「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • Since the testing device 1 is equipped with the load cell 28 and the load application device 50, various performance tests of the electrically-driven servo 31 can be conducted.
    試験装置１には、ロードセル２８と荷重付加装置５０を備えるため、電動サーボ３１の各種性能試験を行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.
    加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a remote operation system for testing a radio channel controlled by radio station controllers, while operating remotely the radio station controllers.
    無線局制御装置を遠隔操作しながら、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する遠隔操作システムを提供する。 - 特許庁
  • This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.
    部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁
  • The host computer 16 uses the mapping information to relate testing data of each of chip with the position of the chip on the wafer.
    ホストコンピュータ１６は上記のマッピング情報を用い各チップの試験データとウエハ上の位置を関連付けることにより、上記課題を解決する。 - 特許庁
  • To enable one conduction testing probe pin to be used as one of an extensible pin and a nonflexible pin in response to test applications.
    １本の導電検査用プローブピンでありながら、検査用途に応じて、伸縮ピン，非伸縮ピンのいずれか一方として使用できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually.
    実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.
    野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • The corrosion testing device includes a thermohygrostat bath 1, a salt water discharge mechanism 2, a cleaning mechanism 3, and a moving rack 4 to test a body 5 of which corrosion is tested.
    恒温恒湿槽１，塩水吐出機構２，洗浄機構３および移動架台４から構成され、被腐食試験体５を試験する。 - 特許庁
  • To provide a corrosion resistance evaluation method for a metal material that simulates an actual environment, the metal material, and a device for testing corrosion acceleration of the metal material.
    実環境を模擬した金属材の耐食性評価方法と金属材、並びに金属材の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.
    真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The first testing part 3 is installed in the neighborhood of a place where the molded container C is transferred from an extraction machine 20 in a conveyance part 30.
    搬送部３０における取出機２０から成形容器Ｃが移し換えられる箇所の近傍に第１の検査部３が設けられている。 - 特許庁
  • The electronic component is measured by the second testing measuring implement, and the electrical characteristic measured by the reference measuring implement is calculated by using the relative correction coefficient.
    電子部品を第２の試験測定治具で測定し、相対補正係数を用いて、基準測定治具で測定した電気特性を算出する。 - 特許庁
  • To provide a whisker evaluating method capable of accelerating the occurrence and growth of whiskers to shorten an evaluation time, and testing equipment for evaluating the whiskers.
    ウィスカの発生及び成長を促進して評価時間を短縮できるウィスカ評価方法及びウィスカ評価用試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To suppress fluctuation of an air pressure generated during tire test by adjusting the temperature of air supplied into a tire, in a tire testing device.
    タイヤ試験装置において、タイヤに供給される空気の温度を調整することで、タイヤ試験中に生じる空気圧の変動を抑える。 - 特許庁
  • The semiconductor chip has a plurality of pad formation parts including a bonding pad used as a pad for bonding, and a probe pad used as a pad for testing.
    半導体チップに、ボンディング用のパッドであるボンディングパッドとテスト用のパッドであるプローブパッドとを含む複数のパッド形成部を備える。 - 特許庁
  • To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.
    材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁
  • To provide a soil pollutant elution testing method which enables the evaluation of long-term stability over a short period by a simple method.
    簡便な方法で短期間に長期安定性を評価し得る土壌汚染物質溶出試験方法を提供することを一の課題とする。 - 特許庁
  • This device includes: a main frame for testing; a plurality of trays; receptacles for chip test; and one or more pick up/placing device.
    本発明の装置は試験用メイン・フレームと複数の器皿と、チップ・テスト・レセプタクルと、１つまたはそれ以上の取り上げ/安置器とを含んでいる。 - 特許庁
  • To provide an indicator testing device capable of performing a test optionally in a short time without dismounting indicators mounted on a monitoring board.
    監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To sufficiently detect a defect of a magnetic metal body, using a magnetic impedance effect type sensor by a magnetic leakage flux testing method.
    磁性金属体の欠陥を漏洩磁束探傷試験方法により磁気インピーダンス効果型センサを用いて良好に検出できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the keying durability of a touch panel structure in a state close to an actual use form and a test unit for that method.
    実際の使用形態に近い状態でタッチパネル構造体の打鍵耐久性を試験する方法及びそのための試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor.
    治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing hang-ups of both a control device and a processing device in the event of an occurrence of an instantaneous interruption.
    瞬低が生じた場合に制御装置と処理装置との双方のハングアップを回避することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of reducing an external load while ensuring excellent contact state between an external terminal and a conductive contact.
    外部端子と導電性接触子との良好な接触を取りつつ外部荷重を軽減できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.
    金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.
    電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.
    試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁
  • The control/processing device 13 specifies the value of the parameter by analyzing the changed waveform, and outputs it to an IC testing device 14.
