern generated at an (m+1)th reference clock.
    第m番目の基準クロックで発生したPNパターンの最下位ビットからPNパターンの1周期分の2^n−1ビット分のパターン(以下、このパターンを「Aパターン」という)を、第m+1番目の基準クロックで発生させるパターンの最上位ビットから2^n−1ビット分のパターンとする。 - 特許庁
  • A patch is formed by compounding, for example, a magenta (M) printing pattern with a black (K) printing pattern.
    本発明はブラック(K)の印字パターンに、例えばマゼンダ(M)の印字パターンを合成してパッチを作成する。 - 特許庁
  • The master pattern M is 'shaken' to the object pattern P by using the width of one pixel or less as a unit.
    その際、マスターパターンMを1画素未満の幅を単位としてオブジェクトパターンPに対して「揺すらせ」る。 - 特許庁
  • Thus, the payer feels that the middle pattern M is oscillated by his knock and the middle pattern M is stopped by the oscillation, providing more amusement at finishing the pattern change.
    したがって、遊技者は自分が叩いたことによって中図柄Mが揺れ、揺れたことによって中図柄Mが停止したと感じるので、図柄変動が終了する際の興趣感が高まる。 - 特許庁
  • The first pattern element 20 and the second pattern element 25 form a plurality of micro character strings (m), and the first pattern element 20 forms a latent image on the micro character strings (m).
    第1絵柄要素20と第2絵柄要素25は、複数のマイクロ文字列mを形成すると共に、第1絵柄要素20はマイクロ文字列m上の潜像を形成している。 - 特許庁
  • In the first column of this table, n denotes an n-fold rotation axis normal to the CBED pattern, and m a mirror line in the plane of the pattern.
    この表の最初の列では、n はCBED 図形に対して垂直なn-回 回転軸を表わし、そしてmはその図形面内にある鏡映線を表わす。 - 科学技術論文動詞集
  • The substrate M is provided with a protective member 1 provided to the substrate M to protect the pattern, and an identifying part 3 provided to the protective member 1 so as to identify the substrate M by radio transmission.
    基板Mに設けられ、パターンを保護する保護部材1と、保護部材1に設けられ無線により基板Mを識別させる識別部3とを有する。 - 特許庁
  • The detection means obtains a characteristic value of M pieces (M is a positive integer) of first density pattern images held by an image carrier.
    検出手段は、像担持体が保持するM個(Mは正の整数)の第一の濃度パターン画像の特性値を求める。 - 特許庁
  • A zeolite comprising X-ray pattern of xxxx, whose formula is [M2O]0-9[Al2O3]0.1-3[SiO2]100[H2O]0-35 wherein M in the formula is an alkali metal.
    0~9M2O・0.1~3Al2O3・100SiO2・0~35H2Oで表される組成を有し、式中Mはアルカリ金属であり×××のX線パターンをもつゼオライト。 - 特許庁
  • The pattern of a mask M is exposed on a base plate G through a projection optical system 3.
    投影光学系3を介してマスクMのパターンを基板Gに露光する。 - 特許庁
  • A calculation result is determined by inputting the difference N_list(n, m) of the sequence of access and the difference t_margin(n, m) of the time of access to a monotonous decrease function f_1, and access pattern similarity α_n-m based on the access pattern about the data n, m is determined.
    単調減少関数f_1に、アクセス順番差N_list(n,m)及びアクセス時刻差t_margin(n,m)を入力した計算結果を求めることにより、データn,mについてのアクセスパターンに基づくアクセスパターン類似度α_n−mを求める。 - 特許庁
  • The test pattern 11a has a plurality of gradation patterns 11c, 11 m, 11y.
    テストパターン11aは、複数の階調模様11c、11m、11yを有する。 - 特許庁
  • The calculated range signal patterns RngBufPos[0], RngBufPos[m] are compared with the range signal pattern in failure respectively (S41, S42).
    そして算出したレンジ信号パターンRngBufPos[0],RngBufPos[m]と、故障時レンジ信号パターンとをそれぞれ比較する(S41,S42)。 - 特許庁
  • the controller 10 transmits a local transmission pattern to each of the units M, S in a communication setting state by the global transmission pattern.
    コントローラ10はグローバル伝送パターンによる通信設定状態で、ローカル伝送パターンを各ユニットM,Sに送信する。 - 特許庁
  • When (p) is defined as the pitch of data tracks and (m) and (n) are defined as mutually primary arbitrary natural numbers on the condition of n/m<2, a cycle λ of the servo burst pattern is λ=2p×n/m.
    pをデータトラックのピッチ、m、nを互いに素であり且つn/m<2である任意の自然数とすると、サーボバーストパターンの周期λは、λ=2p×n/mである。 - 特許庁
  • Also, the change value of the upper limit value M can be changed corresponding to the kind of the big winning pattern.
