「Test」を含む例文一覧(39567)

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  • The judging device is to judge the plastic contained in a test object by sensing the sort of the pyrolysis gas generated by pyrolysis of the plastic using a gas sensor, whereby inside the device is arranged capable of being air-cooled by introducing the atmosphere or the pyrolysis gas is introduced to the sensing surface of the gas sensor and the atmosphere is introduced to that portion of gas sensor excluding the sensing surface.
    プラスチック熱分解で発生する熱分解ガスのガス種をガスセンサで検出することによって被検体に含まれるプラスチックを判別するプラスチック判別装置であって、大気を導入することにより装置内を空冷可能に構成、あるいは分解ガスをガスセンサのセンサ検出面に導入し、ガスセンサのセンサ検出面を除く部分に大気を導入する構成とする。 - 特許庁
  • After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.
    ＮＧが発生すると試験対象チップにおけるＮＧの回数が第１の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、ＮＧの回数が第１の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、ＮＧの数が第２の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁
  • This test device feeds the compressed air exhausted from the exhaust manifold 21 of an engine 2 to the intake manifold 26 of the engine 2 after removing oil mist with a mist separator 23 and an air filter 25, i.e., the compressed air is circulated, thus the engine 2 can be quickly warmed, the warmup time of the engine 2 can be shortened, and energy can be saved.
    エンジン２の排気マニホールド21から排出される圧縮空気を、ミストセパレータ23とエアフィルタ25によりオイルミストを除去してエンジン２のインテークマニホールド26へ供給する構成とすることにより、すなわち圧縮された空気が循環される構成とすることにより、エンジン２を急速に暖めることができ、エンジン２の暖気時間を短縮でき、省エネルギーを実現できる。 - 特許庁
  • The semiconductor storage device includes: a memory cell array 11 composed of memory cells 21 arranged in a matrix; an X decoder 12 providing a prescribed voltage to gate terminals of the memory cells 21; a Y decoder 13 providing a prescribed voltage to source and drain terminals of the memory cells 21; and a BIST module performing the test by providing a signal to the X decoder 12 and the Y decoder 13.
    半導体記憶装置は、マトリックス状に配置されたメモリセル２１から構成されるメモリセルアレイ１１と、メモリセル２１のゲート端子を所定の電圧とするＸデコーダ１２と、メモリセル２１のソース端子及びドレイン端子を所定の電圧とするＹデコーダ１３と、Ｘデコーダ１２及びＹデコーダ１３に信号を与えて試験を行なうＢＩＳＴモジュールを有している。 - 特許庁
  • This analytical device 30 includes a multithreading library ML for multithreading a predetermined process described in the test program TP prepared by a user, and when the data stored in a data memory 21 are processed, the threads are generated in accordance with the number of CPUs 23a, 23b using the multithreading library ML, and the processing of these threads is performed in parallel by the CPUs 23a, 23b, respectively.
    この解析装置３０は、ユーザによって作成されたテストプログラムＴＰに記述された所定の処理をマルチスレッド化するマルチスレッド化ライブラリＭＬを備えており、データメモリ２１に記憶されたデータを処理する場合に、マルチスレッド化ライブラリＭＬを用いてＣＰＵ２３ａ，２３ｂの数に応じたスレッドを生成し、これらのスレッドの処理をＣＰＵ２３ａ，２３ｂでそれぞれ並行して実行する。 - 特許庁
  • To realize the management and measures of a corrosive chemical substance to a reactor structure material by performing real-time and on-the-spot measurement of a chemical substance, such as hydrogen peroxide and dissolved oxygen, where concentration tends to change easily in high-temperature high-pressure water such as water in a reactor or test research reactor irradiation facilities under a radiation irradiation environment, such as neutrons and gamma rays.
