To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket. 本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
To provide a fault diagnostic system and method which can determine a test chart to be used for diagnosing a fault that causes an image defect occurring without affecting machine data or job data. 機械データやジョブデータに影響を及ぼさずに生じる画像欠陥を引き起こす故障を診断する為に用いられるテストチャートを決定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁
To provide a scan test circuit device and a flip-flop group initialization method inside an integrated circuit capable of reducing wiring by simplifying a constitution for initialization reset and by heightening operation speed. 初期化リセットのための構成を簡単にし、動作速度を上げて、配線を少なくすることができるスキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法を提供する。 - 特許庁
In the shading data inspection method, shading correction is applied to the image data obtained by reading a test chart, and then, data is encoded by discrete cosine transform for each prescribed pixel block. このシェーディングデータ検査方法では、テストチャートを読み取って得られた画像データに対し、シェーディング補正を施した後、所定の画素ブロックごとに離散コサイン変換によるデータの符号化を行う。 - 特許庁
To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a testmethod for it. 簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide containers solving defects, such as the necessity to feed a test sensor from the container, that exist in a container storing reagents in a tape form, and to provide a method of using the containers. 試薬をテープ形態で含む容器には、試験センサを容器から送りださなければならない等の欠点が存在したので、これらの欠点を解決する容器及びその使用方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for mathematically searching for an error by a certain procedure without requiring simulation needing an enormous amount of calculation when an error missed in a test response analyzer is obtained. テスト応答解析器において見逃されるエラーを求めるにあたり、膨大な計算量を要するシミュレーションを必要とせず、一定の手順により数学的にエラーを探索する方法を提供する。 - 特許庁
The wafer surface inspection method/device measures the surface roughness, using a TEG (Test Element Group) existing in a scribe area on the wafer, in the measurable area. また、前記測定可能な領域に、ウェハ上のスクライブ領域に存在するTEG(Test Element Group;テストエレメントグループ)を用いて、表面粗さを測定する方法及び装置である。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test. エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for the accelerative simulation test of tribo-microplasma reaction for producing tribo-microplasma reaction in an accelerative manner simulatively and collecting a reaction product to analyze the same, and an apparatus therefor. トライボマイクロプラズマ反応を加速的にシミュレーション発生させるとともに、その反応生成物を捕集し、かつ分析に供するための反応加速シミュレーション試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a program, that can dynamically test a buffering/selection system and receive transmission as bursts in the case of a peak bandwidth in excess of a mean bandwidth T. 平均帯域幅Tで、またTを超えることがあるピーク帯域幅のときはバースツとして伝送を受信する、バッファリング/セレクション装置を動的にテストする方法およびプログラムを提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a mode setting circuit preventing erroneous setting operation when mode setting operation such as a test mode or the like performed and a mode setting method of a semiconductor device. テストモード等のモード設定動作の際に、誤った設定動作を防止するモード設定回路を有する半導体装置及び半導体装置のモード設定方法を提供することを目的としている。 - 特許庁
In the coated optical fiber comparison method of a single mode optical fiber reducing bent loss, test wavelength is shorter wavelength than the effective cut-off wavelength of the optical fiber. 曲げ損失の低減されたシングルモード光ファイバの心線対照方法であって、試験波長が該光ファイバの実効カットオフ波長よりも短波長であることを特徴とする心線対照方法。 - 特許庁
The method includes a process for treating a test person infected or probably infected with herpes viruses with the compounds or their salts at a therapeutically acceptable dose. ヘルペスウイルスに感染したまたは感染のおそれのある被験体を、治療的に受容可能な用量のこれらの化合物および治療的に受容可能なこれらの塩により処置する工程を包含する方法。 - 特許庁
The disclosed system and method enable ejection of sample from the sealed storage element 120 into a specific well 121 of the multi-well plate, or into a specific cuvette, test tube, or similar container. 開示されるシステムおよび方法は、封着された保存エレメント120からマルチウェルプレートの特定のウェル121、または特定のキュベット、試験管または類似の容器へのサンプルの排出を可能にする。 - 特許庁
To provide a semiconductor wafer capable of implementing simultaneously burn-in test for plurality of IC chips formed on the semiconductor wafer, and to provide a producing method of semiconductor device using the semiconductor wafer. 半導体ウエハに形成された複数のICチップ1に対して、同時に、通電試験を行うことができる半導体ウエハおよびその半導体ウエハを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation method for experimentally evaluating the eating quality of fried food even if an organoleptic test for experimentally evaluating the eating quality of fried food having coating is not performed. 衣を有する油ちょう食品の食感を実験的に評価するための官能試験を行わなくても、油ちょう食品の食感を実験的に評価するための評価方法を提供すること。 - 特許庁
To miniaturize a controlled substance detection unit, and easily and inexpensively evaluate an evaluation object in situ in a controlled substance detection unit and a controlled substance evaluation testmethod. 規制物質検出ユニット及び規制物質評価試験方法に関し、規制物質検出ユニットを小型化するとともに、評価対象物をあるがままの状態で簡易に且つ安価に評価する。 - 特許庁
