「Particle Control」を含む例文一覧(532)
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粒子の制御方法 - 特許庁 - CONTROL DEVICE OF PARTICLE ACCELERATOR
粒子加速器の制御装置 - 特許庁 - PARTICLE BEAM IRRADIATION APPARATUS AND PARTICLE BEAM CONTROL METHOD
粒子線照射装置および粒子線制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE CONTROL ELECTRODE AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
荷電粒子制御電極および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE ACCELERATOR CONTROL SYSTEM
荷電粒子加速器用制御システム - 特許庁 - CHARGED PARTICLE IRRADIATION DEVICE AND CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD
荷電粒子照射装置及び荷電粒子制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL ELEMENT AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
荷電粒子ビーム制御素子および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - PARTICLE SEPARATOR USING BOUNDARY LAYER CONTROL
境界層制御による粒子分離機 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD AND APPARATUS THEREOF
荷電粒子制御装置及び方法 - 特許庁 - The production method can control the particle diameters and also can control even the distribution of the particle diameters.
粒子径の制御とともに粒子径分布の制御をも行うことが出来る。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE DETECTING METHOD, CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD USING IT
荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法 - 特許庁 - CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE ENERGY AND CHARGED PARTICLE ACCELERATOR
荷電粒子エネルギーの制御方法および荷電粒子加速装置 - 特許庁 - PARTICLE RADIOTHERAPY SYSTEM, AND CONTROL SYSTEM FOR PARTICLE RADIOTHERAPY SYSTEM
粒子線治療システム及び粒子線治療システムの制御システム - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 - 特許庁 - GENERATION OF PARTICLE BEAM AND MEASUREMENT AND CONTROL OF PARTICLE BEAM CHARACTERISTIC
粒子ビ—ムの発生並びに粒子ビ—ムの特性の測定及び調節 - 特許庁 - OPTICAL AXIS CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子線の光軸調整方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁 - PARTICLE SIZE MEASURING INSTRUMENT OF PARTICLE IN LIQUID AND FLOCCULANT ADDING CONTROL DEVICE
液中粒子の粒径測定機器および凝集剤添加制御装置 - 特許庁 - CONTROL METHOD OF PARTICLE GROWTH WITH COMPLEXING AGENT
錯化剤による粒子成長の制御方法 - 特許庁 - ORBIT CONTROL DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CONTROL METHOD THEREOF
荷電粒子ビームの軌道制御装置及びその制御方法 - 特許庁 - PARTICLE NUMBER MEASURING SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR
粒子数計測システム及びその制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD
荷電粒子ビーム装置及びその制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE IRRADIATION APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD
荷電粒子照射装置とその制御方法 - 特許庁 - VIBRATION CONTROL STRUCTURE USING CURVED SURFACE TYPE PARTICLE DAMPER
曲面型粒子ダンパを用いた制振構造 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION CONTROL DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD
荷電粒子線照射制御装置及び荷電粒子線照射方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND PROBE CONTROL METHOD
荷電粒子線装置およびプローブ制御方法 - 特許庁 - PARTICLE BEAM RADIATION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD
粒子線照射システムおよびその制御方法 - 特許庁 - FINE PARTICLE ARRANGEMENT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE
微粒子の配列制御方法およびその装置 - 特許庁 - OPTICAL AXIS CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子線装置の光軸調整方法 - 特許庁 - FILM DEPOSITION APPARATUS AND PARTICLE CONTROL METHOD THEREOF
成膜装置と成膜装置のパーティクル制御方法 - 特許庁 - PARTICLE BEHAVIOR ANALYZER, CONTROL METHOD, AND PROGRAM
粒子挙動解析装置、制御方法、及びプログラム - 特許庁 - POSTURE CONTROL METHOD AND POSTURE CONTROL DEVICE FOR SHAPE-ANISOTROPIC PARTICLE
形状異方性粒子の姿勢制御方法および姿勢制御装置 - 特許庁 - CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE FLOW, AND CONTROL METHOD OF MOLTEN METAL
荷電粒子流の制御方法及び溶融金属の制御方法 - 特許庁 - MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND CONTROL METHOD FOR THE MULTIBEAM CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
マルチビーム荷電粒子線装置及びマルチビーム荷電粒子線装置の制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EQUIPPED WITH ABERRATION CONTROL UNIT
収差制御装置を備えた荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - DYNAMIC PARTICLE-SIZE CONTROL FOR TRANSPORTING AEROSOLIZABLE DRUG
エアロゾル化薬物を輸送するための動的粒径制御 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND ITS IMAGE CONTROL METHOD
荷電粒子線装置及びその画像調整方法 - 特許庁 - CHARGED-PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREOF
荷電粒子線露光装置及びその制御方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE POSITION CONTROL
粒子位置制御システム、及び、粒子位置制御方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND APPLIED VOLTAGE CONTROL METHOD
荷電粒子ビーム装置及び印加電圧制御方法 - 特許庁 - FOCUSED CHARGED-PARTICLE BEAM DEVICE AND ITS CONTROL METHOD
集束荷電粒子線装置及びその制御方法 - 特許庁 - FERRITE PARTICLE CONTAINING ELECTRIFYING CONTROL AGENT AND ITS PRODUCTION
帯電制御剤含有フェライト粒子及びその製法 - 特許庁 - PARTICLE BEHAVIOR SIMULATION DEVICE, PARTICLE BEHAVIOR SIMULATION METHOD, CONTROL PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
粒子挙動シミュレーション装置、粒子挙動シミュレーション方法、制御プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - To produce hydrophilic polymer particles under control for achieving a small particle size and a narrow particle size distribution.
粒径を小さく且つ粒径分布を狭く制御して親水性ポリマー粒子を製造する。 - 特許庁 - To provide a process for producing a monodisperse resin particle good in monodispersion properties that permits a fast particle production rate and facilitates the control of a particle size and to provide an apparatus for producing the monodisperse resin particle.
生成速度が速く粒径制御が容易な単分散性のよい単分散樹脂粒子の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM CONTROLLER, CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, CHARGE PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM
荷電粒子ビーム制御装置、及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム欠陥検査装置、並びに荷電粒子ビーム制御方法 - 特許庁 - GLOSS CONTROL PARTICLE, DEVELOPER SET, AND IMAGE FORMING METHOD
光沢制御粒子、現像剤セット、及び画像形成方法 - 特許庁 - To provide a particle control method by which control of the macrostructure of a particle agglomerate, control of aggregation/dispersion of particles and separation of different kinds of such agglomerates can be performed.
粒子集合体のマクロ構造の制御、凝集・分散の制御、分離を行うことができる粒子の制御方法を提供する。 - 特許庁 - CHARGED-PARTICLE-BEAM CONTROL DEVICE, CHARGED-PARTICLE- BEAM OPTICAL DEVICE USING IT, AND CHARGED-PARTICLE-BEAM DEFECTION INSPECTING DEVICE
荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFECT CHECKING DEVICE
荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁
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