「Probes」を含む例文一覧(1455)

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  • The time (in seconds) between individual keepalive probes.
    各 keepalive プローブの間隔 (秒単位)。 - JM
  • OMNIDIRECTIONAL EDDY CURRENT PROBES, ARRAY PROBES, AND INSPECTION SYSTEMS
    全方向性渦電流プローブ、アレイプローブ及び検査システム - 特許庁
  • In this case, a group of the probes 6, 7, a group of the probes 8, 9, and a group of the probes 10, 11 are constituted so that these may not cross the light-receiving portions 15, 16, 17.
    ここで、探針群６，７、探針群８，９および探針群１０，１１が受光部１５，１６，１７上を横切らないようにしてある。 - 特許庁
  • The maximum number of probes to send to the user space ARP daemon via netlink before dropping back to multicast probes (see mcast_solicit ).
    ユーザー空間の ARP デーモンに netlink を用いて探索させる最大回数。 - JM
  • One or more contact probes, optical probes and tools are mounted on the probe ends.
    １つ又は複数の接触プローブ、光学プローブ、及び工具が、プローブ端に取り付けられる。 - 特許庁
  • DATA DETECTOR EQUIPPED WITH A PLURALITY OF PROBES AND DATA-DETECTING METHOD BY A PLURALITY OF PROBES
    複数のプローブを備えた情報検出装置および複数のプローブによる情報検出方法 - 特許庁
  • A liquid level sensor 18 is provided with four sensor probes 20a-21b and a monitoring unit 23 connected with those probes.
    液面センサ１８は、センサプローブ２０ａ〜２１ｂと接続された監視ユニット２３とを有している。 - 特許庁
  • The probes 54A and 54C are respectively pressed by the bottom faces 52A and 52C and the probes 54B and 54D are not pressed.
    プローブ５４Ａ、５４Ｃはそれぞれ底面５２Ａ、５２Ｃに押圧され、プローブ５４Ｂ、５４Ｄは押圧されない。 - 特許庁
  • The probes 1a, 1b are scanned on a flaw detecting portion, while oscillating the probes 1a, 1b to right and left sides.
    探触子１ａと１ｂを同時に左右に揺動させながら、探傷部位を走査させるようにする。 - 特許庁
  • The fuel is not present between the detection probes 22A, 22B, and thereby the probes are hardly affected by the fluctuation of the fuel level.
    検出子２２Ａ、２２Ｂの間に燃料が存在しないので、液面変動の影響を受け難くなる。 - 特許庁
  • The number of seconds between TCP keep-alive probes.
    TCP keep-alive のプローブを送る間隔 (秒単位)。 - JM
  • A nucleic acid microarray immobilizes functionless probes.
    無機能プローブを固定している核酸マイクロアレイ。 - 特許庁
  • The connecting part 30 connects the first and second probes.
    連結部３０は、第１及び第２の導子部を連結する。 - 特許庁
  • The heat sensors (28, 30, 32) is supported by the probes (24, 26).
    熱センサ(28,30,32)は、プローブ(24,26)に支持される。 - 特許庁
  • To fix probes on a substrate efficiently and stably.
    プローブを効率よく安定的に基材上に固定させる。 - 特許庁
  • The probes 62 and 63 are brought into contact with an electrode 14.
    プローブ６２，６３は電極１４と接触する。 - 特許庁
  • To efficiently and stably fix probes on a substrate.
    プローブを効率よく安定的に基材上に固定させる。 - 特許庁
  • The contact probes 4 are installed in a guide groove 5.
    コンタクト・プローブ４は、ガイド溝５内に設けられる。 - 特許庁
  • Then the plurality of probes is positioned accurately on the supporting section which connects the probes 24 to each other without disturbing the arrangement of the probes 24 positioned on the substrate 16 by forming the supporting section on the sides of the probes 24 opposite to the substrate 16 in a state where the probes 24 are fixed on the substrate 16.
    複数のプローブ１６が基板１６に固定されている状態で、それらのプローブ１６を連結する支持部をプローブの反基板側に形成することにより、基板１６上に位置決めされたプローブ１６の配列を乱すことなしに、支持部上に複数のプローブを正確に位置決めする。 - 特許庁
  • Two kinds or more of indirect probes form a hybrid with at least one kind of functionless probe in the functionless probes.