To provide a simple medium enabling a microorganism in a test solution containing catechin to be readily, accurately and rapidly detected in high accuracy; and to provide a method for detecting the microorganism by using the medium. カテキンを含有する被検液中の微生物を簡便、正確かつ迅速に高い精度で検出することができる簡易培地及びそれを用いた微生物の検出方法を提供すること。 - 特許庁
The testmethod comprises a step of varying a threshold voltage which is used for judging a logic level of a signal in a cell in a semiconductor integrated circuit, only when testing the semiconductor integrated circuit. 半導体集積回路内のセルにおいて信号の論理レベルを判定するのに用いる閾値電圧を、半導体集積回路の試験時にのみ変化させるステップを含むように構成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device incorporating memory BIST being programmable without newly incorporating a memory for BIST instruction and a self-test method for a semiconductor integrated circuit device. BIST命令用メモリを新たに組み込むことなく、プログラマブルなメモリBISTを内蔵する半導体集積回路装置、及び半導体集積回路装置の自己テスト方法を提供する。 - 特許庁
The Russian way of eating salmon roe entered Japan in the Taisho period when the Karafuto Prefecture (now Sakhalin) Fisheries Experimental Station test produced a salt cured product based on the manufacturing method from Russia.
ロシア式サケの卵の食べ方が日本に伝わったのは大正時代で、ロシアから伝えられた製法を樺太庁水産試験場が保存の利く塩蔵品を試験的に製造したのが始まりであった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein. 現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁
An evaluation method for warming up effect from inside of a body includes medicating a nonhuman animal that has been made to fast with a test drug sample, soaking with water for cooling, and then measuring body temperature change of the animal. 絶食した後の非ヒト動物に被験薬試料を投与し、水浸冷却負荷を与えた後、該動物の体温変化を測定することを特徴とする温裏作用評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card. ICチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁
To provide a protective diode, which is effective as a protective circuit in a test/assembly process and capable of carrying out high-speed processing in actual operations, a device equipped with the diode, and assembling method of the device. 検査及び組立工程においては保護回路が有効で、実動作においては高速処理が可能となる保護ダイオード及びそれを有する装置ならびにその組立方法を提供する。 - 特許庁
To provide a communication line test and diagnostic method that properly and efficiently discriminates propriety of each communication line even when sophisticated and diversified terminals or the like are connected to each communication line. 高度化した多様な端末装置などが接続される通信回線に対しても各通信回線の良否を適確かつ効率的に判断することができる通信回線試験診断方法を提供する。 - 特許庁
To reduce downtime for an apparatus due to processing control for an image formation using a test pattern; and to obtain a stable image quality while employing an intermediate transfer method with high image superposing accuracy. 画像重ね精度が高い中間転写方式を採用しながら、テストパターンを用いた画像形成のためのプロセス制御による装置のダウンタイムを低減し、かつ安定した画像品質を得る。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for measuring chromatic dispersion, with which chromatic dispersion of a device under test that is an optical component can be precisely measured with a simple apparatus structure. 簡単な装置構成により、光学部品である被対象物の波長分散を高い精度で測定することができる波長分散測定装置及び波長分散測定方法を提供する。 - 特許庁
Accordingly, a run-flat traveling durability evaluation testing method, with inputs to the tire being approached that of the general road, is provided so as to properly perform traveling test of pneumatic rubber run flat tire with safety wheels. 従って、中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法とすることができる。 - 特許庁
To provide an optical element evaluation method capable of simply measuring (evaluating) the degree of difference of measuring wave surface data of a test lens from a design value without manufacturing a reference lens. 基準レンズを製作することなしに、被検レンズの測定波面データが設計値に対してどの程度異なるかをより簡単に測定(評価)することができる光学素子評価方法を提供する。 - 特許庁
In the method, an ultrasonic test equipment 10 which is integrally composed of an ultrasonic probe 2 and a metal shoe 21, is attached to an outer surface of an object to be tested, e.g., a steam valve 1 by using a magnetic force of a magnet roller 5. 金属シュー21と超音波探触子2とを一体化した超音波探傷装置10を、磁石ローラ5の磁力により被検体の一例である蒸気弁1の外表面に吸着させる。 - 特許庁
To provide a method for exchanging gas pipe, capable of performing gas replacement in a pipe and an airtightness test, even for an empty house, where the cost of gas used for a replacement work is not charged to a consumer. 留守宅であっても、管内のガス置換と気密検査を行うことができ、しかも交換工事で使用するガスの費用を需要者負担としないガス配管交換方法を提供すること。 - 特許庁
The faying surface 1a of a tab material 1 is preliminarily worked into a protruding shape having a swollen rotating central part, and bonded to the recycling part 2 of a test piece by surface activation connecting method. タブ材1の接合面1aを予めその回転中心部分を隆起させた凸形状に加工してから表面活性化接合方法によって試験片の再利用部分2に接合する。 - 特許庁
If a person skilled in the art is unable, on the basis of the prior art, to predict that the said use or action stated in the invention can be carried out, the qualitative or quantitative data of the laboratory test (including animal test) or clinical test shall be sufficiently provided for the person skilled in the art to be convinced that the technical solution of the invention can solve the technical problem or achieve the technical effect as expected. The description shall describe effective amount, method of application or method of formulation to such an extent that the person skilled in the art can carry it out.
