「Reference Source」を含む例文一覧(2010)
＜前へ 1 2 .... 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 次へ＞- To provide a device and method of information recording capable of succeeding the information such as the chapter information set up in the content reference information of the dubbing source to a dubbing destination when dubbing by changing the data rates, and to improve the user's convenience.
レート変換ダビング時に、ダビング元のコンテンツの参照情報上で設定した情報、例えばチャプター情報などをダビング先に継承でき、ユーザーの利便性を向上させることができる情報記録再生装置および情報記録再生方法を提供すること。 - 特許庁 - The power supply device 1 connects the negative electrode for the DC power supply 10 and the reference potential source 40 by the relay 20 while connecting the positive electrode for the DC power supply 10 and the output terminal OUT by the relay 30, thus outputting a positive voltage from the output terminal OUT.
この電源装置１は、リレー２０により直流電源１０の負極と基準電位源４０とを接続するとともに、リレー３０により直流電源１０の正極と出力端子ＯＵＴとを接続することで、出力端子ＯＵＴから正電圧を出力する。 - 特許庁 - This output image 110 is read by an image input part 13 and a pixel position detecting part 17 obtains an image starting point to be a reference for reading the output image 110 so as to most improve the coefficient of correlation between the provided input image and the source image data 100.
この出力画像１１０を画像入力部１３で読み取り、得られた入力画像と原画像データ１００との相関係数がもっとも高くなるよう、画素位置検出部１７にて出力画像１１０の読み取りの基準となる画像開始点を求める。 - 特許庁 - Since the fixing plate 132 is fixed by the reinforcing layer by embedding a liner side plate 134 being its projection source in the reinforcing layer 122, the high pressure gas tank 100 defines a position of the fixing plate 132 to a tank position reference such as a tank external shape or its axis.
固定プレート１３２は、その突出元であるライナー側プレート１３４が補強層１２２に埋没して当該補強層により固定されていることから、高圧ガスタンク１００は、タンク外形或いはその中心軸といったタンク位置基準に対する固定プレート１３２の位置を規定する。 - 特許庁 - When transmitting a source video signal to a display output signal processing system, the same transmission clock is used for HD and SD and a frame reference signal is inserted at a data position a predetermined number of clocks before a field effective data starting position within a frame of transmission data.
表示出力信号処理系にソース映像信号を伝送するのにあたり、ＨＤとＳＤとで同じ伝送クロックを用い、伝送データのフレーム内におけるフィールド有効データの開始位置から所定クロック数だけ前方となるデータ位置に対して、フレーム基準信号を挿入する。 - 特許庁 - A divider circuit 10 divides a high potential SV at a 2nd dividing ratio smaller than the 1st dividing ratio when the external power source voltage extVCC is lower than a reference potential, and divides the high potential at a 3rd dividing ratio between the 1st and 2nd dividing ratios when it is higher than the high potential SV.
分圧回路１０は、外部電源電圧ｅｘｔＶＣＣが基準電位よりも低い場合は第１の分圧比よりも小さな第２の分圧比で高電位ＳＶを分圧し、高い場合は第１および第２の分圧比の間の第３の分圧比で高電位ＳＶを分圧する。 - 特許庁 - Furthermore, in the case of reading a white reference board by a line sensor 12 for obtaining correction data, a luminous quantity overflow detection circuit 304 detects the overflow of the luminous quantity for each light source, and the luminous quantity is respectively adjusted within a specified range of the maximum and minimum values so as to eliminate the overflow.
また、ラインセンサ１２により白基準板を読み取って補正データを得る際、光量オーバフロー検出回路３０４で各光源ごとに光量のオーバフローが検出され、オーバフローが無くなるように、上記最大値、最小値の調整範囲においてそれぞれ調整される。 - 特許庁 - In the voltage comparator for comparing the value of input voltage with the value of reference voltage and outputting a signal from an output terminal 6, a voltage source 11 is connected between a 2nd terminal 8 and a base terminal of a 1st MOS transistor 3 or a base terminal of a 2nd MOS transistor 4.
