「Test Set」を含む例文一覧(1103)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 22 23 次へ＞- When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.
予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁 - A gap adjustment test is carried out by passing a test current set in a range, corresponding to 1/2 to 1/10 of a rated current of the series reactors 24u to 24w therethrough.
ギャップ調整試験は、直列リアクトル２４ｕ〜２４ｗにその定格電流の１／２〜１／１０の範囲で設定された試験電流を流して行われる。 - 特許庁 - A test pattern generating means 40 generates a test pattern T with the same data value as the code pattern data based on the set range and the initial value I.
試験パターン生成手段４０は、設定された範囲及び初期値Ｉにもとづいて、符号パターンデータと同一のデータ値を持つ試験パターンＴを生成する。 - 特許庁 - To directly confirm whether a power supply and a burn-in mode set signal for a burn-in test are fed to a semiconductor device at the burn-in test.
バーンイン試験時において、半導体装置にバーンイン試験のための電源とバーンインモード設定信号が供給されているか直接確認する。 - 特許庁 - A test image is printed on the printing medium set in the thermal printer, by the first and second thermal heads, and a print density of the test image is detected therein.
第１又は第２のサーマルヘッドによりサーマルプリンタにセットされた印刷媒体に試験画像を印刷し、この試験画像の印刷濃度を検出する。 - 特許庁 - To provide a game machine and a game test system allowing a manufacturer of the game machine or an organization for testing the game machine to easily perform a test on the change of set values.
遊技機の製造者や試験機関が設定値の変更に関する試験を容易に行うことができる遊技機および遊技試験システムを提供する。 - 特許庁 - An operator uses the personal computer to create and store a macro program for processing by a previously set amount of test pieces prior to the test.
作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め設定した数量の試験片ごとに処理するマクロプログラムを作成して記憶する。 - 特許庁 - An angle of view of the off-axis collimator is set to θ and the test pattern 28 that is aerially imaged is imaged through the test lens to obtain a first image.
画角θに軸外コリメータをセットして、被検レンズを通して空中結像したテストパターン２８を撮像することにより、第１撮像画像を得る。 - 特許庁 - The test server selects the test questions numbered correspondingly to the generated random numbers from the questions stored in the database, and prepares the questions to be set.
発生した乱数に対応する問題番号の試験問題をデータベースに記憶した問題の中から選択し、出題する問題として設定する。 - 特許庁 - The observation method is carried out in such a manner that the test piece 20 which is set up on a test piece holder is mounted on a transmission type electron microscope.
さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。 - 特許庁 - If discrimination at S7 shows that it's on a high-limit test, S10 determines whether temperature of a thermostat is higher than a temperature set for the test directed by a fryer controller.
Ｓ７の判別でハイリミットテスト中であれば、Ｓ１０で、サーミスタの温度がフライコンから指示されたテスト用の設定温度以上か否かが判別される。 - 特許庁 - To ensure a sequence strategy for defining a set of limitation applicable to test rod pattern design and positioning a subset of the test rod pattern design.
試験ロッドパターンデザインに適用可能な限界のセットが定義され、試験ロッドパターンデザインのサブセットを位置決めするためのシーケンス戦略が確定される。 - 特許庁 - It is so input and set from the operation display panel part 1 that useless data is deleted in accordance with the test conditions among the data of the test result.
試験結果のデータのうち試験条件に応じて不用なデータがあればデリートするものとして操作表示パネル部１から入力設定する。 - 特許庁 - When a disk of the same model number with a tested disk is set, the test results are read from the test result storage area 107 and writing of the data is performed.
テスト済みディスクと同型番のディスクがセットされた場合、テスト結果格納領域１０７からテスト結果を読み出して、データの書き込みを行う。 - 特許庁 - In formation of the test piece made of the same material as a workpiece, the size of the test piece is set to allow its storage in an adsorption tube container mountable on a gas chromatograph mass spectrometer.
被加工材料と同一材料の試験片をガスクロマト質量分析装置に装着できる吸着管容器に収容できるサイズに作製する。 - 特許庁 - A storage device section 40 stores a test result of a test performed for a memory device under first environment (e.g. environment in which temperature is set to 100°C).
