「Scanning method」を含む例文一覧(3560)

<前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 71 72 次へ>
  • METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
    走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD
    走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁
  • SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁
  • METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
  • PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁
  • SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
    信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁
  • LUMINOUS FLUX SCANNER AND LUMINOUS FLUX SCANNING METHOD
    光線束走査装置及び光線束走査方法 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR SCANNING OPTICAL SYSTEM
    走査光学系の検査方法および検査装置 - 特許庁
  • ULTRASONIC SCANNING METHOD AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT
    超音波走査方法および超音波診断装置 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING BEAM OF SCANNING OPTICAL SYSTEM
    走査光学系のビーム測定装置および方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BEAM OF SCANNING OPTICAL SYSTEM
    走査光学系のビーム測定方法及び装置 - 特許庁
  • DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SCANNING CIRCUIT FOR THE SAME
    表示装置およびその走査回路検査方法 - 特許庁
  • MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, SYNCHRONOUS BEAM DETECTING METHOD AND IMAGE FORMING DEVICE IN MULTIBEAM SCANNING
    マルチビーム走査装置・マルチビーム走査方法・マルチビーム走査における同期ビーム検出方法・画像形成装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING SCANNING OF MOSAIC SENSOR ARRAY
    モザイクセンサ配列走査の制御方法及びデバイス - 特許庁
  • SCANNING OPTICAL SYSTEM INSPECTION DEVICE, SCANNING OPTICAL SYSTEM INSPECTION METHOD, LIGHT SOURCE CONTROL UNIT, SCANNING OPTICAL SYSTEM, AND IMAGE FORMING APPARATUS
    走査光学系検査装置、走査光学系検査方法、光源制御装置、走査光学系、及び画像形成装置 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM, LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE
    タンデム走査光学系用レンズの製造方法、タンデム走査光学系用レンズ、光走査装置、および画像形成装置 - 特許庁
  • NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • SIGNAL PROCESSOR FOR SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING METHOD AND SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS
    走査式測距装置の信号処理装置、信号処理方法、及び走査式測距装置 - 特許庁
  • SCANNING LINE INTERPOLATION APPARATUS, IMAGE PROCESSING APPARATUS, IMAGE DISPLAY DEVICE AND SCANNING LINE INTERPOLATION METHOD
    走査線補間装置、画像処理装置、画像表示装置及び走査線補間方法 - 特許庁
  • OPTICAL SCANNING LINE CALIBRATOR AND METHOD FOR ADJUSTING OPTICAL SCANNING LINE FORMING POSITION USING SAME
    光走査線校正器及びそれを用いた光走査線形成位置調整方法 - 特許庁
  • MULTI-BEAM SCANNING METHOD, MULTI-BEAM SCANNING DEVICE, MULTI-BEAM LIGHT SOURCE DEVICE, AND IMAGE-FORMING DEVICE
    マルチビ—ム走査方法・マルチビ—ム走査装置・マルチビ—ム光源装置および画像形成装置 - 特許庁
  • METHOD OF SCANNING OBJECT INCLUDING A PLURALITY OF IMPORTANT AREAS USING SCANNING BEAM ARRAY
    走査ビームアレイを使用する複数の重要領域を含む対象物を走査する方法 - 特許庁
  • COMPUTER NETWORK SCANNING SYSTEM, COMPUTER NETWORK SCANNING METHOD AND COMPUTER READABLE MEDIUM
    コンピュータネットワークスキャンシステム、コンピュータネットワークスキャン方法及びコンピュータ読み取り可能な媒体 - 特許庁
  • To provide a biological scanning method for scanning biological growth plates.
    生物学的生育プレートをスキャニングするための生物学的スキャン方法を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS
    SEM式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びSEM式欠陥レビュー装置 - 特許庁
  • METHOD OF LITHOGRAPHY USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR IT
    走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法及びこのための走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM AND LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM
    タンデム走査光学系用レンズの製造方法、およびタンデム走査光学系用レンズ - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM SCANNING MECHANISM, ELECTRON BEAM APPARATUS, ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS AND ELECTRON BEAM SCANNING METHOD
    電子ビーム走査機構、電子線装置、電子線露光装置及び電子ビーム走査方法 - 特許庁
  • DYNAMIC STEP OF SELF-REFERENCE AND METHOD AND DEVICE FOR SCANNING DISTORTION IN SCANNING FIELD
    自己参照の動的ステップおよび走査フィールド内走査歪みのための方法および装置 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR CONVERTING INTERLACE SCANNING VIDEO SIGNAL INTO NONINTERLACE SCANNING VIDEO SIGNAL
    インタレ—ス走査ビデオ信号を非インタレ—ス走査ビデオ信号に変換する方法および装置。 - 特許庁
  • LASER SCANNING MICROSCOPE CONTROLLER, METHOD OF CONTROLLING LASER SCANNING MICROSCOPE AND PROGRAM
    レーザ走査型顕微鏡制御装置、レーザ走査型顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE, EVALUATION METHOD OF PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROGRAM
    走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラム - 特許庁
  • PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE
    探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁
  • IMAGE FORMING APPARATUS, OPTICAL SCANNING CONTROLLING METHOD, OPTICAL SCANNING CONTROLLING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    画像形成装置、光走査制御方法、光走査制御プログラム、及び記録媒体 - 特許庁
  • To provide a document scanning controller, a document scanner, a document scanning system and a document scanning control method by which a period of time for both-side scanning and that for one-side scanning can be made approximately equal to each other.
    両面スキャニングの時間と、片面スキャニングの時間とを約同等にする文書スキャニングコントローラ、文書スキャナー、文書スキャニングシステム及び文書スキャニング制御方法を提供する。 - 特許庁
  • PROJECTION EXPOSURE APPARATUS, PROJECTION EXPOSURE METHOD, AND SCANNING EXPOSURE METHOD
    投影露光装置及び投影露光方法並びに走査露光方法 - 特許庁
  • SCANNING EXPOSURE APPARATUS, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
    走査型露光装置および露光方法、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁
  • PHASE CONNECTING METHOD FOR WAVE FRONTS BY FRINGE SCANNING INTERFERENCE MEASURING METHOD
    縞走査干渉測定方式による波面の位相つなぎ方法 - 特許庁
  • SCANNING ALIGNER, ITS MANUFACTURING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE
    走査露光装置及びその製造方法並びにデバイス製造方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR SIGNAL PROCESSING THAT CONVERTS DISPLAY SCANNING METHOD
    表示用走査方式を変換する信号処理装置及び方法 - 特許庁
  • DETECTING DEVICE AND METHOD, SCANNING DEVICE AND METHOD, AND PROGRAM
    検出装置および方法、走査装置および方法、並びにプログラム - 特許庁
  • IMAGE READER AND READ SCANNING SPEED CONTROL METHOD
    画像読取装置及び読取走査速度制御方法 - 特許庁
  • SCANNING LIGHT BEAM SPOT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE
    走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁
  • IMAGE SCANNING DEVICE AND STORAGE AREA ALLOCATION METHOD
    画像読取装置、及び記憶領域割り当て方法 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 71 72 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.