「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(114ページ目)

「Microscope」を含む例文一覧(8962)

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To provide a scanning type probe microscope where time required for optical measurement work before measurement has been reduced with a simple configuration.
測定前の光学調整作業に要する時間の短縮が簡単な構成によって達成された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a contact type microscope adapter in which high magnifying power is made compatible with easy observation for inspecting a seminiferous tubule.
精細管を検査するにあたり、高倍率の保持と観察の簡便さとを両立させることができる接触式顕微鏡アダプターを提供する。 - 特許庁
To provide a device with which focusing of a mirror surface and glass surface difficult to be focused with a microscope of a configuration of coaxial illumination is exactly performed.
同軸照明６の構成の顕微鏡ではピント合わせが難しい鏡面、ガラス面のピント合わせを正確に行える装置を提供する。 - 特許庁
To improve operation and observation by enabling operation and observation of a cell, etc. in a solution dispersed state even under a transmission type optical microscope.
溶液分散状態での細胞等の操作や観察を透過型光学顕微鏡下でも可能とし、操作、観察をより高度なものとする。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it.
スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a fluorescence microscope apparatus where a clear fluorescence image is obtained by preventing external light from mixing with weak fluorescence emitted from a specimen, while reducing the size of the overall apparatus.
装置全体を小型化し、試料から発生する微弱な蛍光への外光の混入を防止して鮮明な蛍光画像を得る。 - 特許庁
To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation suitably employed for observation of a fine structure of a steel material.
電子顕微鏡を用いた鉄鋼材料の微細構造の観察に適した電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image-forming emission microscope which can select or change an aperture diameter according to the measuring object sample or the purpose of experiment.
測定対象試料や実験目的に応じてアパーチャーの径を選択または交換できる結像型のエミッション顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a laser microscope capable of detecting a second harmonic wave emitted in a direction opposite to the direction in which incident light advances.
入射光の進行方向と反対方向に放射される第２高調波を検出することができるレーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
Furthermore, layout information 52 of failure candidate node is prepared using a navigation tool 50 and an emission image 62 is formed using an emission microscope.
さらに、ナビゲーションツール５０を用いて、故障候補ノードのレイアウト情報５２を作成し、エミッション顕微鏡を用いて発光画像６２を作成する。 - 特許庁
By this, microscope observation underwater is easily done and so corrosion and its progress state at the bottom or side walls of a tank 1 can be inspected.
これにより水中で、顕微鏡観察が容易にできるので、貯槽１の底面や側壁面の腐食やその進展状況を検査できる。 - 特許庁
This scanning probe electron microscope 100 has a probe 101 removably mounted on a head 108 by a kinematic mounting technique.
走査型プローブ電子顕微鏡１００は運動学的取付け手法によりヘッド１０８内に取外し可能に取り付けたプローブ１０１を有する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of repeatedly precisely reproducing the shape image of a sample or the like without being influenced by environment.
試料の形状像等を、環境の影響なしに繰り返し高精度に再現することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a laser scanning type fluorescence microscope simple to operate and capable of exciting and detecting at least three fluorescent coloring matters by one measurement.
操作が簡単で、かつ、一度の測定で３色以上の蛍光色素を励起、検出可能なレーザ走査型蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a laser scanning type confocal microscope capable of always obtaining a clear image, without being affected by the pulsation of a sample.
試料の拍動等の影響を受けることなく、常に鮮明な画像を得ることのできるレーザ走査型共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide an afocal zoom lens having a zooming ratio 14 or higher power and with a satisfactory optical performance, and to provide a microscope equipped with the afocal zoom lens.
１４倍以上のズーム比を有し、良好な光学性能を有するアフォーカルズームレンズ及び該レンズを備える顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide a dicing apparatus that does not require the exchange of a dual-objective microscope used for work alignment even when the size of work changes.
ワークサイズが変更になっても、ワークのアライメントに用いる双対物顕微鏡の交換を必要としないダイシング装置を提供すること。 - 特許庁
He was also an excellent educator and appointed as an instructor of the medical school which Bakufu (Japanese feudal government headed by a Shogun) established, and he wrote "Kenbikyo Yoho" (microscope usage) in 1802.