    中性子線、ガンマ線などの放射線照射環境下において原子炉内或いは試験研究炉照射設備内の水中のような高温高圧水中で濃度が変化し易い過酸化水素や溶存酸素などの化学物質を、リアルタイムでその場計測を可能とすることによって、それら原子炉構造材に対する腐食性化学物質の管理と対策を可能とする。 - 特許庁
  • This coating film inspection film apparatus for inspecting the coating film 28 of an optical part for ultraviolet light is provided with a inspection light radiating device 43 for applying inspection light 45 to the coating film 28 of the optical part, and a non-contact thermometer 48 for measuring the temperature of the coating film 28 to test the coating film 28 according to a temperature change of the coating film 28.
    紫外光用光学部品のコーティング膜２８を検査するコーティング膜検査装置において、光学部品のコーティング膜２８に検査光４５を照射する検査光照射装置４３と、コーティング膜２８の温度を測定する非接触型温度計４８を備え、このコーティング膜２８の温度変化に基づいて、コーティング膜２８の検査を行なっている。 - 特許庁
  • The method for treating burned ash to reduce boron quantity to 1.0 mg/l or less according to an elution test method based on Notice No. 18 of Environment Agency in 2003 comprises burning coal in a combustion furnace A, treating the exhaust gas by an electrostatic precipitator, and re-burning the resulting electrostatic precipitator ash in a combustion furnace B with coal as main fuel while adding a calcium source.
    石灰を燃焼炉（Ａ）で燃焼し、その俳ガスを電器集塵器で処理し、得られた集塵灰（ＥＰ灰）を燃焼炉（Ｂ）で、石炭を主燃料とし、カルシウム源を加えて再度燃焼した焼却灰の、平成１５年環境庁告示第１８号に基づく溶出試験方法によるホウ素量を１．０ｍｇ／ｌ以下にする焼却灰の処理方法。 - 特許庁
  • A polarizer unit integrating an incident fiber with a current detecting optical fiber through a polarizer and an optical detector integrating the current detecting optical fiber with an output fiber through an optical detector element are disposed closely, so that both ends of the current detecting optical fiber approximately align, as seen from the axis of a conductor along which a current under test flows.
    入射ファイバと電流検出用光ファイバとを偏光素子を介して一体に結合する偏光子部と、電流検出用光ファイバと出射ファイバとを検光素子を介して一体に結合する検光子部とを、被測定電流が流れる導体の軸方向から見て、前記電流検出用光ファイバの両端がほぼ一致するように、近接して配置する。 - 特許庁
  • To enable the supply of a test disk which satisfies the standard of mass and has stable characteristics decreased in physical or electrical fluctuations even if the disk is formed by using material which is standardized in the mass relatively lighter with respect to the overall size like the disk of a DVD and has the specific gravity failing to satisfy the standard with respect to the overall size.
    ＤＶＤのディスクのような外形寸法に対し比較的軽い質量が規格化され、外形寸法に対して規格を満たすことのできない比重の材料を用いてディスクを形成したとしても、質量の規格を満足し、更に物理的あるいは電気的変動の少ない特性の安定したテストディスクの供給を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a plastic bottle capable of producing a molding die at low cost in a short time and capable of manufacturing a plastic bottle test sample rapidly under a reduced cost, and further capable of manufacturing easily a plastic bottle sample at high processability by using a light and low heat conductive blow molding die.
    ブロー成形型を短時間で且つ安価に作製することができて、試作用のプラスチックボトルを迅速に製造することができると共に試作の費用を低減することができ、また軽量で且つ熱伝導性の低いブロー成形型を用いることにより、作業性良好に試作用のプラスチックボトルを容易に製造することができるプラスチックボトルの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The data processor 3 is an NMS managed by SNMP and is provided with a communication line state management means 321 for confirming the validity of the plural communication routes (communication route to the agent through the transmission lines 1 and 2 is decided) by sequentially issuing a test command message through the plural communication routes to the agents in each cycle set beforehand.
