「MISORIENTATION」を含む例文一覧(9)
- METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR QUANTIZING CRYSTAL MISORIENTATION ACCURACY, AND PROGRAM RECORDING MEDIUM
結晶方位差精度を定量化するための方法、システム、プログラム、及びプログラム記録媒体 - 特許庁 - By calculating misorientation of different distance between measurement points from one piece of crystal orientation distribution data, a relation between the distance between measurement points and the misorientation is approximated linearly, the magnitude (Bn) of the misorientation is calculated by extrapolation when the measurement point distance is zero, and the magnitude Bn is used as an index of measurement accuracy.
１つの結晶方位分布データから測定点間距離の異なる方位差を算出することで、測定点間距離と方位差の関係を直線で近似し、測定点距離が零のときの方位差の大きさ（Ｂｎ）を外挿で求め、大きさＢｎを測定精度の指標として用いる。 - 特許庁 - Subsequently, characteristics of the crystal grain boundary are examined using the misorientation matrix between two crystals.
次いで２つの結晶間の脱角行列を利用して結晶粒界の特性を糾明する。 - 特許庁 - Even if there is any misorientation of the direction of the nozzle, a flat flame can be securely formed in the furnace with the aid of collision.
ノズルの向きに多少のずれがあっても、衝突により、確実に炉内に偏平な火炎が形成される。 - 特許庁 - The biaxial texture of the plating layer is a cubic crystal texture wherein the peak half-width value in c-axis orientation is 4 degrees or less and the misorientation between crystal grains on a plane formed by a-axis and b-axis has a peak half-width value measured by ϕ-scan is 5.2 degrees or less.
前記二軸集合組職の鍍金層はc軸配向のピーク半価幅値が4度以内で、a軸とb軸で構成された平面上での結晶粒間のミスオリエンテーション(Misorientation)がφ-スキャンで測定したピークの半価幅値が5.2度以内である立方晶の集合組職であることを特徴とする。 - 特許庁 - The magnetic recording medium 20 thus can prevent crystal misorientation on the intermediate layer 24 and the recording layer 25, thereby achieving high density recording.
このようにして形成された磁気記録媒体２０は、中間層２４及び記録層２５の結晶配向の乱れが防止され、データを高密度に記録することができる。 - 特許庁 - In addition, the use of an index representative of misorientation that does not depend upon the distance of a measurement point can compare crystal orientation data of a different measurement condition (distance between measurement points).
また、測定点の距離に依存しない方位差を代表する指標を用いることで、測定条件（測定点間距離）の異なる結晶方位データが比較できる。 - 特許庁 - The first region (30) contains a plurality of grains having an average misorientation angle greater than about 34° and an average grain size that is at least 10% smaller than that in the second region (32), and has a grain orientation different from that in the second region (32).
第1の領域(30)は、約34°を超える平均誤配向角度、第2の領域(32)より少なくとも10%小さい平均粒子サイズを有する複数の粒子を有し、また、第2の領域(32)とは異なる粒子配向を有する。 - 特許庁 - At the time of producing a grain oriented silicon steel sheet, the texture of the surface layer of a steel sheet after primary recrystallization annealing is controlled in such a manner that the ratio of grain boundaries in which the misorientation angle between adjacent crystal grains is made <15° or ≥45° is controlled to ≥40% of the whole.
方向性電磁鋼板の製造に際し、１次再結晶焼鈍後の鋼板表層の集合組織について、隣接する結晶粒の方位差角が15°未満または45°以上となる粒界が全体の40％以上となるよう制御する。 - 特許庁
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