「Photoelectron Spectroscopy」を含む例文一覧(102)

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  • PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY ANALYTICAL METHOD
    光電子分光分析法 - 特許庁
  • Photoelectron spectroscopy can be carried out with incident X-rays (XPS: X-ray photoelectron spectroscopy) or ultraviolet radiation (UPS: ultraviolet photoelectron spectroscopy).
    光電子分光は、入射X線(XPS: X線光電子分光)または紫外放射線(UPS: 紫外光電子分光)で行うことができる。 - 科学技術論文動詞集
  • DETERMINING LAYER THICKNESS USING PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    光電子分光法を使用した層厚測定 - 特許庁
  • AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPE AND AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPY
    オージェー光電子コインシデンス分光器、及びオージェー光電子コインシデンス分光法 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE SPIN POLARIMETER, MICROSCOPE, AND PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY DEVICE
    荷電粒子スピン検出器、顕微鏡、及び光電子分光装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    Ｘ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    Ｘ線光電子分光装置及びＸ線光電子分光方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    Ｘ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光法 - 特許庁
  • In addition, binding energy of 3d5/2 by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) of a molybdenum ion contained in the coating layer is structured to be ≤232.4 eV.
    なお、被覆層に含有されたモリブデンイオンのＸＰＳ（X-ray Photoelectron Spectroscopy；光電子分光測定）による３ｄ５／２の結合エネルギーが２３２．４ｅＶ以下となるように構成する。 - 特許庁
  • The oxide layer of W is measured by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) and is a region of not less than 20 AC%.
    上記Ｗの酸化層は、ＸＰＳ(X-ray Photoelectron Spectroscopy:Ｘ線光電子分光法)により測定され、２０ＡＣ％以上の領域をいう。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method capable of efficiently performing threshold photoelectron spectroscopy.
    しきい光電子分光を効率的に行うことができる装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an X-ray photoelectron spectroscopy device and an X-ray photoelectron spectroscopy method capable of accurately acquiring the energy spectrum of photoelectrons discharged from a measurement object in a short time.
    測定対象物から放出された光電子のエネルギースペクトルを短時間に正確に取得することができるＸ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光方法を提供する。 - 特許庁
  • The film thickness of the oxide film is instantiated by an elliptic polarization analytical method or an X-ray photoelectron spectroscopy.
    前記酸化膜の膜厚は楕円偏光解析法またはＸ線光電子分光法が例示される。 - 特許庁
  • The analyses by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and glow-discharge light emission spectroscopy reveals that the coupling state of the active material is constant as a whole and Si-Ox-Cy(x=1.29).
    ＸＰＳおよびグロー放電発光分光分析による解析は活物質の結合状態は、全体に一定であり、Ｓｉ−Ｏｘ−Ｃｙ（Ｘ＝１．２９）である。 - 特許庁
  • (b) The Ps value of the compound by X-ray photoelectron spectroscopy is 70 or more and a P(O) value is 20% or less.
    （ロ）該化合物のＸ線光電子分光法分析によるＰｓ値が７０以上であり、且つ、Ｐ(0)値が２０％以下である。 - 特許庁
  • (a) A Ps value of the compound by X-ray photoelectron spectroscopy is 70 or more, and a P(+IV) value is practically zero.
    （イ）該化合物のＸ線光電子分光法分析によるＰｓ値が７０以上であり、且つ、Ｐ(+IV)値が実質的に０である。 - 特許庁
  • To provide a method of determining the thickness of one or more layers in a single or multi-layer structure on a substrate, using photoelectron spectroscopy.
    基板上の単層もしくは多層構造体における１以上の層の厚さを決定するために、光電子分光法を使用する。 - 特許庁
  • As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.
    表面分析方法としては、ＸＰＳ分析法等が挙げられ、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析と併用すれば、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁
  • In XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) measurement, the XPS peaks may display chemical shifts which reveal the oxidation state of each element in a specimen.
    XPS(X線光電子分光)測定において、XPSピークは、試料中の個々の元素の酸化状態を明らかにする化学シフトを示す(ことができる)。 - 科学技術論文動詞集
  • In the sealing film 5, oscillation energy of Al-O measured by infrared spectroscopy is 940 cm^-1 or more, and binding energy of A12p electron measured by X-ray photoelectron spectroscopy is 74.4 eV or more.
