ブラウザの設定でJava Scriptの使用を有効にしてご利用ください。
英語例文
通常ウィンドウ
意味
例文
類語
共起
表現
「Test」を含む例文一覧(39547)
<前へ
1
2
...
.
24
25
26
27
28
29
30
31
32
...
.
790
791
次へ>
This is an electrocardiogram
test
.
心電図の検査です。
- 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
TEST
PATTERN FORMING METHOD
テストパターン生成方法
- 特許庁
TEST
EQUIPMENT OF TAB
TABの検査装置
- 特許庁
DRIVE SIMULATION
TEST
APPARATUS
運転模擬試験装置
- 特許庁
VEHICLE
TEST
COURSE ROAD SURFACE
車両テストコース路面
- 特許庁
TEST
PROGRAM DEVELOPMENT DEVICE
テストプログラム開発装置
- 特許庁
LATERAL FLOW
TEST
STRIP
ラテラルフロー用テストストリップ
- 特許庁
TIRE RUNNING
TEST
APPARATUS
タイヤ走行試験装置
- 特許庁
SOCKET AND
TEST
APPARATUS
ソケット、及び試験装置
- 特許庁
TEST
PATTERN GENERATING MEANS
テストパターン発生手段
- 特許庁
to put the matter to the
test
事の真偽を試す
- 斎藤和英大辞典
PROGRAM
TEST
SUPPORT DEVICE, PROGRAM
TEST
SUPPORT METHOD, AND PROGRAM
TEST
SUPPORT PROGRAM
プログラムテスト支援装置、プログラムテスト支援方法、プログラムテスト支援プログラム
- 特許庁
TEST
SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION
TEST
ランダム振動試験の試験仕様設計方法
- 特許庁
BENCH
TEST
METHOD AND BENCH
TEST
SYSTEM
台上試験方法および台上試験装置
- 特許庁
TEST
METHOD AND
TEST
DEVICE FOR PLASMA DISPLAY PANEL
プラズマディスプレイパネルの試験方法と試験装置
- 特許庁
TEST
PROGRAM AND
TEST
METHOD FOR COMPUTER EQUIPMENT
コンピュータ機器の試験プログラム及び試験方法
- 特許庁
COLLISION
TEST
APPARATUS AND COLLISION
TEST
METHOD
衝突試験装置および衝突試験方法
- 特許庁
SUBSCRIBER LINE
TEST
DEVICE AND
TEST
METHOD
加入者回線試験装置および試験方法
- 特許庁
TEST
DEVICE,
TEST
METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
テスト装置、テスト方法、プログラム及び記録媒体
- 特許庁
STATOR COIL INSULATION
TEST
DEVICE AND
TEST
METHOD
ステータコイル絶縁試験装置および試験方法
- 特許庁
TEST
DEVICE AND
TEST
METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリの試験装置及び試験方法
- 特許庁
TEST
MODEL GENERATION APPARATUS AND
TEST
MODEL GENERATION METHOD
テストモデル生成装置とテストモデル生成方法
- 特許庁
GENETIC
TEST
SYSTEM AND GENETIC
TEST
METHOD
遺伝子検査システムおよび遺伝子検査方法
- 特許庁
TEST
DEVICE FOR CAMERA MODULE AND
TEST
METHOD THEREOF
カメラモジュールのテスト装置及びそのテスト方法
- 特許庁
ELECTRIC
TEST
SYSTEM AND ELECTRIC
TEST
METHOD
電気的試験システム及び電気的試験方法
- 特許庁
To provide a memory
test
circuit and a
test
system.
メモリテスト回路及びテストシステムを提供する。
- 特許庁
TEST
METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND
TEST
DEVICE
半導体メモリの検査方法及び検査装置
- 特許庁
WATER PERMEABILITY
TEST
DEVICE AND WATER PERMEABILITY
TEST
METHOD
透水試験装置および透水試験方法
- 特許庁
PROGRAM
TEST
DEVICE, PROGRAM
TEST
METHOD AND PROGRAM
プログラムテスト装置、プログラムテスト方法、およびプログラム
- 特許庁
TEST
SUPPORT SYSTEM,
TEST
SUPPORT METHOD, AND PROGRAM
テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム
- 特許庁
TEST
METHOD AND
TEST
DEVICE FOR CORRELATED DOUBLE SAMPLER
相関二重サンプラの試験方法・試験装置
- 特許庁
TEST
SYSTEM AND CHECK METHOD FOR THE
TEST
SYSTEM
テストシステム及びテストシステムにおける検査方法
- 特許庁
MEMORY
TEST
METHOD AND MEMORY
TEST
METHOD
メモリ試験方法およびメモリ実装試験方法
- 特許庁
PERSONALITY
TEST
SYSTEM AND PERSONALITY
TEST
METHOD
性格診断システムおよび性格診断方法
- 特許庁
TEST
PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR
TEST
SYSTEM
半導体試験装置の試験パターン発生装置
- 特許庁
HEAT STORAGE
TEST
APPARATUS AND HEAT STORAGE
TEST
METHOD
蓄熱試験装置および蓄熱試験方法
- 特許庁
BUILT-IN-TYPE SELF-
TEST
CIRCUIT AND
TEST
METHOD
組み込み型自己テスト回路およびテスト方法
- 特許庁
TEST
SUPPORT DEVICE,
TEST
SUPPORT METHOD AND PROGRAM
テスト支援装置、テスト支援方法およびプログラム
- 特許庁
TEST
METHOD AND
TEST
DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハのテスト方法及びテスト装置
- 特許庁
TEST
PROGRAM CREATION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR
TEST
SYSTEM
半導体試験装置のテストプログラム生成システム
- 特許庁
ELECTRON BEAM
TEST
SYSTEM AND ELECTRON BEAM
TEST
METHOD
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法
- 特許庁
TEST
METHOD AND
TEST
APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置のテスト方法及びテスト装置
- 特許庁
TEST
CIRCUIT AND
TEST
METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
半導体装置のテスト回路及びテスト方法
- 特許庁
TEST
SYSTEM AND
TEST
METHOD FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE
半導体パッケージのテストシステム及びテスト方法
- 特許庁
IC
TEST
DEVICE AND COMPOSITE IC
TEST
DEVICE
IC試験装置及び複合IC試験装置
- 特許庁
an intelligence
test
done by a group called {army
test
}
アーミーテストという,集団で行う知能検査
- EDR日英対訳辞書
VEHICLE
TEST
METHOD AND VEHICLE
TEST
DEVICE
車両試験方法および車両試験装置
- 特許庁
IMPACT
TEST
DEVICE AND IMPACT
TEST
METHOD
衝撃試験装置および衝撃試験方法
- 特許庁
PILE LOADING
TEST
METHOD AND ITS LOADING
TEST
DEVICE
杭の載荷試験方法及び載荷試験装置
- 特許庁
CLEANING DEVICE FOR LEAK
TEST
リークテスト用掃除装置
- 特許庁
<前へ
1
2
...
.
24
25
26
27
28
29
30
31
32
...
.
790
791
次へ>
例文データの著作権について
Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved.
「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編
Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved.
Copyright (c) 株式会社 高電社 All rights reserved.
特許庁
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
ログイン
※半角英数字、6文字以上、32文字以内で入力してください
ログイン
パスワードを忘れた方はこちらから
別サービスのアカウントで登録・ログイン
アカウントをお持ちでない方
新規会員登録(無料)
non-member
Test