    データ処理装置３は、ＳＮＭＰで管理されるＮＭＳであって、予め設定された周期毎にエージェントに試験コマンドメッセージを複数の通信ルートを介して順々に発行することにより複数の通信ルート（伝送路１，２を介してエージェントへの通信ルートを決める）の有効性を確認する通信路状態管理手段３２１を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • On the basis of the restored section form data, an editing picture for editing various kinds of parameter contained in the relevant section form data is displayed, the relevant packet is directly edited by accepting editing from a user to various kinds of parameter on the editing picture, and the TS form data are reconstituted with the edited packet so that the digital broadcasting data for test can be reconstituted.
    復元したセクション形式データに基づいて当該セクション形式データに含まれる各種パラメータを編集するための編集画面を表示し、編集画面上の各種パラメータに対するユーザからの編集を受け付けて該当のパケットを直接編集し、編集後のパケットでTS形式データを再構成することによりテスト用のデジタル放送データを再構成する。 - 特許庁
  • An information processor includes: generation means for transmitting data to a verification target from a description within a test bench program including a function of the verification target and for generating a data transmitting and receiving function to receive the data from the verification target; and implementation means for implementing the data transmitting and receiving function generated by the generation means and the function of the verification target in an emulator.
    検証対象の関数を含むテストベンチ・プログラム内の記述から検証対象へデータを送信すると共に、検証対象からデータを受信するデータ送受信関数を生成する生成手段と、生成手段で生成されたデータ送受信関数及び検証対象の関数をエミュレータに実装する実装手段と、を有することによって課題を解決する。 - 特許庁
  • This three-dimensional random loop connection structure produced by bending continuous filaments having ≥300 dtex to form random loops, and bringing the loops into contact with each other in a melted state to fuse most of the contact portions, is characterized in that the compressive strain retention of the structure is ≥60% in a light resistance test using a carbon arc lamp.
    ３００デシテックス以上の連続線状体を曲がりくねらせランダムループを形成し、夫々のループを互いに溶融状態で接触せしめて、接触部の大部分を融着させてなる三次元ランダムループ接合構造体であり、カーボンアーク燈による耐光試験において圧縮歪み保持率が６０％以上であることを特徴とする弾性網状構造体。 - 特許庁
  • Then, within the network system, when the patient 2 is introduced by the specified organ 5, the doctor of the clinic 3 examines the patient 2 for the first time, introduces the hospital 4 under the contract with the specified organ 5, recommends a test in the hospital 4, then performs periodical home medical care thereafter and records the medical care in a home medical treatment notebook.
    そして、該ネットワークシステム内で、前記診療所３の医師は、前記特定機関５により患者２を紹介された時、該患者２の初診を行い、且つ、前記特定機関５と契約している病院４の紹介を行うと共に、該病院４に於ける検査を薦め、そして、その後の定期的な在宅医療看護を行い、且つ、該医療看護について在宅診療ノートに記録する。 - 特許庁
  • To provide an electromagnetic wave shielding adhesive film for a flexible printed wiring board excellent in reworkability which has enough electromagnetic wave shielding property and heat resistance withstanding elevated temperature during reflow of lead-free solder after applied to the flexible printed wiring board, excels in flexibility as compared with conventional adhesive films, and does not deteriorate its conductivity even after the pressure cooker test.
    リワーク性に優れるフレキシブルプリント配線板用の電磁波シールド性接着フィルムであって、フレキシブルプリント配線板に貼着した後、十分な電磁波シールド性に加えて、鉛フリーハンダリフロー時の高温に耐え得る耐熱性を有し、従来よりも耐屈曲性に優れると共に、プレッシャークッカーテストを経ても導電性が低下しない、電磁波シールド性接着フィルムを提供する。 - 特許庁
  • This digital control software fault simulation test device includes at least a plant simulation (Process) device of program simulation; a controller (Controller) including a high pressure spray substance control and software simulation control (Control Logical Simulation); and an operation interface device for enabling an operator (Operator) to observe a high pressure core sparay controller and special safety control system control.
