「Microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 61 62 63 64 65 66 67 68 69 .... 179 180 次へ＞- DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置 - 特許庁 - To provide a microscope of which the stable installation is simply performed.
安定した設置を簡単に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for determining specimen size and facilitating preparation through a single microscope.
単式顕微鏡での試料サイズの求め方とプレパラート作りを楽にする - 特許庁 - MICROSCOPE PHOTOGRAPHIC SYSTEM, IMAGE INPUT DEVICE, AUTOMATIC EXPOSURE METHOD, AND PROGRAM
顕微鏡撮影システム、画像入力装置、自動露出方法及びプログラム - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM OF CAPSULE TYPE PLANT, METHOD FOR SUPPLYING POWER AND ACTUATOR
カプセル式工場の顕微鏡システムと電力の供給方法とアクチュエータ - 特許庁 - FLUORESCENCE CUBE, AND INCIDENT-LIGHT FLOODLIGHTING PIPE OR OPTICAL MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME
蛍光キューブ及びそれを備えた落射投光管又は光学顕微鏡 - 特許庁 - MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE EXCELLENT IN HEIGHT CONTROLLABILITY
高さ制御性に優れた原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, INSPECTION METHOD, AND USAGE
走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法、使用方法 - 特許庁 - SCANNING TUNNEL MICROSCOPE AND NANO-SCALE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME
走査型トンネル顕微鏡およびこれを用いたナノスケール表面観察法 - 特許庁 - OPTICAL OBSERVATION DEVICE, SCANNING TYPE MICROSCOPE AND ENDOSCOPIC OBSERVATION DEVICE
光学的観察装置、走査型顕微鏡及び経内視鏡的観察装置 - 特許庁 - SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁 - LIGHT BEAM SYNCHRONOUS TYPE IMAGE SENSOR AND CONFOCAL MICROSCOPE DEVICE
光ビーム同期式イメージセンサ及びこれを用いる共焦点顕微鏡装置 - 特許庁 - LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
共焦点走査型顕微鏡、高さ測定方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE, OUTSIDE APPEARANCE INSPECTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR OUTSIDE APPEARANCE INSPECTING DEVICE
共焦点顕微鏡、外観検査装置及び半導体外観検査装置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE
電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法 - 特許庁 - ADJUSTMENT AND DIAGNOSIS METHOD FOR CONFOCAL SCANNING LASER MICROSCOPE AND SYSTEM THEREFOR
共焦点走査型レーザ顕微鏡の調整診断方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁 - For example, the cell observation apparatus using a microscope is applied.
本発明は、例えば、顕微鏡を用いた細胞観察装置に適用できる。 - 特許庁 - DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF
欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for forming virtual microscope slides.
仮想顕微鏡スライドを形成する方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁 - LASER SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE DEVICE, IMAGE RECORDING METHOD, AND RECORDING MEDIUM
レーザ走査型共焦点顕微鏡装置、画像記録方法、及び記録媒体 - 特許庁 - SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE FOR MEASURING HIGHER ORDER NONLINEAR PERMITTIVITY
高次非線形誘電率を計測する走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROLLER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL PROGRAM
圧電素子制御装置、走査型プローブ顕微鏡、及び圧電素子制御プログラム - 特許庁 - CHARGE DENSITY WAVE QUANTUM PHASE MICROSCOPE AND CHARGE DENSITY WAVE QUANTUM INTERFEROMETER
電荷密度波量子位相顕微鏡及び電荷密度波量子干渉計 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL METHOD, PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL DEVICE, ACTUATOR, AND MICROSCOPE
圧電素子の制御方法、圧電素子の制御装置、アクチュエータ、及び顕微鏡 - 特許庁 - ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD
元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁 - The sample holder 10 is for a transmission electron microscope(TEM).
試料ホルダー１０は、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の試料ホルダーである。 - 特許庁 - COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING MATERIAL IN MICROCAPSULE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁 - OBSERVING METHOD THROUGH USE OF POSITRON REEMISSION MICROSCOPE AND POSITRON BEAM
陽電子再放出顕微鏡及び陽電子ビームを用いた観察方法 - 特許庁 - OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER
エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, FOCAL POSITION DETECTING METHOD, AND FOCAL POSITION DETECTING PROGRAM
顕微鏡システム、焦点位置検出方法および焦点位置検出プログラム - 特許庁 - To provide a spectral type nonlinear optical microscope having high detecting sensitivity.
検出感度の高い分光型の非線形光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - STRUCTURED ILLUMINATING OPTICAL SYSTEM AND STRUCTURED ILLUMINATING MICROSCOPE HAVING THE SAME
構造化照明光学系、及びそれを備えた構造化照明顕微鏡 - 特許庁 - An inverted microscope is arranged in another face of the slide glass 23.
一方、スライドグラス２３の他の一面には、倒立顕微鏡が配置されている。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a sample by using a charged particle microscope.
荷電粒子顕微鏡を用いて試料を検査する方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL CONTACT BETWEEN PROBE AND MICROSCOPE SAMPLE AND ITS APPARATUS
プローブと顕体試料の電気的接触検出方法及びその装置 - 特許庁 - To dramatically improve the sensitivity of microscope observation in an X-ray range.
Ｘ線領域での顕微鏡観察の感度を飛躍的に向上させる。 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING OPENING OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - To provide an optical microscope achieving the shortening of measuring time.
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device for focusing a microscope objective on a sample.
顕微鏡対物レンズをサンプルに合焦させるための装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce erroneous operations when the operation of a microscope is executed with blind-touch operation.
顕微鏡の操作をブラインドタッチで行う際の誤操作を少なくする。 - 特許庁 - ULTRAHIGH-WAVENUMBER TRANSMITTING ELEMENT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
超高波数伝達素子およびそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - of or relating to or involving an electron microscope
電子顕微鏡の、電子顕微鏡に関する、または、電子顕微鏡にかかわる - 日本語WordNet - A rapid parallel movement stage for a scanning type probe microscope is provided.
走査型プローブ顕微鏡用の迅速平行移動ステージが提供される。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF
走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法 - 特許庁 - VERTICAL ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE, INSPECTION APPARATUS FOR PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD
落射型顕微鏡、プローブカードの検査装置、および、プローブカードの製造方法 - 特許庁 - An inverted microscope body 1 has a revolver 5 below a stage 2.
倒立顕微鏡本体１はステージ２の下方にレボルバー５を有している。 - 特許庁
