「TP」を含む例文一覧(814)

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  • and TP
    やTP - JM
  • Oh, hey, you don't know what happened to all the tp, do you?
    ああ そうだ tpのこと知らない? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • tp points outside the accessible address space.
    tpがアクセス可能なアドレス空間の外を指した。 - JM
  • The expression of 0.01<tP<tL<1.0 is satisfied where tL is the thickness of the lens 11 and tP is the thickness of the translucent flat plate 15.
    また、レンズ11の厚さをtL、透光性平板15の厚さをtPとしたとき、0．01＜tP／tL＜1．0の式を満足している。 - 特許庁
  • The time is returned in tp ,
    時刻はtpで返され、これは以下のように定義されている:+4n - JM
  • There's no more tp in the ladies room.
    女子トイレに、トイレペーパーがない。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • (1) g(0)=g1, g(Tp)=g2, (2) g'(Tp/2)>g'(0), (3) g'(Tp/2)>g'(Tp), wherein, g'(t) indicates a time derivative of g(t).
    （１） ｇ（０）＝ｇ１、ｇ（Ｔｐ）＝ｇ２ （２） ｇ’（Ｔｐ／２）＞ｇ’（０） （３） ｇ’（Ｔｐ／２）＞ｇ’（Ｔｐ） ただし、ｇ’（ｔ）は、ｇ（ｔ）の時間微分を示す。 - 特許庁
  • To provide a MAC search system and a MAC search method in a Multi Protocol Label Switching-Transport Profile (MPLS-TP) device which solves a destination MAC address to be given to packets without depending on an IP layer when the MPLS-TP device transmits MPLS-TP packets through a predetermined network.
    MPLS-TP装置が所定のネットワークを介してMPLS-TPパケットを送信する際、IPレイヤに依存せず、パケットに付与すべき宛先MACアドレスを解決したMPLS-TP装置のMAC探索システム及びMAC探索方法を提供する。 - 特許庁
  • tp season with sake
    調味料として酒を加えること - EDR日英対訳辞書
  • The preheating temperature Tp of a medium before fixing is set to Tm1<Tp.
    定着前の媒体事前予熱温度Ｔpを、Ｔm1＜Ｔpに設定する。 - 特許庁
  • The res and tp arguments are timespec structs, as specified in <time> :
    resとtp引き数はtimespec構造体であり、<time>で以下のように規定されている:+4n - JM
  • Preferably, press forming time tp[s] is controlled to ≤20s, and tp≤(Tp-Ms)/100 is satisfied.
    プレス成形時間ｔｐ［ｓ］を２０ｓ以内とすること、ｔｐ≦（Ｔｐ−Ｍｓ）／１００を満足することが好ましい。 - 特許庁
  • Current intake port temperature Tp and intake valve temperature Tv are acquired (step 154).
    現在の吸気ポート温度Tpおよび吸気弁温度Tvを取得する（ステップ１５４）。 - 特許庁
  • More specifically, at least one weld pass is the weld pass with Tp exceeding A1 point and ≤950°C, and the following weld pass is the weld pass with Tp not exceeding A1 point.
    具体的には、少なくとも１回の溶接パスを、TpがＡ１点超えでかつ950℃以下の温度となる溶接パスとし、続く溶接パスをTpがＡ１点以下となる溶接パスとする。 - 特許庁
  • the action of dividing areas according tp their characteristics
    特性によって地域を区分すること - EDR日英対訳辞書
  • The difference between the molding temperature Tp and the fluidizing temperature T (Tp-T) is 70°C or lower.
    成形温度Ｔｐと流動開始温度Ｔとの差（Ｔｐ−Ｔ）は、７０℃以下である。 - 特許庁
  • 150≤Ip×Tp≤320...(1) where Ip: Peak current (A), Tp: Peak time (msec).
