「Scanning Microscopy」を含む例文一覧(24)
- SCANNING ELECTRON MICROSCOPY EQUIPMENT
走査電子顕微装置 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPE
走査型レーザ顕微法及び走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING SAMPLE WITH SCANNING MICROSCOPY
走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING DEVICE USING IT
走査電子顕微鏡およびそれを用いた三次元形状測定装置 - 特許庁 - The physics of scanning electron microscopy has been examined in another book.
走査電子顕微鏡法の物理は、別の本の中で考察されている。 - 科学技術論文動詞集 - SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD
走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE PHOTOELECTRON YIELD SPECTROSCOPIC MICROSCOPY AND SCANNING PROBE PHOTOELECTRON YIELD SPECTROMICROSCOPE
走査型プローブ光電子収量分光顕微法および走査型プローブ光電子収量分光顕微鏡 - 特許庁 - Images of a pattern feature are acquired by the scanning electron microscopy (700).
パターン特徴の画像が走査型電子顕微鏡法により取得される（７００）。 - 特許庁 - The applications of scanning tunneling microscopy expanded from observation of surfaces to manipulation of atoms.
走査トンネル顕微鏡法の応用は、表面観察から原子操作に発展した。 - 科学技術論文動詞集 - INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE
原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DOSE CONTROL FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT EQUIPMENT
走査電子顕微鏡法および臨界寸法測定機器のための電子ビーム線量制御 - 特許庁 - To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.
走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁 - FUNCTIONAL DEVICE, PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPY HAVING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF FUNCTIONAL DEVICE AND PROBE
機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法 - 特許庁 - TDS stands for thermal diffuse scattering and HAADF-STEM (stands) for high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy.
(略語の)TDSは熱散漫散乱を表わし、そしてHAADF-STEMは高角度円環状暗視野 走査透過電子顕微鏡法を表わす。 - 科学技術論文動詞集 - To provide a dielectric recording and reproducing head and a tracking method of a dielectric recording and reproducing device using an SNDM(Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy).
ＳＮＤＭを利用した誘電体記録再生装置の誘電体記録再生ヘッド及びトラッキング方法を提供する。 - 特許庁 - A scanning confocal microscopy system and apparatus, especially useful for endoscopy with a flexible probe which is connected to the end of an optical fiber 9.
光ファイバ９の末端に接続された可撓性プローブによる内視鏡法に特に有用な走査型共焦点顕微鏡法システム及び装置。 - 特許庁 - To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.
共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁 - The cobalt hydroxide particles are characterized in that the primary particle in-plane average diameter is 0.05-0.7 μm when observed by SEM (scanning electron microscopy) and the particle shape is flaky.
ＳＥＭ観察による一次粒子面方向平均径が０．０５μｍ〜０．７μｍであり、かつ粒子形状が板状であることを特徴とする水酸化コバルト粒子。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for preparing a genome physical map in which position information is recovered by directly positioning a library clone and a marker on a chromosome in a pachytene stage in high resolution by SNOM (scanning near-field optical microscopy).
SNOMによりライブラリークローンやマーカーをパキテン期染色体上に高分解能で直接位置づけることにより位置情報を回復するゲノム物理地図作成方法及び装置。 - 特許庁 - The solder powder has a substantially globular shape and has a plurality of rugged parts over the entire surface, wherein an average surface roughness Ra measured by a scanning probe microscopy (SPM) is 18 to 100 nm.
略球形状であり、表面全体に亘って複数の凹凸を有し、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）により測定される平均面粗さＲａが１８〜１００ｎｍであるはんだ粉とする。 - 特許庁 - The sample irradiation equipment preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscopy has one irradiation beam route (2) of one light source (3) and at least one another irradiation beam route (4) of another light source (5) and applies irradiation to a sample (1).
本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁 - To provide a pickup device in which tracking control and address search control and the like are stabilized and control can be performed with high accuracy and which is simple and whose manufacturing is easy and which can be used in a dielectric recording and reproducing device as to the dielectric recording and reproduction in which an SNDM (Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy) is used.
ＳＮＤＭを利用した誘電体記録再生に関し、トラッキング制御やアドレスサーチ制御等の制御が安定で精度良く行うことが可能な、シンプルで製造が容易な誘電体記録再生装置に用いられるピックアップ装置を提供する。 - 特許庁 - In the aromatic polyamide porous film, mean pore size is 0.2-5 μm, mean opening size obtained from a scanning microscopy micrograph on at least its one surface is 0.001-0.1 μm, and liquid absorption of the film is 10-200 mm/10 min.
平均孔径が０．２〜５μｍであり、少なくとも一方の表面の走査型顕微鏡写真により求めた開口径の平均が、０．００１〜０．１μｍであり、かつ膜の液吸い上げ性が１０〜２００ｍｍ／１０ｍｉｎである芳香族ポリアミド多孔質膜とする。 - 特許庁 - In a fluorine atom mapping image of the cross section obtained by photographing the composite tube with a magnification of 1,500 by a scanning electron microscopy, there are at least two intersections of boundary lines, which are formed between areas where fluorine elements exist and areas where fluorine elements do not exist, and straight lines parallel to the thickness direction.
そして、この複合管状物には、走査型電子顕微鏡により１５００倍の倍率で撮影した断面のフッ素原子マッピング画像において、フッ素元素が存在する領域とフッ素元素が存在しない領域との境界線と、厚み方向に平行な直線との交点が少なくとも２ヵ所以上存在する。 - 特許庁
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