    前記無機能プローブのうち、少なくとも１種類の無機能プローブに対して、２種類以上の間接プローブがハイブリットを形成している。 - 特許庁
  • A plurality of probes are provided in a focused ion beam device and voltage is freely applied across the probes.
    収束イオンビーム装置内に複数のプローブを設け、プローブ間には自由に電圧を印加できる構成とする。 - 特許庁
  • To improve contact stability between blade-type probes and electrodes by reducing dispersion of the blade type probes.
    ブレード型プローブのバラツキが低減して、このブレード型プローブと各電極との接触安定性が向上する。 - 特許庁
  • To prevent displacement of adjacent probes occurring due to heat of laser light, when probes are joined to a substrate with a narrow pitch.
    プローブを狭ピッチで基板に接合する際に、レーザー光の熱により生じる隣り合うプローブの位置ずれを防止すること。 - 特許庁
  • To supply a plurality of probes with time-aligned signals when performing deskew adjustment of the plurality of measuring probes.
    複数の測定プローブのデスキュー調整を行う際に、これら複数のプローブに時間整列された信号を供給する。 - 特許庁
  • A substrate having a plurality of through holes corresponding to the plurality of probes is arranged so that the plurality of probes penetrate the plurality of through holes.
    複数のプローブが複数のスルーホールに入り込むように、複数のプローブに対応する複数のスルーホールを有する基板が配置される。 - 特許庁
  • The kit for determination is constituted by combining the reagent A including the probes Pfw and Pw and the reagent B including the probes Pfw and Pn mutually.
    定量用キットは、プローブＰｆｗとＰｗを含有する試薬Ａ、及びプローブＰｆｗとＰｎを含有する試薬Ｂとの組合わせである。 - 特許庁
  • Positions of the probes can be specified with the use of information of irradiation positions of the electron beams at the time of measurement of the absorption currents in the probes.
    プローブにおける吸収電流を測定した時点での電子ビームの照射位置の情報を用いて、プローブの位置を特定することができる。 - 特許庁
  • For example, by making the diameter of the probe for alignment to be larger than that of other probes, the pressure to the electrode can be heightened to other probes.
    例えば、前記位置合わせ用プローブの直径を他のプローブよりも大きくして、他のプローブよりも前記電極に対する圧力を高くした。 - 特許庁
  • Each probe belongs to any one of a first and second groups of probes each of which includes a plurality of probes.
    各プローブは、それぞれが複数のプローブを含む第１及び第２のプローブ群のいずれかに属する。 - 特許庁
  • A controller 201 controls a transmission of ultrasonic from the probes and processes a signal of ultrasonic received by the probes.
    制御装置２０１は、探触子からの超音波の送信を制御し、該探触子にて受信した超音波の信号処理を行う。 - 特許庁
  • Transmitting guide wave probes 2a, 2b, and 2c, and receiving guide wave probes 2d, 2e, and 2f are installed across an inspection object range of piping 1.
    配管１の検査対象範囲を挟むように送信用ガイド波探触子２ａ、２ｂ、２ｃと、受信用ガイド波探触子２ｄ、２ｅ、２ｆを設置する。 - 特許庁
  • A thermocouple with two probes is used to measure voltages at the tips and bottom parts of the cone chips of the probes.
    プローブが２つの熱電対を用いて、プローブのコーン・チップの先端及び底部の電圧を測定する。 - 特許庁
  • To automatically prevent the fluctuations in a measuring range caused by the length irregularities of respective probes, even when a plurality of the probes are replaced to be used.
    複数のプローブを取り替えて使用する場合であっても、各プローブの長さのばらつきによる測定範囲の変動を自動的に防止する。 - 特許庁
  • The plurality of movable probes includes one direct coupling type movable probe and other switching type movable probes.
    前記複数の可動プローブは、１つの直結型の可動プローブと、他の切り替え型の可動プローブとからなる。 - 特許庁
  • The viscometer is also provided with a protector 14 which is projected under the probes 10 to protect the probes 10 from external forces.
