「Testing」を含む例文一覧(14414)

＜前へ 1 2 .... 133 134 135 136 137 138 139 140 141 .... 288 289 次へ＞
  • This is an improved IC tester for testing an object of test.
    本発明は被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING DIELECTRIC BREAKDOWN IN TRANSFORMER FOR DISCHARGE LAMP, AND BALLAST FOR DISCHARGE LAMP
    放電灯用変圧器の絶縁破壊試験方法および放電灯用安定器 - 特許庁
  • COMPONENT AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE
    電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁
  • SAMPLING DIGITIZER AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE PROVIDED WITH THE SAMPLING DIGITIZER
    サンプリングデジタイザ及びこのサンプリングデジタイザを備えた半導体集積回路試験装置 - 特許庁
  • Voltage impression is implemented to a motor 1 and partial discharge pulse testing is performed.
    モータ１に対してインパルス電圧印加が行われ部分放電試験が行われる。 - 特許庁
  • Each testing measuring apparatus triggers taking in response to a hub event received from the hub.
    各試験測定機器は、ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガする。 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME
    交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD
    自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁
  • To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.
    バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁
  • An environmental testing device 100 includes a dew condensation detector 8 and a regulator 4.
    環境試験装置１００は、結露検出器８と調節器４を有している。 - 特許庁
  • To provide a testing device which is capable of efficiently programming a configuration of a programmable circuit.
    プログラマブル回路の構成を効率よくプログラムできる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a transformation automation client control service testing device, and a method of the same.
    変電自動化クライアント制御サービス試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
  • A microbiological testing chip 10 comprises a main body 15 and a bacteria detection part 17.
    微生物検査チップ１０は、本体１５と菌体検出部１７とを有する。 - 特許庁
  • The body 5 of which corrosion is tested is inserted into the thermohygrostat bath 1 for testing corrosion.
    被腐食試験体５を恒温恒湿槽１に挿入して腐食試験をする。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND TYPE-SWITCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR THE DEVICE
    半導体試験装置及び該装置における半導体デバイスの品種切替方法 - 特許庁
  • MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE
    試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁
  • To provide an IC tester capable of testing in a short time.
    短時間に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE
    メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁
  • After that, the primality of the remaining prime candidates is tested using the primality testing unit.
    その後、残りの素数候補は素数性判定テストユニットを使用してテストされる。 - 特許庁
  • The performance information 2a is outputted as the result of execution of the automatic unit testing.
    自動単体試験実施の結果として、性能情報２ａが出力される。 - 特許庁
  • To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.
    動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD
    ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁
  • ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES
    オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL
    半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁
  • To obtain a function for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit.
    ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する機能を得る。 - 特許庁
  • ELECTRONIC COMPONENT HANDLER AND ITS OPERATION METHOD, AND TESTING TRAY AND PUSHER
    電子部品ハンドリング装置およびその運用方法、ならびに試験用トレイおよびプッシャ - 特許庁
  • MICROFLUID DEVICE, BIOLOGICAL MATTER TESTING APPARATUS, AND MICROCHEMICAL REACTOR
    マイクロ流体デバイスおよびこれを用いた生体物質検査装置とマイクロ化学リアクター - 特許庁
  • To provide a technique for effectively testing and transporting IC chips with a carrier tape.
    搬送テープでＩＣチップの試験及び輸送を効果的に行う手法の提供。 - 特許庁
  • To provide a test assembly (2000) for testing product circuitry (202, 302, 304) of a product die (2011, 300).
    製品ダイ(2011,300)の製品回路(202,302,304)をテストするためのテストアセンブリ(2000)を提供すること。 - 特許庁
  • CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS
    半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁
  • INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁
  • MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTER ACCESS GENERATOR AND MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTING METHOD
    動画配信サーバ試験用アクセス発生装置及び動画配信サーバ試験方法 - 特許庁
  • To provide a new nucleic acid and a method, etc., for testing canceration using the nucleic acid.
    新規な核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法等を提供する。 - 特許庁
  • Testing IPv6 Support After enabling the recommended options, recompile your kernel and reboot into your new IPv6-enabled kernel.
    (IPv6-IPv4変換用にptrd（後述）を使うのであれば、このオプションだけで十分です) - Gentoo Linux
  • Testing an asynchronous process requires a client that is capable of receiving an asynchronous callback.
    非同期プロセスのテストには、非同期コールバックを受信できるクライアントが必要です。 - NetBeans
  • The project includes WSDL and XML schema files, and input files for testing.
    このプロジェクトには、WSDL ファイル、XML スキーマファイル、およびテスト用の入力ファイルが含まれます。 - NetBeans
  • TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD
    薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING FOR PRESENCE OF MICROORGANISM IN GASEOUS ENVIRONMENT CONTAINING HYDROGEN PEROXIDE
    過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD
    集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE
    波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁
  • HUMIDIFICATION SYSTEM AND PERFORMANCE TESTING DEVICE OF ELECTROLYTE MEMBRANE FOR FUEL CELL USING IT
    加湿システム及びそれを用いた燃料電池用電解質膜の性能試験装置 - 特許庁
  • To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin.
    ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。 - 特許庁
  • (ii) When the Accredited Testing Laboratory Operator received the Accreditation of Paragraph 1 of Article 57 by wrongful means.
    二　不正の手段により第五十七条第一項の登録を受けたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD
    測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁
  • The improved IC tester for testing an object under test is provided.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • This IC tester for testing devices under test is an improved one.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To highly accurately acquire dynamic characteristics of a bearing in a bearing testing apparatus.
    軸受試験装置において、軸受の動特性を高精度に取得可能とする。 - 特許庁
  • EX-VITO TEST KIT FOR TESTING EFFECTIVENESS OF REVERSER OF MULTIDRUG RESISTANCE
    多重薬剤耐性リバーサーの効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キット - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 133 134 135 136 137 138 139 140 141 .... 288 289 次へ＞

例文データの著作権について