「Microtron」を含む例文一覧(13)

  • MEDICAL MICROTRON
    医用マイクロトロン - 特許庁
  • MICROTRON ELECTRON ACCELERATOR
    マイクロトロン電子加速器 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM MONITORING METHOD FOR MICROTRON
    マイクロトロンの電子ビームのモニタ方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM ORBIT CONTROL UNIT AND ELECTRON BEAM ORBIT CONTROL METHOD OF MICROTRON
    マイクロトロンの電子ビーム軌道調整装置及び電子ビーム軌道調整方法 - 特許庁
  • An electron beam source forces the electron beam enter into the revolving electron orbit of the microtron.
    電子ビーム源が、マイクロトロンの周回電子軌道に電子ビームを入射させる。 - 特許庁
  • A microtron demarcates plural revolving electron orbits a part of which is mutually shared.
    マイクロトロンが、一部が相互に共有された複数の周回電子軌道を画定する。 - 特許庁
  • To provide a microtron electron accelerator capable of miniaturize an electromagnet and the whole device.
    電磁石並びに装置全体を小型化可能なマイクロトロン電子加速器を提供する。 - 特許庁
  • It can be applied to a synchrotron which is a perfect circle, a cyclotron, a betatron, and a microtron, etc., as well.
    完全円形であるシンクロトロン、サイクロトロン、ベータトロン、マイクロトロン等にも適用できる。 - 特許庁
  • To reduce the size and costs of a device by applying electron beams being accelerated by a microtron with a race-tracked electron track into a target and emitting positrons from the target.
    小型化かつ低価格化を図ることが可能な陽電子ビーム発生装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron beam orbit control unit and an electron beam orbit control method of a microtron, by which the microtron, an incident system instrument and an incident BT system instrument can be quickly controlled without depending on the skill of an operator.
    オペレータの習熟度に依存しないで、速やかにマイクロトロンや入射系機器及び入射BT系機器を制御できるマイクロトロンの電子ビーム軌道調整装置及び電子ビーム軌道調整方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a measuring device for the amount of electron beam charges to measure an amount of radiation actually generated by a microtron.
    マイクロトロンで実際に発生する放射線量を測定するための電子ビーム電荷量測定装置を提供する。 - 特許庁
  • A laser beam source emits a laser beam so as to make it collide with an electron flying in the shared part of the orbit of the microtron.
    レーザ光源が、マイクロトロンの軌道の共有部分を飛翔する電子に衝突するようにレーザビームを出射する。 - 特許庁
  • The amount of charges of a low frequency pulse beam such as an electron beam generated by a microtron can be measured by providing an integrating circuit 10 to integrate a pulse beam current for one pulse, a discharge circuit 20 to discharge the beam current for one pulse integrated by the integrating circuit 10 and a clocking circuit 30 to measure a discharge time by the discharge circuit 20.
    パルスビーム電流の1パルス分を積分する積分回路10と、該積分回路10で積分された1パルス分のビーム電流を一定速度で放電させる放電回路20と、該放電回路20による放電時間を測定する計時回路30とを備えることにより、マイクロトロンで発生する電子ビームのような低周波のパルスビームの電荷量を測定することを可能とした。 - 特許庁

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