「Microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 17 18 19 20 21 22 23 24 25 .... 179 180 次へ＞- CONFOCAL UNIT, CONFOCAL MICROSCOPE, CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM, AND CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM CONTROL PROGRAM
共焦点ユニット、共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡システム、および共焦点顕微鏡システム制御プログラム - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF OPERATION THEREOF
顕微鏡システム及び該動作方法 - 特許庁 - MOTOR DRIVEN TURRET DEVICE AND MICROSCOPE
電動ターレット装置および顕微鏡 - 特許庁 - MEASURING DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE
測定器および共焦点顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE AND AREA DETERMINATION METHOD
顕微鏡及び領域判定方法 - 特許庁 - HIGH-FREQUENCY PULSE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
高周波パルス走査トンネル顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE
共焦点走査型光学顕微鏡 - 特許庁 - FOCUSING SYSTEM OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡のフォーカス合わせ装置 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND ITS CONTROL METHOD
顕微鏡装置及び該制御方法 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND CONTROL METHOD THEREOF
顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE AND SCANNING MICROSCOPE
光学装置及び走査型顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE ILLUMINATION INTENSITY MEASURING APPARATUS
顕微鏡照明強度測定装置 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE DEVICE
共焦点走査型顕微鏡装置 - 特許庁 - DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
差動排気走査形電子顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF FORMING SAMPLE FOR MICROSCOPE
顕微鏡用試料の形成方法 - 特許庁 - LIQUID SUPPLY DEVICE AND MICROSCOPE
液体供給装置及び顕微鏡 - 特許庁 - SPECIMEN TEMPERATURE MANAGING DEVICE FOR MICROSCOPE
顕微鏡用の検体温度管理器 - 特許庁 - SAMPLE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE
試料観察方法および顕微鏡 - 特許庁 - WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
ウエハホルダおよび電子顕微鏡装置 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND RECEIVING OPTICS
コンフォーカル顕微鏡、および受光素子 - 特許庁 - FLUORESCENT MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD
蛍光顕微鏡および観察方法 - 特許庁 - DOUBLE CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE
二重共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁 - FLUORESCENCE MICROSCOPE AND COMPUTER PROGRAM
蛍光顕微鏡およびコンピュータプログラム - 特許庁 - X-RAY MICROSCOPE OF CONTACT TYPE
密着型Ｘ線顕微鏡装置 - 特許庁 - DEPRESSION AND ELEVATION ANGLE VARYING DEVICE FOR MICROSCOPE
顕微鏡の俯仰角可変装置 - 特許庁 - TUBE TO BE ADAPTED TO MICROSCOPE
マイクロスコープに適合するためのチューブ - 特許庁 - PROTECTIVE MATERIAL FOR SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡試料保護材料 - 特許庁 - PRE-CRYOGENIC ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN HOLDER
電子顕微鏡の予冷型試料台 - 特許庁 - SCANNING OPTICAL NEAR-FIELD MICROSCOPE
走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - VERTICAL ILLUMINATING DEVICE FOR INVERTED MICROSCOPE
倒立顕微鏡の落射照明装置 - 特許庁 - the areas that is visible through a microscope
顕微鏡によって見える領域 - 日本語WordNet - SAMPLE HOLDER FOR SCANNING TUNNEL MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁 - ULTRAVIOLET NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
紫外近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE
走査型荷電粒子ビーム顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE HOLDING MEMBER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料保持部材 - 特許庁 - COHERENT ANTISTOKES RAMAN SCATTERING MICROSCOPE
コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡 - 特許庁 - SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE
走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM AND CONTROL METHOD THEREFOR
顕微鏡システム及び該制御方法 - 特許庁 - MICROSCOPE AND ILLUMINATION SWITCHING DEVICE
顕微鏡、および、照明切替装置 - 特許庁 - REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の遠隔操作装置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE CONTROL DEVICE
電子顕微鏡と遠隔操作装置 - 特許庁 - VACUUM EXHAUSTION DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の真空排気装置 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE
対物レンズ系及び電子顕微鏡 - 特許庁 - FOCUS ADJUSTMENT UNIT AND MICROSCOPE
フォーカス調整ユニットおよび顕微鏡 - 特許庁 - SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁 - SHUTTER MECHANISM OF ANALYTIC ELECTRON MICROSCOPE
分析電子顕微鏡のシャッタ機構 - 特許庁 - SCANNER, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - STANDARD PREPARATION FOR FLUORESCENCE MICROSCOPE
蛍光顕微鏡用標準プレパラート - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER
エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
