「Microbeam」を含む例文一覧(7)
- To provide a high-strength X-ray microbeam of a nanometer level.
ナノメートルレベルの高強度なＸ線マイクロビームを実現する。 - 特許庁 - To provide an x-ray analysis apparatus which can perform x-ray microbeam analysis while visually observing an irradiation position on a sample of an x-ray microbeam with a simpler and easier way in an x-ray microbeam analysis apparatus.
X線マイクロビーム分析装置において、より簡便な方法でX線マイクロビームの試料上での照射位置を目視観察しながらX線マイクロビーム分析を行えるＸ線分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To measure an irradiation intensity of microbeam such as proton beam while performing irradiation.
陽子ビーム等のマイクロビームの照射強度を照射しながら測定する。 - 特許庁 - To attain a nanometer-level X-ray microbeam having both a high intensity and a high resolution.
ナノメートルレベルの高強度かつ高分解能なＸ線マイクロビームを実現する。 - 特許庁 - To improve inspection accuracy especially of a device receiving reflected light reflected vertically along a microbeam from a circuit board, in a mounted condition inspection device scanning the surface of a mounted printed circuit board by a vertical microbeam ray and receiving its reflected light from a plurality of directions for inspecting the mounted condition.
実装済みプリント基板上に微小ビーム光を垂直に走査し、その反射光を複数の方向から受光して実装状態を検査する検査装置に関し、特に基板から微小ビーム光に沿って垂直に反射する反射光を受光する装置の検査精度を向上させる。 - 特許庁 - By means of a microbeam ray radiated from a light source 1 and passed through a polygon mirror 3 and a light projection fθ lens 5, the mounted printed circuit board 6 is scanned.
光源１から照射した微小ビーム光を、ポリゴンミラー３及び投光ｆθレンズ５を通して実装済みプリント基板６上を走査する。 - 特許庁 - To obtain a solar energy collection/transmission system that can relieve the regulation of the directional accuracy of a microbeam, does not exert an influence upon a communication apparatus or the like on the earth, even if an abnormality occurs in a radio beam that transmits energy from outer space, and is reducible in the size of a microwave antenna for use in outer space.
マイクロビームの方向精度の規制を緩和し、宇宙からエネルギー伝送する無線ビーム方向に齟齬を生じても地球上の通信設備等に影響を与えず、また宇宙で使用されるマイクロ波アンテナの小型化が図れる太陽光エネルギー収集伝送システムを得る。 - 特許庁
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