「Microscopy」を含む例文一覧(148)

＜前へ 1 2 3
  • To provide a sample for observing a pore and a skeleton section of an inorganic porous body with sufficient contrast, using an electron microscopy.
    無機多孔体の細孔と骨格部とを電子顕微鏡を用いてコントラストよく観察するための試料を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.
    走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁
  • This microscopy imaging system includes a light source system, a spectral shaper, a modulator system, an optics system, an optical detector and a processor.
    光源システム、スペクトル成形器、変調器システム、光学システム、光学検出器、および処理装置を含む顕微鏡イメージング・システムが開示される。 - 特許庁
  • This method and apparatus is particularly applicable to microscopy and high-speed optical data communication, particularly at wavelengths in the visible and ultraviolet spectra.
    この方法及び装置は、特に、顕微鏡法及び高速光データ通信、特に可視もしくは紫外線スペクトルの波長でのものに適用できる。 - 特許庁
  • An SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) has a y-direction illumination light source 4 and a z-direction detection light camera 16.
    ｙ方向の照明光源４とｚ方向検出光カメラ１６とを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁
  • To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope.
    光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。 - 特許庁
  • MODE-LOCKED LASER DEVICE, ULTRASHORT PULSE LIGHT SOURCE DEVICE, BROADBAND LIGHT SOURCE DEVICE, NON-LINEAR OPTICAL MICROSCOPY DEVICE, RECORDING DEVICE, AND OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY DEVICE
    モード同期レーザ装置、超短パルス光源装置、広帯域光源装置、非線形光学顕微装置、記録装置、及び光コヒーレンストモグラフィ装置 - 特許庁
  • The present book is aimed at satisfying the need for fairly advanced instruction in the electron microscopy of crystalline specimens.
    今回の本は、結晶性試料に関する電子顕微鏡法のかなり高度な知識に対するニーズを満足させることを狙ったものである。 - 科学技術論文動詞集
  • Reversal-domain nucleation near grain boundaries is elucidated in the micrograph taken by the Foucault imaging mode in Lorentz electron microscopy.
    粒界付近の反転分域の核生成が、ローレンツ電子顕微鏡法におけるFoucault結像モードで取得された顕微鏡像の中で解明される。 - 科学技術論文動詞集
  • The amount of the molecular specie is determined from the image of a sample captured as image data by a color image acquisition device in a video-microscopy system.
    分子種の量はビデオ顕微鏡システムにおけるカラー画像取込デバイスによって画像データとして取り込まれるサンプルの画像から決定される。 - 特許庁
  • A scanning confocal microscopy system and apparatus, especially useful for endoscopy with a flexible probe which is connected to the end of an optical fiber 9.
    光ファイバ９の末端に接続された可撓性プローブによる内視鏡法に特に有用な走査型共焦点顕微鏡法システム及び装置。 - 特許庁
  • To provide a phase-dispersion microscopy capable of identifying kind of observed object by increasing the contrast of an image of the observed object and by coloring the image.
    観察対象物の像のコントラストを上げるとともに、像に色付きを持たせることにより観察対象物の種類を特定可能な位相差分散顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.
    共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁
  • The cobalt hydroxide particles are characterized in that the primary particle in-plane average diameter is 0.05-0.7 μm when observed by SEM (scanning electron microscopy) and the particle shape is flaky.
    ＳＥＭ観察による一次粒子面方向平均径が０．０５μｍ〜０．７μｍであり、かつ粒子形状が板状であることを特徴とする水酸化コバルト粒子。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING TUNABLE OPTICAL PARAMETRIC OSCILLATOR LASER SYSTEM THAT PROVIDES DUAL FREQUENCY OUTPUT FOR NON-LINEAR VIBRATIONAL SPECTROSCOPY AND MICROSCOPY
    非線形振動分光法および顕微鏡法のための２周波出力を提供する同調可能な光パラメトリック発振器レーザシステムを提供するシステムおよび方法 - 特許庁
  • The method for quantitative video-microscopy determining an amount of at least one molecular specie comprising a sample, each molecular specie being indicated by a dye, is provided.