入力電圧の値と基準電圧の値を比較して、出力端子6から信号を出力する電圧比較器において、第２の端子8と、第１のMOSトランジスタ3の基板端子若しくは前記第２のMOSトランジスタ4の基板端子との間に、電圧源１１が接続されている。 - 特許庁 - This random number generation circuit 1 is provided with a noise generation source 2 generating a noise signal, a filter 3 extracting a part of a frequency band of the noise signal, and a comparator 4 amplifying a signal difference between a part of the noise signal frequency band and a reference signal for generating a random number signal.
乱数生成回路１において、ノイズ信号を発生するノイズ発生源２と、ノイズ信号の周波数帯域の一部を抽出するフィルタ３と、ノイズ信号の周波数帯域の一部と参照信号との間の信号差を増幅した乱数信号を生成するコンパレータ４とを備える。 - 特許庁 - The amplifier C4 switches the amount of gain and the amount of DC offset according to the supply voltage Vc of a reference voltage source 4 between two different patterns, by switching the connecting state of a plurality of resistive elements 15-19 for specifying the amount of gain and the amount of offset by analog switches 20-23.
増幅部Ｃ４は、アナログスイッチ２０〜２３によりゲイン量とＤＣオフセット量を規定する複数の抵抗素子１５〜１９の接続状態を切り替えることにより、基準電圧源４の電源電圧Ｖｃに応じてゲイン量とＤＣオフセット量を２種類の異なるパターンで切り替える。 - 特許庁 - An output terminal of a reference signal source 10 in a circuit section (a) is connected in common to respective input terminals of 3 phase shift circuits 25-27 via an amplifier 24 and outputs from the phase shift circuits 25-27 are given to an IF input 28.
回路部ａの有する基準信号源１０の出力端は、アンプ２４を介して３つの移相回路２５〜２７のそれぞれの入力端に共通接続され、各移相回路２５〜２７の出力がＩＦ入力２８に信号注入し得るように構成される。 - 特許庁 - Of the plurality of generated picked up images, for a first picked up image containing the most return light component by the narrow-band light from the second light source section 47, the brightness level of the first picked up image is controlled to be increased/decreased independent of the brightness levels of the picked up images of the other reference colors.
生成した複数の撮像画像のうち、第２の光源部４７からの狭帯域光による戻り光成分を最も多く含む第１の撮像画像に対して、第１の撮像画像の輝度レベルを他の基準色の撮像画像の輝度レベルとは独立して増減制御する。 - 特許庁 - The device has a first path having the first light path length and a second path having the second light path length formed by the object arm and/or the reference arm, and the light emitted by the light source (ALQ) can be propagated through the first path and the second path.
デバイスは、物体アーム及び／又は基準アームによって形成された、第１の光路長を有する第１の経路及び第２の光路長を有する第２の経路を有し、光源（ＡＬＱ）によって放出される光は、第１の経路及び第２の経路を通って伝播することができる。 - 特許庁 - The current-detecting means monitors the electric power source current, and the current control means generates a control signal for the variable load means, using as an error signal, the difference between a reference current value in response to an operation mode and the detected current value, based on the signal from the memory control means.
電流検出手段で電源電流をモニタし、電流制御手段ではメモリ制御手段からの信号に基づき動作モードに応じたリファレンス電流値と検出した電流値との差分を誤差信号として可変負荷手段に対する制御信号を生成する。 - 特許庁 - After a color temperature measurement mode is selected, when a shutter button is depressed by using a white board or a gray scale board being a reference of a color temperature as a photographing object, a control section calculates a color temperature of a lighting light source in the S103 based on a signal read by a CCD in the S101.
色温度測定モードを切り替えた後に、色温度の基準となる白色板またはグレースケール板を撮影対象としてシャッターボタンを押すと、Ｓ１０１でＣＣＤにより読み取った信号に基づき、Ｓ１０３で制御部は照明光源の色温度を算出する。 - 特許庁 - Since the constant voltage source 20 is connected with the base of the transistor 12 generating a reference voltage, a potential equal to the base-emitter voltage VBE+IR of the transistor 12 is inputted to the Vref input terminal of a comparison circuit 30, i.e., the base of a transistor 32.
