「Surface Contamination」を含む例文一覧(1073)
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体表面汚染モニタ - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION MEASUREMENT METHOD
表面汚染測定法 - 特許庁 - ENTIRE BODY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
体表面汚染モニタ - 特許庁 - ARTICLE SURFACE CONTAMINATION MONITOR
物品表面汚染モニタ - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION INSPECTION APPARATUS
表面汚染検査装置 - 特許庁 - WHOLE BODY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
全身表面汚染モニタ - 特許庁 - RADIOACTIVITY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
放射能表面汚染モニタ - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION INSPECTION APPARATUS AND SURFACE CONTAMINATION INSPECTION METHOD
表面汚染検査装置および表面汚染検査方法 - 特許庁 - ENTIRE BODY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
全身体表面汚染モニタ - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION DEGREE EVALUATION METHOD AND SURFACE CONTAMINATION DEGREE EVALUATION DEVICE
表面汚染度評価方法及び表面汚染度評価装置 - 特許庁 - SIMPLIFIED BODY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
簡易型体表面汚染モニタ - 特許庁 - METHOD OF CLEANING SURFACE OF CONTAMINATION PLATE OF SPUTTERING SYSTEM, AND CONTAMINATION PLATE
スパッタ装置の防着面清掃方法及び防着板 - 特許庁 - THIN RADIATION SURFACE CONTAMINATION DETECTOR
薄型放射線表面汚染検出器 - 特許庁 - RADIOACTIVE SURFACE CONTAMINATION INSPECTION DEVICE AND RADIATION SURFACE CONTAMINATION INSPECTION METHOD
放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION MONITOR, RADIATION DETECTOR, AND SURFACE CONTAMINATION MEASURING METHOD
表面汚染モニタおよび放射線検出器ならびに表面汚染計測方法 - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD
表面汚染検査装置及び検査方法 - 特許庁 - BODY-SURFACE CONTAMINATION MONITORING METHOD AND MONITOR
体表面汚染のモニタ方法および装置 - 特許庁 - BODY SURFACE MONITOR AND SURFACE RADIOACTIVITY CONTAMINATION MEASUREMENT METHOD
体表面モニタ及び表面放射能汚染測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR REMOVING CONTAMINATION FROM PLASTIC SURFACE
プラスチック表面からの汚染物の除去方法 - 特許庁 - DRIVING TOOL FOR INVESTIGATING CONTAMINATION OF SURFACE LAYER SOIL
表層土壌汚染調査用打ち込み工具 - 特許庁 - ANALYZING METHOD OF METALLIC CONTAMINATION ON SURFACE OF SILICON WAFER
シリコンウェーハ表面の金属汚染分析方法 - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION INSPECTION APPARATUS AND ITS INSPECTION METHOD
表面汚染検査装置およびその検査方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING CONTAMINATION OF WAFER SURFACE
ウエハ表面の汚染評価方法および装置 - 特許庁 - SURFACE CONTAMINATION MEASUREMENT EQUIPMENT AND RADIATION DETECTOR
表面汚染測定装置及び放射線検出器 - 特許庁 - MEASUREMENT OF CONTAMINATION ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハの表面の汚染物の測定方法 - 特許庁 - RADIATION DETECTOR AND BODY SURFACE CONTAMINATION MONITOR
放射線検出装置および体表面汚染モニタ - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING METAL CONTAMINATION ON SURFACE LAYER OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板表層部の金属汚染評価方法 - 特許庁 - CONTAMINATION EVALUATING METHOD ON SUBSTRATE SURFACE, CONTAMINATION EVALUATING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
基板表面の汚染評価方法及び汚染評価装置と半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To restrict a particle contamination occurred from a back surface and an end surface of a wafer.
ウェーハ裏面及び端面部より発生するパーティクル汚染を抑制し得る。 - 特許庁 - PRODUCTION OF QUARTZ GLASS JIG PREVENTING SURFACE CONTAMINATION
表面コンタミネーションを防止した石英ガラス治具の製作方法 - 特許庁 - To evaluate the surface contamination state of a substrate by a simple technique.
基板表面の汚染状況を簡易な手法で評価する。 - 特許庁 - To suppress contamination of a chip mounting surface side of a semiconductor device.