    また、大当たり図柄の種類に応じて上限値Mの変更値を変えてもよい。 - 特許庁
  • The aligner transfers the pattern of a mask M to a substrate by an exposure light while the mask M and the substrate are synchronously moved in a predetermined direction.
    マスクMと基板とを所定の方向に同期移動しつつ露光光によりマスクのパターンを基板に転写する露光装置である。 - 特許庁
  • To prevent streak-like image degradation due to discontinuity of a dot pattern in converting N-value image data to M-value image data (N>M).
    N値画像データをM値画像データ(N>M)に変換するに際し、ドットパターンの不連続性に起因するスジ状の画質劣化を防止する。 - 特許庁
  • An extraction pattern generating unit 205 extracts two patterns of m-pieces of frequency components from each of chips of the reception and transmission pattern.
    抽出パターン生成部205は、受信伝送パターンの各チップからm個の周波数成分を2パターンで抽出する。 - 特許庁
  • Then the photomask 3 is divided into a plurality of mesh M, and the pattern form of the photomask 3 is corrected according to the possession rate R of the mask pattern in each mesh M.
    次に、フォトマスク3を複数のメッシュMに分割し、各々のメッシュMにおけるマスクパターンの占有率Rに応じてフォトマスク3のパターン形状を補正する補正方法を行う。 - 特許庁
  • The data management device 3 classifies and manages a plurality of masks M based on not an identifier given to each mask M but an identifier id2 given to each layout pattern of the masks M.
    データ管理装置3は、マスクM毎に付与された識別子ではなく、マスクMのレイアウトパターン毎に付与された識別子id2に基づいて複数枚のマスクMを区別して管理する。 - 特許庁
  • Further, a pattern by k-(2^n-1) bits from high-order bits of the A pattern is employed for a pattern by k-(2^n-1) bits from the least significant bit of a pattern generated at the (m+1)th reference clock.
    また、Aパターンの上位ビット側からk−(2^n−1)ビット分のパターンを、第m+1番目の基準クロックで発せさせるパターンの最下位ビットからk−(2^n−1)ビット分のパターンとする。 - 特許庁
  • For this arpeggio pattern data generation system, source data OD for an arpeggio pattern representing a desired playing pattern are divided into groups by t racks 1 to M and prepared as partial pattern data OD11 to ODM (A).
    このアルペジオパターンデータ作成システムでは、所望の演奏パターンを表わすアルペジオパターン用元データODが、トラック1〜M毎のグループに分けられて部分パターンデータOD1〜Mとして用意される(A)。 - 特許庁
  • A mask M is illuminated with linearly polarized illumination light to transfer a pattern of the mask M onto a wafer W through a projection optical system PL.
    直線偏光の照明光でマスクMを照明し、マスクMのパターンを投影光学系PLを介してウエハW上に転写する。 - 特許庁
  • The M types of reference signals are multiplexed into first and second resource blocks in the same arrangement pattern.
    M種類のリファレンス信号は、同じ配置パターンで第1及び第2のリソースブロックに多重される。 - 特許庁
  • Each variable directivity antenna element AN-m is controlled to correspond with a directivity pattern set {X_mk}, and a high SINR can be achieved for a desired wave by setting the m-th element of the eigenvector e of the correlation matrix as a weight factor corresponding to the received signal y_m(t).
    指向性パタンセット{X_mk}に対応するよう、各指向性可変アンテナ素子AN-mを制御し、相関行列の固有ベクトルeのm番目の要素を受信信号y_m(t)に対応する重み係数とすれば、所望波に対して高いSINRを実現できる。 - 特許庁
  • When the generation of arpeggio pattern data is indicated (C), the partial pattern data OD1 to ODM of all the tracks 1 to M of the source data OD are converted together into arpeggio pattern data ADn of the desired type (n) having the desired playing pattern at a time according to the conversion types Type[1] to Type[M].
    そして、アルペジオパターンデータの生成を指示すると(C)、元データODの全トラック1〜M分の部分パターンデータOD1〜Mが、変換タイプType[1]〜[M]に従って、所望の演奏パターンを有する所望タイプnのアルペジオパターンデータADnに一括変換される(D)。 - 特許庁
  • A pattern-forming sheet 1 equipped with an energy-line hardened stamp layer 11 and a mold M are crimped to each other, a pattern of the mold M is transferred to the stamp layer 11 of the pattern-forming sheet 1, and in this state, the transferred pattern is fixed by hardening the stamp layer 11 with an energy line.
