I could do a clotting test. 凝固テストならできる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Look, can we stop the test? このテスト、やめられない? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
I really... I want to take that cvs test. CVSテストを受けたいの - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
We have a test tomorrow.
明日はテストがあります。 - Tanaka Corpus
Test time: 2 hours 20 min
試験時間=2時間20分 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
Test time: 2 hours 15 min
試験時間=2時間15分 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
Did Tom pass the test? トムはテストに受かったの? - Tatoeba例文
We have a test tomorrow. 明日はテストがあります。 - Tatoeba例文
to test the parity of ~
~のパリティ検査を行なう - コンピューター用語辞典
That test looks difficult.
そのテストは難しそうだ。 - Weblio Email例文集
also called coomb's test.
クームス試験とも呼ばれる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
The format of name is groupID::parameterName, so as you see above, "first::test" refers to the tasks:param test from the tasks:paramgroup first.
書式はグループ ID::パラメータ名 のようになります。 つまり、上の例の"first::test" は、tasks:paramgroup first のtasks:param test のことを指します。 - PEAR
These test suites can then be run using こうしたテストスイートは、 - Python
TEST TOOL FOR FIRE EXTINGUISHING FACILITIES 消火設備の試験具 - 特許庁
THIN FILM TENSILE TEST DEVICE 薄膜引張試験装置 - 特許庁
LIGHT OUTPUT TEST CIRCUIT 光出力試験回路 - 特許庁
You are going to have a barium test. バリウム検査をします。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
Can I take the test? 検査は受けられますか? - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
Does this test hurt? この検査は痛いですか? - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
CURRENT-TEST TERMINAL DEVICE 電流試験端子装置 - 特許庁
TEST LOAD APPLYING METHOD AND TEST LOAD APPLYING MECHANISM 試験荷重負荷方法及び試験荷重負荷機構 - 特許庁
TEST DEVICE FOR GEAR PAIR 歯車対の試験装置 - 特許庁
TEST METHOD FOR RUBBER FATIGUE ゴムの疲労試験方法 - 特許庁
TEST BOARD AND TESTING METHOD テスト基板とテスト方法 - 特許庁
WIND TUNNEL TEST MODEL AND METHOD FOR WIND TUNNEL TEST 風洞試験用模型および風洞試験方法 - 特許庁
to put one's character to the test―put one's character to the touch―take one's measure
人物を試験する - 斎藤和英大辞典
(What is a labor market test?) (労働市場テストとは) - 経済産業省
CPU REGISTER DIAGNOSTIC TEST CPUレジスタ診断テスト - 特許庁
So it's an ethical test subject. 倫理的な検体だよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
To effectively perform a passive test and an active test for a test object. 試験対象に対する能動試験と受動試験とを効率的に実施する。 - 特許庁
TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法 - 特許庁
To perform a high-temperature compression test of a test piece by heating two surfaces of the test piece to different temperatures. 供試体の2面を異なる温度に加熱して試験できるようにする。 - 特許庁
PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA 印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁
MAINTENANCE TEST PROGRAM, MAINTENANCE TEST DEVICE AND MAINTENANCE TEST METHOD OF VIRTUAL TAPE DEVICE 仮想テープ装置の保守試験プログラム、保守試験装置及び保守試験方法 - 特許庁
TEST INFORMATION PROCESSING SYSTEM, TEST INFORMATION PROCESSING METHOD, AND TEST INFORMATION PROCESSING PROGRAM テスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラム - 特許庁
Under the BC-BC-Test node, double-click Output to open the Output.xml file from the test case.
「BC-BC-Test」ノードの下で「出力」をダブルクリックしてテストケースの Output.xml ファイルを開きます。 - NetBeans
TEST CIRCUIT DESIGN PROGRAM, TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE, AND TEST CIRCUIT DESIGN METHOD テスト回路設計プログラム、テスト回路設計装置およびテスト回路設計方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PRODUCT DIE, AND ASSEMBLY INCLUDING TEST DIE FOR TEST 半導体製品ダイのテスト方法及び同テストのためのテストダイを含むアセンブリ - 特許庁
TEST CARRIER, TEST DEVICE HAVING THE SAME, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE テストキャリア及びこれを有するテスト装置ならびに半導体装置のテスト方法 - 特許庁
APPARATUS AUTOMATIC TEST SYSTEM AND APPARATUS AUTOMATIC TEST METHOD 機器自動試験システムおよび機器自動試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST BOARD, AND TEST METHOD 半導体記憶装置と検査ボード及び検査方法 - 特許庁
TERMINATING CIRCUIT, TEST INSTRUMENT, TEST HEAD AND COMMUNICATION DEVICE 終端回路、試験装置、テストヘッド、及び通信デバイス - 特許庁
PSEUDO-FAILURE TEST METHOD AND PSEUDO-FAILURE TEST PROGRAM 擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラム - 特許庁
RADIO BASE STATION DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TEST SYSTEM 無線基地局装置試験システムと装置試験システム - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC CONTROLLER UNIT 電子制御部品の検査方法および検査装置 - 特許庁
TEST DEVICE AND TEST METHOD OF MONITORING CONTROL SYSTEM 監視制御システムの試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST SECTION UNIT, TEST HEAD, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 - 特許庁
COMPUTER PROGRAM, TEST SUPPORT METHOD AND TEST SUPPORT DEVICE コンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置 - 特許庁
TEMPERATURE CYCLE TEST DEVICE AND TEMPERATURE CYCLE TEST METHOD 温度サイクル試験装置及び温度サイクル試験方法 - 特許庁
ELECTROLYTE LEAKAGE TEST METHOD, TEST DEVICE, AND BATTERY 電解液漏洩検査方法、検査装置、および電池 - 特許庁
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