当業者が、先行技術に基づいて、当該発明に記載されている用途又は作用を実現できることを推測できない場合、 当該発明の技術的解決策により、技術課題を解決し、又は予測される効果を実現できることを当業者が確認できるように、実験室検査(動物実験等)又は臨床検査による定性的又は定量的データを十分に示さなければならない。明細書には、当業者が実施できる程度まで、有効量、適用方法、又は処方方法を記載しなければならない。 - 特許庁
To attach a metal stud and a sample while keeping the perpendicular relation, clamp the metal stud attached to the sample without causing slipping, and perform an adhesion evaluation test by a stud pull method having high replicability in the same sample, in a perpendicular tension type adhesion strength test machine for performing the stud pull method capable of easily evaluating the adhesion strength of a thin film. 垂直引張型密着強度試験機に関し、薄膜の密着強度を簡便に評価できるスタッドプル法を実施する試験機に於いて、金属スタッドと試料とを垂直の関係を維持して取り付け、その試料に取り付けた金属スタッドを滑りを生じることなくクランプし、同一試料内で再現性が高いスタッドプル法による密着力評価試験を行うことを可能にしようとする。 - 特許庁
The testing method comprises the means of outputting a 1st test control signal from a tester to the IC chip; conducting test by each IC chip using an asynchronized method; outputting a 2nd result request signal from the voltmeter to the IC chip, after outputting the 1st control signal and following a prescribed time interval; and making all the chips to respond synchronously when the 2nd control signals are received. その方法は、集積回路チップに対してテスタ側で第1の試験制御信号を送出し、各集積回路チップによって試験を非同期化された方法で実行させ、前記第1の制御信号の送出に続く所定の時間間隔の後、集積回路チップへ第2の結果要求制御信号をテスタ側で送出し、前記第2の制御信号を受信すると、すべてのチップを同期して応答させる手段を含む。 - 特許庁
Further, the invention is a method for treating a test object including neoplastic cells refractory to the chemotherapeutic agent and the method comprises step (a) wherein an effective amount of the reovirus is administered to the testing body under the conditions causing the infection of the neoplastic cells, and step (b) wherein an effective amount of the chemotherapeutic reagent is administered to the test object. 増殖性障害を有する被験体を処置する方法であって、上記被験体が化学療法薬剤に対して不応性である新生物細胞を含み、上記方法が:(a)レオウイルスによる新生物細胞の感染が生じる条件下で、有効量の上記レオウイルスを上記被験体に投与する工程;および、(b)有効量の化学療法薬剤を上記被験体に投与する工程、を含む、方法。 - 特許庁
To provide a device, method, and program for transmitting a program including test questions, capable of realizing test services by a broadcasting program and broadcasting a program for supplementary lessons concerning erroneous answers to the questions by an examinee, and to provide a device, method, and program for receiving the same. 本発明は、学習試験サービスを放送番組により実現でき、受験者の誤った問題の解答について補習番組の放送を行うことのできる試験問題包含番組送信方法、試験問題包含番組送信装置および試験問題包含番組送信プログラムおよび試験問題包含番組受信方法、試験問題包含番組受信装置および試験問題包含番組受信プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a plating or electroforming method improved in bright nickel surface treatment in applying a replating onto a primary bright nickel plating, a method for forming a lamination plated tight adhesive test specimen as well as a method for improving the tight adhesion strength of the plating in the plating or electroforming of the bright nickel plating to each other. 第一次光沢ニッケルめっき上に再めっきする際の光沢ニッケル表面処理を改良しためっきもしくは電鋳方法、積層めっき密着性試験試料の作成方法並びに光沢ニッケルめっき同士のめっきもしくは電鋳におけるめっき密着強度の改善方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a corrosion sensor capable of quantitatively and appropriately measuring an overlap section of materials, a method for measuring corrosive environments of overlap structure parts using the same, a method for designing a structure having the overlap structure part, and a method for corrosive test of materials used for the overlap part. 材料が重なり合った部位の腐食環境を定量的に、且つ適切に計測できる腐食センサーおよびこの腐食センサーを用いての合わせ構造部の腐食環境計測方法および合わせ構造部を有する構造体の設計方法および合わせ構造部に使用する材料の腐食試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor transfer tray for tests capable of collectively handling a plurality of semiconductors (IC packages etc. ) during the tests and provide a burn-in board using the same, an inspection apparatus for burn-in tests, a burn-in testmethod, and a semiconductor manufacturing method. 