    サンプルを構成する少なくとも１つの分子種であって、それぞれ色素によって示される分子種の量を決定する定量ビデオ顕微鏡法が提供される。 - 特許庁
  • In this book including the lecture in the Summer School, many of typical problems in electron microscopy have been reproduced in Appendix 6 with solutions given in Appendix 7.
    サマースクールでの講義(内容)を含むこの本の中で、電子顕微鏡法における典型的な問題の多くは、付録7に与えられた回答とともに付録6に再現された。 - 科学技術論文動詞集
  • It should be mentioned that if the image is changed from underfocus into overfocus, the white lines change into black lines in the defocus method of Lorentz microscopy.
    もし像がアンダーフォーカスからオーバーフォーカスに変えられると、ローレンツ顕微鏡法のデフォーカス法においては、白い線は黒い線に変わるということが言及されるべきである。 - 科学技術論文動詞集
  • To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.
    試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • In addition, alumina of which the number average particle size is 50 to 150 nm and of which the standard deviation of particle size distribution measured by microscopy is 10 nm or less is contained in the magnetic layer.
    あわせて、磁性層には、数平均粒子径が５０〜１５０ｎｍで、かつ顕微鏡法で測定した粒度分布の標準偏差が１０ｎｍ以下であるアルミナを含有させる。 - 特許庁
  • In vitro imaging of the tumor cells either as fresh cells or as archival cells preserved in paraffin blocks is carried out with a computerized fluorescence microscopy system.
    新鮮細胞としての、またはパラフィンブロック中に保たれた保存細胞としての腫瘍細胞のｉｎ ｖｉｔｒｏ画像化は、コンピューター蛍光顕微鏡装置を用いて実施される。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for preparing a genome physical map in which position information is recovered by directly positioning a library clone and a marker on a chromosome in a pachytene stage in high resolution by SNOM (scanning near-field optical microscopy).
    SNOMによりライブラリークローンやマーカーをパキテン期染色体上に高分解能で直接位置づけることにより位置情報を回復するゲノム物理地図作成方法及び装置。 - 特許庁
  • To provide a cathode luminescence measuring device capable of implementing high-resolution observation with an electron microscopy and high-resolution observation of cathode luminescence despite of simple configuration.
    簡単な構成でありながら電子顕微鏡による高分解能観察及びカソードルミネッセンスの高分解能観察を可能としたカソードルミネッセンス測定装置を提供することである。 - 特許庁
  • To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.
    電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁
  • To provide a procedure capable of performing automatic and high-accuracy superimposition operation of each image position between a two-dimensional analysis image by mass spectrometry microscopy and a two-dimensional visible image by photomicroscopy, even when clear "characteristics of a concentration distribution shape of an object protein" which is an alignment key are difficult to be selected on the two-dimensional analysis image in mass spectrometry microscopy.
    顕微質量分析の二次元解析画像上において、位置合わせの手がかりとなる、明瞭な「対象のタンパク質の濃度分布形状の特徴」が選択困難な場合でも、顕微質量分析の二次元解析画像と、光学顕微鏡撮影の二次元可視画像と間で、画像位置の重ね合わせ操作を、高い精度で、自動的に行う手法の提供。 - 特許庁
  • The solder powder has a substantially globular shape and has a plurality of rugged parts over the entire surface, wherein an average surface roughness Ra measured by a scanning probe microscopy (SPM) is 18 to 100 nm.
    略球形状であり、表面全体に亘って複数の凹凸を有し、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）により測定される平均面粗さＲａが１８〜１００ｎｍであるはんだ粉とする。 - 特許庁
  • To provide confocal self-interference microscopy from which a side lobe can be removed without reducing a size of a main beam, and capable of observing an object of several tens nm without distortion.
    主ビームのサイズを減らすことなくサイドローブを除去することを可能にし、数十nmのサイズを有する物体を歪むことなく観察することができる共焦点自己干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • A non-binding component in a solution subjected to analysis is separated from a bound fraction, and the binding can be detected by microscopy, fluorometry, epi-fluorometry, luminescence method, phosphorescent method, radioactive method or absorption photometry.
