「Reliability Test」を含む例文一覧(476)
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信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁 - TEST BOARD USED FOR RELIABILITY TEST, AND RELIABILITY TEST METHOD
信頼性試験に用いられるテストボード及び信頼性試験方法 - 特許庁 - This test method has high reliability.
テスト方法は、信頼度が高い。 - 特許庁 - Reliability demonstration test of 9X9 type fuel
9X9型燃料信頼性実証 - 経済産業省 - RELIABILITY TESTING DEVICE AND RELIABILITY TEST METHOD
信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁 - SUBSTRATE UNIT FOR RELIABILITY TEST, AND APPARATUS AND METHOD FOR RELIABILITY TEST
信頼性試験用基板ユニット、信頼性試験装置及び信頼性試験方法 - 特許庁 - RELIABILITY TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体素子の信頼性試験装置 - 特許庁 - I will request a reliability test.
私は信頼性試験の依頼をします。 - Weblio Email例文集 - RELIABILITY TEST DEVICE FOR VALVE SYSTEM OF ENGINE
エンジンの動弁系の信頼性試験装置 - 特許庁 - SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST APPARATUS AND SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST METHOD
太陽電池モジュールの信頼性試験装置、及び太陽電池モジュールの信頼性試験方法 - 特許庁 - RELIABILITY TEST METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY APPARATUS
強誘電体メモリ装置の信頼性試験方法 - 特許庁 - To prevent the breakage of a substrate during a reliability test.
信頼性試験時の基板の破損を防止する。 - 特許庁 - TEST STRUCTURE FOR ON-CHIP REAL-TIME RELIABILITY TESTING
オン・チップ・リアルタイム信頼性試験用の試験構造 - 特許庁 - THERMAL RELIABILITY TEST METHOD FOR ORGANIC PTC THERMISTOR
有機質ＰＴＣサーミスタの熱信頼性試験方法 - 特許庁 - FURNACE AND RELIABILITY TEST METHOD OF THERMOCOUPLE FOR CONTROL
炉及び制御用熱電対の信頼性試験方法 - 特許庁 - Reliability demonstration test of nuclear design methodology for the full MOX core
全MOX炉心核設計手法信頼性実証試験2） - 経済産業省 - To improve the reliability of a test without increasing the number of test output terminals.
テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁 - HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT LATCH WITH INTEGRATED TEST FACILITY
テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチ - 特許庁 - RELIABILITY EVALUATION TEST METHOD OF GAS TURBINE, AND DEVICE THEREFOR
ガスタービンの信頼性評価試験方法およびその装置 - 特許庁 - To efficiently test the reliability of a semiconductor device.
、半導体装置の信頼性を効率良く試験できるようにする。 - 特許庁 - RELIABILITY TEST METHOD OF FRIT SEAL PART IN CATHODE-RAY TUBE
陰極線管におけるフリットシール部の信頼性試験方法 - 特許庁 - The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.
試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁 - To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁 - A reliability test may be further performed to improve performance, whereby the binary hypothesis test may be performed only if the reliability test is passed.
性能を向上させるためにさらに信頼性テストを実行することができ、それにより信頼性テストに合格した場合にのみ、バイナリ仮説テストを実行することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having an excellent reliability in heat cycle test.
温度サイクル信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁 - The reliability of a soil test is only as good as the sample you submit.
土壌試験の信頼性は、提出サンプルに限ってのみです。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文 - Thus, the cost of the test can be decreased, and reliability related to test efficiency and test result can be improved.
これにより、テストのコストを減少させることができ、テストの能率とテスト結果に関する信頼性を高めることができる。 - 特許庁 - To improve the reliability of test by automating the preparation of test specification, and preventing the mixing of human error.
テスト仕様の作成を自動化し、人的誤りの混入を防止し、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁 - To control the temperature adjustment mechanism of integrated circuit probe device test environment, and thereby enhance the reliability of test results.
集積回路プローブ装置試験環境の温度を制御し、よって試験結果の角度を高める。 - 特許庁 - To provide a dicing substrate for test capable of improving test accuracy and connection reliability.
試験精度及び接続信頼性の向上を図ることが可能な試験用個片基板を提供する。 - 特許庁 - To provide an IC socket realizing a characteristics test with high reliability.
信頼性の高い特性試験を実現するＩＣソケットを提供する。 - 特許庁 - To improve reliability of a test without lowering workability.
稼働効率を低下させることなく、試験の信頼性の向上させる。 - 特許庁 - A test node operating means 8 calculates the reliability α of the selected test node and propagates it to each bit node connected to the test node based on the reliability β.
検査ノード演算手段８は、選択された検査ノードについて、信頼度βに基づき、当該検査ノードに接続する各ビットノードに向け伝搬する信頼度αを算出し伝搬する。 - 特許庁 - To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.
テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁 - To appropriately perform a reliability test when manufacturing a semiconductor device.
半導体装置を製造する際の信頼性試験を適切に行うこと。 - 特許庁 - The reliability test when manufacturing the semiconductor device is appropriately performed by determining the condition of reliability test based on the substitution rate.
置換率の高低に基づいて信頼性試験の条件を決定することで半導体装置を製造する際の信頼性試験が適切に行われる。 - 特許庁 - To provide technology capable of enhancing the reliability of an airtightness test and conducting the airtightness test without spending long time.
気密試験の信頼性を高め且つ気密試験を時間をかけないで行うことができる技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.
安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁 - To enhance the reliability of a pinhole test by allowing a pinhole on a latent part to develop.
潜在部でのピンホールも顕在化させてピンホール試験の信頼性を高める。 - 特許庁 - To standardize the bonding strength test of a bonding wire while enhancing reliability.
ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁 - To standardize the bond strength test of bonding wire and to improve reliability.
ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁 - To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.
光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁 - Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.
このようにテスト回路チップ２１をプローブ端子１２の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁 - To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁 - To provide a display device preventing a mistake in a test, early finding a mistake in description, and improving a test reliability such as debugging and test efficiency.
テストミスの予防、記述ミス早期発見、デバッグ及びテスト効率アップ等テストの信頼性を向上が可能な表示装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a ball grid array semiconductor package capable of improving drop test reliability and board level TC (temperature cycle) reliability.
落下試験信頼性およびボードレベルＴＣ信頼性を改善できるボールグリッドアレイ半導体パッケージを提供する。 - 特許庁 - To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.
入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁 - To increase test reliability, concerning a contactor, a test device for a semiconductor apparatus, and a method for manufacturing the semiconductor apparatus.
コンタクタ、半導体装置の試験装置、及び半導体装置の製造方法において、試験の信頼性を高めること。 - 特許庁 - To generate diverse test data including an abnormal input not permitted to improve reliability of a test result.
許容されないような異常入力を含めて多様なテストデータを生成し、テスト結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a test circuit for securing reliability of a register file and to provide a register file having high reliability by improving accuracy of a quality deciding test.
レジスタファイルの信頼性を確保するためのテスト回路を提供するとともに、良否判定テストの精度を向上させて、信頼性の高いレジスタファイルを提供する。 - 特許庁