基準電圧発生用トランジスタ１２のベースにこの定電圧源２０が接続されているため、比較回路３０のＶref１入力端子であるトランジスタ３２のベースには、トランジスタ１２のベース・エミッタ間電圧ＶＢＥ＋ＩＲの電位が入力されることを特徴としている。 - 特許庁 - When a positive meniscus lens is used as a conversion lens 12 which makes reference light L2 parallel light, the conversion lens 12 can be arranged between a light source 11 and a principal point Q of the conversion lens 12 because the lens has the principal point Q on the side of an emission surface 12a.
参照光Ｌ２を平行光とする変換レンズ１２として、順メニスカスレンズを用いると、このレンズは主点Ｑを射出面１２ａ側に有するため、光源１１と変換レンズ１２の主点Ｑとの間に前記変換レンズ１２を配置することが可能となる。 - 特許庁 - An optical tomographic image acquisition apparatus 1 for acquiring an optical tomographic image of an object 2 by OCT includes a light source part 11, an interference part 12, a reference optical system 13, a reflector 14, an irradiating optical system 15, a lens 16, a detection part 17, and an analysis part 18.
光断層画像取得装置１は、ＯＣＴに拠って対象物２の光断層画像を取得するものであって、光源部１１、干渉部１２、参照光学系１３、反射体１４、照射光学系１５、レンズ１６、検出部１７および解析部１８を備える。 - 特許庁 - To provide an optical device which can obtain a desired outgoing light quantity rate by providing a polarizer correcting deviation between polarization of light emitted from a laser light source and polarization reference of a liquid crystal optical element and an optical pickup device in which the optical device is incorporated.
レーザ光源から出射される光の偏光と液晶光学素子の偏光基準とのずれを補正する偏光子を設けることで、所望の出射光量率を得ることが可能な光学装置およびこの光学装置を組み込んだ光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁 - This is a communication system which features a communication whose transmission source is specified by receiving a time information radio wave, generating a signal rising in prescribed timing about the reference time of the time information radio wave, and sending a signal according to the prescribed timing as a parameter.
この発明は、時刻情報電波を取り込み、その時刻情報電波の基準時に対する所定のタイミングで立ち上がる信号を生成し、その所定のタイミングをパラメータとして信号送信をすることにより、送信元が特定された通信を行うことを特徴とする通信システムである。 - 特許庁 - A charging detection device causes a module D68 to compare a potential of a feedback signal input in a lamp lighting control IC 61 from a module B67 to a negative reference potential so as to detect overcurrent of a switching FET 53 for controlling the lighting of a light source lamp 11.
本発明の帯電検知装置は、光源ランプ１１の点灯を制御するスイッチングＦＥＴ５３の過電流を検出するべくモジュールＢ６７からランプ点灯制御ＩＣ６１に入力されるフィードバック信号の電位と負の基準電位とをモジュールＤ６８が比較する。 - 特許庁 - A plurality of resistors R1, R2 are connected in series between an output terminal 2 and the ground, and the base of the control transistor Q2 is connected to the connection point of the resistors R1, R2, where the voltage signal corresponding to the output voltage can be obtained via the reference voltage source comprising a constant voltage diode DZ1.
出力端子２とアースとの間に複数の抵抗Ｒ１、Ｒ２を直列に接続し、制御トランジスタＱ２のベースを定電圧ダイオードＤＺ１よりなる基準電圧源を介して、出力電圧に相当する電圧信号が得られる抵抗Ｒ１とＲ２の接続点に接続する。 - 特許庁 - Only the order constituent of the frequency that is an integer multiple of the frequency of the reference signal of the vibration source 12 may be extracted, so that a means suited for real-time processing such as Karman filter and a band-pass filter can be adopted for extracting the order constituent, thus achieving an analysis in real time with a simple configuration.