複数の半導体(ICパッケージ等)を試験中一括して取り扱えるようにした試験用の半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a quality improvement method of an alcohol which method improves the value of a potassium permanganate test, i.e., the index of alcohol quality, of an alcohol (sometimes called an oxoalcohol) produced by hydrogenating an aldehyde prepared by hydroformylating an olefin. オレフィンのヒドロホルミル化反応により得られたアルデヒドを水素添加して製造したアルコール(以下、オキソアルコールということがある。)について、アルコールの品質の指標の一つである過マンガン酸カリウム試験の値を良化させるアルコールの品質改良方法を提供する。 - 特許庁
SURFACE LAYER STRUCTURE INCORPORATING ELECTRIC ELECTRONIC DEVICE AND FABRICATION THEREOF, ENVIRONMENTAL CONTROL AND INFLUENCE TESTMETHOD OF A PLURALITY OF MICRO OBJECTS EMPLOYING SURFACE LAYER STRUCTURE, AND TRANSFER JAMMING PREVENTIVE METHOD THEREOF 電気電子デバイスを組み込んだ表層構造体とその製造方法、表層構造体を用いた複数微小物体の環境制御および環境影響試験方法、表層構造体を用いた複数の微小物体の移送渋滞防止装置と移送渋滞防止方法 - 特許庁
To provide a gas supply facility, a leakage inspection method, and a gas supply method, capable of substantially shortening the time required for leakage test upon starting up of the gas supply facility and upon replacing of gas container, and quickly surely conducting gas supply. ガス供給設備の立ち上げ時及びガス容器交換時の漏洩検査に要する時間を大幅に短縮することができ、ガス供給を迅速かつ確実に行うことができるガス供給設備及び漏洩検査方法並びにガス供給方法を提供する。 - 特許庁
To provide a simple testmethod for the degree of decomposition in highly organic soil, instead of a phon post method, capable of more quantitatively accurately determining the degree of decomposition in the high organic soil in a sampling site of a sample by reducing the occurrence of large variations and errors in determination results. 判定結果に大きなバラツキや誤差が生じるのを軽減して、試料の採取現場において、より定量的に精度良く高有機質土の分解度を判定することのできる、フォンポスト法に代わる高有機質土の簡易分解度試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for determining the effectiveness of a substituent element in the improvement of a capacity recovery rate, which can improve a development efficiency by minimizing actual test production of batteries and actual measurement of the capacity recovery rate, and to provide a method for predicting the capacity recovery rate. 実際の電池作製および容量回復率の実測を最小限にして開発効率を向上させることができる、容量回復率の向上に対する置換元素の有効性を判別する方法および容量回復率の予測方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for simultaneously and easily reducing elution of fluorine, boron, hexavalent chromium and lead as controlled substances prescribed in an environment ministerial announcement No.18 testmethod of Soil Contamination Countermeasures Act with respect to the combustion ash and the like including fluorine, boron, hexavalent chromium and lead. フッ素、ホウ素、六価クロムおよび鉛を含む燃焼灰等について、土壌汚染対策法による環告第18号試験法で規定された規制物質のフッ素、ホウ素、六価クロムおよび鉛の溶出量を同時にしかも簡便に低減する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a permeability confirmation method of the lower ground of a cylindrical vertical type underground tank capable of easily and properly ensuring imperviousness of an objective ground in accordance with a result of a permeability test of the objective ground easily carried out and an impervious method. 対象地盤の透水試験を簡易に行い、その結果に応じて当該対象地盤の遮水性を容易かつ適切に確保することができる円筒形竪型地下タンク下面地盤の透水性確認工法及び遮水工法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of simultaneously, quickly, highly-sensitively and continuously measuring many kinds of minute-amount metal of 10 ppb or less in concentration, particularly existing in an order of 100 ppt in liquid under test, and a mercury electrode type electrochemical analyzer that can implement the method. 被検液中に10ppb濃度以下、特に100pptオーダーで存在する多種類の微量金属を、同時迅速高感度で且つ連続的に測定する方法、およびそれを可能にする水銀電極式電気化学的分析装置を提供する。 - 特許庁