「Spectroscopic analysis」を含む例文一覧(209)
＜前へ 1 2 3 4 5 次へ＞- To provide a near-infrared spectroscopic analysis apparatus that eliminates the disadvantages of both noninvasive and invasive approaches.
非侵襲的手法及び侵襲的手法の双方の欠点を解消した近赤外分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - This three-dimensional measuring apparatus comprises a spectroscopic section, an optical space modulating section, a projection section, an image capture section, and an image analysis section.
本発明の立体計測装置は、分光部、光空間変調部、投影部、撮像部、および画像解析部を備える。 - 特許庁 - To perform a spectroscopic analysis easily over a wide range by saving labor and time while suppressing variations of endoscopic images.
内視鏡画像の変動を抑制しつつ、手間および時間を節約して簡易に広範囲にわたる分光分析を行う。 - 特許庁 - In the evaluation step for the organic contamination, a Fourier transform infrared spectroscopic analysis is used.
そしてこの有機コンタミネーションの評価工程は、フーリエ変換赤外分光分析法を用いて行う評価工程である。 - 特許庁 - To determine the degree of deterioration in a photodiode array based on the actually measured value of a dark current in a photodiode array spectroscopic analysis apparatus.
フォトダイオードアレイ分光分析装置において暗電流の実測値に基づいてフォトダイオードアレイの劣化程度を判定する。 - 特許庁 - To provide a thermal lens spectroscopic analyzer of a portable weight and size capable of conducting a precise analysis.
高精度な分析を行うことが可能で、且つ、携帯可能な重さ及び大きさである熱レンズ分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - The ratio between argon and oxygen is obtd. from the ratio of the peak values of respective wavelength positions of measured spectra by a device 142 for spectroscopic analysis.
「アルゴン：酸素」の比率は、分光分析装置１４２による観測スペクトルの各波長位置のピーク値の比により求まる。 - 特許庁 - A dichroic mirror 25A and an infrared cut filter 27 perform a spectroscopic analysis to separate reflected light from an object into visible light and near infrared light.
ダイクロイックミラー２５Ａ及び赤外カットフィルター２７は、被写体からの反射光を可視光と近赤外光に分光する。 - 特許庁 - To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.
試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sampling sheet performing another analysis such as pyrolytic gas chromatography analysis after infrared spectroscopic analysis is performed, in analyzing the minute sample of the solid in gas or a liquid or on a substrate.
気体、液体中や基板上の固形物の微小試料の分析に際して、赤外分光分析を行った後に熱分解ガスクロマトグラフィー分析など、他の分析を行うことができるサンプリングシートを提供すること。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for emission spectroscopic analysis capable of enhancing analyzing accuracy, while enabling analysis of an element which has an emission line in the low-wavelength region.
低波長域に発光線を有する元素の分析を可能としつつ、分析精度の高精度化が可能な発光分光分析装置及び発光分光分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser spectroscopic analysis method, in which the advantage of laser spectroscopy is utilized and which the concentration analysis of a plurality of components can be performed readily and surely, using a single laser light source.
レーザ分光法の利点を生かし、単一のレーザ光源で、複数成分の濃度分析を容易にかつ確実に行うことができるレーザ分光分析方法を提供する。 - 特許庁 - The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.
得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁 - To provide a data analysis method in total reflection spectroscopic measurement capable of accurately and simply deriving a desired optical constant.
所望の光学定数を正確かつ簡便に導出することができる全反射分光計測におけるデータ解析方法を提供する・ - 特許庁 - To provide a soil pollution measuring method and a device by a laser plasma spectroscopic analysis adaptable to wide-range soil property including viscous soil.
粘性土を含む広範囲の土質に適応可能なレーザープラズマ分光分析による土壌汚染測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To attain precise analysis in a method for laser emission spectrochemical analysis of exciting molten metal by emitting a laser beam thereto, while introducing gas into the molten metal, to generate light, and of analyzing the light by spectroscopic analysis.