保存装置部４０は、第１環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験の試験結果を保存する。 - 特許庁 - The 1st state is set to the storage means 19 first to test the accuracy of analog/digital conversion and when the result of test is defective, the 2nd storage state is set to the storage means 19 and the accuracy of analog/digital conversion is tested again.
最初に記憶手段１９を第１の記憶状態としてＡ／Ｄ変換精度をテストし、不良であった場合には記憶手段１９を第２の記憶状態として再テストする。 - 特許庁 - The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested.
テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。 - 特許庁 - The horizontal lines have gradation values set in advance at each horizontal stripe test pattern, and the vertical lines have gradation values set in advance at each vertical stripe test pattern.
横縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記横ラインが形成され、前記縦縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記縦ラインが形成されている。 - 特許庁 - Next, a predetermined value is set for the argument, and a test pattern including the test program and the argument set with the predetermined value is created and supplied to the semiconductor circuit to be tested.
次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。 - 特許庁 - The jig set for a tensile test has a structure for suitably applying the compression load due to the load applying block 14 to a test piece as tensile load, and can well perform a tensile test.
引張試験用治具セットは、荷重印加用ブロック１４による圧縮荷重を試験片ＴＰに引張荷重として好適に印加する構造のもので、引張試験が良好に行えるものである。 - 特許庁 - To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time.
並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The test frame transmission unit generates a test frame having the MAC address of its own device set as a destination address and a transmission source address, and periodically transmits the generated test frame from an arbitrary port.
試験フレーム送信部は、送信先アドレスおよび送信元アドレスに自装置のＭＡＣアドレスを設定した試験フレームを生成し、生成した試験フレームを任意のポートから定期的に送信する。 - 特許庁 - A test result is stored by performing the test by transmitting the program to a test means under a condition set by the user, and is registered as code violation place information by detecting a code violation place from the program.
ユーザにより設定された条件でプログラムをテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶し、プログラムから規約違反箇所を検出して規約違反箇所情報として登録する。 - 特許庁 - Subsequently, a test mode starting means 27 reads the test mode corresponding to the determined depressed switch to set it in the optical disk device, and starts the optical disk device in the test mode.
この後、試験モード起動手段２７は、前記判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。 - 特許庁 - The data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter by the central management device 6, after receiving a test request from the central management device 6, and to perform a test communication (test call).
データ通信装置７は、中央管理装置６からのテスト要求により、中央管理装置６により設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信（テストコール）を実施する。 - 特許庁 - A test of the computer system is executed, by using the test program stored in the 1st divided area, and after completing the test, the image data file stored in the 2nd divided area is developed to be set in an arbitrary preinstalled state.
そして、該第１分割領域のテストプログラムを使用してコンピュータシステムのテストを実行し、テスト終了後に前記第２分割領域のイメージデータファイルを展開して任意のプレインストール状態にする。 - 特許庁 - To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.
テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁 - At the location of a gap formed in a region of a test subject 3 in a gray image of the test subject 3 imaged by a camera 1, a plurality of swath of test regions intersecting at the location are set.
被検査物３をカメラ１で撮像した濃淡画像の中で被検査物３の領域内に形成された隙間の部位に、当該部位に交差する帯状の検査領域を複数設定する。 - 特許庁 - The personal computer reads test data of a test piece being a failure detection subject, and executes various operations to determine a failure for the test data, by applying the set failure detection rule.
パーソナルコンピュータは、異常検出対象となる試験片の試験データを読込み、その試験データに対して、設定した異常検出ルールを適用して異常判定の各種演算を実行する。 - 特許庁 - Since it is not necessary to put these test tubes 12 in the test tube carriage 10 in an oriented states, the test tube can easily and promptly be put in compared with conventional technique wherein the oriented test tube is previously set in a special case.
試験管１２を試験管搬送装置１０に整列状態で投入する必要がないため、予め専用ケース内に整列した試験管をセットしていた従来技術に比べ、試験管の投入をより容易かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁 - Then, when registration processing of the test form data is performed, the test form data is stored only in a folder for which registration of the test form data has been permitted, and the test form data for which another folder has been set as a distribution destination folder is registered in an error folder.
