「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • LINE TESTING SYSTEM AND LINE TESTING METHOD
    回線試験システム及び回線試験方法 - 特許庁
  • OPTICAL TESTING DEVICE
    光学式検査装置 - 特許庁
  • THERMAL FATIGUE TESTING DEVICE
    熱疲労試験装置 - 特許庁
  • CORROSION TESTING APPARATUS AND CORROSION TESTING METHOD
    腐食試験装置及び腐食試験方法 - 特許庁
  • BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TESTING METHOD DEVICE
    電池試験方法、及び電池試験装置 - 特許庁
  • SMELL TESTING METHOD AND SMELL TESTING APPARATUS
    匂い検査方法および匂い検査装置 - 特許庁
  • BIOLOGICAL TESTING DEVICE AND BIOLOGICAL TESTING METHOD
    生体検査装置及び生体検査方法 - 特許庁
  • VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION TESTING METHOD
    振動試験装置、及び振動試験方法 - 特許庁
  • INDENTATION TESTING INSTRUMENT AND INDENTATION TESTING METHOD
    押込み試験機及び押込み試験方法 - 特許庁
  • BINOCULAR VISION TESTING APPARATUS
    両眼視検査装置 - 特許庁
  • OPTICAL PULSE TESTING DEVICE
    光パルス試験装置 - 特許庁
  • PRINTED BOARD TESTING DEVICE
    プリント板試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING AAPPARAUS
    半導体試験装置 - 特許庁
  • DRIVER TESTING SYSTEM
    運転者検査システム - 特許庁
  • DROP TESTING MACHINE AND DROP TESTING METHOD
    落下試験装置および落下試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING MACHINE
    半導体試験装置 - 特許庁
  • DISCONNECTION SPARK TESTING MACHINE
    断線スパーク試験機 - 特許庁
  • WATER TREE TESTING METHOD
    水トリー試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体検査装置 - 特許庁
  • FLOOR MATERIAL TESTING APPARATUS
    床材の試験装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR WATER FLOW
    水流試験装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING MATERIAL
    材料試験方法 - 特許庁
  • SCRATCH TESTING MACHINE AND SCRATCH TESTING METHOD
    引掻き試験機および引掻き試験方法 - 特許庁
  • CONTINUITY TESTING APPARATUS AND CONTINUITY TESTING METHOD
    導通検査装置及び導通検査方法 - 特許庁
  • TESTING APPARATUS FOR APNEA
    無呼吸検査装置 - 特許庁
  • DEVICE TESTING EQUIPMENT AND DEVICE TESTING METHOD
    デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁
  • CLOCK INTERRUPT-TESTING CIRCUIT
    クロック断試験回路 - 特許庁
  • VEHICLE-TESTING DEVICE
    車両の試験装置 - 特許庁
  • PEEL TESTING DEVICE AND PEEL TESTING METHOD
    剥離試験装置および剥離試験方法 - 特許庁
  • CONTINUITY TESTING PROBE
    導通検査用プローブ - 特許庁
  • BINOCULAR VISION TESTING DEVICE
    両眼視検査装置 - 特許庁
  • LUNG FUNCTION TESTING APPARATUS
    肺機能検査装置 - 特許庁
  • CARD BENDING TESTING EQUIPMENT
    カード曲げ試験装置 - 特許庁
  • PROTECTIVE RELAY TESTING DEVICE
    保護リレー試験装置 - 特許庁
  • COMMUNICATION TESTING APPARATUS AND COMMUNICATION TESTING METHOD
    通信試験装置及び通信試験方法 - 特許庁
  • MEMORY DEVICE TESTING APPARATUS
    メモリデバイス試験装置 - 特許庁
  • WET ROAD SURFACE TESTING MACHINE
    ウェット路面試験機 - 特許庁
  • DROP TESTING DEVICE AND DROP TESTING METHOD
    落下試験装置および落下試験方法 - 特許庁
  • DENSITY UNEVENNESS TESTING APPARATUS
    濃度ムラ検査装置 - 特許庁
  • CORROSION TESTING DEVICE AND CORROSION TESTING METHOD
    腐食試験装置及び腐食試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING MOLD CRACKING AND TESTING INSTRUMENT
    型割れ試験方法及びその試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験装置 - 特許庁
  • (iii) iteration testing machine
    三　繰返し試験機 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (x) dust testing machine
    十　粉じん試験機 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • HEAT AGING TESTING EQUIPMENT
    熱老化試験装置 - 特許庁
  • TENSILE STRENGTH-TESTING EQUIPMENT
    引張強度試験器 - 特許庁
  • BASE STATION TESTING DEVICE
    基地局試験装置 - 特許庁
  • SOLENOID VALVE TESTING DEVICE
    電磁弁試験装置 - 特許庁
  • ABRASION TESTING METHOD AND ABRASION TESTING EQUIPMENT
    摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
    半導体試験装置 - 特許庁
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