溶融金属にガスを導入しながらレーザを照射することで溶融金属を励起して光を生じさせ、この光を分光分析するレーザ発光分光分析法において、精度の良い分析が行われるようにする。 - 特許庁 - To provide an optical device for spectroscopic analysis which prevents an increase of a measuring time, fouling and damage of an attached optical system, and lowering of precision therein accompanied to moving of the attached optical system, in measurement by a spectroscopic analyzer.
分光分析装置の測定時の付属光学系の移動に伴う、測定時間の増大、付属光学系の汚損・破損ならびに精度の低下を防止した分光分析用光学装置を提供する。 - 特許庁 - This pressure information can further be used for correcting the spectroscopic analysis measures and for regulating the contact pressure within predefined margins specifying an optimum range of contact pressure for spectroscopic examination of the capillary vessels.
この圧力情報は、分光分析手段を校正すると共に、毛細血管の分光検査のための最適接触圧範囲を規定する所定の範囲内に接触圧を調節するために更に利用することができる。 - 特許庁 - To provide a system for spectroscopic analysis so as to preclude a stand-by time for obtaining an interferogram of an average frequency of a CPU and a period during which an interferometer does not obtain the interferogram from being generated during a prescribed frequency of scanning executed by the interferometer, so as to output spectroscopic analysis results continuously in plural channels.
干渉計が行う所定の回数の走査中に、ＣＰＵの平均回数分のインターフェログラム取得時の待機時間と干渉計がインターフェログラムを取得していない期間が発生せず、複数チャンネルで連続して分光分析結果を出力する分光分析システムを提供する。 - 特許庁 - As determination of the physicochemical variation, determination of hydrophilic chemical species on the polymer material surface by spectroscopic analysis can be used.
前記物理化学的変化量の定量としては前記高分子材料表面上の親水性化学種の分光分析による定量がある。 - 特許庁 - To provide a two-dimensional spectroscopic element for X-ray having high spatial resolution for a fluorescent X-ray two-dimensional analysis and a two-dimensional distribution measuring instrument.
蛍光X線二次元分析のための、空間分解能の高いＸ線用二次元分光素子及び二次元分布測定装置を提供する。 - 特許庁 - To improve waveform resolution in a device for performing spectroscopic analysis of an X-ray generated from a fine domain on a sample such as EPMA, and to enable selection between the waveform resolution and analysis sensitivity corresponding to an analysis purpose or the like.
ＥＰＭＡ等、試料上の微小領域から発生するＸ線を分光分析する装置における波長分解能を向上させるとともに、分析目的等に応じて波長分解能と分析感度とを選択することを可能とする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a liquid cell for terahertz spectroscopic analysis having no restriction of a material usable for a substrate, and no clogging of a channel.
基板として使用できる材料に制限がないとともに流路の詰まりがないテラヘルツ分光分析用液体セルの製造方法を提供。 - 特許庁 - To provide an on-line nondestructive spectroscopic analysis device that minimizes error in measuring size of an object to be measured, having both wider measuring range and higher accuracy of measurement.
被測定物のサイズ計測における誤差を小さく抑え、測定範囲が広く測定精度が高いオンライン型非破壊分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive fluorescence spectroscopic analyzer of high performance capable of executing fluorescence statistical distribution analysis for a plurality of points, using a plurality of laser beams.
複数のレーザビームを用いて複数点の蛍光統計分布解析を行うことのできる高性能・低コストな蛍光分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a measurement procedure for a surface intensifying Raman spectroscopic analysis, capable of measuring Raman scattering light excellently in sensitivity, repeatability and reliability.
微弱なラマン散乱光を感度良く、再現性、信頼性良く測定できる表面増強ラマン分光分析用の測定手順を提供すること。 - 特許庁 - To provide a reaction container for simply dispensing a specimen in a Raman spectroscopic analysis method, and also to provide an automatic analyzer using the container.