    １５０ ≦ Ｉｐ×Ｔｐ ≦ ３２０ ・・・・・ （１） ただし、Ｉｐ：ピーク電流（Ａ）、Ｔｐ：ピーク時間（ｍｓｅｃ） - 特許庁
  • The diffusion of the impurity can be suppressed first by keeping a semiconductor wafer W at a preheating temperature Tp satisfying a relation of tp≤847,500 exp (-0.01365 Tp) for a preheating time tp.
    まずｔｐ≦847500exp(-0.01365Ｔｐ)を満たすような予備加熱温度Ｔｐに半導体ウェハーＷを予備加熱時間ｔｐ維持することによって不純物の拡散を抑制することができる。 - 特許庁
  • The photograph printing device 1 includes a TP selection part 33b, a TP content setting part 34b, and a TP creation part 35b as a second processing part for creating a tag print TP.
    写真プリント装置１は、タグプリントＴＰを作成する第２処理部として、ＴＰ選択部３３ｂ、ＴＰ内容設定部３４ｂおよびＴＰ作成部３５ｂを備えている。 - 特許庁
  • With respect to n-channel MOS transistors TN-A and TN-B and p-channel MOS transistors TP-A and TP-B comprising the level shift circuit, p-channel MOS transistors TP-C and TP-D comprising a current mirror circuit are formed at the drain of the p-channel MOS transistors TP-A and TP-B.
    レベルシフト回路を構成するＮチャネルＭＯＳトランジスタＴＮ‐Ａ、ＴＮ‐ＢおよびＰチャネルＭＯＳトランジスタＴＰ‐Ａ、ＴＰ‐Ｂにおいて、ＴＰ‐Ａ、ＴＰ‐Ｂのドレインにカレントミラー回路を構成するＰチャネルＭＯＳトランジスタＴＰ‐ＣおよびＴＰ‐Ｄを構成する。 - 特許庁
  • To provide a film polishing device 1 capable of improving surface roughness of a product 3 and a tp value.
    製品３の表面粗さと共にtp値も向上できるフィルム研磨装置１を提供すること。 - 特許庁
  • writes into the timespec structure pointed to by tp the round-robin time quantum for the process identified by pid.
    は tp で指定された timespec 構造体にpid で指定されたプロセスのラウンド・ロビン時間量(round robin time quantum) を書き込む。 - JM
  • The maximum voltage V(P) of the short pulse P (based on voltage V0) is higher than the maximum voltage V(TP) of the tailing pulse TP (based on voltage V0).
    短パルスＰの最大電圧V(P)（電圧V0を基準とする）は、テーリングパルスＴＰの最大電圧V(TP)（電圧V0を基準とする）より高くなっている。 - 特許庁
  • A past trend TP is displayed in a graph G.
    過去トレンドＴＰをグラフＧ内に表示させる。 - 特許庁
  • The heat ray sensor TP is fixed in the housing.
    熱線センサＴＰはハウジング内に固定される。 - 特許庁
  • The optical recording medium processed using a light beam having a wavelength λ and a lens having a numerical aperture NA includes one of a track and a pit array, and the width TP of the track or pit satisfies a condition 0.480≤TP×NA/λ<1.026.
    波長λの光ビーム及び開口数NAのレンズにより処理される光記録媒体は、トラック又はピット列を備え、前記トラック又はピットの幅TPが、0.480≦TP×NA/λ＜1.026の条件を満たす。 - 特許庁
  • The heat-ray sensor TP is fixed in the housing.
    熱線センサＴＰはハウジング内に固定される。 - 特許庁
  • Consequently, damage on the surface of the top sheet TP is small, and the surface of the top sheet TP is not impaired.
    したがって、トップシートＴＰの表面へのダメージは小さく、トップシートＴＰの表面を傷めない。 - 特許庁
  • Then, a timing pulse TP is obtained from the logical product of outputs C2 and C3 obtained from the second and third flip flops 3 and 4.
