「Test Time」を含む例文一覧(3031)

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  • MULTI-TEST ANALYSIS METHOD OF REAL-TIME NUCLEIC ACID AMPLIFICATION
    リアルタイム核酸増幅多数試験分析法 - 特許庁
  • The secondary accelerated test is finished before reaching the life time of the test body.
    試験体の寿命時点に達する前で二次加速試験を終了する。 - 特許庁
  • To test a memory in a short test time without increasing a circuit scale.
    回路規模を増加させることなく、短いテスト時間でメモリのテストを行う。 - 特許庁
  • The TDR detection part 14 measures a test sensor position at the time of the test mode.
    ＴＤＲ検出部１４は、テストモード時に、テストセンサ位置を測定する。 - 特許庁
  • A comparison part 514 compares the preceding test result data after the preceding test program execution and the this-time test result data after the this-time test program execution.
    比較部５１４は、前回のテスト・プログラム実行後の前回テスト結果データと、今回のテスト・プログラム実行後の今回テスト結果データとを比較する。 - 特許庁
  • The test is performed by the time element data of a time element table for a normal action at a normal time, and by the time element data of a time element table for the interlinking test which is shorter than the time element table for the normal action at the time of the interlinking test.
    通常時には通常動作用時素テーブルの時素データで、連動検査時には通常動作用時素テーブルに比較して短い連動検査用時素テーブルの時素データによって検査を行う。 - 特許庁
  • Test items include "priority" and "test time" necessary for test execution, and when a test item document is created, the test items whose priority is high are extracted first.
    試験項目に「優先度」と試験実施に必要な「試験時間」を設け、試験項目書作成時に、優先度が高い試験項目から先に抽出する。 - 特許庁
  • To provide a test apparatus which can reduce test time in a test for a DA convertor or the like.
    ＤＡコンバータ等の試験において、試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a flash memory test system shortening a test time and an electric test method using that.
    検査時間を短縮するフラッシュメモリテスタ及びこれを利用した電気的検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory device capable of shortening test time and reducing test cost, and to provide a test method therefor.
    テスト時間およびテストコストを低減できる半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.
    スキャンベースの集積回路中のＡＴＥでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁
  • A test voltage V_T and a test current I_T to be applied at the time of a switching test of contact points are predetermined.
    接点の開閉試験時に印加する試験電圧Ｖ_Ｔと試験電流Ｉ_Ｔを予め規定する。 - 特許庁
  • To reduce the test cost or product cost by shortening the test time and reducing the man-hour of forming a test pattern.
    テスト時間を短縮し、テストパタンの作成工数を削減し、テストコストまたは製品コストを削減する。 - 特許庁
  • To test an A/D converter in a shorter time.
    Ａ／Ｄコンバータの試験時間の短縮にある。 - 特許庁
  • TIME COUNTER WITH ADDITIONAL FUNCTION AND ITS TEST METHOD
    付加機能付きタイマカウンタおよびそのテスト方法 - 特許庁
  • Isn't it time for you to take your makeup test?
    おまえ そろそろ 追試の時間じゃねえのかよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • A test like this was a waste of time from the start.
    こんなテスト はなっから時間の無駄なんだよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory.
    半導体メモリの試験時間（不良解析時間）を短縮すること。 - 特許庁
  • To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.
    複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.
    感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁
  • To speed up development by reducing time or trouble of redeployment of a test code every time adding or changing the test code or changing over the test code to another test code to smoothly perform a test.
    テストコードの追加や変更、別のテストコードへの切り替えの度にテストコードを再配備する手間や時間を減らすことによって、テストをスムーズに行えるようにし、開発のスピードアップを図る。 - 特許庁
  • To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.
    入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁
  • A test time concentration curve is created on the basis of the test (S4 and S5).
    このテスト検査に基づき、テスト時間濃度曲線が作成される（Ｓ４，Ｓ５）。 - 特許庁
  • To provide a visual field test system performing a visual test in a short time.
    視野検査を短時間で行うことができる視野検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To shorten scan test time of a scan test circuit which has a plurality of scan paths.
    複数のスキャンパスを有するスキャンテスト回路のスキャンテスト時間を短縮する。 - 特許庁
  • Because this is the first time the test case is run, the output is an empty test case.