そして、テスト帳票データの登録処理を行う際には、テスト帳票データの登録を許可したフォルダにのみテスト帳票データを保存し、それ以外のフォルダが配信先フォルダとなっているテスト帳票データはエラーフォルダに登録する。 - 特許庁 - To conduct a test from an arbitrary station by using a test use maintenance terminal, such as a conventional subscriber telephone set and a personal computer, without the use of a special device exclusively for test and maintenance with respect to acoustic equipment test system for exchange.
交換機の音声系機器の試験システムに関し、試験保守専用の特殊な装置を使用せず、通常の加入者電話機とパーソナルコンピュータ等のような試験用保守端末を使用して任意の局から試験を行えるようにする。 - 特許庁 - To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.
JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁 - The semiconductor wafer 3 is adjusted by a stage-temperature regulator 5 for test with the set temperature, and the set temperature is detected by a temperature sensor 5'.
設定温度で検査するため半導体ウェハ３がステージ温度調整器５によって調整され、温度センサ５’で設定温度を検出する。 - 特許庁 - As a material for the decorating mold 5, an elastic material of ≤25% in compression set by the compression set test in JIS K6262 is used.
加飾型５の素材は、JIS K6262の圧縮永久ひずみ試験による圧縮永久ひずみが２５％以下である弾性材が用いられている。 - 特許庁 - In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.
この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁 - A semiconductor memory related to this semiconductor integrated circuit has a degeneration test mode and it is provided with a degeneration test circuit performing the degeneration test via a data terminal set in accordance with a designation signal and by a combination of data lines set in accordance with the designation signal.
この発明に係る半導体記憶装置は、縮退テストモードを有し、指定信号に応じて設定されたデータ端子を介して、さらに、指定信号に応じて設定されたデータ線の組み合わせで、縮退テストを行う縮退テスト回路を設けている。 - 特許庁 - The set-up includes one or a plurality out of calibration, approval, performance test and alignment.
このセットアップには、較正、認定、性能試験及びアラインメントのうちの１つ又は複数が含まれている。 - 特許庁 - A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108.
試験構成回路（１０）は被試験部品（１０８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。 - 特許庁 - In the test by the torque constant control, a torque is forecast based on a deceleration set value G of the sample brake.
トルク一定制御による試験では供試ブレーキの減速度設定値Ｇを基にしてトルクを予測する。 - 特許庁 - The side register adjustment value set in the LPH 14 is reset before outputting the test pattern.
そして、テストパターンを出力する前に、ＬＰＨ１４に設定されていたサイドレジ調整値がリセットされる。 - 特許庁 - The receiver sensitivity simplified evaluation system comprises a GTEM cell 1, a test set 2 and a simulation wiring device 4.
受信感度簡易評価システムはＧＴＥＭセル１とテストセット２と模擬配線装置４とを備える。 - 特許庁 - The respective events defined as multiple event definition information 195 are set to be the test items of the verification object.
多重イベント定義情報１９５に定義された各イベントは検証対象のテスト項目となる。 - 特許庁 - When both of the conditions 1, 2 are satisfied, the test power Pwt at the time is set to the recording power.
条件１、２がともに満たされていれば、そのときのテストパワーＰｗｔを記録パワーに設定する。 - 特許庁 - Hitherto, optimum reference voltage is set for each chip only at the time of test for trimming of reference voltage.
従来、基準電圧のトリミングは検査時にのみチップ毎に最適な基準電圧を設定していた。 - 特許庁 - ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE AND DETECTION SET
検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法及び検出セット - 特許庁 - The electric power impressing circuit 4 receives the signal to renew the test and impresses set electric power on the element 1 again.
電力印加回路４は、試験再開信号を受けて再度素子１に設定電力を印加する。 - 特許庁 - Water is pressed into an evaluation object section 12 by means of a permeability test apparatus 1, so that predetermined pressure can be set.
透水試験装置１を用いて評価対象区間１２に水を圧入し、所定の圧力にする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device in which a test mode for a user can be easily set by using a tester.
テスタを用いてユーザ用のテストモードを容易に設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
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