    この封止膜５において、赤外線分光法で測定されるＡｌ−Ｏの振動エネルギーが９４０ｃｍ^-1以上であり、Ｘ線光電子分光法で測定されるＡｌ２ｐ電子の結合エネルギーが７４．４ｅＶ以上である。 - 特許庁
  • In the stainless steel for a fuel cell, a coating film having an intensity ratio [(OO/OH)/(Cr/Fe)] as determined by X-ray photoelectron spectroscopy analysis of not less than 1.0 is formed on the surface of stainless steel containing not less than 16% by mass of Cr.
    Crを16質量％以上含有するステンレス鋼の表面に、Ｘ線光電子分光分析による強度比〔(OO/OH)／(Cr/Fe)〕が1.0以上である皮膜を形成する。 - 特許庁
  • This carbon fiber has the maximum peak within the range of 532.7 to 534.0 eV of bond energy in O1s spectrum of the surface thereof measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    Ｘ線光電子分光法で測定された繊維表面のＯ1sスペクトルが、結合エネルギー５３２．７〜５３４．０ｅＶの間に極大ピークを有する炭素繊維である。 - 特許庁
  • The characteristic is specified by an X-ray photoelectron spectroscopy or a secondary ion time-of-flight mass spectrometry and the particle can be dispersed in a dispersing medium.
    特性はＸ線光電子分光法もしくは飛行時間型二次イオン質量分析法により規定され、該粒子は分散媒体中で分散することができる。 - 特許庁
  • The peak area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10°.
    検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＡｌＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ａｌ_2s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ａｌ_2s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が０．６５以下であるＡｌＮ基板である。 - 特許庁
  • Further, in the photoelectron spectrum of the Ga_xIn_1-xN substrate by X-ray photoelectron spectroscopy with a detection angle of 10°, the peak area ratio of C_1s electron to N_1s electron (peak area of C_1s electron/peak area of N_1s electron) is ≤3.
    また、検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ｃ_1s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ｃ_1s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が３以下であるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板である。 - 特許庁
  • This visible light responsive photocatalyst is manufactured by being arranged so that the peak of a photoelectron spectrum is found in the range of an energy value, including WO_3 crystal, obtained by adding the value of a band gap energy to the value of valence band edge measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    ＷＯ_３結晶を含み、Ｘ線光電子分光によって測定される価電子帯エッジの値に、バンドギャップエネルギーの値を加えて得られるエネルギーの値の範囲中に、光電子スペクトルのピークが存在するようにして可視光応答光触媒を得る。 - 特許庁
  • This coiled carbon fiber has both of a surface oxygen radical concentration (O1s/C1s) of 4.0-12.5 at.% when measured by X-ray photoelectron spectroscopy and a specific surface area of 200-1,100 m2/g.
    コイル状炭素繊維は、Ｘ線光電子分光法で測定される表面酸素基濃度（Ｏ1s／Ｃ1s）が４．０〜１２．５at％であり、かつ比表面積が２００〜１１００ｍ^2／ｇである。 - 特許庁
  • A fluorine atom content is 40 to 60 atom% when the outer circumferential surface of the tubular body is measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    前記管状体の外周面をＸ線光電子分光法により測定したときのフッ素原子含有率は、４０原子％以上６０原子％以下である管状体である。 - 特許庁
  • To provide a polarized electron gun for easily generating polarized electron beams, and to provide a method for generating polarized electron beams, a method for evaluating the electron gun, and a reverse photoelectron spectroscopy.
    偏極電子ビームを簡便に発生させることができる偏極電子銃、偏極電子線の発生方法、電子銃の評価方法、及び逆光電子分光方法を提供する。 - 特許庁
  • In the Si dispersed vitreous carbon material, Si is uniformly dispersed and combined in the structure of the vitreous carbon in atomic level and the bound energy of 2p orbit of Si atom, which is determined from the peak value of a photoelectron spectrum by an X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), is 101-103 eV.
    ガラス状カーボンの組織中にＳｉが原子レベルで均一に分散複合し、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）による光電子スペクトルのピーク値から求めたＳｉ原子の２ｐ軌道の束縛エネルギーが１０１〜１０３ｅＶの範囲にあることを特徴とするＳｉ分散ガラス状カーボン材。 - 特許庁
  • The distribution state of a lubricant transferred from a magnetic disk is measured by X-ray photoelectron spectroscopy for each segment point of the outermost surface of a magnetic recording head as divided into segments.
    多分割した、磁気記録ヘッドの最表面の各分割点をＸ線光電子分光法により測定することにより、磁気ディスクから移着された潤滑剤の分布状態を算出する。 - 特許庁
  • To provide a simple antistatic method capable of simply preventing a sample from electrostatically charged a to be an impeding factor against measurement, when measuring an insulating sample by XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy).