教育者としても優れ、幕府が設立した医学舘の教官として任じられた他、享和2年『顕微鏡用法』を著した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
SQUID, BIOMAGNETISM MEASURING INSTRUMENT, MAGNETOENCEPHALOGRAPH, MAGNETOCARDIOGRAPH, SQUID MAGNETIC SEARCHING EQUIPMENT, SQUID MICROSCOPE, AND SQUID METAL DETECTOR
ＳＱＵＩＤ装置、生体磁気計測装置、脳磁計、心磁計、ＳＱＵＩＤ磁気探傷装置、ＳＱＵＩＤ顕微鏡、及びＳＱＵＩＤ金属探知器 - 特許庁
Thus, high resolution and the stereomicroscope having the visual field conformed to the whole area of the magnification of the microscope are provided by this lens.
この対物レンズにより、高い分解能と、顕微鏡倍率の全領域に適合された視野を有する立体顕微鏡を提供できる。 - 特許庁
To provide a scanning electron microscope digitally processing image signals obtaining the deepest depth of focus and the best resolution in accordance with observation magnification.
画像信号をデジタル処理する走査電子顕微鏡において、観察倍率に応じて最深の焦点深度と最良の分解能を得る。 - 特許庁
The immersion oil for microscope comprises (A) an olefin-based liquid polymer, (B) a diene-based liquid polymer, (C) a diaryl alkane, and (D) an alkyl benzene.
（Ａ）液状オレフィン系重合体、（Ｂ）液状ジエン系重合体、（Ｃ）ジアリールアルカン及び（Ｄ）アルキルベンゼンを含む顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁
To provide a microscope by which plural constituting elements with optical parts respectively attached can be combined with sure positional reproducibility.
光学部品がそれぞれ取り付けられた複数の構成要素の結合を確実な位置の再現性をもってできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
The light-receiving unit 140 includes an input section 141 for capturing a signal light which includes fluorescence from the microscope 110.
受光ユニット１４０は、共焦点光学顕微鏡１１０からの蛍光を含む信号光を取り込むための入力部１４１を有している。 - 特許庁
In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.
このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁
The detected result is converted into brightness by a control/image process system 6, and composited with a laser microscope image, which is displayed on an image display device 7.
検出結果は制御・画像処理系６により輝度に変換され、レーザ顕微鏡像と合成して像表示装置に像が表示される。 - 特許庁
The scanning probe microscope apparatus is provided with a drive part 19 for moving, in X and Y directions, a specimen holding part 24 for holding a specimen 25.
走査型プローブ顕微鏡装置は、標本２５を保持する標本保持部２４をＸＹ方向に移動させる駆動部１９を備えている。 - 特許庁
To provide a confocal microscope with which the reflected image and transmitted image of a sample may be simultaneously obtained at a high correlative relation by a confocal optical system.
コンフォーカル光学系によって試料の反射像と透過像とが高い相関関係で同時に得られるコンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an improved apparatus that enables relatively faster and simpler, and complete balancing of a surgical microscope without an add-on weight.
相対的により迅速且つ単純で、完全な手術顕微鏡の平衡化を、付加重りなしで可能とする改良された装置を提供する。 - 特許庁
In the laser microscope, a line shaped optical beam generator (12) is used to convert laser beams into non-coherent optical beams that have divergence along one direction.
本発明では、レーザビームを一方向に発散性を有する非コヒーレントな光ビームに変換するライン状光ビーム発生装置(12)を用いる。 - 特許庁
To provide an illuminating device for a laser scanning type microscope prepared in the cross-sectional direction of at least one of substantially uniform illumination light beams.
レーザ走査型顕微鏡用の、本質的に均質な照明光線内の少なくとも一つの断面方向に準備された照明装置 - 特許庁
To provide a microscope constituted so that the different kinds of observation methods such as the phase difference observation method and the bright visual field observation method can be quickly switched.
位相差観察と明視野観察等の異なる種類の観察方法を、迅速に切り替えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The vibration isolation mechanisms with dampers 24A and 24B are disposed at left and right symmetrical positions relative to a shaft 23 where the center of gravity of a microscope body 21 is present.
