「Phase-Contrast Microscopy」を含む例文一覧(4)

  • To provide a phase contrast technology optimized for fluorescence microscopy.
    蛍光顕微鏡検査のために最適化された位相コントラスト技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.
    透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁
  • A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.
    強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁
  • To provide a phase-dispersion microscopy capable of identifying kind of observed object by increasing the contrast of an image of the observed object and by coloring the image.
    観察対象物の像のコントラストを上げるとともに、像に色付きを持たせることにより観察対象物の種類を特定可能な位相差分散顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.