    少なくとも、プログラム模擬のプラント模擬（Ｐｒｏｃｅｓｓ）装置と、高圧注水実体制御とソフト模擬制御（Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｌｏｇｉｃａｌ Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ）とが含有される制御装置（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）と、作業者（Ｏｐｅｒａｔｏｒ）が高圧炉心注水制御装置と格別安全制御システム制御を観察するための操作インターフェース装置とが含有される。 - 特許庁
  • In this activity evaluating method of an electrode catalyst, catalytic activity is evaluated by the test electrode which is obtained by applying a catalyst dispersion to the surface of a base material and drying it to form a catalyst layer and further forming an ionomer layer on the surface of the catalyst layer, and the catalyst layer is formed, by arranging catalyst particles or its primary flocs so as to form an almost single layer.
    触媒分散液を基材表面に塗布、乾燥して触媒層を形成し、さらにその表面にイオノマー層を作成した試験電極により、触媒活性を評価する方法であって、前記触媒層が、触媒粒子又はその一次凝集体がほぼ単層に配列されたものであることを特徴とする電極触媒の活性評価方法。 - 特許庁
  • The failure analyzing device 10 is constituted by a test information acquisition 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying information of an analysis result on a display unit 40.
    半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁
  • This grinder within a tire uniformity machine receiving the tire for a test includes an arm received within a bearing, a grinding head which is supported on the arm and has a rotatable grinding wheel and a motor for generating rotation in the grinding wheel and a linear actuator engaged dynamically to the arm so that the grinding wheel may selectively generate axial rotation of the tire, selectively contacting the tire.
    試験用にタイヤを受けるタイヤ均等性機械内のグラインダーであって、当該グラインダーは、ベアリング内に受容されるアームと、アーム上に支持され回転可能な砥石及び該砥石に回転を生じさせるモータを有する研削ヘッドと、砥石が選択的にタイヤと接触しながら選択的にそれの軸方向回転を生じさせるべく動的にアームに係合する線形アクチュエータとを含む。 - 特許庁
  • A test burn-in device 100 is constituted by newly comprising a skew correction data storage circuit 21 and a skew correction data transferring circuit 31 to read skew correction data from the skew correction data storage circuit 21 and to write it in a skew correction data register 13 in the DRV/CMP board 1 of each slot to which the skew correction data register 13 is mounted.
    テストバーンイン装置１００は、スキュー補正データレジスタ１３が実装されている各スロットのＤＲＶ／ＣＭＰボード１において、スキュー補正データ記憶回路２１及び、スキュー補正データ記憶回路２１からスキュー補正データを読み出し、スキュー補正データレジスタ１３に書き込みを行うスキュー補正データ転送回路３１を新規に有することにより構成されている。 - 特許庁
  • To provide an eddy current measuring sensor and an eddy current measurement method with which a hardened depth measurement test can be conducted with high detection accuracy even when inspecting a high-frequency hardened component with a widely changing outer diameter or a recessed part, and measurement accuracy can be improved by eliminating influence of lift-off at the measurement of the hardened depth.
    外径が大きく変化したり、凹部を有したりするような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても高い検出精度で焼入れ深さ測定試験を行うことができ、また、焼入れ深さの計測にあたってリフトオフの影響を排除することで計測精度を向上させることが可能となる、渦流計測用センサ及び渦流計測方法を提供する。 - 特許庁
  • To simulate quickly an anti-tribo micro-plasma dissolution deterioration property of lubricant by examining and analyzing accurately influence for lubricant by tribo-plasma generated on a friction plane between acutal solid matters, on the other hand, performing an acceleration test of deterioration reaction of the lubricant by plasma and grasping corresponding relation for deterioration of the lubricant by tribo-plasma generated on a friction surface of actual solid matters.