振動源１２の基準信号の周波数の整数倍の周波数の次数成分だけを抽出すればよいから、次数成分の抽出に、カルマンフィルタやバンドパスフィルタ等のリアルタイム処理に適した手段を採用することができ、構成簡単にリアルタイムでの解析を実現する。 - 特許庁 - A voltage through a filter 32 detected by the voltage-measuring unit 31 is decided by a decision unit 33 based on a settled reference value of a settling section 34 and, when the occurrence of the ground-fault excessive voltage is determined, a power system from a commercial power source is cut off from a private wiring and the like.
フィルタ部３２を介した電圧計測部３１の検出電圧を、判定部３３で設定部３４の設定基準値に基づいて判定し、地絡過電圧が発生していると判断されるときには、商用電力からの電力系統を構内配線などと切離す。 - 特許庁 - The display device has the configuration that the voltage applied to a power source line 5 based on the display luminance in a display element 2 and the reference voltage used at the time of display signal generation in a signal line driving circuit 8 is fluctuated while the driving state is maintained in a saturated region of the thin-film transistor 11.
表示部２における表示輝度に基づいて電源線５に与える電圧および信号線駆動回路８における表示信号生成の際に用いられる参照電圧とを、薄膜トランジスタ１１が飽和領域にて駆動する状態を維持しつつ変動させる構成を有する。 - 特許庁 - The voltage (V1-V2) as the over current determination voltage between the point P2 on the copper foil pattern 4 connected with the source of the FET (T1) for switching and the drain P1 of the FET (T1) is supplied to the input terminal of the comparator CMP1 for comparing with the reference voltage V3.
スイッチング用のＦＥＴ（Ｔ１）のソースに接続された銅箔パターン４の所定点Ｐ２と、該ＦＥＴ（Ｔ１）のドレインＰ１との間の電圧（Ｖ１−Ｖ２）を過電流判定電圧として、比較器ＣＭＰ１の入力端子に供給し、基準電圧Ｖ３と比較する。 - 特許庁 - When information is recorded on the recording area 11c of a hologram recording layer 11a of a hologram recording medium 11 where a high refractive index substrate 12 is disposed, the hologram recording medium 11 is irradiated with reference light (A) and data light (B) emitted from an optical source 14 from the same surface side.
ホログラム記録媒体１１に高屈性率基板１２を配置したもののホログラム記録層１１ａの記録エリア１１ｃに情報を記録する場合には、ホログラム記録媒体１１に対して同一の面側から光源１４から出射された参照光Ａと、データ光Ｂとを照射する。 - 特許庁 - This system is constituted to do the detection of electric current by constructing the NPN transistor in the current detecting small resistance using a emitter follower, divide a resistance voltage of the NPN transistor base from the reference power source of the high precision band gap and bias in the electric potential which is increased the Vf amount to one rank by equipping a diode.
ＮＰＮトランジスタを電流検出用低抵抗にエミッタフォロワ構成とし、ＮＰＮトランジスタのベースを高精度バンドギャップレファレンス電源から抵抗分圧し、かつダイオードを設けて電位をＶｆ分一段持ち上げた電位でバイアスする構成として電流検知を行う回路構成。 - 特許庁 - The auxiliary light source circuit 15 detects the input light suddenly dropping below a reference value, an APC 19 excites a laser diode 20 corresponding to the quantity of the dropping light, and light is supplied from the laser diode 20 as auxiliary light and sent in the ALC loop 10.
補助光源回路１５は入力光が急激に基準値より下がったときに検出し、ＡＰＣ１９がその下がった分の光量に対応してレーザダイオード２０を励起し、レーザダイオード２０から光量が補助光として供給されてＡＬＣループ１０に送り込む。 - 特許庁 - In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.
光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁 - With reference to "Kenmu nenchugyoji" (Annual Ceremonies of the Kenmu Era) written by Emperor Godaigo and "Nenchu gyoji uta awase" (Annual Court Ceremonies Poetry competitions) written by Kaneyoshi's grandfather Yoshimoto NIJO, and so forth, the book contains some 100 imperial court functions from shihohai (ceremony called worship of the four quarters) on New Year's Day to tsuina (ceremony called to drive out evil spirits) on New Year's Eve in monthly order with the origin, source, details, and features.
