「Spectrometry」を含む例文一覧(918)
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質量分析法 - 特許庁 - SPECTROMETRY DEVICE
分光測定装置 - 特許庁 - SPECTROMETRY
分光測定方法 - 特許庁 - SPECTROMETRY SYSTEM
分光測定装置 - 特許庁 - SPECTROMETRY APPARATUS
分光測定装置 - 特許庁 - SPECTROMETRY SYSTEM
分光測定システム - 特許庁 - EMISSION SPECTROMETRY DEVICE
発光分析装置 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY APPARATUS
質量分析装置 - 特許庁 - TANDEM MASS SPECTROMETRY
タンデム質量分析 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY
質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析方法 - 特許庁 - SPECTROMETRY DEVICE AND SPECTROMETRY METHOD
分光測定装置、及び分光測定方法 - 特許庁 - METHOD OF MASS SPECTROMETRY
マススペクトル測定方法 - 特許庁 - RAMAN SPECTROMETRY SYSTEM
ラマン分光測定装置 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY SUBSTRATE AND MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析基板及び質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY SYSTEM AND MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析システム及び質量分析方法 - 特許庁 - SUBSTRATE FOR MASS SPECTROMETRY
質量分析用基板 - 特許庁 - TRACE MASS SPECTROMETRY
微量質量分析法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY SYSTEM AND MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析システムおよび質量分析方法 - 特許庁 - IMAGE SPECTROMETRY DEVICE
画像分光測定装置 - 特許庁 - FLOW CELL FOR SPECTROMETRY
分光測定用フローセル - 特許庁 - GAS CHROMATOGRAPH-MASS SPECTROMETRY
ガスクロマトグラフ分析方法 - 特許庁 - PROBE FOR MASS SPECTROMETRY
質量分析用のプローブ - 特許庁 - SUBSTRATE FOR MASS SPECTROMETRY, AND MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析用基板および質量分析方法 - 特許庁 - MATRIX FOR MASS SPECTROMETRY, AND MASS SPECTROMETRY METHOD
質量分析用マトリックス及び質量分析方法 - 特許庁 - SPECTROMETRY SAMPLE CONTAINER
分光測定用試料容器 - 特許庁 - SPECTROMETRY AND SPECTRAL DEVICE
分光法及び分光装置 - 特許庁 - FAR-INFRARED SPECTROMETRY APPARATUS
遠赤外分光分析装置 - 特許庁 - METHOD FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
二次イオン質量分析法 - 特許庁 - CUVETTE FOR ATOMIC ABSORPTION SPECTROMETRY
原子吸光分析用キュベット - 特許庁 - CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETRY APPARATUS
クロマトグラフ質量分析装置 - 特許庁 - SPECTROMETER, SPECTROMETRY, AND SPECTROMETRY PROGRAM
分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY DATA PROCESSOR
質量分析データ処理装置 - 特許庁 - ION TRAP MASS SPECTROMETRY APPARATUS
イオントラップ質量分析装置 - 特許庁 - SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
二次イオン質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY DATA PROCESSING SYSTEM
質量分析データ処理システム - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY APPARATUS AND MASS SPECTROMETRY USING THE SAME
質量分析装置、及びそれを用いた質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY METHOD, MASS SPECTROMETRY SYSTEM, DIAGNOSIS SYSTEM, INSPECTION SYSTEM, AND MASS SPECTROMETRY PROGRAM
質量分析方法、質量分析システム、診断システム、検査システム及び質量分析プログラム - 特許庁 - SAMPLE SUBSTRATE FOR MASS SPECTROMETRY
質量分析用試料基板 - 特許庁 - SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY METHOD
２次イオン質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY DATA ANALYZER
質量分析データ解析装置 - 特許庁 - FLOWING TYPE CELL FOR SPECTROMETRY
分光測定用流通型セル - 特許庁 - GAS CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETRY APPARATUS
ガスクロマトグラフ質量分析装置 - 特許庁 - ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETRY
イオン付着質量分析方法 - 特許庁 - MALDI MASS SPECTROMETRY DEVICE
ＭＡＬＤＩ質量分析装置 - 特許庁 - PROBE FOR MASS SPECTROMETRY AND MASS SPECTROMETRY METHOD USING THE SAME
質量分析用プローブ及びそれを用いた質量分析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY DATA ANALYSIS METHOD
質量分析データ解析方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY AND DEVICE THEREOF
質量分析方法及び装置 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY AND DEVICE
質量分析方法および装置 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY, MASS SPECTROMETRY PROGRAM, AND ICP-MS DEVICE
質量分析方法、質量分析プログラム及びＩＣＰ−ＭＳ装置 - 特許庁
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