「Probe」を含む例文一覧(19549)

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  • MEASURING SYSTEM AND PROBE
    計量システム及びプローブ - 特許庁
  • ULTRASONIC ANGLE PROBE
    超音波斜角探触子 - 特許庁
  • BALLOON FOR ULTRASONIC PROBE
    超音波プローブ用バルーン - 特許庁
  • CONTACT PROBE FOR POWER DEVICE
    パワーデバイス用コンタクトプローブ - 特許庁
  • PROBE NEEDLE STRUCTURE AND PROBE CARD USING THE SAME
    プローブ針構造体及びこれを用いるプローブカード - 特許庁
  • ELECTROMAGNETIC ULTRASONIC WAVE PROBE
    電磁超音波探触子 - 特許庁
  • PROBE FOR MOLTEN METAL
    溶融金属用のプローブ - 特許庁
  • to investigate a matter thoroughly―probe a matter to the bottom
    綿密に調査する - 斎藤和英大辞典
  • SEMICONDUCTOR WAFER PROBE DEVICE
    半導体ウエハプローブ装置 - 特許庁
  • CONTROL METHOD FOR PROBE CARRIER, MANUFACTURING DEVICE FOR PROBE CARRIER, AND CONTROLLER FOR PROBE CARRIER
    プローブ担体の管理方法、プローブ担体製造装置及びプローブ担体管理装置 - 特許庁
  • PROBE TIP CLEANING MEMBER, PROBE CLEANING DEVICE, AND PROBE TIP CLEANING METHOD
    プローブ先端クリーニング部材、プローブクリーニング装置及びプローブ先端クリーニング方法 - 特許庁
  • The probe unit 1 is provided with one or more probe pins 2 and a probe holing part 3.
    1本以上のプローブピン2と、プローブ保持部3とを備えたプローブユニット1。 - 特許庁
  • CONTACT PROBE, PROBE APPARATUS EQUIPPED THEREWITH, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE
    コンタクトプローブおよびそれを備えたプローブ装置並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁
  • TIP TYPE PROBE MANUFACTURING METHOD, TIP TYPE PROBE AND TIP TYPE PROBE MANUFACTURING APPARATUS
    ティップ型プローブ製造方法、ティップ型プローブ及びティップ型プローブ製造装置 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING PROBE GROUP AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD USING PROBE GROUP
    プローブ群の製造方法およびプローブ群を用いたプローブカードの製造方法 - 特許庁
  • PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
    走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRODE PROBE, ELECTRODE PROBE GUIDING GRID, AND METHOD OF MANUFACTURING THE ELECTRODE PROBE
    電極プローブ、電極プローブ導入用グリッド、および、電極プローブ製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁
  • PROBE, ETCHING MASK FOR FORMING PROBE AND PROBE MANUFACTURING METHOD USING ETCHING MASK
    探針、探針形成用エッチングマスク及びそれを用いた探針の製造方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD
    半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁
  • PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACT STYLUS FIXING HOLDER FOR PROBE CARD
    プローブカードおよびプローブカード用のプローブ接触針固定用ホルダーの製造方法 - 特許庁
  • SOUND SOURCE PROBE DEVICE, SOUND SOURCE PROBE METHOD, SOUND SOURCE PROBE PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
    音源探査装置、音源探査方法、音源探査プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
  • SCANNING-PROBE INSPECTION APPARATUS
    走査型プローブ検査装置 - 特許庁
  • PROBE FOR MASS SPECTROMETRY
    質量分析用のプローブ - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD
    プローブカードの製造方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR PROBE ARRAY
    プローブアレイの製造方法 - 特許庁
  • PROBE FOR FOUR-TERMINAL MEASUREMENT
    四端子測定用プローブ - 特許庁
  • SCANNING PROBE EXPOSURE DEVICE
    走査型プローブ露光装置 - 特許庁
  • ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC PROBE MANUFACTURING METHOD
    超音波プローブ及び超音波プローブの製造方法 - 特許庁
  • FILM PROBE MANUFACTURING METHOD
    フィルムプローブの製造方法 - 特許庁
  • CLEANING DEVICE FOR PROBE NEEDLE
    プローブ針のクリーニング装置 - 特許庁
  • PROBE ARM FOR MACHINE TOOL
    工作機械用プローブアーム - 特許庁
  • PROBE PIN MATERIEL, PROBE PIN AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    プローブピン用材料、プローブピン及びその製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING PROBE SHEET
    プローブシートの製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD
    プローブピンの製造方法、プローブカードの製造方法 - 特許庁
  • MEDICAL TREATMENT DEVICE HAVING PROBE
    プローブを有する治療器 - 特許庁
  • PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD MANUFACTURING METHOD
    プローブの製造方法及びプローブカードの製造方法 - 特許庁
  • PROBE AND PROBE CARD MOUNTING A PLURALITY OF PROBES
    プローブおよび複数のプローブが実装されたプローブカード - 特許庁
  • PROBE STRUCTURE FOR PROBE DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD
    探針装置用プローブ構造及びその製造方法 - 特許庁
  • ULTRASONIC PROBE DRIVE
    超音波プローブ駆動装置 - 特許庁
  • ULTRASONIC PROBE SUPPORTING DEVICE
    超音波プローブ支持装置 - 特許庁
  • PROBE-CAR-MOUNTED UNIT AND PROBE INFORMATION COLLECTION SYSTEM
    プローブカー車載機及びプローブ情報収集システム - 特許庁
  • PROBE CARD, PROBE CARD MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS
    プローブカード、プローブカードの製造方法及び試験装置 - 特許庁
  • NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE PROBE COIL
    核磁気共鳴プローブコイル - 特許庁
  • ELECTRONIC CIRCUIT INSPECTION PROBE
    電子回路検査用プローブ - 特許庁
  • PROBE EQUIPMENT FOR WAFER TESTING
    ウエハ検査用プローブ装置 - 特許庁
  • SLAG OXIDATION DEGREE MEASURING PROBE
    スラグ酸化度測定プローブ - 特許庁
  • PROBE PIN AND IC SOCKET
    プローブピン及びICソケット - 特許庁
  • METHOD FOR FIXING AND SUPPORTING PROBE CARD AND ITS PROBE SUBSTRATE
    プローブカード及びそのプローブ基板の固定支持方法 - 特許庁
  • PROBE FOR LASER IRRADIATION
    レーザ光照射用プローブ - 特許庁
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