    ＸＰＳ（Ｘ−ｒａｙ Ｐｈｏｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ、Ｘ線光電子分光法）を用いた絶縁性試料の測定を行う際に、測定時の妨害要因となる試料の帯電を簡易的に防止し得る方法の提供。 - 特許庁
  • In this Sn-contg. copper alloy material, the Sn3d/Cu2p ratio in the peak area ratio of the quantitative analysis in the case the surface is measured by X-ray photoelectron spectroscopy is controlled to ≤0.3.
    Ｓｎ含有銅合金材料において、その表面をＸ線光電子分光法によって測定したときの定量分析のピ−クエリア面積比のＳｎ３ｄ／Ｃｕ２ｐ比が０．３以下となるようにする。 - 特許庁
  • The spacer for a touch panel is obtained by using silica particles that have the ratio (C/Si) of the number of surface atoms of carbon to silicon of 0.01-1.0 which is determined by a photoelectron spectroscopy.
    本発明のタッチパネル用スペーサーは、光電子分光法により求められる炭素とケイ素との表面原子数比（Ｃ／Ｓｉ）が０．０１〜１．０ある、シリカ粒子を用いてなることを特徴とする。 - 特許庁
  • There is provided a platinum-carrying carbon catalyst produced by carrying platinum on a carbon carrier, wherein the integrated intensity ratio of sp^2/sp^3 of the photoelectron intensities of the sp^2 and sp^3 hybrid orbits of the carbon carrier measured by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is within the range of 1.8-3.3.
    白金をカーボン担体に担持させてなる白金担持カーボン触媒であって、Ｘ線光電子分光装置（ＸＰＳ）で測定される、カーボン担体のｓｐ^２混成軌道とｓｐ^３混成軌道の光電子強度の積分強度比ｓｐ^２／ｓｐ^３が１．８〜３．３の範囲内にある白金担持カーボン触媒。 - 特許庁
  • The AlN substrate cleaning method ensures that the area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10° by dipping the AlN substrate in an acid solution.
    また、ＡｌＮ基板を酸溶液に浸漬させることによって、検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＡｌＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ａｌ_2s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ａｌ_2s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）を０．６５以下にするＡｌＮ基板の洗浄方法である。 - 特許庁
  • In the substrate for sputtering, a hard coat layer is provided on an insulative substrate and the carbon - carbon bond peak value by X-ray photoelectron spectroscopy at the surface of the hard coat layer is (50,000 to 75,000) c/s.
    絶縁基板上にハードコート層を設けたスパッタリング用基板であって、ハードコート層表面のＸ線光電子分光法による炭素−炭素結合ピーク値が５００００〜７５０００ｃ／ｓであることを特徴とする。 - 特許庁
  • In the composite oxide, the bond energy belonging to Fe2p3/2 by X-ray photoelectron spectroscopy is smaller than 710.0 eV, and/or the bond energy belonging to Fe2p1/2 is smaller than 723.5 eV.
    本発明の複合酸化物は、Ｘ線光電子分光分析によるＦｅ２ｐ３／２に帰属する結合エネルギーが７１０．０ｅＶより小さい、および／または、Ｆｅ２ｐ１／２に帰属する結合エネルギーが７２３．５ｅＶより小さい。 - 特許庁
  • The carrier spent index represents a surface proportion of spent titanium on a carrier surface evaluated by XPS (X-ray photoelectron spectroscopy), and the toner external additive agglomerate index represents an amount of external additive agglomerates in the toner.
    ここでキャリアスペント指数とは、ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光法）で評価したキャリア表面のスペントチタン表面存在比率を示し、トナー外添剤凝集体指数は、トナー中の外添剤凝集体量を示す。 - 特許庁
  • To conduct elementary analysis in a sample electrode surface and in a site deeper than the surface without carrying out etching, in analysis using total reflection photoelectron spectroscopy.
    エッチングを行うことなく、全反射光電子分光法を用いた分析で、試料極表面とそれより深いところの元素分析を行うことができる試料分析方法および試料分析装置を提供すること。 - 特許庁
  • To realize an evaluation method of a diamond-like thin film for evaluating the bonding state of carbon on the surface of the diamond-like thin film or in the diamond-like thin film using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy.
    角度分解Ｘ線光電子分光法を用いて、ダイヤモンド様薄膜の表面及び内部における炭素の結合状態を評価するダイヤモンド様薄膜の評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁
  • The element ratio O (oxygen)/C (carbon) which is measured by the X-ray photoelectron spectroscopy method measurement of a surface on which the deposited film is not provided of the biaxially oriented PET film, on one surface of which the inorganic oxide deposited film is provided, is 0.50 to 0.55.