    第２、第３のフリップフロップ３、４から得られる出力Ｃ2及びＣ3の論理積より、タイミングパルスTPを得る。 - 特許庁
  • However, a period of the data pulses is selected as TP<TP2<TP4.
    但し、データパルスの周期はＴＰ＜ＴＰ２＜ＴＰ４である。 - 特許庁
  • A ratio (Tp/Tc) is not less than 0.021 and not more than 0.40.
    比（Ｔｐ／Ｔｃ）が０．０２１以上０．４０以下である。 - 特許庁
  • TP (transaction processing) monitors solve this scale-up problem by modifying the simple request-response flow.
    TP(トランザクション処理)モニタは、このスケールアップ問題を単純な要求・応答フローをいくらか変えることによって解決する。 - コンピューター用語辞典
  • A relationship between a thermal expansion coefficient Tp(10^-6/°C) of the positive electrode active material and the thermal expansion coefficient Tc (10^-6/°C) of the positive electrode current collector is set to be Tp+2.5≥Tc≥Tp-2.5.
    正極活物質の熱膨張係数Ｔｐ（１０^−６／℃）と、正極集電体の熱膨張係数Ｔｃ（１０^−６／℃）との関係は、Ｔｐ＋２．５≧Ｔｃ≧Ｔｐ−２．５とする。 - 特許庁
  • The TP selection part 33b, the TP content setting part 34b, and TP creation part 35b create tag prints TP1 and TP2 including character information, image information, and design information.
    ＴＰ選択部３３ｂ、ＴＰ内容設定部３４ｂおよびＴＰ作成部３５ｂは、文字情報と画像情報、デザイン情報を含むタグプリントＴＰ１，ＴＰ２を作成する。 - 特許庁
  • In the COF substrate, the shape of a corner portion connecting the test pad TP to the wiring L is formed so that the arc of a circle having a larger distance as a radius, out of a distance between adjacent test pads TP and TP and a distance between the wiring L and the test pad TP, may contact the test pad TP and a straight line portion of the wiring L.
    テストパッドＴＰと配線Ｌをつなぐコーナー部の形状を、隣接するテストパッドＴＰ，ＴＰ間の間隔または配線ＬとテストパッドＴＰとの間の間隔のうちの、大きい方の間隔を半径とする円の円弧が、テストパッドＴＰ及び配線Lの直線部と接するように、形成したことを特徴とする。 - 特許庁
  • An exposure time setting part 113 sets the exposure time of the image pickup element 60 at a multiple of the period Tp corresponding to the frequency fp.
    露光時間設定部１１３は、周波数fpに対応する周期Tpの倍数に撮像素子６０の露光時間を設定する。 - 特許庁
  • The pre-torque Tp is set greater than a creep travel motion torque Te.
    予トルクＴｐはクリープ走行トルクＴｃよりも大きくする。 - 特許庁
  • Even if the test piece TP is destroyed and the oil is ejected from the test piece TP, the oil does not reach the hermetically closed chamber SP2.
    供試体ＴＰが破壊され、供試体ＴＰから油が噴出しても、その油が密閉室ＳＰ２に達することはない。 - 特許庁
  • The voltage control circuit includes a transformer primary side TP and a transformer secondary side TS.
    トランス一次側ＴＰと、トランス二次側ＴＳと、を含む。 - 特許庁
  • When a user uses rolled paper TP, the user draws out the paper TP with the cutting plate part 102 abutting to the rolled paper TP in the open state (a first moving state), and after that, cuts the paper TP with the other end (a cutting end) 102b of the cutting plate part 102.
    ユーザは、ロール形ペーパーＴＰを使用するとき、例えば切断板部１０２をロール形ペーパーＴＰに当接した開状態（第１の移動状態）でペーパーＴＰを引き出し、その後に、切断板部１０２の他端部（切断端）１０２ｂで切断する。 - 特許庁
  • To respective element layout components such as tab parts TP and a component storage container CG constituting the GUI of a hierarchical structure, conditional expressions (#TP, #CG, #PB) for defining hierarchical information G01 for specifying the hierarchical structure are set.