半導体装置のチップ搭載面側の汚染を抑制する。 - 特許庁 - METHOD FOR MONITORING ORGANIC CONTAMINATION ON SURFACE OF COMPOUND SEMICONDUCTOR WAFER
化合物半導体ウェハ表面の有機汚染モニタリング方法 - 特許庁 - ELECTROLYTIC POLISHING TUBE WITH INNER SURFACE CLEANED WITH PURE WATER WITHOUT CONTAMINATION
汚れの無い純水で管内面を洗浄した電解研磨管。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PREVENTING CONTAMINATION IN BASE MATERIAL OR SURFACE OF SUBSTRATE
基材又は基板表面の汚染を防止する方法及び装置 - 特許庁 - MEMBER WITH CLEANING SURFACE AND METHOD OF REMOVING CONTAMINATION
洗浄表面を備えた部材及び汚染物を除去する方法 - 特許庁 - To reduce the surface contamination effects on the EL performance of an OLED device.
OLEDデバイスのEL性能に与える表面汚染効果を減じること。 - 特許庁 - Matters relating to monitoring of the dose, the dose equivalent, the concentration of radioactive materials and the surface contamination density of radioactive materials of objects contaminated by radioactive materials, and the decontamination
放射線測定器の管理に関すること。 - 経済産業省 - The magnetic field is oriented along a surface which substantially coincides with the rotating shaft of the contamination barrier, when it passes through the contamination barrier.
磁場は、コンタミバリアを通過する際に、コンタミバリアの回転軸とほぼ一致する面に沿って配向される。 - 特許庁 - To provide a surface contamination degree evaluation method and a surface contamination degree evaluation device capable of evaluating a surface contamination degree even in a case where surface texture of analytes changes due to the nature of adsorbed contaminant.
吸着した汚染物質の性質などによって被検体の表面性状が変化する場合においても、表面汚染度を評価することが可能な表面汚染度評価方法及び表面汚染度評価装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF ALLEVIATING CONTAMINATION OF SURFACE OF FIELD CROP BY AGRICHEMICAL SPRAY, ADJUVANT COMPOSITION FOR ALLEVIATING CONTAMINATION OF SURFACE OF FIELD CROP, AND SPRAY LIQUID
農薬散布による農作物表面の汚れを軽減する方法、農作物表面の汚れ軽減用アジュバント組成物および散布液 - 特許庁 - AUTOMATIC INSPECTION DEVICE FOR SURFACE CONTAMINATION DENSITY OF FUEL ROD AND INSPECTION METHOD
燃料棒の表面汚染密度の自動検査装置と検査方法 - 特許庁 - To heighten convenience of diagnosis of deterioration or contamination of a plastic surface.
プラスチック表面の劣化や汚染の診断の利便性を高めること。 - 特許庁 - To provide a body surface monitor and a surface radioactivity contamination measurement method for readily detecting the thickness of the longitudinal direction of a subject and measuring surface radioactive contamination.
被検者の前後方向の厚みを容易に検知して表面放射能汚染を測定できる体表面モニタ及び表面放射能汚染測定方法を提供する。 - 特許庁 - A contamination attraction unit 11 is provided on an end cap end surface 7a of the slider, and contamination adhering on a guide rail is attracted by the contamination attraction unit 11 to prevent invasion of contamination into the slider.
スライダのエンドキャップ端面７ａに異物吸引ユニット１１を設け、この異物吸引ユニット１１で案内レールに付着した異物を吸引してスライダ内への異物の侵入を防止するようにした。 - 特許庁 - To provide a means capable of analyzing metal contamination of the surface of a silicon wafer with high sensitivity, irrespective of the kind of a metal as a source of contamination.
シリコンウェーハ表面の金属汚染を、汚染金属種によらず高感度に分析可能な手段を提供する。 - 特許庁 - To keep oxide contamination on the surface of a substrate, after polymetal gate working at a low level.
ポリメタルゲート加工後の基板表面の酸化物汚染を低レベルに保つ。 - 特許庁 - Finally, a contamination layer (remaining conductive paste) on the surface is removed with the surface fine polishing of the main surface of the wiring side.
最後に、配線側の主面を表面精密研磨して表面のコンタミ層（残存する導電ペースト）を除去する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING MOLECULAR CONTAMINATION OF CRITICAL SURFACE USING COATED SURFACE ACOUSTIC WAVE (SAW)
コーティングされたＳＡＷを使用して臨界表面の分子汚染をモニタリングするための方法および装置 - 特許庁 - The surface contamination detector 102 detects the contaminated conditions of the surface in the cylindrical substrate 101.
表面汚染検出装置１０２は円筒状基体１０１の表面の汚染状態を検出する。 - 特許庁