後醍醐天皇の『建武年中行事』や祖父二条良基の『年中行事歌合』などを参考にして元旦の四方拝から大晦日の追儺までの宮中行事100余を月の順序で記し、起源・由来・内容・特色などを記した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - To provide a spectroscopic analysis photometer, capable of enhancing measurement precision, widening the flexibility for a light source, compactifying the size and quickening a speed, in the spectroscopic analysis photometer for conducting wavelength calibration and analysis of a secondary light generated by irradiating a sample with an energy line for excitation, using a reference light.
試料に励起用エネルギ線を照射して生じる二次光を、参照光を用いて波長校正し分析する分光分析光度計において、測定精度を向上させ、光源の選択自由度を広げ、コンパクト化及び高速化を可能とする分光分析光度計を提供する。 - 特許庁 - Although a reference voltage source 100 is provided to a first voltage control part 105, the first voltage control part 105 controls the input of a voltage control type variable current element 103 so that the same voltage value is imparted to the terminal A of a resistor 101 for the UP currents.
第１の電圧制御部１０５には基準電圧源１００が与えられているが、第１の電圧制御部１０５はＵＰ電流用の抵抗１０１の端子Ａに同じ電圧値が与えられるように電圧制御型可変電流素子１０３の入力を制御する。 - 特許庁 - At the time of recording, the computation defining the reference light respectively having different incident angles with each of the respective divided region is executed and the reconstructing light having the color information recorded in the respective divided regions is made to gather at the virtual visual point E when the reproduction is executed by using the virtual light source Lw.
記録時には、各分割領域ごとにそれぞれ異なる入射角度をもった参照光を定義した演算を行い、仮想光源Ｌｗを用いて再生したときに、各分割領域に記録された色情報をもった再生光が仮想視点Ｅに集まるようにする。 - 特許庁 - When the detected voltage, in difference amplifying parts D1 to D8 is a difference below a prescribed value from one-eighth of voltage in a reference voltage source V1, the differential amplifying parts are diagnosed as being normal, and when the detected voltage is the difference equal to or more than the prescribed value, the differential amplifying parts are diagnosed as being at fault.
差動増幅部Ｄ１〜Ｄ８による検出電圧が基準電圧源Ｖ１による電圧の１／８から所定値未満の差異の場合、差動増幅部が正常であると診断し、所定値以上の差異の場合、差動増幅部が故障であると診断する。 - 特許庁 - The specification part 13b specifies a component with the second multiplication value larger than the first multiplication value, among the components, and also specifies a supply source corresponding to the specified component as a request destination, with reference to a third storage part for storing supply sources that individually supply each of the components.
特定部１３ｂは、複数の部品のうち、第一の乗算値よりも第二の乗算値が大きい部品を特定するとともに、複数の部品各々を供給する供給元を記憶する第三の記憶部を参照し、特定した部品に対応する供給元を要求先として特定する。 - 特許庁 - An overvoltage detecting circuit 3 sets VDS(voltage between the source and the drain) of two MOS transistors MD1, MD2 as reference voltages, monitors a DC voltage supplied from the surge protective circuit 2, detects an overvoltage, and cuts off an MOS transistor M2, thereby protecting a load F1.
過電圧検出回路３は、２個のＭＯＳトランジスタＭＤ１、ＭＤ２のＶＤＳ(ソース・ドレイン間電圧)を基準電圧として、これによりサージ保護回路２から供給された直流電圧を監視し、過電圧を検出し、ＭＯＳトランジスタＭ２を遮断して負荷Ｆ１を保護する。 - 特許庁 - The differential amplifier 50 compares the source voltage of each of the MOS transistors M2 and M3 with a predetermined reference voltage Vref, generates an output voltage in accordance with the comparison result, and supplies the generated output voltage to well terminals as well voltages of the MOS transistors M2 and M3.
