「Statistical Process Control」を含む例文一覧(8)
- STATISTICAL QUALITY/PROCESS CONTROL MANAGEMENT METHOD AND STATISTICAL QUALITY/PROCESS CONTROL MANAGEMENT DEVICE
統計的品質プロセス制御管理方法および統計的品質プロセス制御管理装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING STATISTICAL PROCESS CONTROL (SPC) IN PRINTING ENVIRONMENT
印刷環境で統計的品質管理（ＳＰＣ）を実装する方法および装置 - 特許庁 - Dr. Shewhart developed the control charts as an statistical approach to the study of manufacturing process variation.
Shewhart博士は管理図を製造工程の変動を研究する統計的アプローチとして開発した。 - コンピューター用語辞典 - To provide a statistical quality/process control management device for managing the statistical quality/process of the management step to be managed or all the management steps to the end from manufacture start.
製造開始から管理対象の管理工程、あるいは、終了までの各管理工程全ての統計的品質プロセスの管理をすることができる統計的品質プロセス制御管理装置を提供する。 - 特許庁 - A method and apparatus, for implementing statistical process control (SPC) in a printing environment to address errant reads of control sensors, is provided.
印刷環境において、制御センサの誤った読みを処理する統計的品質管理（ＳＰＣ）を実装する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - Further, when acquiring new structure information, the control section 21 calculates a model parameter corresponding to the structure and executes a design process using the statistical value.
更に、新たな構造情報を取得した場合、制御部２１は、構造に対応したモデルパラメータを算出し、統計値を利用して設計処理を実行する。 - 特許庁 - To ensure stable feedback control in a error correction system, where the data for statistical process control (SPC) sensor are entered by mistake, in a printing environment.
印刷環境において、統計的品質管理（ＳＰＣ）センサのデータが誤って入力された場合のエラー補正システムに関するもので、安定したフィードバック制御をすることを目的とする。 - 特許庁 - Image subtraction methods are used to detect wafer defects, which are reported to a main computer 50 to aid in statistical process control, particularly for manufacturing equipment.
ウェーハの欠陥を検出するために、画像を比較する方法が使用され、こうした欠陥は、統計的な工程制御、特に製造設備を支援するために、メインコンピュータ５０に報告される。 - 特許庁
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