    分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法による検出が可能である。 - 特許庁
  • The method and apparatus for three-dimensional optical microscopy employ dual opposing objective lenses (70 and 72) about a sample (94) and extended incoherent illumination (84) to provide enhanced depth resolution.
    標本（９４）についてデュアル対向対物レンズ（７０、７２）及び拡張インコヒーレント照明（８４）を用いて向上された深度分解能を提供する３次元光学顕微鏡法のための方法及び装置が開示される。 - 特許庁
  • Devices with these improvements have numerous applications, including molecular force measurements, atomic force microscopy and manipulation technology, lithographic manufacturing, nanometer scale surface profiling and other aspects of nanotechnology.
    これらの改良点を伴う装置は、分子力測定、原子間力顕微鏡、および操作技術、リソグラフィ製造、ナノメータースケールの表面形状測定、およびナノテクノロジーの他の局面を含め、多くの用途を有する。 - 特許庁
  • The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.
    前記磁性層の表面潤滑剤指数は１．３〜５．０の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）により測定された４０μｍ×４０μｍの面積での中心面平均粗さＳＲａは４ｎｍ以下である。 - 特許庁
  • This observation sample is used for observing the cross section of the inorganic porous body by using electron microscopy, and the pores of the inorganic porous body are filled with a metal of secondary electron emission rate which is higher than that of the inorganic porous body.
    無機多孔体の断面を電子顕微鏡で観察するための観察試料であって、前記無機多孔体よりも二次電子放出率の高い金属が前記無機多孔体の細孔に充填されていることを特徴とする。 - 特許庁
  • The superimposition operation of each image position is performed between the two-dimensional analysis image by mass spectrometry microscopy and two-dimensional visible image by the photomicroscope photographing, by utilizing an artificial "marker for alignment", attached to the measurement domain of a histopathological slice.
    病理組織切片の測定領域に付設される、人為的な「位置合わせ用マーカー」を利用して、顕微質量分析の二次元解析画像と、光学顕微鏡撮影の二次元可視画像と間で、画像位置の重ね合わせ操作を行う。 - 特許庁
  • The illumination system 2 is provided with a xenon gas discharge lamp 10 and a spectral filter 12 which is optionally positionable into an illumination beam path 6 of the surgical microscopy system and removable from the same.
    照射系２を有する外科用顕微鏡システム１であって、照射系２は、キセノンガス放電ランプ１０と、任意に、前記外科用顕微鏡システムの照射ビーム経路６中に位置付けられ、前記照射ビーム経路６から取り除かれる分光フィルタ１２とを備える。 - 特許庁
  • The sample irradiation equipment preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscopy has one irradiation beam route (2) of one light source (3) and at least one another irradiation beam route (4) of another light source (5) and applies irradiation to a sample (1).
    本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁
  • To provide a pickup device in which tracking control and address search control and the like are stabilized and control can be performed with high accuracy and which is simple and whose manufacturing is easy and which can be used in a dielectric recording and reproducing device as to the dielectric recording and reproduction in which an SNDM (Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy) is used.
    ＳＮＤＭを利用した誘電体記録再生に関し、トラッキング制御やアドレスサーチ制御等の制御が安定で精度良く行うことが可能な、シンプルで製造が容易な誘電体記録再生装置に用いられるピックアップ装置を提供する。 - 特許庁
  • The self-supported III-V group nitride semiconductor substrate does not have clear boundaries betweem high-brightness regions and low-brightness regions in a fluorescence microscopy image of its surface layer existing from the top surface to a depth of at least 10 μm.
    自立したIII−V族窒化物系半導体基板であって、表面から少なくとも10μmの深さまでの表面層の蛍光顕微鏡像に、高明度領域と低明度領域が境界をもって存在しないことを特徴とするIII−V族窒化物系半導体基板。 - 特許庁
  • In the aromatic polyamide porous film, mean pore size is 0.2-5 μm, mean opening size obtained from a scanning microscopy micrograph on at least its one surface is 0.001-0.1 μm, and liquid absorption of the film is 10-200 mm/10 min.