    制御／処理装置１３は、上記変更後の波形を解析することにより、パラメータの値を特定し、ＩＣ試験装置１４へ出力する。 - 特許庁
  • To provide a simulator for a semiconductor test device to allow maintenance for a soft ware used in a semiconductor testing system even when no actual equipment exists.
    実機がなくとも半導体試験システムで使用されるソフトウェアの保守を可能とする半導体試験装置用シミュレータを提供する。 - 特許庁
  • To provide an iceball launcher having a stable directionality without destroying an ice ball and a hailstorm testing method.
    氷球を破壊することなく安定した方向性を備えた氷球発射装置および降雹試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a ZIF connector capable of connecting easily, precisely and surely to connection parts, and a semiconductor testing device using above.
    接続部品に対して容易、正確、かつ確実に接続することができるＺＩＦコネクタ及びこれを用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To verify the operation of a semiconductor integrated circuit device efficiently in a short time by verifying the operation of an IP itself by a testing program.
    テスト用プログラムによってＩＰそれ自体の動作検証を行い、短時間で効率よく半導体集積回路装置を動作検証する。 - 特許庁
  • An MLA 12 is placed in a pupil plane or the imaging plane of the objective lens 11, and an imaging element 13 is placed behind the MLA 12, and images the testing object.
    MLA１２は、対物レンズ１１の瞳面又は結像面に配置され、撮像素子１３は、MLA１２の背後に設置され、被検物像を撮像する。 - 特許庁
  • Thus, the number of inverters for simultaneous load energization is suppressed to the number able to be covered by the power supply capacity of the testing device.
    これにより、負荷通電が同時に実行されるインバータの台数を、試験装置の電源容量でカバーできる台数に抑えることができる。 - 特許庁
  • To provide a blood bag for testing and a blood sampling instrument, taking a fixed quantity of a blood sample (initial flow blood) in a simple structure.
    簡単な構造で一定量の血液（初流血）を採取することができる検査用血液バッグおよび採血器具を提供すること。 - 特許庁
  • The device with the overvoltage protection function has further impedance 17, the impedance 17 is connected between the second connection part 8 and the ground when testing a high voltage system.
    更なるインピーダンス１７を有し、このインピーダンス１７は、高電圧システムの試験時には第二の接続部８とアースとの間に接続される。 - 特許庁
  • This direct-current testing device has a power amplifying circuit 130 for supplying a current to DUT at the current application voltage measuring time.
    直流試験装置は、電流印加電圧測定時にＤＵＴに対して電流を供給する電力増幅回路１３０を有している。 - 特許庁
  • To obtain a PDS optical line supervisory system capable of specifying an abnormity point in a plurality of subscriber side transmission lines with one testing device.
    一台の試験装置により複数の加入者側伝送路中の異常点の特定を可能とするＰＤＳ光線路監視システムを得る。 - 特許庁
  • To provide a U link mechanism easy to operate and capable of surely and speedily performing a test, when testing a communication line.
    通信回線の試験をするにあたり、操作が容易で、確実に、かつ迅速に試験を行うことのできるＵリンク機構を提供すること。 - 特許庁
  • A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.
    内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁
  • To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.
    半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁
  • To provide a method and apparatus for testing semiconductor devices which can more efficiently and accurately suppress the effluence of defective products.
    より効率良く、より高い精度で不良品の流出を抑制することが可能な半導体装置の検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a memory test circuit capable of testing ROMs having ID and checksum areas in addition to user data areas altogether.
    ユーザデータ領域に加えて、ＩＤ領域とチェックサム領域を有するＲＯＭを一括して試験することができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection tool for testing charged state of a lens which visually can check for charged state of the lens in a relatively simple and easy way.
    レンズの帯電状態を比較的簡便な方法で視覚的に検査することができるレンズ用帯電状態検査具を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory testing apparatus for shortening a time required for retrieving a singular cell such as a defective cell or the like included in a semiconductor memory.
    半導体メモリに含まれる不良セル等の特異セルの検索に要する時間を短縮できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a wear-testing apparatus that can test wear using a general environmental bath and at the same time can be carried easily.
    一般の環境槽を用いて摩耗試験を行うことができるとともに、容易に運搬することができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase-producing strains that are regarded as microorgansms causing serious nosocomial infections.
    本発明は院内感染の原因菌として問題になっているメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法を提供する。 - 特許庁
  • (2) Upon assignment or dismissal of an examiner, the designated testing agency shall notify the same to the of Land, Infrastructure, Transport and Tourism without delay.
    ２　指定試験機関は、試験員を選任し、又は解任したときは、遅滞なく、その旨を国土交通大臣に届け出なければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Extensive Testing of your DisksRecovering from a malfunctioning installation2.Advanced InstallationsSoftware RAIDNote: If you are not familiar with software raid, please read the Software-RAID-HOWTO.
    ディスクの広域テスト誤ったインストールからの回復上級インストールソフトウェアRAID注意:もしソフトウェアRAIDについて知らなければ、Software-RAID-HOWTOを読んでください。 - Gentoo Linux
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