「PHASE MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方

「PHASE MICROSCOPE」を含む例文一覧(148)

1 2 3 次へ＞

PHASE CONTRAST MICROSCOPE
位相差顕微鏡 - 特許庁
QUANTITATIVE PHASE MICROSCOPE
定量位相顕微鏡 - 特許庁
POLARISCOPIC PHASE MICROSCOPE
偏光位相顕微鏡 - 特許庁
a microscope called a phase-contrast microscope
位相差顕微鏡という顕微鏡 - EDR日英対訳辞書
PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE
位相差電子顕微鏡 - 特許庁
PORTABLE TYPE PHASE CONTRAST MICROSCOPE
可搬型位相差顕微鏡 - 特許庁
OBJECTIVE OF MICROSCOPE AND PHASE CONTRAST MICROSCOPE
顕微鏡対物レンズ及び位相差顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE
位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE
位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁
QUANTIFICATION STANDARDIZING (PHASE CONTRAST) MICROSCOPE
定量化規格化（位相差）顕微鏡装置 - 特許庁
PHASE FILTER, OPTICAL DEVICE AND RASTER MICROSCOPE
位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE
位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH PHASE PLATE AND LENS SYSTEM FOR PHASE PLATE
位相板と位相板用レンズ系を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE CONTRAST MICROSCOPE AND SUPERPOSITION MEASURING DEVICE
位相差顕微鏡及び重ね合わせ測定装置 - 特許庁
VISUAL FIELD DESIGNATING COVER GLASS FOR COUNTING WITH PHASE-CONTRAST MICROSCOPE
位相差顕微鏡計数用視野指定カバーグラス - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, AND METHOD OF CALCULATING AMOUNT OF PHASE CHANGE IN MICROSCOPE APPARATUS
顕微鏡装置、及び顕微鏡装置における位相変化量の算出方法。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PHASE-DIFFERENCE MICROSCOPE FOCUS CONTROL
位相差顕微鏡フォーカス制御方法および装置 - 特許庁
PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁
OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE
位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR, PHASE DIFFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD
画像処理装置、位相差顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁
The invention is applicable to a phase contrast microscope.
本発明は位相差顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD
高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁
OPTICAL COMPONENT AND PHASE CONTRAST MICROSCOPE USING THE OPTICAL COMPONENT
光学部品及び光学部品を用いた位相差顕微鏡 - 特許庁
To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.
安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
SPECIMEN CONTAINER, METHOD FOR ADJUSTING PHASE CONTRAST MICROSCOPE, AND PROGRAM
被検体容器、位相差顕微鏡の調整方法およびプログラム - 特許庁
PHASE COMPENSATION SYSTEM, AND LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM USING SAME
位相補償システムとそれを用いたレーザ走査型顕微鏡システム - 特許庁
To enable observation of electron microscope images by using phase contrast technique.
位相差法により電子顕微鏡像を観察可能にする。 - 特許庁
To provide a phase difference electron microscope capable of alleviating the dimensional requirement of a phase shift element.
位相シフト素子の寸法上の要件を軽減する位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME
３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁
The present invention is applicable to an analyzer device for a phase difference microscope.
本発明は、例えば、位相差顕微鏡のアナライザ装置に適用できる。 - 特許庁
PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE
顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁
CHARGE DENSITY WAVE QUANTUM PHASE MICROSCOPE AND CHARGE DENSITY WAVE QUANTUM INTERFEROMETER
電荷密度波量子位相顕微鏡及び電荷密度波量子干渉計 - 特許庁
The present invention is applied in, for example, a microscope device used for phase contrast observation.
本発明は、例えば、位相差観察を行う顕微鏡装置に適用できる。 - 特許庁
To provide a phase-contrast microscope capable of realizing the phase-difference observation of the different spot of a fixed sample.
固定された標本の異なる場所の位相差観察を可能とする位相差顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD
電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁
To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.
高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁
To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁
The position of the stage at the time and the position of the phase difference ring 27 are recorded in the phase contrast microscope as observation information.
そして、位相差顕微鏡は、そのときのステージの位置と、位相差リング２７の位置とを観察情報として記録する。 - 特許庁
An electro-optical device is used as a phase plate for a phase- contrast microscope, and the phase shift volume of zero-order light is made variable for diffracted light other than zero-order light.
位相差顕微鏡の位相板に電気光学素子を用い、０次以外の回折光に対する０次光の位相シフト量を可変にする。 - 特許庁
To provide a phase-contrast microscope in which a phase ring of a phase-difference capacitor section is removed to assure a high degree of freedom and in which a measuring system can be incorporated.
位相差コンデンサ部の位相リングを除去し、大幅な自由度を確保し、計測システムを組み込むことができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁
In the DVD reader or a phase contrast microscope, the isotropic retardation plate is used.
前記等方性位相差板を用いているＤＶＤ読取装置または位相差顕微鏡。 - 特許庁
To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.
顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁
In addition, this phase plate 10 is arranged in a passage of electrons passing through an objective lens of a phase difference electron microscope and a sample.
そして、この位相板１０を、位相差電子顕微鏡の対物レンズ及び試料を通過した電子の通路に配置する。 - 特許庁
The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.
走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁
To provide a phase-contrast microscope in which phase contrast and halo are varied by a simple operation, and a variety of specimens are observed at a most suitable phase contrast.
簡単な操作で位相差のコントラストとハローを変化させ、さまざまな標本で最も適した位相差観察をすることができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The phase transition type recording medium has the phase transition material, of which relation: Lc>La is satisfied when brightness of the crystalline phase is Lc and brightness of the amorphous phase is La in an electronic ray image obtained by observing a surface of the phase transition material the phase of which changes between the crystalline phase and the amorphous phase with a scanning type electronic microscope, as the recording layer.
結晶相とアモルファス相の間を相変化する相変化材料の表面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる電子線像において、結晶相の輝度をＬｃ、アモルファス相の輝度をＬａとするとき、Ｌｃ＞Ｌａである相変化材料を記録層とする相変化型記録媒体。 - 特許庁
To provide an optical component and a phase contrast microscope, exhibiting a phase difference of a sample including frequency information and color information.
周波数情報や色情報を含めて試料の位相差を示すことができる光学部品及び位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a transmission electron microscope having a phase plate and a phase plate lens system by which a high quality of image can be obtained stably.
高い像質を安定して得ることができる位相板と位相板用レンズシステムを備えた透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

1 2 3 次へ＞

「PHASE MICROSCOPE」を含む例文一覧(148)

例文データの著作権について