「OF TEST」を含む例文一覧(23309)

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  • TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置のテスト方式 - 特許庁
  • CLAMP APPARATUS OF IC TEST-PIECE
    ＩＣ供試体のクランプ装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE OF MAGNET FOR MOTOR
    モータ用磁石の試験装置 - 特許庁
  • METHOD OF WATER PENETRATION TEST FOR GROUND
    地盤の透水試験方法 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT OF EARTH LEAKAGE BREAKER
    漏電遮断器のテスト回路 - 特許庁
  • PERFORMANCE TEST SYSTEM OF PROTECTION RELAY
    保護リレーの動作試験システム - 特許庁
  • TEST METHOD OF D/A CONVERTER
    Ｄ／Ａコンバータのテスト方法 - 特許庁
  • It is time to test the mettle of man.
    男気を試す時が来た - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • For the test of dexterity and cleverness
    器用さと 利口さのテストだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Don't worry about the result of your test.
    テストの結果は気にするな。 - Tanaka Corpus
  • Don't worry about the result of your test.
    テストの結果は気にするな。 - Tatoeba例文
  • ENDURANCE TEST EQUIPMENT OF VEHICLE
    車両の耐久試験装置 - 特許庁
  • FORMING TEST METHOD OF FLANGE UP
    フランジアップ成形試験方法 - 特許庁
  • (6) Example of in vitro mutagenicity test
    (6) In vitro 変異原性試験の例 - 経済産業省
  • METHOD OF SUBJECTIVE TEST OF DEGREE OF MONOCULAR DIPLOPIA AND VISUAL TARGET FOR TEST
    自覚的単眼複視度検査方法及びその検査用視標 - 特許庁
  • To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.
    従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁
  • METHOD OF PRESSURE RESISTANCE TEST OF AC ELEMENT
    交流素子の耐圧テスト方法 - 特許庁
  • To simultaneously test a plurality of devices under test without connecting test resources to all terminals of the plurality of devices under test.
    複数の被試験デバイスの全ての端子に試験リソースを接続することなく、複数の被試験デバイスを同時に試験する。 - 特許庁
  • To provide a test apparatus, a synchronization module and a synchronization method which can synchronize a plurality of test modules.
    複数の試験モジュールの試験を同期させる。 - 特許庁
  • TENSION BENDING TEST METHOD OF TUBULAR TEST SPECIMEN AND DEVICE THEREFOR
    管状試験体の引張曲げ試験方法及び装置 - 特許庁
  • MANUFACTURING DEVICE FOR TEST PIECE, AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE
    試験片の製造装置及び試験片の製造方法 - 特許庁
  • TEMPERATURE MEASURING DEVICE OF LEAKAGE TEST DEVICE AND LEAKAGE TEST DEVICE
    洩れ検査装置の温度測定装置・洩れ検査装置 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF ERROR DETECTION CORRECTING CIRCUIT
    エラー検出訂正回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
  • A W3CUTF-8 Test PageA UTF-8 test page provided by the University of FrankfurtInput Methods
    フランクフルト大学によるUTF-8テストページ 入力方法 - Gentoo Linux
  • SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD OF DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT
    スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁
  • CONTROL METHOD OF TEST BURN-IN APPARATUS AND TEST BURN- IN APPARATUS
    テストバーンイン装置の制御方法及びテストバーンイン装置 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SOLDER TEST STRIP AND SOLDER TEST STRIP
    はんだ試験片の作製方法およびはんだ試験片 - 特許庁
  • ELECTRONIC PART TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART
    電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
  • TEST HOLE CONSTITUTIONAL MEMBER AND TEST HOLE STRUCTURE OF GAS PIPE
    ガス配管の試験孔構成具及び試験孔構造 - 特許庁
  • TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING
    メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁
  • To provide an endurance test equipment of vehicles which efficiently can test vehicles for endurance.
    車両の耐久試験を効率的に実施する。 - 特許庁
  • CONNECTION CABLE FOR TEST PLUG, AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE OF TEST PLUG
    テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 - 特許庁
  • The test unit inputs the test result of the device to be tested.
    テスト装置は、被テストデバイスのテスト結果を入力する。 - 特許庁
  • BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT OF MEMORY AND SELF TEST METHOD
    メモリの組み込み自己テスト回路および自己テスト方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TENSILE TEST OF FILMLIKE TEST PIECE
    フィルム状試験片の引張試験方法とその装置 - 特許庁
  • TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
    半導体素子の試験方法及び半導体試験装置 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
  • a test conducted to determine the strength of a material, called breaking strength test
    破壊試験という,材料の強度などの検査 - EDR日英対訳辞書
  • a test for the detection of syphilis, called the Wassermann test
    ワッセルマン反応という梅毒診断用の血清反応 - EDR日英対訳辞書
  • a test that is used for determining the presence of uterine cancer, called smear test
    スメアテストという,子宮癌の有無の判定検査 - EDR日英対訳辞書
  • To speed up a test processing or generation of test data.
    試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁
  • PROBE FOR TEST OF INTEGRATED CIRCUIT
    集積回路のテスト用プローブ - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST SYSTEM OF COMPUTER SYSTEM BY APPLICATION OF LOAD
    負荷の適用によるコンピュータシステムのテスト方法およびテストシステム - 特許庁
  • To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.
    ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁
  • METHOD FOR LEAK TEST OF HOLLOW FIBER MEMBRANE
    中空糸膜のリークテスト法 - 特許庁
  • TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置用試験装置 - 特許庁
  • TEST METHOD OF DATA PROCESSOR
    データ処理装置の試験方法 - 特許庁
  • Whole of the subjects in the academic test
    学科試験の科目の全部 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の試験方法 - 特許庁
  • LOAD TEST DEVICE OF DISCHARGE TUBE
    放電管の荷重検査装置 - 特許庁
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