    実際の固体相互間の摩擦面に発生するトライボプラズマによる潤滑剤への影響を精度良く調査・分析し、一方では、プラズマによる潤滑油の劣化反応の加速試験を行うことによって、実際の固体の摩擦面に発生するトライボプラズマによる潤滑剤劣化との対応関係を把握し、潤滑剤の耐トライボマイクロプラズマ分解劣化特性を迅速にシミュレートする。 - 特許庁
  • When the laser 700 having suitable pulse width and wavelength is selected in such a system and laser light particularly having the pulse width of femtoseconds to picoseconds and the wavelength in the range from 750 to 850 nm or from 1,000 to 1,100 nm is used, repairs in all steps can be performed using only a single laser apparatus without the need for additional or different repair devices for each test process.
    このような方式で、適切なパルス幅及び波長を有するレーザー装備７００を選択し、特にフェムト秒乃至ピコ秒のパルス幅及び７５０ｎｍ乃至８５０ｎｍまたは１０００ｎｍ乃至１１００ｎｍの波長範囲のレーザー光を使用すれば、テスト段階別に別途の修理装置を使用せずに一つのレーザー装備を使用して全工程で修理を行うことができる。 - 特許庁
  • The screening method comprises the administration of a test substance to a rat, the determination of the expression quantity of mRNA of TFF2 protein, PITX2 protein, REG4 protein, ABCA12 protein, LOC689116 protein, FABP1 protein, REG3G protein, PRLPM protein and PAP protein in the colon tissue and the screening of a substance exhibiting lowered expression quantity.
    本発明の課題は、ラットに被検物質を投与し、大腸組織における、ＴＦＦ２タンパク質、ＰＩＴＸ２タンパク質、ＲＥＧ４タンパク質、ＡＢＣＡ１２タンパク質、ＬＯＣ６８９１１６タンパク質、ＦＡＢＰ１タンパク質、ＲＥＧ３Ｇタンパク質、ＰＲＬＰＭタンパク質及びＰＡＰタンパク質のｍＲＮＡの発現量を測定し、その発現量が低下した物質をスクリーニングすることによって解決できる。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a semiconductor device, which can manufacture a bump electrode high in connection reliability by enabling fine gaping, further can make a connection between terminals without using expensive anisotropy conductive film, and can easily execute a test high in connection reliability, a semiconductor device manufactured by it, a circuit substrate, an electro-optical device, and an electronic apparatus.
    狭ギャップ化が可能で接続信頼性の高い突起電極を製造することができ、さらに端子間の接続については高価な異方性導電膜を用いることなく行うことができ、しかも接続信頼性の検査も容易に行えるようにした、半導体装置の製造方法とこれによって得られる半導体装置、及び回路基板、電気光学装置、電子機器を提供する。 - 特許庁
  • To provide an epoch-making testing method capable of sharply shortening the time from the production of a test piece to the evaluation thereof to enable evaluation using a small amount of a sample, made adaptable even to carbon fibers or a thermoplastic resin composition said to be difficult to handle heretofore and enabling anyone to easily and accurately evaluate the interfacial adhesiveness of the reinforcing fibers and the resin.
    試験片作製から評価に至るまでの時間を大幅に短縮し、少量のサンプルによる評価を可能とするばかりでなく、従来、取り扱いが困難といわれていた炭素繊維や熱可塑性樹脂組成物にも適用可能で容易に、かつ誰にでも正確に強化繊維と樹脂との界面接着性を評価できる画期的な試験方法を提供する。 - 特許庁
  • When a component region where a failure is hardly detected by pixel comparing inspection is determined to exist by test inspection, shape comparing inspection is enabled to be applied to the component region, the failure is enabled to be detected even when the substrate color and component color are the same color, and the automatic inspection with high reliability is achieved.