顕微鏡本体２１の重心が存在する軸２３関して対称な左右の位置にダンパー付き除振機構２４Ａ，２４Ｂを配設する。 - 特許庁
To provide a human sperm number-detecting kit capable of measuring human sperm numbers without using a microscope or a spectrophotometer by enzymatically producing NADH from fructose in a human semen and then adding luciferase emitting light with NADH thereto.
顕微鏡や分光光度計などの設備がなくとも一般人が容易に測定できる精子数測定キットを開発すること。 - 特許庁
This microscope has a stage capable of driving in XY-direction, and an optical system enlarging the object to be inspected placed on the stage.
本発明は、ＸＹ方向に駆動可能なステージと、ステージ上に載置された被検査物を拡大する光学系とを有する顕微鏡に関する。 - 特許庁
To provide a confocal microscope capable of forming a three- dimensional image which makes it possible to observe an oblique surface part of a sample and is more accurate.
試料の急峻な斜面部分をも観察でき、より正確な三次元画像が構築できる共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope for operation with which an operator can concentrate on his operation work and which can reduce his fatigue and operation time.
術者が手術作業に専念でき、かつ、疲労の軽減および手術時間の短縮が可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A body part 10 of an XYθ stage is driven, so that an alignment mark provided on a wafer is positioned in the observation view of an observation microscope.
先ず、ウエハ上に設けられたアライメントマークが観察顕微鏡の観察視野に位置するように、ＸＹθステージの本体部１０を駆動する。 - 特許庁
To provide a scanning optical near-field microscope capable of fast scanning and is capable of coping with respect to samples with large dimensions and weight.
寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a fluorescence microscope that makes it possible to observe the same observation face on a specimen irrespective of an observation method.
本発明は、観察方法に依らず試料上の同一観察面の観察を可能とする蛍光顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.
試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁
To surely correct aberration by a constitutionally simple means even when using thick beam splitters in an optical arrangement for a microscope.
顕微鏡用光学装置において、厚いビームスプリッターを使用した場合でも構成的に簡単な手段で収差の確実な補正を可能にさせる。 - 特許庁
The sample flow pattern in an optical-axis direction of a microscope is estimated by a flow pattern extracting part 53, in a characteristic parameter of the particle image.
粒子画像の特徴パラメータにおいて顕微鏡光軸方向のサンプル流れ形状を流れ形状抽出部５３にて推定する。 - 特許庁
The potential difference generated by it is measured with use of a scanning surface potential microscope to identify the position of the opening defective contact 15.
このことにより発生する電位差を走査型表面電位顕微鏡を用いて測定して、開口不良コンタクト１５の位置特定を行う。 - 特許庁
To accurately estimate the destruction cause of a metal material, which forms break surfaces unrecognized by visual observation or an optical microscope.
目視や光学顕微鏡等では判別不能な破面が発生する金属材料の破壊原因を正確に推定することを目的とする。 - 特許庁
The microscope system is equipped with a stage, an objective optical system, an imaging optical system, an imaging section, a driving mechanism, a calibration controller, and an image processing section.
本発明の顕微鏡システムは、ステージ、対物光学系、結像光学系、撮像部、駆動機構、較正制御部、および画像処理部を備える。 - 特許庁
To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.
走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁
A regulation pin 134 regulating the turning of the turning arm 124 by coming into contact with the turning pin 133 is installed inside a microscope part 102.
顕微鏡部１０２の内側には、回動ピン１３３に接して回動アーム１２４の回動を規制する規制ピン１３４が設置されている。 - 特許庁
To provide a scanning laser microscope capable of accurately irradiating an aimed position in a sample with stimulating laser light even when an observing method is switched.
観察方法を切換えても、試料内の狙った位置に正確に刺激レーザ光を照射できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To prevent the visual field of a microscope from moving outside an object to be inspected or an inspection area, so that the operability of stage driving is improved.
顕微鏡の視野が、被検査物の外にまたは検査領域の外に移動することを防止して、ステージ駆動の操作性を向上させる。 - 特許庁

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