ラマン分光分析法における検体分注を簡易に行うことが可能な反応容器及びこの容器を用いた自動分析装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a technique for removing noise by holding spectrum information, or the like required for a spectroscopic analysis and by using a wavelet conversion in measurement of an electromagnetic wave.
電磁波の測定において、分光分析に必要なスペクトル情報などを保持してウェーブレット変換を用いてノイズを除去する技術を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron beam source used for X-ray spectroscopic analysis or the like which achieves less time degradation, excellent reproducibility, high luminance, and stability.
Ｘ線分光分析等に使用される電子線源であって、経時劣化が少なく再現性に優れた、高輝度かつ安定な電子線源を提供する。 - 特許庁 - In this method of detecting decabromo diphenyl ether, n-hexane is added to a sample after applying tetrahydrofuran, and a supernatant thereof is dried to be subjected to an infrared spectroscopic analysis.
試料にテトラヒドロフランを適用した後、ｎ−ヘキサンを添加し、その上澄みを乾燥して赤外分光分析を行うデカブロモジフェニルエーテルの検出方法。 - 特許庁 - To provide a new technology realizing simple and highly-sensitive Raman spectroscopic analysis based on surface enhanced Raman scattering (SERS) by utilizing gold nanorod.
金ナノロッドを利用して表面増強ラマン散乱（ＳＥＲＳ）に基づく高感度で簡便なラマン分光分析を可能にする新しい技術を開発する。 - 特許庁 - In the surface carbon film, the bond between the carbons has an sp3 bonding/sp2 bonding ratio of 5%-90% by X-ray photoelectron spectroscopic analysis.
該表面炭素膜において、炭素同士の結合が室温のＸ線光電子分光分析でｓｐ３結合／ｓｐ２結合比が５％〜９０％である。 - 特許庁 - The method for measuring the picric acid concentration in the absorption liquid used for the desulfurization of the coke oven gas includes: a process for extracting organic matters from the absorption liquid; a process for performing the elementary analysis to the extract; a process for performing the infrared spectroscopic analysis to the extract; and a process for determining the picric acid concentration in the absorption liquid base on the result of elementary analysis and the result of the infrared spectroscopic analysis.
コークス炉ガスの脱硫に使用する吸収液中のピクリン酸濃度の測定方法であって、吸収液から有機物を抽出する工程と、抽出物に対して元素分析を行う工程と、抽出物に対して赤外分光分析を行う工程と、元素分析の結果と赤外分光分析の結果とに基づいて、吸収液中のピクリン酸濃度を求める工程とを含むピクリン酸濃度の測定方法。 - 特許庁 - In this evaluation method, a substrate is irradiated with light, reflected light from the substrate is taken in as linear light for spectroscopic analysis, and the substrate is inspected for evaluation.
この評価方法では、基板に光を照射して、その基板からの反射光をライン状の光として取り込んで分光分析して、基板の検査を行い評価する。 - 特許庁 - To provide a high-performance and low-cost fluorescence spectroscopic analyzer capable of performing fluorescence statistical distribution analysis of a plurality of points by using a plurality of laser beams.
複数のレーザビームを用いて複数点の蛍光統計分布解析を行うことのできる高性能で、低コストな蛍光分光分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The interface chip-capillary connector is used for an apparatus, in which the sample in a capillary is irradiated with excitation light and/or probe light, in order to carry out a photothermal conversion spectroscopic analysis.
キャピラリー内部の試料に励起光および／またはプローブ光を照射して、光熱変換分光分析を行う装置に用いられるインターフェースチップ・キャピラリー連結体。 - 特許庁 - To provide a spectroscopic analysis device capable of heightening measurement accuracy when determining a quality evaluation value of a measuring object by reducing an influence of a noise.
ノイズによる影響を少なくして、被計測物の品質評価値を求めるときの計測精度を向上させることが可能となる分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - The absorbance ratio (D_698/D_2850) obtained from the infrared absorption spectrum on the surface of the particle measured by an infrared spectroscopic analysis of the total reflection absorption is in the range of 0.4-5.0.