    テスト検査により、画素比較検査では不良の検出が困難な部品領域が存在していることが判れば、その部品領域には形状比較検査を適用できるようにしたので、基板色と部品色が同色であっても画像形状の相違で不良検出ができるようになって上記課題が解決し、信頼性の高い自動検査が実現する。 - 特許庁
  • To provide an internal short circuit evaluation method for more accurately evaluating safety at the time of internal short circuiting due to mixing-in of conductive foreign matters that can happen in the market, without bringing about a plurality of short-circuiting points as in a conventional nailing test method, and without intentionally causing large-scale physical deformation or damage on an electrode group structure such as electrodes and separators.
    従来の釘刺し試験法のように複数の短絡箇所を発生させることがなく、また物理的な電極、セパレータなどの電極群構成物を意図的に大きく変形もしくは損傷を発生させることもなく、市場にて起こりうる導電性異物混入などの内部短絡時の安全性をより正確に評価する電池の内部短絡評価方法の提供。 - 特許庁
  • This detergent composition is granular or solid, and which comprises ≥3 mass % of a nonionic surfactant and soap and has ≥42 ecology index, is positive in waste water regulation items Pi (i=1-8), ≤60 seconds dissolution time into water at 15°C measured by a dissolution time measurement method under low machine power and ≤50 mm foaming in the Loss Miles foaming test.
    ノニオン界面活性剤３質量％以上及び石鹸を含有する粒状または固形状の洗剤組成物であって、エコ指数が４２以上、排水基準項目Ｐｉ（ｉ＝１〜８）が正、下記の溶解時間測定法による低機械力下１５℃の水への溶解時間が６０秒以下、ロスマイルス試験法における起泡が５０ｍｍ以下である洗剤組成物。 - 特許庁
  • v) A person who intends to obtain an approval set forth in Article 76, paragraph 1, Article 81, paragraph 1 or Article 89, paragraph 1 (excluding those who intend to obtain such approval with regard to a type of a specified measuring instrument which has passed a test set forth in Article 78, paragraph 1 (including the cases where it is applied mutatis mutandis pursuant to Article 81, paragraph 2 or Article 89, paragraph 3)
    五　第七十六条第一項、第八十一条第一項又は第八十九条第一項の承認を受けようとする者（第七十八条第一項（第八十一条第二項及び第八十九条第三項において準用する場合を含む。）の試験に合格した特定計量器の型式について、これらの承認を受けようとする者を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • In principle, NOECs based on OECD Test Guidelines 201 (alga growth inhibition tests, 72 or 96 hours) shall not be used as a basis for exclusion from chronic aquatic toxicity, as they are not designed for long-term tests - except where the classification of acute aquatic toxicity is based on tests results on a single species of alga or another aquatic plant, and NOECs exceed 1 mg/l for other species of algae.
    OECDテストガイドライン201（藻類生長阻害試験、72または96時間）は長期試験ではないため、原則として、そのNOEC値は慢性水生分類の除外根拠としては利用できない。ただし、急性水生毒性の分類が単一の藻類（または他の水生植物）の試験結果によって行われており、他の藻類でのNOEC値が1mg/Lを超える場合に限り、除外根拠として利用できる。 - 経済産業省
  • Especially, the research projects which used the network of regional research institutes in East Asia were a test-run projects for the "Developing a Roadmap toward East Asian Economic Integration Roadmap" and "Energy Security in East Asia." The progress and the results of the projects were reported to the " Economic Ministers Meeting," the "EAS Energy Ministers' Meetings," and the "EAS" with exchanging of opinions with policy-makers.
    特に研究事業については、東アジア域内の研究機関のネットワークを活用し、「東アジア経済統合に向けたロードマップ」及び「東アジア地域のエネルギー安全保障」に関するテストランプロジェクトを立ち上げ、政策担当者との意見交換を行いつつ、「東アジア経済大臣会合」や「東アジアエネルギー大臣会合」等、そして「東アジアサミット」への進捗報告・成果報告を行った。 - 経済産業省
  • A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.
    マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
  • The controller is adjustable in the sense of shifting weight from control based on the rotational frequency to control based on rotational torque so that the test device is capable of performing adjustment and control most suitable for tests of set values determined by transitions of the rotational frequency and the rotational torque and therefore is capable of performing them in a feasible range.
    そのような試験装置が、回転数と回転トルクの推移によって決まる設定値のその時々の試験課題に最適な調整及び制御を実施することができ、そのため試験装置で実現可能な範囲で実施することができるように、この制御機器は、回転数に基づく制御から回転トルクに基づく制御に重みをシフトさせるという意味において調整可能である。 - 特許庁
  • To provide a television set, having a microcomputer controlling various functions of the television set, an on-screen generation circuit generating characters and marks on a screen, and a video signal processing circuit adjusting the brightness of the screen, with a test mode for checking whether or not a malfunction occurs in a protection circuit without changing an electric circuit or requiring a specific device.
    テレビジョン受像機の各種機能を制御するマイクロコンピュータと、画面上に文字や記号を発生させるオンスクリーン発生回路と、画面の明るさを調整する映像信号処理回路とを有すテレビジョン受像機であって、電気回路を変更することなく、また特別の装置を要すことなく保護回路が誤動作するか否かをチェックする為のテストモードを備えたテレビジョン受像機の提供。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit device is provided with a first delay time decision circuit deciding a signal delay time by a test clock through a dummy input/output circuit set equally to a signal delay time of a first output circuit and the first and second input circuits, and the decision area is temporally changed on the basis of a decision result of the first delay time decision circuit.
    上記第１出力回路及び上記第１、第２入力回路の信号遅延時間に同等に設定されたダミー入力・出力回路を通したテストクロックにより信号遅延時間を判定する第１遅延時間判定回路とを設け、上記判定領域を上記第１遅延時間判定回路の判定結果に基づいて時間的に変化させる。 - 特許庁
  • Thus, because signals indicative of the condition of the game machine are outputted from the output terminals of the first and second connectors 16 and 17 of the main control board C, together with the signals indicative of the condition of the game, a test for analyzing the condition of the Pachinko machine P can be conducted efficiently by connecting the tester 19, or the like, to the output terminals.
    このように、パチンコ機Ｐの遊技の進行と並行して、主制御基板Ｃの第１及び第２コネクタ１６，１７の各出力端子から遊技の状態を示す信号と共に遊技機の状態を示す信号が出力されるので、その出力端子に試験機１９などを接続することにより、パチンコ機Ｐの状態を分析するための試験を効率よく行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a method and apparatus for inspecting a thin film magnetic head element which can improve throughput at low cost than the case of inserting an HGA one by one into a characteristic inspection apparatus to inspect the characteristic of the thin film magnetic head element of the HGA and can inspect the recording characteristic of the thin film magnetic head element before a final test of the HGA.
    １つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • The static design information narrowed by the analysis part 15 and the dynamic design information related to the screen transition corresponding to the screen transition information specification key determined by the analysis part 18 are collected as one piece of design information, and the form of source code, the external file and the test item are generated from the one piece of design information.
    クラス依存関係解析部１５によって絞り込まれた静的設計情報と、画面遷移情報特定キー解析部１８によって判定された画面遷移情報特定キーに対応する画面遷移に関連する動的設計情報とを１つの設計情報としてまとめ、この１つの設計情報からソースコードの雛型、外部ファイル、テスト項目を生成する。 - 特許庁
  • The failure analyzing device 10 is constituted of a test information acquisition part 11 for acquiring a failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition part 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying the information of an analysis result on a display unit 40.
    半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁
  • To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement.
    本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。 - 特許庁
  • An input/output buffer 80 of the synchronous semiconductor memory device 100 receives a test mode signal from a control circuit 410, takes in data from a terminal 421 synchronizing with a clock signal CLK, writes it in a memory array 60, and outputs read-out data from the memory array 60 to the terminal 421 synchronizing with an internal data strobe signal from a DQS signal generating circuit 70.
