「Test」を含む例文一覧(39547)

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  • INSPECTION DEVICE, TEST JIG, AND TEST METHOD
    検査装置、検査治具および検査方法 - 特許庁
  • PUMPING TEST METHOD AND PUMPING TEST DEVICE
    揚水試験方法と揚水試験装置 - 特許庁
  • TEST PROCESSING SYSTEM AND TEST PROCESSING METHOD
    試験処理システム及び試験処理方法 - 特許庁
  • PROCESSOR TEST METHOD AND TEST EXECUTION PROGRAM
    プロセッサテスト方法及びテスト実行プログラム - 特許庁
  • CHARACTERISTIC TEST DEVICE AND CHARACTERISTIC TEST METHOD
    特性検査装置と特性検査方法 - 特許庁
  • also called miraluma test and scintimammography.
    「miraluma test（ミラルマ検査）」、「scintimammography（シンチマンモグラフィ）」とも呼ばれる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • PROCESSOR, MEMORY TEST METHOD AND MEMORY TEST SYSTEM
    プロセッサ、メモリテスト方法及びメモリテストシステム - 特許庁
  • TENSILE TEST METHOD AND TENSILE TEST DEVICE
    引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁
  • TEST PIECE HOLDING APPARATUS
    試験片保持装置 - 特許庁
  • TEST BURN-IN BOARD HANDLER
    テストバ—ンインボ—ドハンドラ - 特許庁
  • CAP OPENING TEST APPARATUS
    開栓試験装置 - 特許庁
  • INTERFACE TEST DEVICE
    インタフェース試験装置 - 特許庁
  • METHOD FOR DEVICE TEST
    デバイスのテスト方法 - 特許庁
  • STEREOPSIS TEST SYSTEM
    立体視検査装置 - 特許庁
  • SPRAYER OF TEST REAGENT
    試験試薬噴霧器 - 特許庁
  • PRINTER TEST SYSTEM
    プリンタ装置テストシステム - 特許庁
  • MULTIPLE TEST SYSTEM
    多連式試験システム - 特許庁
  • MEMORY CARD TEST DEVICE
    メモリカード試験装置 - 特許庁
  • RANDOM NUMBER TEST CIRCUIT
    乱数検定回路 - 特許庁
  • TEST PIECE HOLDING DEVICE
    試験片保持装置 - 特許庁
  • TEST IMPLEMENTATION METHOD
    試験の実施方法 - 特許庁
  • MICROBIOLOGICAL TEST SYSTEM
    微生物検査システム - 特許庁
  • ID SOCKET FOR TEST
    テスト用ＩＣソケット - 特許庁
  • TEST SIGNAL GENERATOR
    テスト信号発生器 - 特許庁
  • SUPPORT BASE FOR TEST HEAD
    テストヘッドの支持台 - 特許庁
  • AUTOMATED TEST METHOD
    自動化試験方法 - 特許庁
  • SOFTWARE TEST METHOD
    ソフトウェア試験方法 - 特許庁
  • ELUTION TEST METHOD
    溶出試験方法 - 特許庁
  • TEST PROGRAM DEBUG DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, TEST PROGRAM DEBUG METHOD, AND TEST METHOD
    テストプログラムデバッグ装置、半導体試験装置、テストプログラムデバッグ方法、及び試験方法 - 特許庁
  • COMMUNICATION TEST APPARATUS, COMMUNICATION TEST SYSTEM, COMMUNICATION TEST METHOD, AND COMMUNICATION TEST PROGRAM
    通信試験装置と通信試験システム，通信試験方法及び通信試験プログラム - 特許庁
  • IC SOCKET FOR TEST
    テスト用ＩＣソケット - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS
    半導体テスト装置 - 特許庁
  • CUTTING BOARD TEST APPARATUS
    まな板試験装置 - 特許庁
  • FLAW DETECTION TEST METHOD
    探傷試験方法 - 特許庁
  • TOUCH PANEL TEST DEVICE
    タッチパネル検査装置 - 特許庁
  • WIND TUNNEL TEST EQUIPMENT
    風洞実験設備 - 特許庁
  • SHOCK TEST METHOD
    衝撃試験方法 - 特許庁
  • LOOP BACK TEST CIRCUIT
    ループバック試験回路 - 特許庁
  • TEST TERMINAL FOR BOARD
    基板用テスト端子 - 特許庁
  • CROSS CUT TEST EQUIPMENT
    クロスカット試験装置 - 特許庁
  • INPUT TEST DEVICE
    入力試験装置 - 特許庁
  • VISUAL FUNCTION TEST DEVICE
    視機能検査装置 - 特許庁
  • BALANCE TEST EQUIPMENT
    つりあい試験装置 - 特許庁
  • TIRE-RUNNING TEST MACHINE
    タイヤ走行試験機 - 特許庁
  • CHIP FOR EVALUATION TEST
    評価テスト用チップ - 特許庁
  • PENETRATION TEST METHOD
    貫入試験方法 - 特許庁
  • INJECTION TEST DEVICE
    注入試験装置 - 特許庁
  • HEARING TEST DEVICE
    聴力検査装置 - 特許庁
  • DEVICE FOR TEST STRIP
    テストストリップ用デバイス - 特許庁
  • SIMULATION TEST SYSTEM
    シミュレーションテスト方式 - 特許庁
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