    平均孔径が０．２〜５μｍであり、少なくとも一方の表面の走査型顕微鏡写真により求めた開口径の平均が、０．００１〜０．１μｍであり、かつ膜の液吸い上げ性が１０〜２００ｍｍ／１０ｍｉｎである芳香族ポリアミド多孔質膜とする。 - 特許庁
  • To provide a technique for obtaining a situation in a cell (electron microscopy expressed by an entire biomatter) under diversified environment (morbid state) conditions by suppressing destruction of cells when producing observation samples and for correlating position information of specific substances in the same visual field.
    観察試料作製時の細胞の破壊を抑制しつつ、様々の環境（病態）条件での細胞内状況（全生体物質で現される電顕像）を得るとともに、同視野での特定の物質の位置情報を相関させる技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.
    ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁
  • He was interested in items of western culture, and in his later years he liked to eat bread and drink milk and he enjoyed his interests in photography, fishing, riding the bicycle, microscopy and craft (embroidery). During his tenure as the Shogun, he learned French from Amane NISHI but he gave up on this.
    また､西洋の文物にも関心を寄せ晩年はパンと牛乳を好み､カメラによる写真撮影・釣り・自転車・顕微鏡・手芸（刺繍）などの趣味に興じる｡将軍時代には西周(啓蒙家)からフランス語を習ったこともあったようだが、こちらは挫折した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Analysis of circulating tumor cells, clusters, fragments, and debris is performed with a number of platforms, including flow cytometry and the CellSpotter(R) fluorescent microscopy imaging system, which confine, reduce, eliminate, or at least qualify in vitro damage to prevent it from interfering in analysis.
    イン・ビトロの損傷を制限し、低下させ、排除し、または少なくとも制限して、それが分析に干渉するのを妨げ、フローサイトメトリーおよびCellSpotter（登録商標）蛍光顕微鏡イメージングシステムを含めた多数のプラットフォームで、循環腫瘍細胞、クラスター、断片およびデブリスを分析する。 - 特許庁
  • To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method.
    サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。 - 特許庁
  • In a fluorine atom mapping image of the cross section obtained by photographing the composite tube with a magnification of 1,500 by a scanning electron microscopy, there are at least two intersections of boundary lines, which are formed between areas where fluorine elements exist and areas where fluorine elements do not exist, and straight lines parallel to the thickness direction.
    そして、この複合管状物には、走査型電子顕微鏡により１５００倍の倍率で撮影した断面のフッ素原子マッピング画像において、フッ素元素が存在する領域とフッ素元素が存在しない領域との境界線と、厚み方向に平行な直線との交点が少なくとも２ヵ所以上存在する。 - 特許庁
  • At least one of the inward member 41, the outward member 43 and the rolling element 42 is made of the titanium material having the new phase 22 that a diffraction spot is present at a position deviating from that on a virtual line connecting together almost the centers of diffraction spots of adjacent parent phases on an electron diffraction pattern obtained by electron microscopy.
    そして、内方部材４１、外方部材４３及び転動体４２のうちの少なくとも１つが、電子顕微鏡法によって得られた電子回折図形上で、隣り合う母相の回折斑点の略中心を結ぶ仮想線上から逸れた位置に回折斑点が存在する新相２２を有するチタン材料から成っている。 - 特許庁
  • An apparatus for atomic force microscopy (AFM) comprises: a first actuator 310 configured to move a cantilever 301 along an axis; a second actuator 311 configured to move the cantilever along the axis; an amplifier 308; and a crossover network 309 connected between the amplifier 308, and the first actuator 310 and the second actuator 311.
    原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）用の装置は、軸に沿ってカンチレバー３０１を移動するように構成された第１のアクチュエータ３１０と、この軸に沿ってカンチレバーを移動するように構成された第２のアクチュエータ３１１と、増幅器３０８と、この増幅器３０８と第１のアクチュエータ３１０及び第２のアクチュエータ３１１との間に接続されたクロスオーバ回路網３０９とを具備する。 - 特許庁
  • The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.
    電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁
  • This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.
    第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁
＜前へ 1 2 3

例文データの著作権について