全反射吸収の赤外分光分析により測定された粒子表面の赤外線吸収スペクトルから得られる吸光度比（Ｄ_698／Ｄ_2850）が０．４〜５．０の範囲にある。 - 特許庁 - To provide a supersonic molecular jet spectroscopic analysis method and apparatus for performing mass spectrometry in dioxins safely and with high sensitivity using an extremely small amount of sample.
極微量の試料で安全かつ高感度でダイオキシン類の質量分析を行うことができる超音速分子ジェット分光分析方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a spectroscopic analysis device that is miniaturized and performs measurement more accurately than the use of a conventional diffraction grating or an optical thin-film filter.
小型化が可能で従来の回折格子や光学薄膜フィルターを使用した場合に比べて精度の高い測定が可能な分光分析装置を提供すること。 - 特許庁 - Through Raman spectroscopic analysis where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, an LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C is observed.
表層の励起波長を５３２ｎｍとするラマン分光解析によって、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に由来のＬ０ピークが観察される。 - 特許庁 - To provide a vibrational circular dichroism spectrophotometer for performing easy and rapid spectroscopic analysis, and an attachment and sample holding mechanism used for it.
より簡便かつ迅速に分光分析を行うことができる振動円偏光二色性分光光度計及びそれに用いられるアタッチメント及びサンプル保持機構を提供すること。 - 特許庁 - To provide an equipment for manufacturing semiconductor devices including an infrared spectroscopic analysis apparatus which reduces analysis error in measured values on the gas concentration of exhaust gases discharged from a gas treatment device and to provide a gas concentration analyzing method using the same.
ガス処理装置から排出される排出ガスのガス濃度の測定値に関して、分析誤差が少なくなる赤外分光分析装置含む半導体装置の製造装置及びそれを用いたガス濃度分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing apparatus for semiconductor device including an infrared spectroscopic analyser exhibiting small analysis errors for measured values of gas concentration of an exhaust gas exhausted from a gas processing chamber, and a gas concentration analysis method using the apparatus.
ガス処理チャンバーから排出される排出ガスのガス濃度の測定値に関して、分析誤差が少なくなる赤外分光分析装置含む半導体装置の製造装置及びそれを用いたガス濃度分析方法を提供する。 - 特許庁 - To enhance processing speed in an analysis method of an energy loss spectroscopic device and a transmission electron microscope, equipped with the energy loss spectroscopic device.
本発明はエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡に関し、処理速度を向上させることができるエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To set samples stably on a Raman spectroscopic analysis apparatus as fixed to a sample holder for a cross-section cutting device and also to finely adjust samples for rotating to any angle.
断面切削装置用試料ホルダーに固定したままで試料をラマン分光分析装置に安定して設置でき、さらに試料を任意の角度で回転させる微調整ができる。 - 特許庁 - The processing effects such as chemical composition analysis, chemical species concentration, depth profile, measurement and mapping of homogeneous characteristics, purity, and reactivity can be monitored by an optical spectroscopic method.
例えば、化学的組成分析、化学種濃度、深さ輪郭、均質特性測定及びマッピング、純度、並びに反応性のような処理効果が、光学的分光分析法によって監視され得る。 - 特許庁 - To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry.
本発明は、Ｘ線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A hardness of each formed DLC film is metered based on the total mass ratio of the ion species computed by QMS20 and the integral intensity ratio computed by the Raman spectroscopic analysis apparatus 30.
生成された各々のＤＬＣ膜の硬度を、ＱＭＳ２０により算出されたイオン種の総質量比と、ラマン分光分析装置３０により算出された積分強度比と、に基づいて計測した。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus and a spectroscopic analysis system and an imaging method, in which the effective region of a light beam, especially a spectrally spread beam, can be selected without taking into account the other regions.
特にスペクトル的に広げたビームにおいて、他の領域を考慮することなく、光ビームの有用な領域を選択できる撮像装置および分光分析システムおよび撮像方法を提供する。 - 特許庁
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