    エネルギー線硬化性のスタンプ層11を備えたパターン形成用シート1と鋳型Mとを圧着して、鋳型Mが有するパターンをパターン形成用シート1のスタンプ層11に転写し、その状態でエネルギー線の照射によりスタンプ層11を硬化させ、転写したパターンを固定する。 - 特許庁
  • On a mask M, an identification code 13 is formed which includes a 1st unique code 15 corresponding to a pattern 11 and a 2nd code 16 for discriminating a plurality of masks M where the same pattern 11 is formed is formed.
    マスクM上に、パターン11に対応した固有の第1コード15と、同一のパターン11が形成された複数のマスクMを識別するための第2コード16とを含む識別コード13を形成する。 - 特許庁
  • A formation position of a sub-pattern SP(LM) for a light magenta ink (LM) is present at the center side of a paper S more than a formation position of a sub-pattern SP(M) for a magenta ink (M) in a movement direction.
    ライトマゼンタインク(LM)についてのサブパターンSP(LM)の形成位置は、移動方向において、マゼンタインク(M)についてのサブパターンSP(M)の形成位置(よりも用紙Sの中央側にある。 - 特許庁
  • This golf shaft is the golf shaft formed by winding bias pattern preregs and straight pattern prepregs around a mandrel 4 having a main taper part M on a top side and a slow tapered part S on a grip side and firing these prepregs and has the bias pattern prepregs for covering the main taper part M and the slow tapered part S and the bias pattern prepregs covering only the main taper part M.
    チップ側のメインテーパ部Mとグリップ側のスローテーパ部Sとを備えたマンドレル4に対してバイアスパターンプリプレグとストレートパターンプリプレグとを巻回焼成することにより形成したゴルフシャフトであって、該メインテーパ部Mと該スローテーパ部Sをカバーするバイアスパターンプリプレグと、該メインテーパ部Mのみをカバーするバイアスパターンプリプレグとを有するゴルフシャフト。 - 特許庁
  • For the game machine, a special pattern start storage area M is set inside the RAM 116 and respective storage parts 116A-116C are set in the storage area M.
    RAM116内には特別図柄始動記憶領域Mが設定され、記憶領域Mには各記憶部116A〜116Cが設定されている。 - 特許庁
  • In this apparatus, after the belt rotation detection mark TM is detected by the pattern sensor 18, the registration marks RM(K), RM(C), RM(M), and RM(Y) are formed.
    この装置では、ベルト回転検出マークTMがパターンセンサ18で検出された後にレジストマークRM(K)、RM(C)、RM(M)、RM(Y)が形成される。 - 特許庁
  • A zeolite, including the X-ray pattern of xxxx, whose formula is [M2 O]0-9[Q+]1-50[Al2O3]1[SiO2]30-1000[H2O]0-2000, wherein M in the formula is an alkali metal and Q is tetraalkylethylenediamine.
    0~9M2O・1~50Q+・Al2O3・30~1000SiO2・0~2000H2Oで表される組成を有し、式中Mはアルカリ金属、Qはテトラアルキルエチレンジアミンであり、×××のX線パターンをもつゼオライト。 - 特許庁
  • A dot pattern of 1 bit/dot print data is compared with a plurality of reference dot patterns for each m×n dot matrix in order to detect a dot to be interpolated.
    1ドットあたり1ビットの印刷データによるドットパターンをm×nドットマトリックス毎に複数の参照ドットパターンと比較して補間対象ドットを検出する。 - 特許庁
  • The display pattern is formed by overlaying a transfer sheet S, cloth 3, and a rubber sheet 4 on a coated metal sheet M set on a bottom plate 2, and infiltrating a sublimation dye D of the transfer sheet S into the coating film of the coated metal sheet M with the heat from a hot plate 1.
    表示模様は、底板2にセットした塗装金属板Mに転写シートS,布3,ゴムシート4を重ね合わせ、熱板1からの加熱で転写シートSの昇華性染料Dを塗装金属板Mの塗膜に浸透させることにより形成される。 - 特許庁
  • An aligner exposes the pattern of a mask (M) to a photosensitive substrate (W) via a projection optical system (PL).
    マスク(M)のパターンを投影光学系(PL)を介して感光性基板(W)上に露光する露光装置。 - 特許庁
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