「Scanning Probe Microscopy」を含む例文一覧(6)
- FUNCTIONAL DEVICE, PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPY HAVING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF FUNCTIONAL DEVICE AND PROBE
機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD
走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE PHOTOELECTRON YIELD SPECTROSCOPIC MICROSCOPY AND SCANNING PROBE PHOTOELECTRON YIELD SPECTROMICROSCOPE
走査型プローブ光電子収量分光顕微法および走査型プローブ光電子収量分光顕微鏡 - 特許庁 - INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE
原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - A scanning confocal microscopy system and apparatus, especially useful for endoscopy with a flexible probe which is connected to the end of an optical fiber 9.
光ファイバ９の末端に接続された可撓性プローブによる内視鏡法に特に有用な走査型共焦点顕微鏡法システム及び装置。 - 特許庁 - The solder powder has a substantially globular shape and has a plurality of rugged parts over the entire surface, wherein an average surface roughness Ra measured by a scanning probe microscopy (SPM) is 18 to 100 nm.
略球形状であり、表面全体に亘って複数の凹凸を有し、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）により測定される平均面粗さＲａが１８〜１００ｎｍであるはんだ粉とする。 - 特許庁
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