    階層構造のＧＵＩを構成するタブパーツTPや部品格納庫CGなどの各要素配置部品に、階層構造を特定し得る階層情報Ｇ01を定義付ける条件式（＃ＴＰ，＃ＣＧ，＃ＰＢ）を設定する。 - 特許庁
  • When image processing is requested from a user to an image processor, whether or not the TP data are necessary for the image processing is decided, and when the TP data are necessary, the image processing using the TP data is executed.
    ユーザから画像処理装置に画像処理が要求されると、この画像処理にＴＰデータが必要か否かが判断され、必要な場合には、このＴＰデータを用いた画像処理が実行される。 - 特許庁
  • Thus, an anchor profile with a predetermined length is formed on TP.
    これにより、ＴＰに所定長さのアンカープロファイルが形成される。 - 特許庁
  • The high voltage terminal HVT is connected to a test point TP.
    高電圧端子ＨＶＴは、テストポイントＴＰに接続されている。 - 特許庁
  • For example, in the disk 101 whose track pitch Tp is 1.3 μm, the spots SPs1 and SPs2 are formed at positions corresponding to the track pitch Tp.
    例えば、トラックピッチＴｐが１．３μｍであるディスク１０１を想定し、これに対応する位置に、スポットＳＰs1，ＳＰs2を形成する。 - 特許庁
  • In a step S11, the stop time timer Tp is compared with a prescribed reference value Tref, and the process is returned to a step S5 and the above described processes are repeated when Tp is lower than Tref, and thereby, even when input of the pulse signal P from a crank pulser 19 is stopped, a main relay 15 can maintain a closed state.
    ステップＳ１１では、停止時間タイマTpが所定の基準値Trefと比較され、Tp＜Trefである限りは、ステップＳ５へ戻って上記した各処理が繰り返されるので、クランクパルサ１９からのパルス信号Pの入力が途絶えていても、メインリレー１５は閉成状態を維持できる。 - 特許庁
  • An NETM 12-21 of a data communication device 1-2, that is a timing slave, receives the timing packet TP from the LAN-SW 2, and generates the timing command TC, based on the timing packet TP to be issued to a controller 11-2, an AVM 12-22 and an SDM 12-23 in the own device via a versatile system bus 41-2.
    タイミングスレーブであるデータ通信装置１−２のNETM１２−２１は、LAN-SW２からのタイミングパケットTPを受信し、そのタイミングパケットTPに基づいてタイミングコマンドTCを生成し、汎用システムバス４１−２を介して、自装置内のコントローラ１１−２、AVM１２−２２、および、SDM１２−２３に対して発行する。 - 特許庁
  • In addition, if the thickness of the dustproof filter 119 is represented by tg and the plate thickness of the piezoelectric element 120 is represented by tp, tg/tp is set to 0.8.
    また、防塵フィルタ１１９の板厚をｔｇ、圧電素子１２０の板厚ｔｐとした場合に、ｔｇ／ｔｐが０．８となるようにする。 - 特許庁
  • Current port remaining rate Pp and intake valve remaining rate Pv are calculated based on intake port temperature Tp and intake valve temperature Tv (step 156).
    吸気ポート温度Tpおよび吸気弁温度Tvに基づいて、現在のポート残留率Ppおよび吸気弁残留率Pvを算出する（ステップ１５６）。 - 特許庁
  • Both ends of a test piece TP are gripped by gripping devices 31, 32, and the gripping devices 31, 32 are moved in the length direction of the test piece TP by lifting cylinders 33, 34, to thereby apply a tension to the test piece TP.
    試験片ＴＰの両端部を把持装置３１，３２により把持するとともに、昇降シリンダ３３、３４により試験片ＴＰの長さ方向に把持装置３１，３２を移動して試験片ＴＰに張力を付与する。 - 特許庁
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