    テストケースを実行するのははじめてなので、出力は空のテストケースです。 - NetBeans
  • To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.
    フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁
  • At that time, he had no rank and was shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test).
    当時、黒麻呂は無位・進士だった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To shorten a test time, and to reduce manufacturing cost.
    テスト時間を短縮し、且つ、製造コストを下げる。 - 特許庁
  • To adequately test a program unit in short time.
    短時間で十分なプログラム単体試験を行う。 - 特許庁
  • Can you make it in time for the combustion test?
    原因を究明して 燃焼試験 間に合うのか? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • TEST STRUCTURE FOR ON-CHIP REAL-TIME RELIABILITY TESTING
    オン・チップ・リアルタイム信頼性試験用の試験構造 - 特許庁
  • Therefore, the test time, the test cost such as the man-hour for test program development can be reduced, and human errors due to the complication of the test program can be reduced.
    このため、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストを削減でき、テストプログラム複雑化によるヒューマンエラーを低減できる。 - 特許庁
  • To obtain an optimum rate in a test rate for shortening a test time independently of a test environment in a test method for a semiconductor device.
    半導体デバイスのテスト方法において、テストレートをテスト環境に拘わらずテスト時間を短縮化するための最適なテストレートを得る。 - 特許庁
  • In this test, the DRAM 11, 12, 13 having a short test time are tested in serial, the DRAM 14 having the longest test time is tested in parallel to this serial test.
    この試験は、試験時間の短いＤＲＡＭ１１，１２，１３をシリアルに試験し、このシリアルな試験に平行して試験時間の最も長いＤＲＡＭ１４をパラレルに試験する。 - 特許庁
  • A time difference between test sound signal output and test sound input is calculated.
    テスト音声信号出力からテスト音声入力までの時間差を算出する。 - 特許庁
  • To provide a micro-controller and a test method which can shorten accurately a test time.
    テスト時間の短縮を的確に行えるマイクロコントローラおよびテスト方法を得る。 - 特許庁
  • Thus, a test time is short even when the test is performed with a low frequency.
    したがって、低い周波数でテストを行なう場合でもテスト時間が短くて済む。 - 特許庁
  • To achieve reduction in the load of a test verifier and the shortening of a test verification time.
    テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。 - 特許庁
  • The server 304 receives user's application for test before the test reservation terminating date and time, and makes a reservation for test.
    サーバ３０４は、ユーザによる試験予約終了日時以前の試験の申込みを受け、試験予約を行う。 - 特許庁
  • To provide a test circuit in which a test time can be reduced, thereby, a test cost can be reduced.
    テスト時間を減少することができ、従って、テストコストを削減することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁
  • To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit.
    デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。 - 特許庁
  • To reduce a time required for an access test.
    アクセス試験に要する時間の短縮を可能にする。 - 特許庁
  • I took a mock test for the first time at cram school today.
    今日は塾で初めて模擬試験を受けました。 - Weblio Email例文集
  • To shorten the time required for a test.
    テストに要する時間を短くすることを可能にする。 - 特許庁
  • Frank Lloyd Wright's buildings have stood the test of time.
    フランク・ロイド・ライトの建物は時の試練に耐えている - Eゲイト英和辞典
  • The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.
    そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁
  • To update test specifications or test procedures at any time along the progress of a test, to raise work efficiency of the test and to eliminate errors in a test operation.
    テストの進行状況に沿ってテスト仕様書あるいはテスト手順書を随時更新し、テストの作業効率を向上させると共にテスト作業の誤りを無くす。 - 特許庁
  • After the test questions are displayed, the answers received from the user within the test time added with test answer transmitting time are graded.
    そして、試験問題を表示完了後、試験時間に試験解答送信時間を加算した時間内にユーザから受けた解答を採点する。 - 特許庁
  • The real-time software is executed under the test mode, and a test is performed as to whether a real-time deadline associated with the real-time software is met under the test mode.
    試験モードのもとでリアルタイム・ソフトウェアを実行し、試験モードのもとでリアルタイム・ソフトウェアに関連したリアルタイム期限に間に合ったか否かについての試験を行う。 - 特許庁
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