    同期型半導体記憶装置１００の入出力バッファ８０は、コントロール回路４１０からのテストモード信号を受けてクロック信号ＣＬＫに同期して端子４２１からデータを取込み、メモリアレイ６０に書込むとともに、メモリアレイ６０からの読出データをＤＱＳ信号発生回路７０からの内部データストローブ信号に同期して端子４２１へ出力する。 - 特許庁
  • The data verification device is able to carry out verification by using a periodic data as a test data (data for verification), and using a data repeating unit for continuously and repeatedly outputting a data for one period, and thereby saving the data only for one period as the reference value data, and it enables to reduce a data amount of the reference value data.
    テスト用データ（被検証用データ）として周期性のあるデータを用いることと、１周期分のデータを連続して繰り返し出力して検証用データを生成するデータ繰り返し器を用いることで、基準値データとして１周期分のデータのみを保存しておくだけで、検証を行うことができ、基準値データのデータ量を削減することが可能となる。 - 特許庁
  • The present invention includes the steps of: providing the method of printing solder bumps on the single printed circuit board and providing a whole printed circuit board including completed internal circuits; dividing the whole printed circuit board into a plurality of independent single printed circuit boards; performing an electronic test on the single printed circuit boards; and forming a plurality of solder bumps on the single printed circuit boards.
    本発明は、単一プリント回路板のはんだバンプ印刷方法を提供し、完成した内部回路を含むプリント回路板全板を提供するステップと、プリント回路板全板を複数の独立した単一プリント回路板に分割するステップと、単一プリント回路板に電子テストを実行するステップと、複数のはんだバンプを単一プリント回路板中に形成するステップと、からなる。 - 特許庁
  • The semiconductor memory element is provided with a DFM register 16 for temporarily storing pin setting information on input/output pins of the element, and a test control circuit 15 for controlling the DFM register 16 so that the pin setting information is stored therein by the setting from the outside and the stored pin setting information is read out from the DFM register 16 by the setting from the outside.
    素子の入出力ピンのピン設定情報を一時記憶するＤＦＭレジスタ１６と、外部からの設定によりこのＤＦＭレジスタ１６へピン設定情報の記憶を実行させ、外部からの設定によりこのＤＦＭレジスタ１６から記憶されているピン設定情報の読出しを実行させるテスト制御回路１５とを設けたことを特徴とする。 - 特許庁
  • This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.
    運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、１台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁
  • To provide an adhesive which, even when laminating such a hard-to-adhere resin film as a polyester film to a steel plate, has excellent adhesive strength at an ordinary state after the lamination process and which is so excellent in the heat resistance as to maintain excellent adhesive strength even after a boiling-water resistant test, and to provide a plastic film-laminated steel plate using the adhesive.
    本発明の課題は、ポリエステルフィルムなどの難接着性樹脂フィルムを鋼板にラミネートした場合でも、ラミネート加工後常態において優れ接着力を示すと共に、耐沸水性試験後においても優れた接着力が確保されれ、耐熱性にも優れる接着剤及びその接着剤を利用してプラスチックフィルムラミネート鋼板を提供することにある。 - 特許庁
  • A command decoder 2 synchronizes with an external clock signal CLK when the test mode is set in the semiconductor memory, and sequentially generates an internal control signal that is similar to that when a plurality of commands are inputted in a normal mode at predetermined timing in response to a prescribed external control signal (command) inputted from a control input terminal (/RAS, /CAS, /WE, and /CS).
    コマンドデコーダ２は、半導体記憶装置にテストモードが設定されると、外部クロック信号ＣＬＫに同期して、制御入力端子（／ＲＡＳ、／ＣＡＳ、／ＷＥ、及び、／ＣＳ）から入力される所定の外部制御信号（コマンド）に応答して、通常モード動作時に複数のコマンドが入力されたときと同様な内部制御信号を、所定のタイミングで順次に生成する。 - 特許庁
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