    粘度計は、測定子１０の下方に突出して、測定子１０を外力による損傷から防護するプロテクタ１４を設けている。 - 特許庁
  • To reduce costs required for exchanging multiple pin loop probes in a measuring instrument including the multiple pin loop probes.
    多ピンループプローブを含む測定器具において、多ピンループプローブの交換に要するコストを低減することである。 - 特許庁
  • Absorption current measurement parts 4, 5 for the probes measure absorption currents generated at the probes 1, 2 in accordance with scanning of the electron beams.
    プローブ用吸収電流測定部４及び５は、電子ビームの走査に伴ってプローブ１及び２に生じる吸収電流を測定する。 - 特許庁
  • Ultrasonic waves from the transmitting probes 1, 3 are reflected by the inner circumferential face so as to be received by the receiving probes 2, 4.
    送信探触子１，３からの超音波は内周面で反射して受信探触子２，４により受信される。 - 特許庁
  • An arrangement structure of probes is so constituted that a plurality of probes 17 for Kelvin measurement are arranged in a matrix fashion associated with arrangement of targets 15.
    プローブの配列構造は、複数個のケルビン測定用のプローブ１７を、ターゲット１５の配列に対応させて、行列状に配列して成る。 - 特許庁
  • The light source probes 12R, 12L are connected to a laser light source 15, and the light sensor probes 13R, 13L are connected to a light sensor 16.
    光源プローブ１２Ｒ、１２Ｌはレーザ光源１５に接続され、光センサプローブ１３Ｒ、１３Ｌは光センサ１６に接続されている。 - 特許庁
  • The probes 1a-1d of an ultrasonic probe group 1 and the probes 2a-2d of an ultrasonic probe group 2 are arranged on the piping 7 in the circumference.
    超音波探触子群１の探触子１ａ〜１ｄ及び超音波探触子群２の探触子２ａ〜２ｄは配管７の周方向に配置される。 - 特許庁
  • The longitudinal wave angle probes 11, 12 are arranged in such a state that the line connecting respective probes 11, 12 is tilted at 45° relative to the weld direction 14 of the weld line 13.
    縦波斜角探触子１１，１２は、相互間を結ぶ線が溶接線１３の溶接方向１４に対して４５°傾く状態とする。 - 特許庁
  • By forming the probes 22 by the wiring film 20, the plurality of probes 22 can be arranged on the base 10 at the narrow pitches.
    配線膜２０でプローブ２２を形成することにより、基板１０上に狭小なピッチで複数のプローブ２２を配列することができる。 - 特許庁
  • When a bacterium as a discrimination object is newly added and a part of the probes is not used, the residual probes are used and discrimination is carried out.
    そして、新たに識別対象の細菌が加わり一部のプローブが使えなくなった場合には、残りのプローブを用いて識別する。 - 特許庁
  • Multiple probes with identical sequences are designed to form the probes containing at least one different monomer addition cycle.
    同一の配列を有しながらも、少なくとも一つの異なったモノマ付加サイクルを含んで形成されるように、複数のプローブを設計する。 - 特許庁
  • This probe assembly is equipped with a plurality of probes, a probe substrate to which the probes are provided, and a plurality of protection members provided to the probe substrate.
    プローブ組立体は、複数のプローブと、該プローブが設けられるプローブ基板と、該プローブ基板に設けられる複数の保護部材とを備える。 - 特許庁
  • A stopper 14 for regulating the slide of the probes 13 is provided in the probe card substrate 11 to be positioned along a sliding direction of the probes 13.
    プローブカード基板１１には、プローブ１３のスライド方向に位置して、該プローブ１３のスライドを規制するストッパー１４が設けられる。 - 特許庁
  • This is used to protect I/O port regions from probes.
    デバイスの自動検出から I/O ポートを保護するために用いる。 - JM
  • The maximum number of keepalive probes TCP should send before dropping the connection.
    接続を落とす前に TCP が試みる keepalive プローブの最大回数。 - JM
  • The probes will transmit data such as location, water pressure and water temperature to the satellite.
    プローブは位置や水圧，水温などのデータを衛星に送る。 - 浜島書店 Catch a Wave
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