    片面に無機酸化物蒸着膜を設けた二軸延伸ＰＥＴフィルムの蒸着膜を設けてない面のＸ線光電子分光法測定で得られる元素比率Ｏ（酸素）／Ｃ（炭素）が０．５０〜０．５５である。 - 特許庁
  • This carbon fiber bundle for rubber reinforcing has a ratio of silicon to carbon (Si/C) of ≤0.02 on a surface of the carbon fiber, when measured by X-ray photoelectron spectroscopy, and a knot strength of ≥500 MPa.
    本発明のゴム補強用炭素繊維束は、Ｘ線光電子分光法により測定される炭素繊維表面の珪素／炭素比（Ｓｉ／Ｃ）が０．０２以下であり、結節強度５００ＭＰａ以上であることを特徴とするものである。 - 特許庁
  • The state of the valence band of the electrode is detected by a photoelectron spectroscopy and the chemical reaction arising on the surface of the electrode is evaluated from the result of the detection, by which the manufacture of the electrode having the strong chemical reaction is made possible.
    また光電子分光法などにより電極の価電子帯の状態を検出し、この検出結果から電極の表面で発生する化学反応を評価して、化学反応の強い電極を作製することができる。 - 特許庁
  • This inspection method for the atomic layer deposition film determines the result about formation of the atomic layer deposition film, by inspecting an atomic layer deposition film portion on a base by an X-ray photoelectron spectroscopy, when forming the atomic layer deposition film on the base.
    基体上への原子層堆積膜形成の際に、基体上の原子層堆積膜形成箇所をＸ線光電子分光法で検査することにより、原子層堆積膜形成の成否を判定する、原子層堆積膜の検査方法である。 - 特許庁
  • The adhesive agent composition contains a flaky silver particle (A) having an oxygen state ratio originated from silver oxide of <15% as measured by X-ray photoelectron spectroscopy, and an alcohol or a carboxylic acid (B) having a boiling point of ≥300°C.
    本発明の接着剤組成物は、Ｘ線光電子分光法で測定される銀酸化物由来の酸素の状態比率が１５％未満である片状の銀粒子（Ａ）、及び３００℃以上の沸点を有するアルコールまたはカルボン酸（Ｂ）を含む。 - 特許庁
  • The composition includes (A) carbon nanotube, (B) an organic pigment derivative and (C) water, and the ingredient (A) in the composition has an oxygen content of 5-20 atom%, analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (ESCA).
    本発明に係る組成物は （Ａ）カーボンナノチューブと、（Ｂ）有機色素誘導体と、（Ｃ）水を含有し、前記組成物中の前記（Ａ）成分をX線光電子分光法（ＥＳＣＡ）により分析した酸素含有量が５〜２０原子％である組成物である。 - 特許庁
  • Element M exhibits X-ray photoelectron spectroscopy peaks derived from an oxygen bond and a metal bond in which a peak area derived from the oxygen bond is twice or less a peak area derived from the metal bond.
    Ｍ元素は、Ｘ線光電子分光法によるスペクトルにおいて酸素結合によるピークと金属結合によるピークとを示し、前記酸素結合によるピークの面積は、前記金属結合によるピークの面積の２倍以下であることを特徴とする。 - 特許庁
  • The highly adhesive liquid crystal polymer film comprises a liquid crystal polymer and has nitrogen atoms on its surface of either one side or both sides wherein the density of the above nitrogen atoms is at least 2% measured by using X-ray photoelectron spectroscopy.
    液晶ポリマーからなるフィルムであって、その片側又は両側の表面部に窒素原子が存在し、Ｘ線光電子分光分析で測定した該窒素原子の濃度が２％以上であることを特徴とする高接着性液晶ポリマーフィルム。 - 特許庁
  • The carbon catalyst has a crystallinity degree of 41.0% or less as determined by an X-ray diffraction method, a (nitrogen atom)/(carbon atom) ratio of 0.7 or more as determined by an X-ray photoelectron spectroscopy, and oxygen reduction onset potential of 0.774 V (vs. NHE) or more.
    また、本発明に係る炭素触媒は、Ｘ線回折法により得られる結晶化度が４１．０％以下であり、Ｘ線光電子分光により得られる窒素原子／炭素原子比が０．７以上であり、酸素還元開始電位が０．７７４Ｖ（ｖｓ．ＮＨＥ）以上である。 - 特許庁
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