差動増幅器５０は、ＭＯＳトランジスタＭ２，Ｍ３のソース電圧と、所定の基準電圧Ｖｒｅｆとを比較し、この比較結果に応じて出力電圧を生成し、この生成した出力電圧を、ＭＯＳトランジスタＭ２，Ｍ３のウエル電圧として各ウエル端子に供給するようになっている。 - 特許庁 - A photocurrent from the light receiving element 4 is photoelectrically converted by a photoelectric conversion circuit 5, the gain to be set is recognized by a discrimination circuit 6, a reference voltage source 7, and a decoder 8, and a gain setting circuit 9 performs setting to an electronic volume 13 of the photoelectric conversion circuit 5.
受光素子４からの光電流は光電変換回路５で光電変換され、弁別回路６、基準電圧源７およびデコーダ８で前記設定すべきゲインが認識され、ゲイン設定回路９が前記光電変換回路５の電子ボリウム１３に設定する。 - 特許庁 - The semiconductor light source lighting circuit 100 comprises an N channel field effect transistor M1 and a current detection resistor RS provided in series on the path of a current supplied to a semiconductor light source 10, and a control circuit which controls the N channel field effect transistor M1 so that the difference between a voltage generated in the current detection resistor RS and a reference voltage Vref is reduced.
半導体光源点灯回路１００は、半導体光源１０へ供給される電流の経路上に直列に設けられるＮチャネル電界効果型トランジスタＭ１および電流検出抵抗ＲＳと、電流検出抵抗ＲＳに生じる電圧と基準電圧Ｖｒｅｆとの差を小さくするようにＮチャネル電界効果型トランジスタＭ１を制御する制御回路と、を備える。 - 特許庁 - The image display device includes: a laser beam source device; a modulator for modulating light emitted from the laser beam source device matched with an effective display period T_1 shorter than a reference display period T_0 determined by a refresh rate of input images; and a scanning optical system for scanning the light modulated by the modulator on a surface to be scanned matched with the effective display period T_1.
本発明の画像表示装置は、レーザー光源装置と、入力画像のリフレッシュレートより定まる基準表示期間Ｔ_０よりも短期間の実効表示期間Ｔ_１に整合させてレーザー光源装置から射出される光を変調する変調装置と、変調装置により変調された光を実効表示期間Ｔ_１に整合させて被走査面上で走査させる走査光学系と、を含む。 - 特許庁 - In the accelerated weatherability test method for arranging a sample inside a case and performing accelerated weatherability test by irradiation from an artificial light source, illumination value is measured with time, integrated light quantity is continuously calculated with time based on the data of the temporal illumination value, and the artificial light source is turned off with reference to the completion of the test when the integrated light quantity reaches a certain value set previously.
筐体の内部に試料を配置して人工光源からの照射によって促進耐候性試験を行う促進耐候性試験方法において、経時的に照度値を測定し、該経時的な照度値のデータより積算光量を経時的に算出し続け、試験の完了に係る該人工光源の消灯を、事前に設定した一定値に該積算光量が至った際に行うことを特徴とする。 - 特許庁 - The surface analyzer is constituted of: a light source 10 emitting supercontinuum light; an optical fiber coupler 11 dividing the SC light into measuring light and reference light; a mirror 12; a driving device 13 moving the mirror 12; a light-receiving means 14 measuring an interference waveform between the measuring light and the reference light; and an interference waveform analysis means 15 analyzing a temperature and surface condition of the object to be measured from the interference waveform.
表面分析装置は、スーパーコンティニューム光を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、ミラー１２と、ミラー１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、干渉波形から測定物の温度および表面状態を分析する干渉波形解析手段１５と、によって構成されている。 - 特許庁 - This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.
白色光源１０９から放射された光をビームスプリッタ１０２により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料１０７にミラウ干渉計１０５を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計１０５に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁 - The amplitude modulation circuit, a pulse signal generation circuit outputting the repetitive pulse signal repeated by the reference frequency, a modulation signal generation circuit outputting the modulation signal inputted to the amplitude modulation circuit, a resonance circuit which resonates to the reference frequency of an output signal Vout from the amplitude modulation circuit, and a power source circuit outputting power supply voltage Vb are used and a transmitter is constituted.
この振幅変調回路と、基準周波数で繰り返される繰り返しパルス信号を出力するパルス信号発生回路１０と、該振幅変調回路に入力する変調信号を出力する変調信号発生回路２０と、該振幅変調回路の出力信号Ｖoutの基準周波数に共振する共振回路３０と、該電源電圧Ｖｂを出力する電源回路４０とを用いて、送信機を構成する。 - 特許庁 - To prevent the generation of electric discharge due to voltage dividing resistors in a DC stabilized power supply device for executing constant voltage operation by comparing feedback voltage obtained by dividing output voltage from a smoothing means such as a smoothing capacitor and a backup battery by the voltage dividing resistors with reference voltage from a reference voltage source by a comparator and controlling a power element TR in accordance with a difference between both the voltage levels.
平滑コンデンサやバックアップ用の電池などの平滑化手段１６の出力電圧Ｖｏを分圧抵抗Ｒ１，Ｒ２で分圧して得られたフィードバック電圧Ｖａと基準電圧源１８からの基準電圧Ｖｒｅｆ１とをコンパレータ１７で比較し、両者の差に対応してパワー素子ＴＲを制御することによって定電圧動作を行う直流安定化電源装置２１において、分圧抵抗Ｒ１，Ｒ２による放電を防止する。 - 特許庁 - This CPU 12 selects a maximum charge current value in such a way that the product, ICHG×VSD, of the charge current ICHG and the voltage between the source and the drain VSD or the electric power value of a charging MOS transistor 4, does not exceed a predetermined reference value and sends a control command to a control unit 13 based on the selection.
ＣＰＵ１２は、充電電流ＩＣＨＧとソース・ドレイン間電圧ＶＳＤの積、ＩＣＨＧ×ＶＳＤ、即ち充電用ＭＯＳトランジスタ４の電力値が所定の基準値を越えないような、最大の充電電流値を選択して、制御ユニット１３にその選択に基づく制御命令を制御ユニット１３に送る。 - 特許庁 - The beam splitter divides light emitted from the light source, irradiates a substrate where a pattern of an inspection object is formed and the transmittance control element, and generates interference light by superimposing signal light which is reflected light from the substrate on reference light which is reflected light from the transmittance control element.
前記ビームスプリッタは、前記光源から出射された光を分割し、検査対象のパターンが形成された基体と前記透過率制御素子とに照射し、前記基体からの反射光である信号光と、前記透過率制御素子からの反射光である参照光と、を重ね合わせて干渉光を生成する。 - 特許庁 - RTC 34 has a timer 34b and a comparator 34C, and when the comparator 34C monitors the output voltage of a secondary battery 36a and detects that the output voltage is below its reference voltage RefV, power source on signal 34d is outputted for three minutes until the timer 34B is up.
ＲＴＣ３４は、タイマ３４Ｂとコンパレータ３４Ｃを有し、コンパレータ３４Ｃにより二次電池３６ａの出力電圧を監視し、この出力電圧が基準電圧ＲｅｆＶを下回ったことを検出すると、電源ＯＮ信号３４ｄをタイマ３４Ｂがカウントアップするまでの３分間出力する。 - 特許庁 - A discharge command signal generator 115a issues a discharge command signal MMCPA when the reference signal VCA is decreased, and the PWM controller 120a receives it and forms a current path which returns a regenerative current to a power source 8 and a capacitor 7 in a bridge rectifying circuit 130a.
ディスチャージ指令信号生成部１１５ａは、参照信号ＶＣＡが減少した場合にディスチャージ指令信号ＭＭＣＰＡを発し、ＰＷＭ制御部１２０ａはこれを受けて、回生電流を電源８とコンデンサ７とに還流させる電流経路をブリッジ整流回路１３０ａに形成する。 - 特許庁
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